SU1316060A1 - Способ анализа ионов в квадрупольном масс-спектрометре - Google Patents

Способ анализа ионов в квадрупольном масс-спектрометре Download PDF

Info

Publication number
SU1316060A1
SU1316060A1 SU853961145A SU3961145A SU1316060A1 SU 1316060 A1 SU1316060 A1 SU 1316060A1 SU 853961145 A SU853961145 A SU 853961145A SU 3961145 A SU3961145 A SU 3961145A SU 1316060 A1 SU1316060 A1 SU 1316060A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
ions
ion
energy
mass
field
Prior art date
Application number
SU853961145A
Other languages
English (en)
Inventor
Евгений Аркадьевич Митрофанов
Юрий Петрович Маишев
Алевтина Петровна Аверина
Original Assignee
Предприятие П/Я А-1614
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-1614 filed Critical Предприятие П/Я А-1614
Priority to SU853961145A priority Critical patent/SU1316060A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1316060A1 publication Critical patent/SU1316060A1/ru

Links

Landscapes

  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к области физики, а именно к масс-спектромет- рии, и может найти применение при исследовании пучков Ионов, плазмы, в ионно-плазменной технологии. Целью изобретени   вл етс  расширение диапазона энергий, анализируемых в квад- рупольных ВЧ-пол х ионов, и расширение функциональных возможностей способа за счет анализа распределени  ионов отдельных массовых чисел по энерги м. Способ заключаетс  в следующем . Направл ют поток ионов в комбинированное электрическое поле, которое создают путем подачи на поле- образую11Ц1е электроды напр жени  развертки . По занисимости ионного тока от времени определ ют врем  развертки одного пика ионов с одним массовым числом t мин. Подают на поле- образующие электроды дополнительное тормоз щее напр жение Qrof ступенчато . При каждом значение регистрируют зависимость величины тока ионов от времени в течение каждой ступени. Измер ют во всем диапазоне значении величину полного ионного тока, которую используют . в качестве реперной линии. Рассчитывают зависимость токов ионов 1 (А) отдельных массовых чисел от энергии тормоз щего пол . Рассчитывают функции распределени  по энерги м ионов отдельных массовых чисел. Устройство содержит анод 1 и катод 2, дополнительную ограничительную диафрагму (ОД) 3, ОД 4, полеобразующие электроды Ь фильтра масс, выходную ОД 6, детектор 7 ионов в виде цилиндра Фара- де , корпус 8, электрометрический усилитель 9, потенциометр 10, источник 11 питани , генератор 12, источники 13, 15, источник. 16 питани . Существенное достоинство способа - возможность оценить соотношение между количествами поступающих ионов . каждого массового числа (1(})м; необходимо дл  составлени  материальных балансов. 4 ил. i (Л 00 а о 05 АгсГ

Description

11
Изобретение относитс  к физике, а именно к масс-спектрометрии, и может найти применение при исследовании пучков ионов, плазмы, в ионно- плазменной технологии.
Целью изобретени   вл етс  расширение диапазона энергий, анализируемых в квадрупольньгх ВЧ-пол х ионов, и расширение функциональных возможностей способа за счет анализа распределени  ионов отдельных массовых чисел по энерги м.
На фиг. 1 приведена схема устройства , реализующего способ; на фиг. 2 - графики зависимостей амплитуд пиков ионов газа CF I-dl I от энергии тормоз щего пол ; на фиг. 3 - графики зависимостей тока ионов газа CF от энергии тормоз щего пол ; на фиг. 4 - графики функций распределени  ионов этого газа.
Устройство содержит анод 1 и катод (ускор ющий) электрод 2 источник ионов, дополнительную входную ограничительную диафрагму 3, входн то ограничительную диафрагму 4, полеобра- зующие электроды 5 фильтра масс, выходную ограничительную диафрагму 6, детектор 7 ионов в виде цилиндра Фа- раде , корпус 8. Ток ионов, поступающих на детектор, усиливают с помощью электрометрического усилител  (ЭМУ) 9, а регистрируют на диаграммной ленте потенциометра 10. Потенциал на выходную ограничительную диафрагму 6 подают от источника 11 питани . На стержни 5 фильтра масс от генератора 12 подаетс  напр жение развертки, а от источника 13 - до- полнитель 1ое тормоз щее напр жение. Входную ограничительную диафрагму 4 поддерживают под потенциалом с помощью источника 14 питани , а дополнительную ограничительную диафрагму 3 - с помощью источника 15. Ускор ющее напр жение анода 1 ионного источника формируетс  в источнике 16 питани . Входна  ограничительна  диафрагма 4 находитс  под потенциалом Ug., который формируетс  с помощью источника 14 питани . Величина потенциала U может варьироватьс  в интервале -c i:Uo- ioo, в частном случае диафрагма может быть заземлена U,., - 0.
V 1
Величина U г может отличатьс  от
о л
потенциалов стержней фильтра масс и потенциала оси. Потенциал U о- подТ1 1
держиваетс  посто нным в течение аремени Т
и и
160602
Стержни 5 квадрупольного фильтра масс наход тс  попарно под напр жением развертки, формируемым с помощью генератора 12, вида: t(U + , Vcosai T) и одновременно под ступенчатым тормоз щим напр жением U
ТОрм
Минимальное врем  развертки одного пика группы ионов одного массового числа мим врем  полного цикла
развертки, включающее участок до на7 чала развертки, пока потенциал на всех четьфех стержн х равен нулю, весь интервал напр жений от исходно- го до максимального и спад напр жени  от максимального, соответствующего максимальному массовому числу, до исходного напр жени , соответствующего минимальному массовому числу
С„ .Особенность генератора в том, что некоторое врем  «н .ц ДО начала развертки на стержн х поддерживаетс  потенциал, равный нулю.
Дополнительное тормоз щее напр жение формируетс  в источнике 13 и подаетс  на выходной каскад генератора 12 развертки, с которого одновременно с напр жением развертки поступает и на стержни. Изол ци  каскада вьщерживает подачу дополнительного тормоз щего напр жени . I
Интервал приращений величины UJQ- определ етс  характеристиками масс- спектрометра и функци ми распределени  потока ионов. Дл  большинства малогабаритных квадрупольных масс- спектрометров (КМ) удобен интервал приращений
тсрм 100 эВ.
Величину потенциала выходной ограничительной диафрагмы 6 U поддержи- вают с помощью источника if питани  посто нным в течение
. .ц ,
50 Я
минимальное врем  развертки одного пика группы ионов с одним массовым чисг/и
2
const - врем , в течение которого величину и поддерживают посто нной, с,
Up. - потенциал выходной огра- ничительной диафрагмы 6,
(в) его величина - со tU 00 ;
g - коэффициент, О g ,u. врем  полного цикла развертки , с. Если цримен ют дополнительную ограничительную диафрагму 3 при исследовании расход щихс  пучков, то величину ее потенциала -оо и, : поддерживают с помощью источника 15 питани  посто нным в течение
- - .ц ,
где T/gj const - врем , в течение которого потенциал дополнительной ограничительной ди афрамы 3 поддерживаетс  посто нным, с,
gj - коэффициент, О ч gj со. Положение дополнительной диафрагмы 3 может измен тьс  от входной ограничительной диафрагмы 4 до выходной апертуры ионного источника 2:
О . Igj - g, . IKгде Igj-g - рассто ние между дополнительной и входной ограничительными диафрагмами , м.
- рассто ние между входной ограничительной диафрагмой и выходной апертурой ионного источника м.
Диаметр отверсти  в дополнительной ограничительной диафрагме 3 может измен тьс  в интервале значений
О d ,
где dp, - диаметр отверсти  дополни- тельной ограничительной
диафрагмы, м,
п внутренний диаметр корпуса , км,
Между выходной ограничительной диафрагмой 6 и детектором 7 дл  подав- лени  вторичной электронной эмиссии может быть установлен антидинатронны электрод, например, сетка, на которую подают отрицательный потенциал -CD Uig. О, причем величину по- тенциала поддерживают посто нной в течение времени
44
const 6 .u,
с О
5
0
5
0
5
5
где /и, const - врем  в течение которого величину потенциала анти- динатронного электрода . поддерживают посто нной, g - коэффициент, О g4 Детектор 7 ионов выполнен в виде цилиндра Фараде , возможно использование ВЭУ. Величина тока ионов на детекторе усиливаетс  с помощью ЭМУ 9. Выходное напр жение ЭМУ 9, пропорциональное величине тока ионов, регистрируетс  на диаграммной ленте потенциометра или на экране осциллографа . Исходное положение нулевой линии на диаграмме до подачи исследуемого потока ионов устанавливают с помощью ручек регулировки ЭМУ 9.
Способ осуществл етс  следующим образом.
Устанавливают исследуемый источник ионов непосредственно перед по- леобразующими электродами анализатора;
создают вакуум в корпусе устройства или технологической камере, куда оно помещено;
включают регистрирующий прибор, например потенциометр, и устанавливают с помощью ручек регулировки ЭМУ положение реперной нулевой линии на ди граммной ленте потенциометра;
подают исследуемый газ в разр дный промежуток ионного источника;
подают на анод 1 ионного источника от источника 16 питани  ускор ющее напр жение Ujytn ;
подбирают диаметр отверсти  d о-, дополнительной ограничительной диафрагмы 3 и рассто ние между ней и входной ограничительной диафрагмой 4 l(j - g таким, чтобы пучок ионов не попадал на полеобразующие электроды 5 фильтра масс путем измерени  тока между полеобразующими электродами и корпусомi
поддерживают ограничительные диафрагмы 3, 4 и 6 под потенциалом земли;
регистрируют величину общего тока IQ, поступающего на детектор, подают на полеобразующие электроды 5 фильтра масс от генераторй 12 напр жение развертки вида tlU Vcos to т / (величиной от исходного до максимального ) ;
где и - величина посто нной составл ющей напр жени , В-, V - амплитуда ВЧ-напр жени , В;
u - частота ВЧ-напр жени ,рад/с t - врем , с;
регистрируют зависимость ионного тока от времени;
определ ют по графику зависимости ионного тока от времени врем  развертки одного цикла группы ионов с одним MaccoBLiM числом Тд,ин врем  полного цикла развертки Тп.и, , диапазон массовых чисел устройства и исследуемого потока ионов, кроме того, определ ют наличие фона. Если фон есть, значит есть ионы с энерги ми
более энергии отклон ющего пол  фильт- приобретаема  ионами все-таки не
ра масс
МЯКС. II
С Е„
2
ZeU.cK
де Е
«сч.с
максимальна  кинетическа  энерги  ионов,раздел емых в фильтре масс по массовым числам-, эВ о/ - параметр, рассчитываемый с учетом характеристик масс-спектрометра и анализируемых ионов,
-величина потенциала. В;
-энерги  ионов, 3Bj
-масса иона, кгj
-составл юща  скорости иона, направленна  вдоль оси фильтра масс, м/с-,
-кратность зар да иона; величина ускор ющей разности потенциалов, через которую проход т ионы,В.
ус К
На пыходной каскад генератора 12 развертки, с которого напр жение подаетс  на полеобразующие электроды 5 фильтра масс, от источника 13 питани  ступенчато подают дополнительное тормоз щее напр жение причем врем , в течение которого тормоз щее напр жение поддерживают посто нным
const К
П.и,
Обычно в лаборатори х дл  статической обработки данных использ тот два-три полных цикла развертки К 2-3, а при управлении технологическим процессом от ЭВМ, когда используют информацию об амплитуде отдельных пиков
TO
const ,,„; К 0
интервал изменений величины U
тор
О f UTOP-И Ви
где О R 00.
Если изол ци  генератора выдерживает весь интервал изменений величины , то обычно максимальна  величина не превьшает Это обусловлено тем, что обычно знерги  ионов не превышает Ец ZeUycuВ общем случае, когда в источнике возможны флуктуации энергии, энерги .
15 бесконечна, может в этом случае превышать интервал приращений тормоз щего потенциала /iU-ropM
О ди
20
ТОрМ f ТОрЛЛ I
где О у со .
Часто удобно дл  малогабаритных серийных КМ примен ть dU, 100 эВ, обычно интервал приращений Urop/ не
превышает , при каждом значении , пока его величину поддерживают посто нной, регистрируют график зависимости величины тока ионов от вpeмeниj
измер ют во всем диапазоне значений и,-орщ, величину тока (амплитуду пика) I всего потока ионов, неразделенных по массовым числам, причем отсчет величины тока (амплитуды пика)
ведут от нулевой линии,
рассчитывают зависимость величины этого тока от энергии тормоз щего пол  I ч (Е) и стро т ее график;
дифференцируют зависимость величины тока ионов, неразделенных по мас- числам, от энергии
«
-7рП -- --i- -tieu-ropiv г- .,-,
Д ь.
ZeUTopM;
и стро т ее график,
рассчитывают функцию распределени  всего потока ионов по энерги м
f(E) dl
4dE,,
ZeU
торм
ai
E,
ZeU-ropi,
где f(E) - функци  распределени  потока ионов, неразделенных по массовым числам, по энерги м.
Л II
Z
fl - HTMOHetuie Hofinoi o токп, ,E|| - изменени  энергии,
кратность зар да, е - зар д электрона, Vopvi величина тормоз щего потеницала , TO - величина тока ионов при
и 0
- торм И стро т ее график,
измер ют величину тока (амплитуды пиков) ионов отдельных массовых чисел на графике зависимости тока ионов детектора от времени развертки, причем отсчет ведут от реперной линии, разграничивающей пик и фон, котора  соедин ет основание переднего и заднего фронтов пика;
рассчитывают величины токов ионов
Ijwj
(IO)M;
Е„ Zcl4
РГМ j
W
15
где f.(E) - функци  распределени 
по энерги м ионоп с мас совым числом М.- амплитуда пика группы ионов с массовьм числом
M.
1 2
изменение энергии тормо з щего пол , величина тока группы ионов с массовым числом
Лгп
41,
4Е.
(IO)M стро т их графики.
при О
am
Выполнение предлагаемого способа 20 иллюстрируетс  следутопщм примером.
Исследовалс  состав потока ионов из разр да газа CF. На анод ионного источника подавали от блока питани  БП-9А напр жение U у- 3,0 кВ, ток
от энергии тормоз щего пол  или путем 5 разр да составл л суммировани  величин токов (амплитуд
отдельных массовых чисел M.t ---,
2
при О путем интегрировани  зависимостей величины тока (амплитуд пиков) ионов отдельных массовых чисел
IP 150 мА. Плотность тока ионов в области входной диафрагмы 1А j 1 мА/см . Измерени  состава ионов по массовым числам проводились в области, где трансмисси 
пиков) ионов отдельных массовых чисел в измер емом диапазоне энергий (Тормоз щего пол 
00
гл т
(IO)M (- )M. dE,, Е„ ZeU.
со
СТОРМ„О«. т
, ( )
оЛЕ„ V.
тор«
ЗЕ„
ZeU.
TOPW
де
41,
величина тока группы ионов с массовым числом при 0: величина тока (амплитуда пика) группы ионов с массовым числом M.t m .
ЛЕ;
тор«„
-изменение энергии тормоз щего пол ;
-максимальна  величина энергии тормоз щего пол ,
рассчитывают зависимости токов ионов отдельных массовых чисел от энергии тормоз щего пол 
ч(Е);
рассчит 1влют функции распределени  по энерги м ионов отдельных массовых uHfeji
f«.(F-) О„ )„ dE „
Ьц - ZeUjjjp,;
Ijwj
(IO)M;
Е„ Zcl4
РГМ j
где f.(E) - функци  распределени 
по энерги м ионоп с массовым числом М.- амплитуда пика группы ионов с массовьм числом
M.
1 2
изменение энергии тормоз щего пол , величина тока группы ионов с массовым числом
Лгп
41,
4Е.
(IO)M стро т их графики.
при О
Исследовалс  состав потока ионов из разр да газа CF. На анод ионного источника подавали от блока питани  БП-9А напр жение U у- 3,0 кВ, ток
разр да составл л
 ,
IP 150 мА. Плотность тока ионов в области входной диафрагмы 1А j 1 мА/см . Измерени  состава ионов по массовым числам проводились в области, где трансмисси 
30 близка к 100%.
Сначала дважды измер ли спектр масс на участке от 5 до 80 а.е.м. без подачи тормоз щего напр жени  - ТОРИ затем на стержни фильт35 ра масс от универсального источника питани  УИП-1 на генератор 12 через каждые +100 В подавали тормоз щее напр жение до напр жени  +800 В и каждый раз фиксировали по два спект40 ра участка 5-80 а.е.м. Длительность записи одного участка спектра 4 мин. Спектры зафиксированы при положении переключател  Множитель щкал, электрометрического усилител  ваку45 умметра ВИ-12 10. Диапазон измер емых токов на этой щкале 0,2-10 20-10 °А. Середина ленты соответствует середине шкалы lO-IO A, полное отклонение на всю щирину ленты соответствует величине тока ионов 20 « ). Величины токов ионов (амплитуды пиков отсчитывались от искривленной интерполированной реперной линии , разграничивающей пики ионов и
55 фон.
Зависимость величины тока (амплитуды пика) ионов с данным массовым числом от энергии тормоз щего пол  - это график зависимости перпоп про50
нзводной величины общего ионного то- дл  ионов с массе (l.M
лт
вым числом Mji--от энергии тормоз щего пол . Дл  расчета значений функции распределени  ионов каждого массового числа необходимо знать полное число этих ионов при 0. Его определ ют по сумме амплитуд пиков ионов с данным массовым числом.
Далее по сумме амплитуд рассчитывают полный ток ионов с данным массовым числом (l j ArtНа фиг. 2-4 Построены графики, характеризующие зависимости общего тока ионов и производные этих зависимостей от энергии, а также функци  распределени  ионов по энерги м.
Среднеквадратична  погрешность получаемого значени  функции распре- дени  f«.(y) включает в себ  среднеквадратичные погрешности следующих измерений: изменени  величины тока 41., величины полного тока (1о). и интервала изменени  энергии тормоз щего пол  лЕ,, . При измерении величины (d 1)д,. с помощью ЭМУ от вакуумметра ВИ-12, погрешность составл ет 15,02%.
Погрешность дЕ,, при подаче тормоз щего потенциала от источника УИП-1 +0,5%. Рассчетное значение погрешности do- м- полученное по дев ти измерени м величины ионного тока, каждое из которых выполнено с точностью; 35 измер ют ток на детекторе, и регист- +5 02% составл ет +15,06%. Рассчетна  рируют зависимость тока ионов от времени , отличающийс 
среднеквадратична  погрешность значени  f м, (Е) с учетом всех этих величин равна +16,65% +16,7%..
Преимущество способа состоит в том, что по вл етс  возможность анализировать ионы по массовым числам в широком диапазоне энергий, становитс  возможным проанализировать распределение ионов отдельных массовых чисел по энерги м с высокой чувствительностью .
Одно из существенных достоинств способа - возможность оценить соотношение между количествами поступающих ионов каждого массового числа (Х)., что необходимо дл  составлени  материальных балансов.
Предлагаемый способ обеспечивает значительно большую точность анализа состава, так как исгГользование в известном способе большого количества устройств с малыми отверсти ми
40
, 1 J, пчающийс  тем, что, с целью расширени  диапазона энергий анализируемых ионов и функциональных возможностей способа за счет анализа распределени  ионов отдельных массовых чисел по энерги м после подачи на полеобразующие электроды напр жени  развертки, по зависимости ионного тока от времени определ ют врем  развертки одного пика ионов с одним массовым числом подают на полеобразующие электроды дополнительное тормоз щее напр жение
ступенчато, причем длительность ступени, в течение которой тормоз щее напр жение , поддерживаетс  посто нным, не менее при каждом значении ,p , регистрируют за- висимость величины тока ионов от
времени в течение каждой ступени, измер ют во всем диапазоне значений
45
50 rofi
мшl
и
тори
величину полного ионного тока , которую используют в качестве
в диафрагмах искажало результаты анализа состава потока ионов с широким диапазоном массовых чисел.
Способ упрощает аппаратурное оформнение , уменьшает стоимость установки и сокращает врем  подготовки ее к работе. Способ обеспег ивает возможность обработки результатов на ЭВМ, что раскрывает широкие перспектины дл  использовани  изобретени  в системах оптимизации конструкций ионных источников и АСУ ТП.
Способ и устройство дают возможность анализировать не только положительные , но и отрицательные ионы,
В предлагаемом способе и реализующем устройстве вакуум необходимо создавать только в анализаторе и детекторе , а источник ионов может работать не только в вакууме, но и при нормальном атмосферном и даже повышенном давлении.

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Способ анализа ионов в квадруполь- ном масс-спектрометре, заключающийс  в том, что направл ют поток ионов Е комбинированное электрическое поле, создаваемое путем подачи на полеоб- раэуюш е электроды высокочастотного и взаимосв занного с ним посто нного напр жени  развертки, а также дополнительного тормоз щего напр жени ,
    змер ют ток на детекторе, и регист- рируют зависимость тока ионов от времени , отличающийс 
    , 1 J, пчающийс  тем, что, с целью расширени  диапазона энергий анализируемых ионов и функциональных возможностей способа за счет анализа распределени  ионов отельных массовых чисел по энерги м после подачи на полеобразующие электоды напр жени  развертки, по зависимости ионного тока от времени определ ют врем  развертки одного пика ионов с одним массовым числом подают на полеобразующие электроды дополнительное тормоз щее напр жение
    ступенчато, причем длительность ступени, в течение которой тормоз щее напр жение , поддерживаетс  посто нным, не менее при каждом значении ,p , регистрируют за- висимость величины тока ионов от
    времени в течение каждой ступени, измер ют во всем диапазоне значений
    rofi
    мшl
    и
    тори
    величину полного ионного тока , которую используют в качестве
    и1316060
    реперной линии, рассчитывают зависи- где мости токов ионов 1 (А) отдельных массовых чисел от энергии тормоз щего пол 
    IM, - (Е)
    и рассчитывают функции распределени  по энерги м ионов отдельных массовых чисел10
    diMi
    CT Ч jp
    O lW; 11
    ZeU
    ТОрм л 1м(
    (1о)м;4Е„
    Z(jU
    торм )
    6060
    где
    f (Е)
    -31,
    4Е,
    (1.)
    О м
    е
    Z
    12
    -функци  распределени  по энерги м ионов с массо .. . jm вым числом rij t --- j
    -изменение величины тока ионов с массовым числом
    .. J. от
    Mj t 9 измеренное от
    реперной линии, раздел ющей пик иона фон А;
    -изменение энергии тормоз щего пол , эВ,
    -величина тока ионов с
    массовым числом M;t --при О, (А);
    -зар д электрона, (кл);
    -кратность зар да иона.
    П f ,л .г.лг.
    2ffff 300 Ш 500 600 100 600
    Фиг.1
    (/гор,зЬ
    6500
    Xtf т wo т т soo т loo ш E-feUnp ул
    .
    И- ,а.е..
    10-lf
    о 100 гоо JOO 400 soo бОО ЮО дОО ,эд
    м « ш , tf. е лг.
    т-
    ВНИНПИ Заказ 2370/55Тираж 698Подписное
    Произв.-полигр. пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектна , 4
SU853961145A 1985-10-08 1985-10-08 Способ анализа ионов в квадрупольном масс-спектрометре SU1316060A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853961145A SU1316060A1 (ru) 1985-10-08 1985-10-08 Способ анализа ионов в квадрупольном масс-спектрометре

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853961145A SU1316060A1 (ru) 1985-10-08 1985-10-08 Способ анализа ионов в квадрупольном масс-спектрометре

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1316060A1 true SU1316060A1 (ru) 1987-06-07

Family

ID=21200001

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853961145A SU1316060A1 (ru) 1985-10-08 1985-10-08 Способ анализа ионов в квадрупольном масс-спектрометре

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1316060A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Слободенюк Г.И. Квадрупольные масс-спектрометры. М.: Атомиздат,1974 Зубков И.П. и др. Исследование потока ионов, выход щих из двухлин- зового ускорител . ЖТФ, 1971, т. 41, № 5, с. 880-889. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Gregory et al. Experimental cross sections for electron-impact ionization of iron ions: Fe 5+, Fe 6+, and Fe 9+
Chrien et al. Proton spectra from 800 MeV protons on selected nuclides
Trujillo et al. Merging beams, a different approach to collision cross section measurements
Schey et al. A tandem time-of-flight mass spectrometer for surface-induced dissociation
Park et al. Heavy-particle energy-loss spectrometry: Inelastic cross sections for protons incident upon helium
Margreiter et al. Electron impact ionization cross sections of molecules: Part I. Experimental determination of partial ionization cross sections of SF6: a case study
Seah et al. AES: Accurate intensity calibration of electron spectrometers—results of a BCR interlaboratory comparison co‐sponsored by the VAMAS SCA TWP
Filatova et al. Study of drift chamber system for a K e scattering experiment at the Fermi National Accelerator Laboratory
Vancura et al. Absolute total and one-and two-electron transfer cross sections for Ar q+(8≤ q≤ 16) on He and H 2 at 2.3q keV
Purser A high throughput 14C accelerator mass spectrometer
Wagenaar et al. Absolute differential cross sections for elastic scattering of electrons over small angles from noble-gas atoms
Karstensen et al. Absolute cross sections for single and double ionisation of Mg atoms by electron impact
US4808818A (en) Method of operating a mass spectrometer and a mass spectrometer for carrying out the method
Toburen et al. Time‐of‐flight measurements of low‐energy electron energy distributions from ion–atom collisions
Greenwood et al. Large angle elastic scattering of electrons from Ar+
Cowen et al. Nonlinearities in sensitivity of quadrupole partial pressure analyzers operating at higher gas pressures
SU1316060A1 (ru) Способ анализа ионов в квадрупольном масс-спектрометре
Chan et al. Performance of the HPC calorimeter in DELPHI
Khursheed Multi-channel vs. conventional retarding field spectrometers for voltage contrast
US2999157A (en) Method and apparatus for ionization investigation
Barnett et al. Characteristics of an electron multiplier in the detection of positive ions
Kvale et al. Single-electron detachment cross sections for 5–50-keV H− ions incident on helium, neon, and argon atoms
Quinteros et al. Three-dimensional ion beam-profile monitor for storage rings
Nexsen Jr et al. Multichannel neutral‐particle analyzer system
Hudson Energy Loss and Straggling of 150-Mev Electrons in Li, Be, C, and Al