SU1285545A1 - Способ изготовлени мультискана - Google Patents
Способ изготовлени мультискана Download PDFInfo
- Publication number
- SU1285545A1 SU1285545A1 SU853871120A SU3871120A SU1285545A1 SU 1285545 A1 SU1285545 A1 SU 1285545A1 SU 853871120 A SU853871120 A SU 853871120A SU 3871120 A SU3871120 A SU 3871120A SU 1285545 A1 SU1285545 A1 SU 1285545A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- regions
- insulating regions
- insulating
- multiscan
- creation
- Prior art date
Links
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Facsimile Heads (AREA)
Description
1C
СХ)
ел
ел
1 12
Изобретение относитс к полупроводниковой технике, в частности к технологии изготовлени кремниевых фоточувствительных преобразователей - мультисканов.
Цель изобретени - повьшение разрешающей способности мультискана и выхода годных после создани изолирующих областей.
На чертеже изображена структурна схема мультискана.
Мультискан содержит диэлектрическую подложку 1, изолирующие области 2, изолирующий слой 3, участки дискретного базового сло 4, токо- отвод щий слой 5, делительные слои 6 и 7, контакты 8 - 10.
Пример.. В качестве исходного материала выбирают л-Si с удельным сопротивлением 7,5 Ом-см. Пластины ориентируют в плоскости (110), их исходна толщина составл ет 600 мкм. Пластины рельефно вертикально про
травливают в участках изолирующих областей на глубину 8 мкм. Расположе- «ием изолирующих областей 2 закладываетс шаг элементарных чеек (10 мкм). Рельеф окисл ют, наращивают слой окисла толщиной 1 мкм. Затем
производ т осаждение поликремни при . Йосле этого производ т прецизионную шлифовку пластины со стороны , противоположной нанесенному рельефу . Предусмотрены специальные репер- ные изолирующие области, которые протравливают на глубину 12 мкм. С помощью этих реперов шлифовку останавливают за 4 мкм до выхода на дно изолирующих областей: сигналом к прекращению шлифовки вл етс выход на дно реперных областей.
Лицевую сторону пластины отмывают и окисл ют в атмосфере сухого кислорода в присутствии хлорсодержащих веществ , что обеспечивает фиксированиБЙ зар д на поверхности 10 см и плот- Iность поверхностных состо ний 10 °см эВ . Затем вскрывают окна в окисле под токоотвод щие 5 и делиo
54
5
S
5
30
35
5 . 2
тельные 6 и 7 слон. Прово/1 т диффузию бора на глубину 4 мкм с тем, чтобы граница диффузионной области располагалась на 2 мкм глубже, чем дно изолирующих областей 2. Таким образом , границы р-п-переходов выход т к слою окисла, покрывающему рельеф изолирующих областей 2. Далее нанос т по всей поверхности слой алюмини , фотогравировкой оставл ют слои металла только в местах расположени контактов к токоотвод щему слою 8 и к делительным сло м 9 и 10.
В соответствии с заданной формой мультискана, а именно с его длиной 18 мм и шириной 270 мкм, осуществл ют локальное вскрытие дна изолирующих областей 2. Дл этого между трко- отвод щим слоем 5 и обоими делительными сло ми 6 и 7 вытравливают канавки на глубину 4 мкм. Задана ширина апертуры мультискана - его фотоприемной площадки - 250 мкм, причем на делительные и токоотвод щий слои приг ходитс 210 мкм, на п-базовый слой мкм. Ширину канавок выбирают по 10 мкм с тем, чтобы гарантировать удаление п-базового сло 4 по всей длине мультискана вдоль слоев 5 - 7. Таким образом достигаетс электрическа изол ци элементарных чеек в карманах; разрешающа способность мультискана , тем самым, поднимаетс до величины, лимитируемой размерами элементарной чейки. Получен шаг структуры 10 мкм, т.е. достигнуто разрешение 100 ЛИН/ММ при 100%-ной модул ции видеосигнала. Действительно формируетс отдельный сигнал от каждой .элементарной чейки; при сканировании структуры лучом света с диаметром 1,5 мкм на изолирующих област х, ширина которых колеблетс в пределах. 1-2 мкм, происходит полное экранирование о Электрические зав зки .между элементарными чейками менее 0,1%.
Таким образом, имеет место повьште- ние разрешающей способности,по сравнению с известным в 3 раза.
Claims (1)
- СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МУЛЬТИСКАНА, включающий создание изолирующих областей в кремниевой пластине п(р)-типа проводимости, вскрытие дна изолирующих областей, формирование областей р(п)-типа проводимости, создание резистивных областей, объединяющих (р)п-области в изолированных карманах, о т л и ч ающийс я тем, что, с целью повышения разрешающей способности мультискана и выхода годных после создания изолирующих областей,с противоположной стороны пластины удаляют слой материала, не вскрывая дно изолирующих областей, осуществляют формирование р(п) и резистивных областей путем диффузии примеси на глубину, перекрывающую дно изолирующих областей, а вскрытие дна изолирующих областей t осуществляют локально после нанесения контактов.SU „12855451 1285545
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853871120A SU1285545A1 (ru) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | Способ изготовлени мультискана |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853871120A SU1285545A1 (ru) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | Способ изготовлени мультискана |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1285545A1 true SU1285545A1 (ru) | 1987-01-23 |
Family
ID=21168400
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853871120A SU1285545A1 (ru) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | Способ изготовлени мультискана |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1285545A1 (ru) |
-
1985
- 1985-03-25 SU SU853871120A patent/SU1285545A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Патент GB № 1313167, кл. Н 1 К, опублик. 1969. Авторское свидетельство СССР № 652829, кл. Н 01 L 31/04, 1980. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4231149A (en) | Narrow band-gap semiconductor CCD imaging device and method of fabrication | |
US4520552A (en) | Semiconductor device with deep grip accessible via the surface and process for manufacturing same | |
US5994751A (en) | Photodiode having reduced series resistance, and method for fabrication thereof | |
US4053349A (en) | Method for forming a narrow gap | |
US4952523A (en) | Process for fabricating charge-coupled device with reduced surface state at semiconductor-insulator interface | |
EP0044610A2 (en) | Infrared imaging system | |
KR910010745A (ko) | 반도체 장치 및 그 제조방법 | |
US4825267A (en) | Field effect transistor having self-registering source and drain regions to minimize capacitances | |
US4377904A (en) | Method of fabricating a narrow band-gap semiconductor CCD imaging device | |
US5891752A (en) | Method for making charge coupled device with all electrodes of transparent conductor | |
US4027382A (en) | Silicon gate CCD structure | |
US3829889A (en) | Semiconductor structure | |
SU1285545A1 (ru) | Способ изготовлени мультискана | |
US4167017A (en) | CCD structures with surface potential asymmetry beneath the phase electrodes | |
US4903112A (en) | Semiconductor component with contact hole | |
JPH0621423A (ja) | 赤外線検出装置及びその製造方法 | |
US3457631A (en) | Method of making a high frequency transistor structure | |
JPS61208277A (ja) | 高効率光検出器およびその製造方法 | |
EP0173074A3 (en) | Configuration of a metal insulator semiconductor with a processor based gate | |
JPS6231834B2 (ru) | ||
KR880001055A (ko) | 반도체 기억장치의 제조방법 | |
GB2030360A (en) | Bipolar charge coupled device | |
JPH01101664A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JPH07142757A (ja) | 半導体光センサの製造方法 | |
JPS54143076A (en) | Semiconductor device and its manufacture |