SU1310762A1 - Способ измерени параметров тонких магнитных покрытий - Google Patents

Способ измерени параметров тонких магнитных покрытий Download PDF

Info

Publication number
SU1310762A1
SU1310762A1 SU853940612A SU3940612A SU1310762A1 SU 1310762 A1 SU1310762 A1 SU 1310762A1 SU 853940612 A SU853940612 A SU 853940612A SU 3940612 A SU3940612 A SU 3940612A SU 1310762 A1 SU1310762 A1 SU 1310762A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
magnetic
coating
field
dependence
intensity
Prior art date
Application number
SU853940612A
Other languages
English (en)
Inventor
Аркадий Фроимович Рейдерман
Original Assignee
Институт Физики Металлов Уральского Научного Центра Ан Ссср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Физики Металлов Уральского Научного Центра Ан Ссср filed Critical Институт Физики Металлов Уральского Научного Центра Ан Ссср
Priority to SU853940612A priority Critical patent/SU1310762A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1310762A1 publication Critical patent/SU1310762A1/ru

Links

Abstract

Изобретение относитс  к области магнитных измерений. Цель - обеспечение возможности контрол  свойств локальных участков покрыти  (П) без нарушени  его целостности, контрол  толщины П и определени  его характеристик в перпендикул рном направлении . Способ измерени  параметров тонких магнитных П реализован в устройстве . Дл  достижени  цели магнитное П намагничивают нормально его плоскости неоднородным в этой плоскости полем, измер ют электродвижущую силу в направлении нормали к плоскости П, перемагничивают испытуемый участок изменением напр женности намагничивающего пол  (НИ), одновременно измен ют амплитуду вибрации индукционного датчика (ИД) и источника НИ, измер ют зависимость амплитуды сигнала от напр женности НП, по ней определ ют толщину магнитного П и его магнитные характеристики в перпендикул рном направлении, намагничивают П тангенциально его поверхности полем, имеющим экстремум в зоне испытуемого участка, повтор ют все операции до получени  зависимости амплитуды сигнала ИД от напр женности НП и по ней и экстремальному значению ранее полученной зависимости определ ют магнитные характеристи- ки П в произвольном направлении его плоскости. 2 ил. а S (Л

Description

Изобретение относитс  к технике магнитных измерений и может быть использовано , в частности, дл  контрол  параметров магнитных покрытий носителей магнитной записи.
. Цель изобретени  - расширение функциональных возможностей способа, а именно обеспечение возможности контрол  свойств локальных участков покрыти  без нарушени  его целостное- ти, контрол  толщины покрыти  и определени  его характеристик в перпендикул рном направлении.
На фиг. 1 представлены схема реализации способа при определении тол щины. покрыти  и его магнитных характеристик в перпендикул рном направлении (а) и распределени  составл ющих намагничивающего пол  (&); на фиг. 2 - схема реализации спосо- ба при определении параметров в его плоскости (а) и соответствующие распределени  составл ющих намагничивающего пол  (5).
На фиг. 1 и 2 обозначены намагни- чивающа  катушка 1, магнитное покрытие 2, индукционный датчик 3, механический привод 4 дл  жесткой св зи намагничиваклцей катушки с индукционным датчиком и их вибрации.
Способ осуществл ют следующим образом .
Неоднородное поле в направлении нормали к поверхности создают катупг- кой 1 (фиг. 1а). Распределение это- го пол  в направлении X показано на фиг. 1Н (сплошна  лини ). Пунктиром на фиг. iS показано распределение тангенциальной (Х-й) компоненты пол  катушки 1 , которую вблизи точки (, ) можно получить достаточно малой путем уменьшени  размеров У( , У (фиг. 1а) или устранить введением симметрично расположенной относительно покрыти  второй намагни- чивающей катушки. Намагничивающа  катупка имеет пр моугольную форму витков обмотки, причем ее размер в направлении оси Z достаточно велик, поэтому Z-e компоненты намагничиваю- щего пол  и пол  покрыти  в зоне испытуемого участка можно считать отсутствующими . С учетом изложенного, принима  во внимание потенциальный характер магнитного пол  неоднородно- го намагниченного покрыти  Н, из услови  rot , получают
у ах
где Н,Н |Г- соответственно Х-  и У- 
компоненты пол  покры Т7 ти  и .
Интегриру  выргэжение (1) по толщине покрыти ,, получают
H ;;(s/2)-H ;:-(-s/2)s|b, (2)
где F(W2) и п () - Х-  компонента ПОЛЯ покрыти  соответственно на его верхней и нижней поверхност х;
т; fo
И ц - среднее по толщине значение
У-й компоненты пол  покрыти  внутри него (практически Н(У) - const).
Так как по условию перемаг ничива- ни  намагниченность покрыти  М имеет только. У-ю компоненту Мц, практически однородную по толщине, можно считать, что -1(/2)-н7(), тог- да
Ну (0/2)-rLv - -- ,
2 ЭХ
(3)
1
где Нл - тангенциальна  компонента пол  покрыти .
Поскольку область намагничивани  вблизи , где неоднородностью на- магничиваюа1,его пол  Н в направлении X можно пренебречь, всегда существенно больше толщины покрыти  (менее 1 мкм), коэффициент размагничивани  (Nq -Hij/Иу) в направлении оси У равен 1 и .
Тогда равенство (3) принимает вид
H ::(s/2)-&/2.11.
(4)
Далее, име  ввиду, что дл  пол  покрыти  над его поверхностью div B rUodiv , получают
3Hi .. ЭНх ЗУ Зх
(5)
Подставив (4) в (5), получают дл  величины 8Н,./ЗУ на поверхности покрыти  ().
а 2
ан;;/у | .-а м /зх
(6)
Так как согласно предлагаемому способу исш туемьй участок покрыти  перемагничиваетс  по предельному циклу магнитного гистерезиса, то зависимость Ми от напр женности на- магничивагацего пол  Ни дл  всех точек участка остаетс  одной и той же,
в противном случае отдельные точки испытуемого участка перемагничивают- с  по частным циклам магнитного гистерезиса с различными зависимост ми ). Тогда справедливо следующее соотношение г
% 1 9н| ан| , . х аЦ зх л .
где ОС - дифференциальна  восприимчивость покрыти ; :в направлении У. Подставл   (7) в (6) и провод 
дифференцирование, получают
зн-з sL а н jaHifi s ,.
зГ - Ц  -Тх
в точке экстремума намагничивающего пол  (,„(фиг. Ь) справедливо равенство ЭН,. и выражение
ан
9уравенство (8) дает
й1,1,
fH
(9)
Определенна  таким образом величина Зн Г/Эу, представл юща  величи- ну градиента пол  покрыти  на его поверхАости в точке экстремума на- магничивакщего пол  (), непосредственно св зана с толщиной покрыти , его магнитной характеристикой и со степенью неоднородности намагничивающего пол . Именно в указанную точку практически в окрестности зтой точки и располагают индукционный датчик, как показано на фиг. 1а. Величина магнитного потока, пронизывающего индукционный датчик, определ етс  выражением
ро(н 3+Ну) 5-п,(10)
где Ко - магнитна  посто нна ; S и п - средн   площадь витка и число витков индукционного датчика .
В выражении (Ю) суммарное поле предполагаетс  посто нньм в пределах- сечени  витков индукционного датчика в силу относительной малости размеров последнего.
При вибрации индукционного датчи- ка изменение координаты его расположени  над покрытием определ етс  выражением uy(t) y-sinot, где йу и СО - соответственно амплитуда и частота вибрации. Изменение йУ во времени приводит к изменению пол  покрыти  в зоне расположени  индукционного датчика и соответственно к по влению сигнала ЭДС в нем.
Поскольку вибраци  создаетс  при условии жесткой механической св зи датчика и ис точника пол  (их относительное перемещение равно нулю).изменени  намагничивающего пол  Н,. в зоне индукционного датчика не проис- Нц не оказывает вли- ЭДС индукционного датходит , так что  ни  на сигнал
чика. НГ от У
Учитыва  зависимость величины в зоне расположе ни  индук5
0
Н
i.r
ционного датчика в виде Нц(У)«: ---йУ,
получают дл  ЭДС индукционного датчика
/.ч л с ЭИ  ) e(t)-jU,. ----m
ш.
ЬУ coscot
и дл  амплитуды ЭДС Е
-pi,Sn(0.
(11)
О
E,(U. S.n-0 3 ЛУ.
(12)
Вблизи точки экстремума распределение Намагничивающего пол  может быть представлено разложением в р д по четным степен м X. Ограничива сь первым членом разложени , можно записать (1-kx), где k - поЧ сто нна .
ОУ завис ща 
от геометрических размеров источника пол ; Н, обозначено на фиг. 1&, это выражение в (12), получают
оу Подставл  
(9) и затем (9) в
°ч
(13)
S-n- Ь y-cO S-X,.
Амплитуду вибрации ЛУ измен ют обратно пропорционально напр женности намагничивающего пол  по закону
(1А)
е П
макс
WHH U е
°а
максимальное значение напр женности намагничивающего пол ;
йУ
миц амплитуда вибрации при
,к(,
При, этом йУ, соответствующие близким к О Н , не устанавливают, а соответствующие значени  сигнала Ец получают nvTeM экстрапол ции значеС р
НИИ при Ноц.:0 и Нд 0.
С учетом (14) выражение (13) дри- нимают вид
Ej,A
%
Г
(15)
где
.n.k.by,
Н
маис
со. (16)
5131
Таким образом, изменение амплитуды вибрации при изменении пол  обеспечивает непосредственную пропорциональность амплитуды сигнала датчика толщине и дифференциальной восприимчивости самого покрыти .
Дифференциальна  восприимчивость ТС ц покрыти  в направлении нормали к его поверхности св зана с восприимчивостью материала покрыти  в этом направлении х выражением
%
S Т+х
(17)
(в данном случае N,. 1).
Дл  материалов исследуемых покрытий максимальное значение -Х на предельном цикле магнитного гистерезиса существенно больше единицы, поэтому можно считать, что при значени х HOU , соответствующих максимальному %, Хц - 1 .
Тогда, снима  зависимость-амплитуды ЕU сигнала ЭДС индукционного датчика от пол  , поступают дл  определени  толщины покрыти 
(18)
где Е -.максимальное значение ампли
туды ЭДС, индукционного дат
чика при изменении намагничивающего пол  Н
01}
При этом дифференциальна  восприимчивость %у при любом значении HOI определ етс  выражением
а
Еу/Е,у.
(19)
Равенства (18) и (19) определ ют соответственно толщину и основные магнитные характеристики покрыти  (в форме кривой зависимости дифференциальной восприимчивости от пол ) в перпендикул рном направлении .
Дл  определени  магнитных характеристик покрыти  в его плоскости (например, в направлении X, фиг. 2) в зоне йс пытуемого -участка создают неоднородное тангенциальное намагничивающее поле HX с помощью намагничивающей катущки 1, фиг. 2а, Распределение Х-й и У-й компонент пол  катушки показано на фиг. 25 (У-  компонента обозначена пунктиром). Как следует из фиг. 2, У-  компонента намагничивающего пол  Н в области экстремума близка к нулю и при необходимости может быть получена равной
07626
нулю путем симметричного относительно плоскости покрыти  расположени  второй намагни 1ивающей катушки.
При условии достаточно больших размеров намагничивающей катушки в направлении оси Z из равенства divx получают
BI зв;
О зх ТУ
(20)
1 Интегриру  равенство (20) по толщине покрыти  и учитыва  при этом отсутствие У-й компоненты намагни- j ченности, получают
B J(S/2)-g/2 11 ,
(21)
где В|.(й/2) - нормальна  компонента индукции покрыти  на его порерунос т и; В j( . - индукци  внутри покрыти  (в| практически однородна по У в силу i относительно малой толщины покрыти ). Из услови  потенциальности пол 
покрыти  rot Н 0, получают
30
знГ
5у Зх
(22)
Дифференциру (21) и подставл   в (22), получают
зн 1 авТ 1 8 9 в: 8,
35 У (о 2 ЭХ 2
fii,
Тх
(23)
Провод  далее операции, аналогич- 40 ные описанным вьщ1е (выражени  (7)- (15)), получают
7С, i-- Е Ь„,,
X
(24)
где Ej( - амплитуда сигнала ЭДС индуК1 ;ионного датчика 3 (плоскость его витков перпендикул рна оси X) при его вибрации в направлении У совместно с источником намагничивающего пол .
При этом дл  справедливости (24) параметры вибрации и другие посто н- ные, вход щие в коэффициент А, подбирают такими, чтобы этот коэффициент оставалс  неизменным при переходе к изменени м в плоскости покрыти .
713

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Способ измерени  параметров тонких магнитных покрытий, включагадий воздействие на образец посто нным магнитным полем и регистрац по полей, обусловленных намагниченностью образца покрыти , отличающий- с   тем, что, с целью расширени  функциональных возможностей способа путем измерени  толп1ины покрыти  и измерени  параметров образцов различных типоразмеров, магнитное покрытие намагничивают нормально его плоскости неоднородным в этой Плоскости полем, имеющим экстремум в зоне испытуемого участка, измер ют сигнал ЭДС, возникающий в индукционном датчике при вибрации жестко св занных между собой источника пол  и индукционного датчика в направлении нормали к плоскости покрыти , при этом индукционный датчик располагают в точке экстремума намагничивающего пол , перемагничивают испытуемый участок по предельному цик28
    лу магнитного гистерезиса изменением напр женности намагничивающего пол , одновременно измен ют амплитуду вибрации индукционного датчика
    и источника намагничивающего пол  обратно пропорционально величине напр женности намагничивающего пол , измер ют зависимость амплитуды сигнала индукционного датчика от напр женности намагничивающего пол , по этой зависимости определ ют толщину магнитного покрыти  и его магнитные характеристики в перпендикул рном направлении, затем намагничиваит покрытие тангентщально его поверхности полем, имеющим экстремум в зоне испытуемого участка, повтор ют указанные операции до получени  зависимости амплитуды сигнала
    индукционного датчика от напр женности намагничивающего пол , по полученной зависимости и экстремальному значенио ранее измеренной зависимости определ ют магнитные характеристики покрыти  в произвольном направлении его плоскости.
    --Х
    Составитель ВЛЧульгин Редактор А.Огар Техред А.Кравчук
    Заказ 1887/42 Тираж 731 . Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР
    по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска  наб., д. 4/5
    Производственно-полиграфическое предпри тие, г. Ужгород,ул. Проектна , 4
    Корректор Л.Патай
SU853940612A 1985-08-08 1985-08-08 Способ измерени параметров тонких магнитных покрытий SU1310762A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853940612A SU1310762A1 (ru) 1985-08-08 1985-08-08 Способ измерени параметров тонких магнитных покрытий

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853940612A SU1310762A1 (ru) 1985-08-08 1985-08-08 Способ измерени параметров тонких магнитных покрытий

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1310762A1 true SU1310762A1 (ru) 1987-05-15

Family

ID=21193013

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853940612A SU1310762A1 (ru) 1985-08-08 1985-08-08 Способ измерени параметров тонких магнитных покрытий

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1310762A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116165576A (zh) * 2022-12-23 2023-05-26 南方电网数字电网研究院有限公司 TMRz轴磁场传感器

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Чечерников В.И. Магнитные измерени . МГУ, 1969, № 1, с. 94. ГОСТ 8.214-76. Пркрыти магнито- твердые. Методы измерени магнитных параметров. Изд-во стандартов, 1976. *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116165576A (zh) * 2022-12-23 2023-05-26 南方电网数字电网研究院有限公司 TMRz轴磁场传感器
CN116165576B (zh) * 2022-12-23 2023-12-12 南方电网数字电网研究院有限公司 TMRz轴磁场传感器

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Edwards et al. The magnetic leakage field of surface-breaking cracks
Berger et al. Quantitative vector magnetometry using generalized magneto-optical ellipsometry
CN112782624B (zh) 一种软磁材料矫顽力的测量装置及方法
Stupakov Controllable magnetic hysteresis measurement of electrical steels in a single-yoke open configuration
Koronovskyy et al. Electromagneto-optical effects on local areas of a ferrite-garnet film
Dodrill et al. Vibrating sample magnetometry
Matyunin et al. Fiber-optical sensors based on mono-crystal films of garnet ferrites for mechatronic systems
SU1310762A1 (ru) Способ измерени параметров тонких магнитных покрытий
CN109655771B (zh) 交流磁化率测量装置及其测量方法
US4064453A (en) Magnetic field detector
US5554932A (en) Measurement of a saturation magnetic flux density through use of a rotating permanent magnet
O’Grady et al. Alternating gradient force magnetometry: Applications and extension to low temperatures
US5574363A (en) Stability method and apparatus for nondestructive measure of magnetic saturation flux density in magnetic materials
CN105974336B (zh) 一种磁粉芯饱和磁感应强度的检测方法
Zubov et al. Surface magnetism of iron borate
Blythe An automated technique for the measurement of the AC initial susceptibility and its disaccommodation in ferromagnetic materials
CN110006323B (zh) 用于测量可磁化基底材料上的不可磁化层的厚度的方法和装置
Eltgen et al. Soft magnetic toners: A simple analytic model
Asti et al. Singularities in the AC energy losses in hard magnetic materials
Washburn Static characterization of magnetic bubble films
Von Staa et al. A torsion pendulum magnetometer for determination of the magnetization reversal under various orientation angles
CN117241730A (zh) 磁微粒成像装置
SU1302227A1 (ru) Способ измерени компонент тензора магнитной проницаемости тонких магнитных пленок
SU920591A1 (ru) Способ измерени остаточных магнитных моментов ферромагнитных образцов разомкнутой формы /его варианты/
Poidras et al. Controlled atmosphere vibrating thermo-magnetometer (C at VTM): a new device to optimize the absolute paleointensity determinations