SU1316060A1 - Способ анализа ионов в квадрупольном масс-спектрометре - Google Patents
Способ анализа ионов в квадрупольном масс-спектрометре Download PDFInfo
- Publication number
- SU1316060A1 SU1316060A1 SU853961145A SU3961145A SU1316060A1 SU 1316060 A1 SU1316060 A1 SU 1316060A1 SU 853961145 A SU853961145 A SU 853961145A SU 3961145 A SU3961145 A SU 3961145A SU 1316060 A1 SU1316060 A1 SU 1316060A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- ions
- ion
- energy
- mass
- field
- Prior art date
Links
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к области физики, а именно к масс-спектромет- рии, и может найти применение при исследовании пучков Ионов, плазмы, в ионно-плазменной технологии. Целью изобретени вл етс расширение диапазона энергий, анализируемых в квад- рупольных ВЧ-пол х ионов, и расширение функциональных возможностей способа за счет анализа распределени ионов отдельных массовых чисел по энерги м. Способ заключаетс в следующем . Направл ют поток ионов в комбинированное электрическое поле, которое создают путем подачи на поле- образую11Ц1е электроды напр жени развертки . По занисимости ионного тока от времени определ ют врем развертки одного пика ионов с одним массовым числом t мин. Подают на поле- образующие электроды дополнительное тормоз щее напр жение Qrof ступенчато . При каждом значение регистрируют зависимость величины тока ионов от времени в течение каждой ступени. Измер ют во всем диапазоне значении величину полного ионного тока, которую используют . в качестве реперной линии. Рассчитывают зависимость токов ионов 1 (А) отдельных массовых чисел от энергии тормоз щего пол . Рассчитывают функции распределени по энерги м ионов отдельных массовых чисел. Устройство содержит анод 1 и катод 2, дополнительную ограничительную диафрагму (ОД) 3, ОД 4, полеобразующие электроды Ь фильтра масс, выходную ОД 6, детектор 7 ионов в виде цилиндра Фара- де , корпус 8, электрометрический усилитель 9, потенциометр 10, источник 11 питани , генератор 12, источники 13, 15, источник. 16 питани . Существенное достоинство способа - возможность оценить соотношение между количествами поступающих ионов . каждого массового числа (1(})м; необходимо дл составлени материальных балансов. 4 ил. i (Л 00 а о 05 АгсГ
Description
11
Изобретение относитс к физике, а именно к масс-спектрометрии, и может найти применение при исследовании пучков ионов, плазмы, в ионно- плазменной технологии.
Целью изобретени вл етс расширение диапазона энергий, анализируемых в квадрупольньгх ВЧ-пол х ионов, и расширение функциональных возможностей способа за счет анализа распределени ионов отдельных массовых чисел по энерги м.
На фиг. 1 приведена схема устройства , реализующего способ; на фиг. 2 - графики зависимостей амплитуд пиков ионов газа CF I-dl I от энергии тормоз щего пол ; на фиг. 3 - графики зависимостей тока ионов газа CF от энергии тормоз щего пол ; на фиг. 4 - графики функций распределени ионов этого газа.
Устройство содержит анод 1 и катод (ускор ющий) электрод 2 источник ионов, дополнительную входную ограничительную диафрагму 3, входн то ограничительную диафрагму 4, полеобра- зующие электроды 5 фильтра масс, выходную ограничительную диафрагму 6, детектор 7 ионов в виде цилиндра Фа- раде , корпус 8. Ток ионов, поступающих на детектор, усиливают с помощью электрометрического усилител (ЭМУ) 9, а регистрируют на диаграммной ленте потенциометра 10. Потенциал на выходную ограничительную диафрагму 6 подают от источника 11 питани . На стержни 5 фильтра масс от генератора 12 подаетс напр жение развертки, а от источника 13 - до- полнитель 1ое тормоз щее напр жение. Входную ограничительную диафрагму 4 поддерживают под потенциалом с помощью источника 14 питани , а дополнительную ограничительную диафрагму 3 - с помощью источника 15. Ускор ющее напр жение анода 1 ионного источника формируетс в источнике 16 питани . Входна ограничительна диафрагма 4 находитс под потенциалом Ug., который формируетс с помощью источника 14 питани . Величина потенциала U может варьироватьс в интервале -c i:Uo- ioo, в частном случае диафрагма может быть заземлена U,., - 0.
V 1
Величина U г может отличатьс от
о л
потенциалов стержней фильтра масс и потенциала оси. Потенциал U о- подТ1 1
держиваетс посто нным в течение аремени Т
и и
160602
Стержни 5 квадрупольного фильтра масс наход тс попарно под напр жением развертки, формируемым с помощью генератора 12, вида: t(U + , Vcosai T) и одновременно под ступенчатым тормоз щим напр жением U
ТОрм
Минимальное врем развертки одного пика группы ионов одного массового числа мим врем полного цикла
развертки, включающее участок до на7 чала развертки, пока потенциал на всех четьфех стержн х равен нулю, весь интервал напр жений от исходно- го до максимального и спад напр жени от максимального, соответствующего максимальному массовому числу, до исходного напр жени , соответствующего минимальному массовому числу
С„ .Особенность генератора в том, что некоторое врем «н .ц ДО начала развертки на стержн х поддерживаетс потенциал, равный нулю.
Дополнительное тормоз щее напр жение формируетс в источнике 13 и подаетс на выходной каскад генератора 12 развертки, с которого одновременно с напр жением развертки поступает и на стержни. Изол ци каскада вьщерживает подачу дополнительного тормоз щего напр жени . I
Интервал приращений величины UJQ- определ етс характеристиками масс- спектрометра и функци ми распределени потока ионов. Дл большинства малогабаритных квадрупольных масс- спектрометров (КМ) удобен интервал приращений
тсрм 100 эВ.
Величину потенциала выходной ограничительной диафрагмы 6 U поддержи- вают с помощью источника if питани посто нным в течение
. .ц ,
50 Я
минимальное врем развертки одного пика группы ионов с одним массовым чисг/и
2
const - врем , в течение которого величину и поддерживают посто нной, с,
Up. - потенциал выходной огра- ничительной диафрагмы 6,
(в) его величина - со tU 00 ;
g - коэффициент, О g ,u. врем полного цикла развертки , с. Если цримен ют дополнительную ограничительную диафрагму 3 при исследовании расход щихс пучков, то величину ее потенциала -оо и, : поддерживают с помощью источника 15 питани посто нным в течение
- - .ц ,
где T/gj const - врем , в течение которого потенциал дополнительной ограничительной ди афрамы 3 поддерживаетс посто нным, с,
gj - коэффициент, О ч gj со. Положение дополнительной диафрагмы 3 может измен тьс от входной ограничительной диафрагмы 4 до выходной апертуры ионного источника 2:
О . Igj - g, . IKгде Igj-g - рассто ние между дополнительной и входной ограничительными диафрагмами , м.
- рассто ние между входной ограничительной диафрагмой и выходной апертурой ионного источника м.
Диаметр отверсти в дополнительной ограничительной диафрагме 3 может измен тьс в интервале значений
О d ,
где dp, - диаметр отверсти дополни- тельной ограничительной
диафрагмы, м,
п внутренний диаметр корпуса , км,
Между выходной ограничительной диафрагмой 6 и детектором 7 дл подав- лени вторичной электронной эмиссии может быть установлен антидинатронны электрод, например, сетка, на которую подают отрицательный потенциал -CD Uig. О, причем величину по- тенциала поддерживают посто нной в течение времени
44
const 6 .u,
с О
5
0
5
0
5
5
где /и, const - врем в течение которого величину потенциала анти- динатронного электрода . поддерживают посто нной, g - коэффициент, О g4 Детектор 7 ионов выполнен в виде цилиндра Фараде , возможно использование ВЭУ. Величина тока ионов на детекторе усиливаетс с помощью ЭМУ 9. Выходное напр жение ЭМУ 9, пропорциональное величине тока ионов, регистрируетс на диаграммной ленте потенциометра или на экране осциллографа . Исходное положение нулевой линии на диаграмме до подачи исследуемого потока ионов устанавливают с помощью ручек регулировки ЭМУ 9.
Способ осуществл етс следующим образом.
Устанавливают исследуемый источник ионов непосредственно перед по- леобразующими электродами анализатора;
создают вакуум в корпусе устройства или технологической камере, куда оно помещено;
включают регистрирующий прибор, например потенциометр, и устанавливают с помощью ручек регулировки ЭМУ положение реперной нулевой линии на ди граммной ленте потенциометра;
подают исследуемый газ в разр дный промежуток ионного источника;
подают на анод 1 ионного источника от источника 16 питани ускор ющее напр жение Ujytn ;
подбирают диаметр отверсти d о-, дополнительной ограничительной диафрагмы 3 и рассто ние между ней и входной ограничительной диафрагмой 4 l(j - g таким, чтобы пучок ионов не попадал на полеобразующие электроды 5 фильтра масс путем измерени тока между полеобразующими электродами и корпусомi
поддерживают ограничительные диафрагмы 3, 4 и 6 под потенциалом земли;
регистрируют величину общего тока IQ, поступающего на детектор, подают на полеобразующие электроды 5 фильтра масс от генераторй 12 напр жение развертки вида tlU Vcos to т / (величиной от исходного до максимального ) ;
где и - величина посто нной составл ющей напр жени , В-, V - амплитуда ВЧ-напр жени , В;
u - частота ВЧ-напр жени ,рад/с t - врем , с;
регистрируют зависимость ионного тока от времени;
определ ют по графику зависимости ионного тока от времени врем развертки одного цикла группы ионов с одним MaccoBLiM числом Тд,ин врем полного цикла развертки Тп.и, , диапазон массовых чисел устройства и исследуемого потока ионов, кроме того, определ ют наличие фона. Если фон есть, значит есть ионы с энерги ми
более энергии отклон ющего пол фильт- приобретаема ионами все-таки не
ра масс
МЯКС. II
С Е„
2
ZeU.cK
де Е
«сч.с
максимальна кинетическа энерги ионов,раздел емых в фильтре масс по массовым числам-, эВ о/ - параметр, рассчитываемый с учетом характеристик масс-спектрометра и анализируемых ионов,
-величина потенциала. В;
-энерги ионов, 3Bj
-масса иона, кгj
-составл юща скорости иона, направленна вдоль оси фильтра масс, м/с-,
-кратность зар да иона; величина ускор ющей разности потенциалов, через которую проход т ионы,В.
ус К
На пыходной каскад генератора 12 развертки, с которого напр жение подаетс на полеобразующие электроды 5 фильтра масс, от источника 13 питани ступенчато подают дополнительное тормоз щее напр жение причем врем , в течение которого тормоз щее напр жение поддерживают посто нным
const К
П.и,
Обычно в лаборатори х дл статической обработки данных использ тот два-три полных цикла развертки К 2-3, а при управлении технологическим процессом от ЭВМ, когда используют информацию об амплитуде отдельных пиков
TO
const ,,„; К 0
интервал изменений величины U
тор
О f UTOP-И Ви
где О R 00.
Если изол ци генератора выдерживает весь интервал изменений величины , то обычно максимальна величина не превьшает Это обусловлено тем, что обычно знерги ионов не превышает Ец ZeUycuВ общем случае, когда в источнике возможны флуктуации энергии, энерги .
15 бесконечна, может в этом случае превышать интервал приращений тормоз щего потенциала /iU-ropM
О ди
20
ТОрМ f ТОрЛЛ I
где О у со .
Часто удобно дл малогабаритных серийных КМ примен ть dU, 100 эВ, обычно интервал приращений Urop/ не
превышает , при каждом значении , пока его величину поддерживают посто нной, регистрируют график зависимости величины тока ионов от вpeмeниj
измер ют во всем диапазоне значений и,-орщ, величину тока (амплитуду пика) I всего потока ионов, неразделенных по массовым числам, причем отсчет величины тока (амплитуды пика)
ведут от нулевой линии,
рассчитывают зависимость величины этого тока от энергии тормоз щего пол I ч (Е) и стро т ее график;
дифференцируют зависимость величины тока ионов, неразделенных по мас- числам, от энергии
«
-7рП -- --i- -tieu-ropiv г- .,-,
Д ь.
ZeUTopM;
и стро т ее график,
рассчитывают функцию распределени всего потока ионов по энерги м
f(E) dl
4dE,,
ZeU
торм
ai
E,
ZeU-ropi,
где f(E) - функци распределени потока ионов, неразделенных по массовым числам, по энерги м.
Л II
Z
fl - HTMOHetuie Hofinoi o токп, ,E|| - изменени энергии,
кратность зар да, е - зар д электрона, Vopvi величина тормоз щего потеницала , TO - величина тока ионов при
и 0
- торм И стро т ее график,
измер ют величину тока (амплитуды пиков) ионов отдельных массовых чисел на графике зависимости тока ионов детектора от времени развертки, причем отсчет ведут от реперной линии, разграничивающей пик и фон, котора соедин ет основание переднего и заднего фронтов пика;
рассчитывают величины токов ионов
Ijwj
(IO)M;
Е„ Zcl4
РГМ j
W
15
где f.(E) - функци распределени
по энерги м ионоп с мас совым числом М.- амплитуда пика группы ионов с массовьм числом
M.
1 2
изменение энергии тормо з щего пол , величина тока группы ионов с массовым числом
Лгп
41,
4Е.
(IO)M стро т их графики.
при О
am
Выполнение предлагаемого способа 20 иллюстрируетс следутопщм примером.
Исследовалс состав потока ионов из разр да газа CF. На анод ионного источника подавали от блока питани БП-9А напр жение U у- 3,0 кВ, ток
от энергии тормоз щего пол или путем 5 разр да составл л суммировани величин токов (амплитуд
отдельных массовых чисел M.t ---,
2
при О путем интегрировани зависимостей величины тока (амплитуд пиков) ионов отдельных массовых чисел
IP 150 мА. Плотность тока ионов в области входной диафрагмы 1А j 1 мА/см . Измерени состава ионов по массовым числам проводились в области, где трансмисси
пиков) ионов отдельных массовых чисел в измер емом диапазоне энергий (Тормоз щего пол
00
гл т
(IO)M (- )M. dE,, Е„ ZeU.
со
СТОРМ„О«. т
, ( )
оЛЕ„ V.
тор«
ЗЕ„
ZeU.
TOPW
де
41,
величина тока группы ионов с массовым числом при 0: величина тока (амплитуда пика) группы ионов с массовым числом M.t m .
ЛЕ;
тор«„
-изменение энергии тормоз щего пол ;
-максимальна величина энергии тормоз щего пол ,
рассчитывают зависимости токов ионов отдельных массовых чисел от энергии тормоз щего пол
ч(Е);
рассчит 1влют функции распределени по энерги м ионов отдельных массовых uHfeji
f«.(F-) О„ )„ dE „
Ьц - ZeUjjjp,;
Ijwj
(IO)M;
Е„ Zcl4
РГМ j
где f.(E) - функци распределени
по энерги м ионоп с массовым числом М.- амплитуда пика группы ионов с массовьм числом
M.
1 2
изменение энергии тормоз щего пол , величина тока группы ионов с массовым числом
Лгп
41,
4Е.
(IO)M стро т их графики.
при О
Исследовалс состав потока ионов из разр да газа CF. На анод ионного источника подавали от блока питани БП-9А напр жение U у- 3,0 кВ, ток
разр да составл л
,
IP 150 мА. Плотность тока ионов в области входной диафрагмы 1А j 1 мА/см . Измерени состава ионов по массовым числам проводились в области, где трансмисси
30 близка к 100%.
Сначала дважды измер ли спектр масс на участке от 5 до 80 а.е.м. без подачи тормоз щего напр жени - ТОРИ затем на стержни фильт35 ра масс от универсального источника питани УИП-1 на генератор 12 через каждые +100 В подавали тормоз щее напр жение до напр жени +800 В и каждый раз фиксировали по два спект40 ра участка 5-80 а.е.м. Длительность записи одного участка спектра 4 мин. Спектры зафиксированы при положении переключател Множитель щкал, электрометрического усилител ваку45 умметра ВИ-12 10. Диапазон измер емых токов на этой щкале 0,2-10 20-10 °А. Середина ленты соответствует середине шкалы lO-IO A, полное отклонение на всю щирину ленты соответствует величине тока ионов 20 « ). Величины токов ионов (амплитуды пиков отсчитывались от искривленной интерполированной реперной линии , разграничивающей пики ионов и
55 фон.
Зависимость величины тока (амплитуды пика) ионов с данным массовым числом от энергии тормоз щего пол - это график зависимости перпоп про50
нзводной величины общего ионного то- дл ионов с массе (l.M
лт
вым числом Mji--от энергии тормоз щего пол . Дл расчета значений функции распределени ионов каждого массового числа необходимо знать полное число этих ионов при 0. Его определ ют по сумме амплитуд пиков ионов с данным массовым числом.
Далее по сумме амплитуд рассчитывают полный ток ионов с данным массовым числом (l j ArtНа фиг. 2-4 Построены графики, характеризующие зависимости общего тока ионов и производные этих зависимостей от энергии, а также функци распределени ионов по энерги м.
Среднеквадратична погрешность получаемого значени функции распре- дени f«.(y) включает в себ среднеквадратичные погрешности следующих измерений: изменени величины тока 41., величины полного тока (1о). и интервала изменени энергии тормоз щего пол лЕ,, . При измерении величины (d 1)д,. с помощью ЭМУ от вакуумметра ВИ-12, погрешность составл ет 15,02%.
Погрешность дЕ,, при подаче тормоз щего потенциала от источника УИП-1 +0,5%. Рассчетное значение погрешности do- м- полученное по дев ти измерени м величины ионного тока, каждое из которых выполнено с точностью; 35 измер ют ток на детекторе, и регист- +5 02% составл ет +15,06%. Рассчетна рируют зависимость тока ионов от времени , отличающийс
среднеквадратична погрешность значени f м, (Е) с учетом всех этих величин равна +16,65% +16,7%..
Преимущество способа состоит в том, что по вл етс возможность анализировать ионы по массовым числам в широком диапазоне энергий, становитс возможным проанализировать распределение ионов отдельных массовых чисел по энерги м с высокой чувствительностью .
Одно из существенных достоинств способа - возможность оценить соотношение между количествами поступающих ионов каждого массового числа (Х)., что необходимо дл составлени материальных балансов.
Предлагаемый способ обеспечивает значительно большую точность анализа состава, так как исгГользование в известном способе большого количества устройств с малыми отверсти ми
40
, 1 J, пчающийс тем, что, с целью расширени диапазона энергий анализируемых ионов и функциональных возможностей способа за счет анализа распределени ионов отдельных массовых чисел по энерги м после подачи на полеобразующие электроды напр жени развертки, по зависимости ионного тока от времени определ ют врем развертки одного пика ионов с одним массовым числом подают на полеобразующие электроды дополнительное тормоз щее напр жение
ступенчато, причем длительность ступени, в течение которой тормоз щее напр жение , поддерживаетс посто нным, не менее при каждом значении ,p , регистрируют за- висимость величины тока ионов от
времени в течение каждой ступени, измер ют во всем диапазоне значений
45
50 rofi
мшl
и
тори
величину полного ионного тока , которую используют в качестве
в диафрагмах искажало результаты анализа состава потока ионов с широким диапазоном массовых чисел.
Способ упрощает аппаратурное оформнение , уменьшает стоимость установки и сокращает врем подготовки ее к работе. Способ обеспег ивает возможность обработки результатов на ЭВМ, что раскрывает широкие перспектины дл использовани изобретени в системах оптимизации конструкций ионных источников и АСУ ТП.
Способ и устройство дают возможность анализировать не только положительные , но и отрицательные ионы,
В предлагаемом способе и реализующем устройстве вакуум необходимо создавать только в анализаторе и детекторе , а источник ионов может работать не только в вакууме, но и при нормальном атмосферном и даже повышенном давлении.
Claims (1)
- Формула изобретениСпособ анализа ионов в квадруполь- ном масс-спектрометре, заключающийс в том, что направл ют поток ионов Е комбинированное электрическое поле, создаваемое путем подачи на полеоб- раэуюш е электроды высокочастотного и взаимосв занного с ним посто нного напр жени развертки, а также дополнительного тормоз щего напр жени ,змер ют ток на детекторе, и регист- рируют зависимость тока ионов от времени , отличающийс, 1 J, пчающийс тем, что, с целью расширени диапазона энергий анализируемых ионов и функциональных возможностей способа за счет анализа распределени ионов отельных массовых чисел по энерги м после подачи на полеобразующие электоды напр жени развертки, по зависимости ионного тока от времени определ ют врем развертки одного пика ионов с одним массовым числом подают на полеобразующие электроды дополнительное тормоз щее напр жениеступенчато, причем длительность ступени, в течение которой тормоз щее напр жение , поддерживаетс посто нным, не менее при каждом значении ,p , регистрируют за- висимость величины тока ионов отвремени в течение каждой ступени, измер ют во всем диапазоне значенийrofiмшlиторивеличину полного ионного тока , которую используют в качествеи1316060реперной линии, рассчитывают зависи- где мости токов ионов 1 (А) отдельных массовых чисел от энергии тормоз щего полIM, - (Е)и рассчитывают функции распределени по энерги м ионов отдельных массовых чисел10diMiCT Ч jpO lW; 11ZeUТОрм л 1м((1о)м;4Е„Z(jUторм )6060гдеf (Е)-31,4Е,(1.)О меZ12-функци распределени по энерги м ионов с массо .. . jm вым числом rij t --- j-изменение величины тока ионов с массовым числом.. J. отMj t 9 измеренное отреперной линии, раздел ющей пик иона фон А;-изменение энергии тормоз щего пол , эВ,-величина тока ионов смассовым числом M;t --при О, (А);-зар д электрона, (кл);-кратность зар да иона.П f ,л .г.лг.2ffff 300 Ш 500 600 100 600Фиг.1(/гор,зЬ6500Xtf т wo т т soo т loo ш E-feUnp ул.И- ,а.е..10-lfо 100 гоо JOO 400 soo бОО ЮО дОО ,эдм « ш , tf. е лг.т-ВНИНПИ Заказ 2370/55Тираж 698ПодписноеПроизв.-полигр. пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектна , 4
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853961145A SU1316060A1 (ru) | 1985-10-08 | 1985-10-08 | Способ анализа ионов в квадрупольном масс-спектрометре |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853961145A SU1316060A1 (ru) | 1985-10-08 | 1985-10-08 | Способ анализа ионов в квадрупольном масс-спектрометре |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1316060A1 true SU1316060A1 (ru) | 1987-06-07 |
Family
ID=21200001
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853961145A SU1316060A1 (ru) | 1985-10-08 | 1985-10-08 | Способ анализа ионов в квадрупольном масс-спектрометре |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1316060A1 (ru) |
-
1985
- 1985-10-08 SU SU853961145A patent/SU1316060A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Слободенюк Г.И. Квадрупольные масс-спектрометры. М.: Атомиздат,1974 Зубков И.П. и др. Исследование потока ионов, выход щих из двухлин- зового ускорител . ЖТФ, 1971, т. 41, № 5, с. 880-889. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Gregory et al. | Experimental cross sections for electron-impact ionization of iron ions: Fe 5+, Fe 6+, and Fe 9+ | |
Chrien et al. | Proton spectra from 800 MeV protons on selected nuclides | |
Trujillo et al. | Merging beams, a different approach to collision cross section measurements | |
Schey et al. | A tandem time-of-flight mass spectrometer for surface-induced dissociation | |
Park et al. | Heavy-particle energy-loss spectrometry: Inelastic cross sections for protons incident upon helium | |
Margreiter et al. | Electron impact ionization cross sections of molecules: Part I. Experimental determination of partial ionization cross sections of SF6: a case study | |
Seah et al. | AES: Accurate intensity calibration of electron spectrometers—results of a BCR interlaboratory comparison co‐sponsored by the VAMAS SCA TWP | |
Filatova et al. | Study of drift chamber system for a K e scattering experiment at the Fermi National Accelerator Laboratory | |
Vancura et al. | Absolute total and one-and two-electron transfer cross sections for Ar q+(8≤ q≤ 16) on He and H 2 at 2.3q keV | |
Purser | A high throughput 14C accelerator mass spectrometer | |
Wagenaar et al. | Absolute differential cross sections for elastic scattering of electrons over small angles from noble-gas atoms | |
Karstensen et al. | Absolute cross sections for single and double ionisation of Mg atoms by electron impact | |
US4808818A (en) | Method of operating a mass spectrometer and a mass spectrometer for carrying out the method | |
Toburen et al. | Time‐of‐flight measurements of low‐energy electron energy distributions from ion–atom collisions | |
Greenwood et al. | Large angle elastic scattering of electrons from Ar+ | |
Cowen et al. | Nonlinearities in sensitivity of quadrupole partial pressure analyzers operating at higher gas pressures | |
SU1316060A1 (ru) | Способ анализа ионов в квадрупольном масс-спектрометре | |
Chan et al. | Performance of the HPC calorimeter in DELPHI | |
Khursheed | Multi-channel vs. conventional retarding field spectrometers for voltage contrast | |
US2999157A (en) | Method and apparatus for ionization investigation | |
Barnett et al. | Characteristics of an electron multiplier in the detection of positive ions | |
Kvale et al. | Single-electron detachment cross sections for 5–50-keV H− ions incident on helium, neon, and argon atoms | |
Quinteros et al. | Three-dimensional ion beam-profile monitor for storage rings | |
Nexsen Jr et al. | Multichannel neutral‐particle analyzer system | |
Hudson | Energy Loss and Straggling of 150-Mev Electrons in Li, Be, C, and Al |