SU1350565A1 - Device for measuring characteristics of dispersive layer - Google Patents
Device for measuring characteristics of dispersive layer Download PDFInfo
- Publication number
- SU1350565A1 SU1350565A1 SU853937940A SU3937940A SU1350565A1 SU 1350565 A1 SU1350565 A1 SU 1350565A1 SU 853937940 A SU853937940 A SU 853937940A SU 3937940 A SU3937940 A SU 3937940A SU 1350565 A1 SU1350565 A1 SU 1350565A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- lens
- illuminating beam
- diaphragm
- scattering layer
- optical system
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к физической оптике, а именно к измерению двух констант светорассе ни , которые определ ют распределение в п тне размыти , образующегос при прохождении ограниченного пучка света.через слой рассеивающей среды: - перепад ркости на геометрической границе освещающего пучка; 5„- показатель спада ркости в п тне размыти . Констанi сл 00 ел о ел о: елThe invention relates to physical optics, in particular to the measurement of two light scattering constants, which determine the distribution in the spot of smearing formed during the passage of a limited light beam through a layer of scattering medium: - difference in brightness at the geometric boundary of the illuminating beam; 5 „- indicator of the decrease in brightness in the spot blur. Konstani sl 00 ate about eating about: eating
Description
ты ft и „ определ ютс на основе измерени зависимости ркости прошедшего излучени в функции рассто ни от оси освещающего пучка. Целью изобретени вл етс повышение точности измерений. Источник света 1 с помощью конденсора 2 освещает ирисовую диафрагму 3, расположенную в фокусе объектива 4. После объектива 4 парал- лельньш пучок света, отразившись от зеркал 7 и 8, падает на объектив 5, в фокальной плоскости которого наYou ft and f are determined based on the measurement of the luminance of the transmitted radiation as a function of the distance from the axis of the illuminating beam. The aim of the invention is to improve the measurement accuracy. The light source 1 with the help of condenser 2 illuminates the iris diaphragm 3 located in the focus of the lens 4. After the lens 4, a parallel beam of light, reflected from mirrors 7 and 8, falls on the lens 5, in the focal plane of which
1one
Изобретение ртносиТс к физической оптике, конкретно к измерению оптических характеристик рассеивающих материалов, и предназначено дл измерени характеристик рассеивающего х;ло на основе измерени завис мос- ти потока излучени , прошедшего через рассеивающий слой, от рассто ни между осью освещающего пучка и точкой измерени , и может быть -использовано в лаборатори х при научных исследовани х .The invention of physical optics, specifically the measurement of the optical characteristics of scattering materials, is intended to measure the characteristics of scattering x; based on the measurement, the radiation flux passing through the scattering layer depends on the distance between the axis of the illuminating beam and the measuring point, and can be used in laboratories for scientific research.
Целью изобретени вл етс повыThe aim of the invention is to improve
шение точности определени характеристик сильно рассеивающего сло . improvement of the accuracy of determining the characteristics of a highly scattering layer.
На чертеже изображена оптическа система устройства.The drawing shows the optical system of the device.
Устройство состоит из источника 1, конденсора 2, ирисовой диафрагмы 3, расположенной в фокусе объектива 4. В фокальной плоскости объектива 5 расположен рассеивающий слой 6. Зеркала 7 и 8 расположены между тивами 4 и 5 под углом 45 к оптической оси. Зеркало 8 и объектив 5 укреплены на каретке, котора может перемещатьс в направл ющих 9 параллельно поверхности рассеивающего сло 6, За измер емым рассеивающш слоем 6 расположена приемна система - измерительный узел, состо щий из объектива 10, в фокусе которого находитс диафрагма 11 перед фотоумножителем 12, На входе измерительного узла вплотную к объективу 10 расположена диафрагма 13. Оптическа ось приемной системы перпендикул рна к поверхности рассеивающего сло 6.The device consists of a source 1, a condenser 2, an iris diaphragm 3 located in the focus of the lens 4. In the focal plane of the lens 5 there is a diffusing layer 6. Mirrors 7 and 8 are located between tives 4 and 5 at an angle of 45 to the optical axis. The mirror 8 and the lens 5 are mounted on a carriage that can move in the guides 9 parallel to the surface of the scattering layer 6. A receiving system is located behind the measured scattering layer 6 - a measuring unit consisting of the lens 10, the focus of which is the diaphragm 11 in front of the photomultiplier 12 The diaphragm 13 is located close to the lens 10 at the input of the measuring unit. The optical axis of the receiving system is perpendicular to the surface of the scattering layer 6.
входной поверхности рассеивающего сло проектируетс изображение диафрагмы 3. Изменением диаметра ирисовой диафрагмы 3 на образце создаютс требуемые диаметры освещающего пучка. Благодар перемещению каретки с расположенными на ней зеркалом 8, объективом 5 и сменными диафрагмами 8 в направл ющих параллельно поверхности рассеивающего сло освещающий пучок перемещаетс по поверхности рассеивающего сло . 1 ил.The image of the diaphragm 3 is projected into the entrance surface of the scattering layer. The required diameters of the illuminating beam are created by changing the diameter of the iris diaphragm 3 on the sample. Due to the movement of the carriage with a mirror 8 located on it, a lens 5 and interchangeable diaphragms 8 in a direction parallel to the surface of the scattering layer, the illuminating beam moves along the surface of the scattering layer. 1 il.
5five
5five
5 five
Устройство работает следующим образом .The device works as follows.
Источник t света с помощью кон- депсора 2 освещает ирисовую диафрагму 3, расположенную в фокусе объектива 4, После объектива 4 параллельный пучок света, отразившись от зеркал 7 и 8, падает на объектив 5, в фокальной плоскости которого на входной поверхности рассеивающего сло проектируетс изображение диафрагмы 3. Изменением диаметра ирисовой диафрагмы 3 на образце создаютс требуемые диаметры освещающего пучка. Благодар перемещению каретки с расположенными на ней зеркалом 8 и объективом 5 в направл ющих 9 параллельно поверхности рассеивающего сло освещающий пучок перемещаетс по поверхности рассеивающего сло . При этом благодар предложенной оптической схеме диаметр освещающего пучка на поверхности рассеивающего сло не мен етс . За рассеиванэщим слоем расположена неподвижна приемна система, входна диафрагма 13 которой устанавливаетс вплотную к рассеивающему слою.. Излучение, прошедшее через рассеиваюпщй слой 6, диафрагму 13, объектив 10 и диафрагму 11 падает на приемник 12 излучени . .Приемна система работает по телецентрическому методу и регистрирует значени , пропорциональные ркости вошедшего в нее излучени в направлении , перпендикул рном к поверхности рассеивающего сло в малом те-The light source t with the aid of connector 2 illuminates the iris diaphragm 3 located at the focus of the lens 4. After the lens 4, a parallel beam of light, reflected from mirrors 7 and 8, falls on the lens 5, in the focal plane of which an image is projected on the input surface of the scattering layer diaphragms 3. By changing the diameter of the iris diaphragm 3, the required diameters of the illuminating beam are created on the sample. Due to the movement of the carriage with a mirror 8 arranged on it and an objective lens 5 in the guides 9 parallel to the surface of the scattering layer, the illuminating beam moves along the surface of the scattering layer. Herewith, due to the proposed optical scheme, the diameter of the illuminating beam on the surface of the scattering layer does not change. Behind the scattering layer is a fixed receiving system, the entrance diaphragm 13 of which is installed close to the scattering layer. Radiation transmitted through scattering layer 6, diaphragm 13, lens 10 and diaphragm 11 falls on radiation receiver 12. The receiving system works by the telecentric method and registers the values proportional to the brightness of the radiation entering it in a direction perpendicular to the surface of the scattering layer in a small temperature.
/ D D лесном угле (tg -7- гт, где D 2f / D D forest angle (tg -7- gt, where D 2f
2f 2f
3131
диаметр диaфpaг G I 13; f - .заднее фокусное рассто ние объектива 10). Благодар диафрагме 13 регистрируема ркость соответствует излучению, вход щему с малого участка поверхности сло 6.diameter of diaphragm G I 13; f is the back focal length of the lens 10). Due to the diaphragm 13, the recorded brightness corresponds to radiation entering from a small portion of the surface of layer 6.
В процессе измерений освещающий пучок перемещаетс по поверхности рассеивающего слор благодар перемещению в направл ющих 9 каретки с расположенными на ней зеркалом 8 и объективом 5 и, следовательно, мен етс рассто ние 1 между ос ми освещающего пучка и приемной системы. Пр каждом фиксированном значении 1 производитс сн тие соответствующего этому значению 1 сигнала приемника излучени . Таким образом измер етс поточечно зависимость ркости от рас сто ни 1, т.е. требуемое распределение ркости в п тне размыти .During the measurements, the illuminating beam moves along the surface of the scattering scatter due to the carriage in the guides 9 of the carriage with the mirror 8 and the objective 5 located on it and, therefore, the distance 1 between the axes of the illuminating beam and the receiving system changes. For each fixed value of 1, the corresponding radiation detector receiver signal 1 is removed. Thus, the pointwise dependence of luminosity on distance 1 is measured, i.e. required distribution of luminance in the spot blur.
Согласно теории телецентрического метода приемной системой измер етс сила света I вошедшего в нее излучени . Однако установленна перед приемником посто нна диафрагма приемной системы обеспечивает пропорциональность регистрируемого сигнала а ркости L рассе нного излучени , так как , где (р - площадь посто нной диафрагмы. Кроме того, посто нна диафрагма приемной системыAccording to the theory of the telecentric method, the receiving system measures the intensity of light I of the radiation entering it. However, the fixed aperture of the receiving system installed in front of the receiver ensures the proportionality of the recorded signal to the luminance L of the scattered radiation, since, where (p is the area of the constant aperture. In addition, the aperture of the receiving system
Редактор Л.Гратилло Заказ 5278/43Editor L.Gratillo Order 5278/43
Составитель Ю.Гринева Техред Л.СердюковаCompiled by Y. Grineva Tehred L. Serdyukova
Корректор Corrector
Тираж 776ПодписноеCirculation 776 Subscription
БНРШПИ Государственного комитета СССР BNRSHPI State Committee of the USSR
. по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска наб., д. 4/5. for inventions and discoveries 113035, Moscow, Zh-35, Raushsk nab., 4/5
.Производственно-полиграфическое предпри тие, г. Ужгород, ул. Проектна , 4.Production and printing company, Uzhgorod, st. Design, 4.
обеспечивает малый телесный угол, в котором распростран етс излучение.provides a small solid angle in which radiation propagates.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853937940A SU1350565A1 (en) | 1985-06-07 | 1985-06-07 | Device for measuring characteristics of dispersive layer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853937940A SU1350565A1 (en) | 1985-06-07 | 1985-06-07 | Device for measuring characteristics of dispersive layer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1350565A1 true SU1350565A1 (en) | 1987-11-07 |
Family
ID=21192112
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853937940A SU1350565A1 (en) | 1985-06-07 | 1985-06-07 | Device for measuring characteristics of dispersive layer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1350565A1 (en) |
-
1985
- 1985-06-07 SU SU853937940A patent/SU1350565A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Истомин Г.А. Разрешающа способность и резкость фотографического изображени . - Техника кино и телевидение, 1961, 5, N 2, с. 1. Иванов А.П.Световой режим в мутной среде при освещении ее узким пучком радиации. - Оптика и спектроскопи , 1965, 18, № 4, с. 698. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4690561A (en) | Particle analyzing apparatus | |
US7528951B2 (en) | Optical design of a measurement system having multiple sensor or multiple light source paths | |
GB2189623A (en) | Remote reading spectrophotometer | |
US7538874B2 (en) | Measurement of light from a predefined scatter angle from particulate matter in a media | |
US7495763B2 (en) | Dual function measurement system | |
KR950014849A (en) | Photometric detectors scattered by thin films of colloidal media | |
US2739246A (en) | Exposure head for photometric comparator instruments | |
SU1350565A1 (en) | Device for measuring characteristics of dispersive layer | |
US7505132B2 (en) | Self calibrating measurement system | |
JP3388285B2 (en) | Inspection device | |
JPH03276005A (en) | Shape measuring device | |
US4487503A (en) | Refractometer using the limiting angle method | |
US7164470B2 (en) | Depth of field enhancement for optical comparator | |
SU1080030A1 (en) | Device for evaluating blinding effect of light sources | |
RU2204821C1 (en) | Laser centralizer of x-ray radiator | |
SU819595A1 (en) | Device for measuring optical characteristics of camera tubes | |
RU2032166C1 (en) | Method of determination of refractive index of wedge-shaped articles | |
RU2282170C2 (en) | Device for test of lenses | |
SU914942A1 (en) | Dispersed light photometer | |
JPS6242327Y2 (en) | ||
SU1013801A1 (en) | Device for measuring lens light diffusion | |
SU932341A1 (en) | Method of determination of focal length and rear focus position of an optical system | |
SU1359663A1 (en) | Interferometer for checking cylindrical surfaces | |
JPS6258139A (en) | Method and apparatus for measuring particle | |
SU1254358A1 (en) | Refractometer |