SU132276A1 - Способ измерени характеристики R/Q объемных резонаторов с бессеточным зазором путем внесени диэлектрика - Google Patents

Description

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИКИ RIQ ОБЪЕМНЫХ

РЕЗОНАТОРОВ С БЕССЕТОЧНЫМ ЗАЗОРОМ ПУТЕМ

ВНЕСЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИКА

i asiRjieiio 3  нвар  I960 г. за Л1 64937i;26 is ivoMiircT :u) делам ы оОретений и открытий при CoBCTt А инистров СССР

Одной 1з ОСНОВНЫХ характеристик объемных резонаторов  вл етс  отноадение сопротивлени  резонатора R к его добротности Q. Известны способы измерени  характеристики RiQ объемных резонаторов с бессеточным зазором, основанные на зиесении диэлектрика между торцами труб, образующих зазор резонатора, и определении значени  RIQ по изБес1ны,м параметрам диэлектрика и величине ухода резонансной частоты объемного резонатора с внесенным в него диэлектриком.

Недостатки подобных способов состо т в малой точности изчмерений вследствие несимметрии пол  в зазоре, вли нии толщины торцов труб на результаты измерений и малого ухода резонансной частоты при внесении диэлектрика, который трудно измерить с достаточно высокой точностью.

В описываемом способе указанные недостатки устранены использованием в качестве диэлектрика, вносимого в резонатор, упругой диэлектрической пленки, прижимающейс  к внутренним Стенкам труб, образующим зазор.

Дл  по снени  описываемого способа на чертеже в двух проекци х изображен объемный резонатор с бессеточным зазором, в зазоре которого размещена упруга  пленка.

В зазоре /, образованном трубами 2 резонатора 3, помещена упруга  диэлектрическа  пленка 4, нанример из тефлона, котора , выпр мл  сь , прижи.маетс  к внутренним стенкам труб 2. Высота пленки выбираетс  больше высоты зазора, а ее длина - примерно равной длине окружности внутренней стенки трубы. Введение диэлектрической пленки вызывает изменение резонансной частоты резонатора, по которой и суд т о величине отношени  .

№132276 2 .

Характеристика RIQ рассчитываетс  по формуле:

;f4.)l -/1/где: /--высота зазора; /-резонансна  частота ре

. у ;S.

зонатора; во -- диэлектрическа  п-ронидаемпсть з вакууме, к ,

где в -диэлектрическа , проницаемость материала .пленки; /1 --площадь поперечного сечени  пленки, «отора  равна б. L. гдеб - толщина плеики, L - ширина пленки, А/ - уход резонансной, частоты объемного резонатора, вызванный помещением fi зазор диэлектрической пленки Помещение диэлектрической плепки по и;:ей периферии зазора исключает погрещность, создаваемую несиммстр ией пол  г. зазоре. Ис пользование плепки, перекрываюи,е)1 весь зазор, приводит к значитель. пому уходу )езопансиой частоты резогатора, точное изме1) кото рого ПС вызывает особых затрудненип.

П ji е д м е 1 II 3 о п р е г с и и к

Способ измерени  характеристики R/Q объемных резонаторов с бессечочным зазором путем внесени  диэлектрика, и т л и ч а ю щ и и с   тем, что, с Целыо увёлИЧСИ-и  точности измерен-ий, R зазор резонатора помещают упругую диэлектрическую пленку, прижимающуюс  к внутренним стеикам труб, образуюпшх з.чзор.