SU1285545A1 - Способ изготовлени мультискана - Google Patents

Способ изготовлени мультискана Download PDF

Info

Publication number
SU1285545A1
SU1285545A1 SU853871120A SU3871120A SU1285545A1 SU 1285545 A1 SU1285545 A1 SU 1285545A1 SU 853871120 A SU853871120 A SU 853871120A SU 3871120 A SU3871120 A SU 3871120A SU 1285545 A1 SU1285545 A1 SU 1285545A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
regions
insulating regions
insulating
multiscan
creation
Prior art date
Application number
SU853871120A
Other languages
English (en)
Inventor
Карина Фридриховна Берковская
Наталья Валериановна Кириллова
Борис Георгиевич Подласкин
Владимир Маркович Столовицкий
Владислав Ливерьевич Суханов
Original Assignee
Ордена Ленина физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ордена Ленина физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе filed Critical Ордена Ленина физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе
Priority to SU853871120A priority Critical patent/SU1285545A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1285545A1 publication Critical patent/SU1285545A1/ru

Links

Classifications

    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Facsimile Heads (AREA)

Description

1C
СХ)
ел
ел
1 12
Изобретение относитс  к полупроводниковой технике, в частности к технологии изготовлени  кремниевых фоточувствительных преобразователей - мультисканов.
Цель изобретени  - повьшение разрешающей способности мультискана и выхода годных после создани  изолирующих областей.
На чертеже изображена структурна  схема мультискана.
Мультискан содержит диэлектрическую подложку 1, изолирующие области 2, изолирующий слой 3, участки дискретного базового сло  4, токо- отвод щий слой 5, делительные слои 6 и 7, контакты 8 - 10.
Пример.. В качестве исходного материала выбирают л-Si с удельным сопротивлением 7,5 Ом-см. Пластины ориентируют в плоскости (110), их исходна  толщина составл ет 600 мкм. Пластины рельефно вертикально про
травливают в участках изолирующих областей на глубину 8 мкм. Расположе- «ием изолирующих областей 2 закладываетс  шаг элементарных  чеек (10 мкм). Рельеф окисл ют, наращивают слой окисла толщиной 1 мкм. Затем
производ т осаждение поликремни  при . Йосле этого производ т прецизионную шлифовку пластины со стороны , противоположной нанесенному рельефу . Предусмотрены специальные репер- ные изолирующие области, которые протравливают на глубину 12 мкм. С помощью этих реперов шлифовку останавливают за 4 мкм до выхода на дно изолирующих областей: сигналом к прекращению шлифовки  вл етс  выход на дно реперных областей.
Лицевую сторону пластины отмывают и окисл ют в атмосфере сухого кислорода в присутствии хлорсодержащих веществ , что обеспечивает фиксированиБЙ зар д на поверхности 10 см и плот- Iность поверхностных состо ний 10 °см эВ . Затем вскрывают окна в окисле под токоотвод щие 5 и делиo
54
5
S
5
30
35
5 . 2
тельные 6 и 7 слон. Прово/1 т диффузию бора на глубину 4 мкм с тем, чтобы граница диффузионной области располагалась на 2 мкм глубже, чем дно изолирующих областей 2. Таким образом , границы р-п-переходов выход т к слою окисла, покрывающему рельеф изолирующих областей 2. Далее нанос т по всей поверхности слой алюмини , фотогравировкой оставл ют слои металла только в местах расположени  контактов к токоотвод щему слою 8 и к делительным сло м 9 и 10.
В соответствии с заданной формой мультискана, а именно с его длиной 18 мм и шириной 270 мкм, осуществл ют локальное вскрытие дна изолирующих областей 2. Дл  этого между трко- отвод щим слоем 5 и обоими делительными сло ми 6 и 7 вытравливают канавки на глубину 4 мкм. Задана ширина апертуры мультискана - его фотоприемной площадки - 250 мкм, причем на делительные и токоотвод щий слои приг ходитс  210 мкм, на п-базовый слой мкм. Ширину канавок выбирают по 10 мкм с тем, чтобы гарантировать удаление п-базового сло  4 по всей длине мультискана вдоль слоев 5 - 7. Таким образом достигаетс  электрическа  изол ци  элементарных  чеек в карманах; разрешающа  способность мультискана , тем самым, поднимаетс  до величины, лимитируемой размерами элементарной  чейки. Получен шаг структуры 10 мкм, т.е. достигнуто разрешение 100 ЛИН/ММ при 100%-ной модул ции видеосигнала. Действительно формируетс  отдельный сигнал от каждой .элементарной  чейки; при сканировании структуры лучом света с диаметром 1,5 мкм на изолирующих област х, ширина которых колеблетс  в пределах. 1-2 мкм, происходит полное экранирование о Электрические зав зки .между элементарными  чейками менее 0,1%.
Таким образом, имеет место повьште- ние разрешающей способности,по сравнению с известным в 3 раза.

Claims (1)

  1. СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МУЛЬТИСКАНА, включающий создание изолирующих областей в кремниевой пластине п(р)-типа проводимости, вскрытие дна изолирующих областей, формирование областей р(п)-типа проводимости, создание резистивных областей, объединяющих (р)п-области в изолированных карманах, о т л и ч ающийс я тем, что, с целью повышения разрешающей способности мультискана и выхода годных после создания изолирующих областей,с противоположной стороны пластины удаляют слой материала, не вскрывая дно изолирующих областей, осуществляют формирование р(п) и резистивных областей путем диффузии примеси на глубину, перекрывающую дно изолирующих областей, а вскрытие дна изолирующих областей t осуществляют локально после нанесения контактов.
    SU „1285545
    1 1285545
SU853871120A 1985-03-25 1985-03-25 Способ изготовлени мультискана SU1285545A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853871120A SU1285545A1 (ru) 1985-03-25 1985-03-25 Способ изготовлени мультискана

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853871120A SU1285545A1 (ru) 1985-03-25 1985-03-25 Способ изготовлени мультискана

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1285545A1 true SU1285545A1 (ru) 1987-01-23

Family

ID=21168400

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853871120A SU1285545A1 (ru) 1985-03-25 1985-03-25 Способ изготовлени мультискана

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1285545A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Патент GB № 1313167, кл. Н 1 К, опублик. 1969. Авторское свидетельство СССР № 652829, кл. Н 01 L 31/04, 1980. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4231149A (en) Narrow band-gap semiconductor CCD imaging device and method of fabrication
US4520552A (en) Semiconductor device with deep grip accessible via the surface and process for manufacturing same
US5994751A (en) Photodiode having reduced series resistance, and method for fabrication thereof
US4053349A (en) Method for forming a narrow gap
US4952523A (en) Process for fabricating charge-coupled device with reduced surface state at semiconductor-insulator interface
EP0044610A2 (en) Infrared imaging system
KR910010745A (ko) 반도체 장치 및 그 제조방법
US4825267A (en) Field effect transistor having self-registering source and drain regions to minimize capacitances
US4377904A (en) Method of fabricating a narrow band-gap semiconductor CCD imaging device
US5891752A (en) Method for making charge coupled device with all electrodes of transparent conductor
US4027382A (en) Silicon gate CCD structure
US3829889A (en) Semiconductor structure
SU1285545A1 (ru) Способ изготовлени мультискана
US4167017A (en) CCD structures with surface potential asymmetry beneath the phase electrodes
US4903112A (en) Semiconductor component with contact hole
JPH0621423A (ja) 赤外線検出装置及びその製造方法
US3457631A (en) Method of making a high frequency transistor structure
JPS61208277A (ja) 高効率光検出器およびその製造方法
EP0173074A3 (en) Configuration of a metal insulator semiconductor with a processor based gate
JPS6231834B2 (ru)
KR880001055A (ko) 반도체 기억장치의 제조방법
GB2030360A (en) Bipolar charge coupled device
JPH01101664A (ja) 半導体集積回路装置
JPH07142757A (ja) 半導体光センサの製造方法
JPS54143076A (en) Semiconductor device and its manufacture