SU1312464A1

SU1312464A1 - Способ прецизионного измерени контактной разности потенциалов при помощи статического конденсатора

Info

Publication number: SU1312464A1
Application number: SU853842068A
Authority: SU
Inventors: Эдуард Авакович Кочаров; Аркадий Анатольевич Санников
Original assignee: Военно-воздушная инженерная Краснознаменная академия им.проф.Н.Е.Жуковского; Войсковая часть 75360
Priority date: 1985-01-07
Filing date: 1985-01-07
Publication date: 1987-05-23

Abstract

Изобретение относитс к методам измерени контактной разности потенциалов и может быть использовано дл контрол качества поверхностного сло металла деталей и машин. Целью изобретени вл етс повышение чувствительности измерени при одновременном сокращении времени измерений. Способ осуществл етс при помощи статического конденсатора, одной обкладкой которого вл ютс контролируемое изделие и второй подвижный измерительный электрод, фиксируемый на определенном рассто нии от издели . Фиксахдию электрода осуществл ют при помощи диэлектрической пластины из твердого диэлектрика заданной толщины и диэлектрической проницаемости. Пластину устанавливают между контролируемым изделием и измерительным электродом, поддержива при этом , посто нными усилие прижима и температуру в конденсаторе. 1 ил. i (Л С

Description

11312464

Изобретение относитс к конденсаторным способам измерени контактной разности потенциалов (КРП), примен емым при исследовани х в области физиUj - минимальное значение в диапазоне измер емых разностей потенциала.

Выражение (1) получаетс в резуль- ки твердого тела, электрохимии, физи- 5 тате решени электростатической зада- ческой химии, электроники, в физичес- чи, св зывающей напр жение на выходе

статического конденсатора U, с,его геометрическими размерами и параметрами регистратора

ком металловедении, преимущественно в области физики, химии и механики поверхности материалов, и может быть использовано дл контрол качества поверхностного сло ответственных деталей машин и приборов в процессе их производства, эксплуатации и ремонта .

Целью изобретени вл етс сокращение времени измерений и повьппение чувствительности способа при локальных измерени х.

Способ прецизионного измерени контактной разности потенциалов осуществл етс при помощи статического конденсатора, одной обкладкой которого вл етс контролируемое изделие, второй - подвижный измерительный электрод. Статический конденсатор экранирован дл устранени вли ни электрических полей.

Операции измерени осуществл ютс следующим образом.

На исследуемую деталь устанавливают вплотную к поверхности пластину из твердого диэлектрика заданной толщины (d) и диэлектрической проницаемости ) .

Пластину прижимают измерительнЕлм электродом, причем за врем измерени контролируют и добиваютс посто нства усили прижима и температуры. Таким образом, измерительный электрод зафиксирован на определенном рассто нии от поверхности исследуемого объекта.

Измер ют контактную разность потенциалов с помощью регистратора (электрометрический вольтметр).

Повьшение чувствительности осуществл етс использованием диэлектрической пластины с прехщзионным зада45 регистратор 7, Температура контр руетс измерителем 8 с первичным преобразователем 9, Результаты и рений считаютс достоверными, есл температурные изменени не превы

нием ее толщины (d) и диэлектрической

проницаемостью- (,,), отвечающих соот- ° значений выбранных за допустимые

ношению

. ба

d

де К и S и

s- и.

(1)

посто нньй коэффициент; заданна чувствительность регистратора;

площадь измерительного электрода;

Uj - минимальное значение в диаВыражение (1) получаетс в резуль- тате решени электростатической зада- чи, св зывающей напр жение на выходе

и,

R

В1 )

(2)

15

где изм K Rj,, ;

Rg, - входное сопротивление регистратора при и, и

ИЗМ

R

(3)

&к

На,чертеже изображена схема устройства , реализующа предлагаемый

способ.

Устройство содержит подвижньш измерительный электрод 1, исследуемую

деталь 2, пружину 3 электрода, электростатический экран 4, подвижный конструктив 5, диэлектрическую пластину 6, регистратор 7, измеритель 8 температуры с первичным преобразователем 9.

Исследуемую деталь 2 и измеритель- ньм электрод 1 располагают друг против друга в экранированном корпусе.

Помещают между деталью 2 и электродом 1 диэлектрическую пластину 6 фиксированной толщины. Перемещают конструктив 5 до фиксации с деталью 2.При этом обеспечиваетс посто нство прижимного усили пружины 3 в о всех сери х с использованием пластины 6 размера d (при изменении размера d усилие будет также стабильное, но иное). Электрический сигнал поступает на

регистратор 7, Температура контролируетс измерителем 8 с первичным преобразователем 9, Результаты измерений считаютс достоверными, если температурные изменени не превышают

Claims

Формула изобретени

Способ пре)л 1зионного измерени 55 контактной разности потенциалов при помощи статического конденсатора,заключающийс в том, что измерительный электрод фиксируют на определенном рассто нии от поверхности исследуемого объекта и производ т измерение контактной разности потенциалов, отличающийс тем, что, с целью сокращени времени измерений и повьппени чувствительности при ло- кальных измерени х, пластину из твердого диэлектрика с посто нной диэлектрической проницаемостью прижимают к исследуемой поверхности измерительным электродом, причем одновременно поддерживают посто нную температуру в конденсаторе и усилие прижимного измерительного электрода, а толщину диэлектрической пластины d и ее ди .1

Составитель Ю.Коршунов Редактор Г.Волкова Техред М.Ходанич Корректор О.Тигор

Заказ 1966/42 Тираж 777Подписное

ВНИИЖ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска наб., д.4/5

Производственно-полиграфическое предпри тие, г.Ужгород, ул.Проектна ,4

электрическую проницаемость бд определ ют из услови

% к

d - Т и;

где UH - минимальное значение в диапазоне измер емых разностей потенциала;

S - площадь измерительного электрода;

и - заданна чувствительность регистратора;

К - посто нный коэффициент.

I