SU1341592A1 - Method of measuring surface resistance of dielectric material - Google Patents
Method of measuring surface resistance of dielectric material Download PDFInfo
- Publication number
- SU1341592A1 SU1341592A1 SU853863043A SU3863043A SU1341592A1 SU 1341592 A1 SU1341592 A1 SU 1341592A1 SU 853863043 A SU853863043 A SU 853863043A SU 3863043 A SU3863043 A SU 3863043A SU 1341592 A1 SU1341592 A1 SU 1341592A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- resistance
- distance
- value
- voltage
- material under
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
Изобретение может быть использовано в деревообрабатывающей, химической промышленности и др. дл анализа свойств материалов электрическими методами. Целью изобретени вл етс повьшение точности измерений за счет устранени методических погрешностей, вли ни атмосферных факторов, неравномерности структу . ры материала и т.д. Сначала определ ют предпробойные ток I и напр жение и д при фиксированном межэлектродном рассто нии }ff. Далее участок исследуемого материала обрабатывают токопровод щим составом и, перемеща электродную пару с рассто нием 1„ вдоль границы раздела, когда один электрод находитс на провод -, щем участке, а другой - вне его, определ ют точку плоскости, где межэлектродное сопротивление достигает заранее выбранного значени R,затем при предпробойном токе 1, определ ют напр жение на электродах U, а в точке, где при токе , напр жение достигает величины потенциала исследуемого материала, перемещение прекращают и измер ют при этом межзлектродное сопротивление R,. По результатам совместных измерений U, R, U, R определ ют величину поверхностного сопротивлени . Возможно повышение точности измерений при использовании плоских электродов, расположенных ортогонально относительно друг друга. 1 3.п.ф-лы. i (ЛThe invention can be used in the woodworking, chemical industry, etc. to analyze the properties of materials by electrical methods. The aim of the invention is to increase the accuracy of measurements by eliminating methodological errors, the influence of atmospheric factors, uneven structure. material plots, etc. First, pre-breakdown current I and voltage and g are determined at a fixed interelectrode distance} ff. Next, a section of the material under study is treated with a conductive composition and, moving the electrode pair with a distance of 1 ”along the interface, when one electrode is on the wire, the other side is outside it, the point of the plane is determined where the interelectrode resistance reaches a pre-selected the values of R, then at the pre-breakdown current 1, the voltage on the electrodes U is determined, and at the point where at the current, the voltage reaches the potential of the material under study, the movement is stopped and the inter-reflector is measured The battery resistance R ,. According to the results of joint measurements of U, R, U, R, the value of surface resistance is determined. It is possible to increase the accuracy of measurements when using flat electrodes orthogonal to each other. 1 3.p.f-ly. i (L
Description
Изо.бретение относитс к физическому анализу свойств материалов электрическими методами и может быть использовано в деревообрабатывающей , химической и других отрасл х промышленности при определении поверхностного электрического сопротивлени диэлектрических материалов .ISO. Breezing refers to the physical analysis of the properties of materials by electrical methods and can be used in the woodworking, chemical, and other industries in determining the surface electrical resistance of dielectric materials.
Целью изобретени вл етс повьше ние точности измерений.The aim of the invention is to increase the measurement accuracy.
Способ осуществл ют следующим образом.The method is carried out as follows.
Выбирают размер исследуемого диэлектрического образца не менее удвоенного размера используемых электродов. Электроды накладывают на диэлектрический образец,, подают на них напр жение от высоковольтного источника, измен ют межэлектродное рассто ние (1) до образовани электрического пробо . Эта точка фиксируетс по резкому скачку тока и снижению напр жени . Фиксируют дл данной рабочей точки рассто ние 1, предпробойное значение тока I т Choose the size of the dielectric sample under study not less than twice the size of the electrodes used. The electrodes are superimposed on the dielectric sample, they are supplied with a voltage from a high-voltage source, and the interelectrode distance (1) is changed to form an electrical breakdown. This point is fixed by a sharp current jump and a decrease in voltage. For a given operating point, the distance 1 is fixed, the prebreakdown current I t
Далее часть площади исследуемого образца обрабатывают токопровод щим составом, который нанос т путем втирани . Устанавливают один электрод на обработанный участок, другой - вне его на рассто ние 1 от первого . Не мен межэлектродного рассто ни перемещают электродную пару вдоль границы раздела обработанного и необработанного токопровод - шим составом участков диэлектрического образца, одновременно измер величину межэлектродного сопротивлени R. По достижении последнего заранее выбранного значени , электродную пару фиксируют, устанавливают ток, равный регистрируют напр жение на электродах U Uj. Не мен межэлектродного рассто ни 1 Ij,продолжают перемещать электродную пару вдоль границы раздела, измер одновременно величину напр жени на электродах U. При достижении напр жени значени U Uq,, где и - потенциал ионизации дл данного диэлектрика (справочна величина определени путем подсчета средней величины потенциала ионизации элемен тов, составл ющих химическую основу исследуемого диэлектрического материала ), перемещение электродов прекращают . В этой рабочей точке измер ют межэлектродное сопротивление R,. По результатам совместных измерений определ ют поверхностное элект- рическое сопротивление исследуемого материала:Next, a part of the sample area is treated with a conductive compound, which is applied by rubbing. One electrode is installed on the treated area, the other is out of it at a distance of 1 from the first. The interelectrode distance does not change the electrode pair along the interface between the processed and untreated current-conducting composition of sections of the dielectric sample, simultaneously measuring the value of the interelectrode resistance R. After the last preselected value is reached, the electrode pair is fixed, a current equal to the voltage recorded on the electrodes U Uj. Not changing the interelectrode distance 1 Ij, continue to move the electrode pair along the interface, simultaneously measuring the voltage on the electrodes U. When the voltage reaches U Uq, where and is the ionization potential for a given dielectric (reference value determined by calculating the average the ionization potential of the elements constituting the chemical basis of the dielectric material under study), the movement of the electrodes is stopped. At this operating point, the interelectrode resistance R, is measured. According to the results of joint measurements, the surface electrical resistance of the material under study is determined:
RM RM
R; иR; and
RO. и.RO. and.
где R - поверхностное электрическое сопротивление исследуемого материала;where R is the surface electrical resistance of the material under study;
R, - сопротивление материала при потенциале ионизации и токе 1„;R, is the resistance of the material at the ionization potential and current 1 ";
максимальное предпробойное напр жение; maximum prebreakdown voltage;
R 1 - выбранное значение сопротивлени , определ емое проводимостью статических зар дов (R 10 Ом);R 1 is the selected resistance value determined by the conductivity of static charges (R 10 Ohm);
и - напр жение на электродах при токе I и сопротивлении R.and is the voltage across the electrodes at current I and resistance R.
Точностные характеристики способа могут быть улучшены при использовании плоских электродов с ос ми, расположенными ортогонально.The accuracy characteristics of the method can be improved by using flat electrodes with axes arranged orthogonally.
Способ позвол ет классифицироватьThe method allows to classify
диэлектрические материалы по ихdielectric materials by their
электростатическим свойствам, что в обычных услови х представл ет значительные трудности, так как необходимо принимать во внгмание неelectrostatic properties, which, under normal conditions, presents considerable difficulties, since it is necessary to take into
только особенности возникновени носителей зар дов и их измен емость, но и различные услови их релаксации, на совместный результат действи которых в значительной степени вли ют атмосферные услови , химические oco6ieHHOCTH, неравномерность в структуре поверхности материалов и др. При предлагаемой измерительной процедуре эти методические погрешностиonly the characteristics of charge carriers and their variability, but also the various conditions for their relaxation, the combined result of which is largely influenced by atmospheric conditions, chemical oco6ieHHOCTH, unevenness in the surface structure of materials, etc. With the proposed measurement procedure these methodological errors
устран ютс .eliminated.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853863043A SU1341592A1 (en) | 1985-03-01 | 1985-03-01 | Method of measuring surface resistance of dielectric material |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853863043A SU1341592A1 (en) | 1985-03-01 | 1985-03-01 | Method of measuring surface resistance of dielectric material |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1341592A1 true SU1341592A1 (en) | 1987-09-30 |
Family
ID=21165503
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853863043A SU1341592A1 (en) | 1985-03-01 | 1985-03-01 | Method of measuring surface resistance of dielectric material |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1341592A1 (en) |
-
1985
- 1985-03-01 SU SU853863043A patent/SU1341592A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 459742, кл. G 01 R 27/00, 1973. Авторское свидетельство СССР № 386350, кл. G 01 R 27/00, 1970. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7150813B2 (en) | Isoelectric focusing (IEF) of proteins with sequential and oppositely directed traveling waves in gel electrophoresis | |
SE8701033L (en) | METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING ELECTRODIMPEDANCE | |
ES538246A0 (en) | APPARATUS AND METHOD OF DYNAMIC MEASUREMENT AND WITHOUT CONTACT OF SMALL DISTANCES. | |
EP1486781B1 (en) | Travelling wave algorithms to focus and concentrate proteins in gel electrophoresis | |
SU579907A3 (en) | Device for conducting electrolytic processes | |
SU1341592A1 (en) | Method of measuring surface resistance of dielectric material | |
EP4060332A1 (en) | Horizontal electrophoresis apparatus | |
US4055077A (en) | Method and apparatus for the moisture measurement of textile webs | |
WO2019069089A1 (en) | Ion mobility filter | |
SU1471152A1 (en) | Method of determining charge density in dielectrics | |
JP2579281B2 (en) | Conductivity measurement sensor | |
JPS57108264A (en) | Operating method for electrostatic adsorbing device | |
KR102263948B1 (en) | Microfluidic chip and evaluation system of electrical properties of liquid included the same and method for the evaluation electrical properties of liquid | |
SU1370607A1 (en) | Method of determining transient resistance | |
SU1394170A1 (en) | Method of determining efficiency of operation of apparatus of electronic-ion technology under conditions of reverse corona discharge | |
SU133123A1 (en) | Method for detecting pores or small holes in films or thin coatings of dielectric material | |
WO2021206538A1 (en) | A device for profiling and identifying an amino acid | |
US3273057A (en) | Apparatus for continuous voltage application in testing | |
SU186155A1 (en) | METHOD FOR HANDLING THE RESULTS OF GRAVIMETRIC SHIPPING | |
US20200363372A1 (en) | Analysis system, feces odor gas analysis system, and exhaled gas analysis system | |
SU1177779A1 (en) | Method of determining quality of non-conducting coatings on electric-conducting base | |
SU1045177A1 (en) | Device for testing protective dielectric coating of semiconductor devices | |
SU1442898A1 (en) | Method of measuring angle of slope of surface cracks | |
SU686991A2 (en) | Device for testing electric insulation materials | |
SU1544010A1 (en) | Method of determining specific volume electric resistance of insulation materials |