SU1283524A1 - Method for checking quality of manufacturing parabolic surface - Google Patents

Method for checking quality of manufacturing parabolic surface Download PDF

Info

Publication number
SU1283524A1
SU1283524A1 SU843778266A SU3778266A SU1283524A1 SU 1283524 A1 SU1283524 A1 SU 1283524A1 SU 843778266 A SU843778266 A SU 843778266A SU 3778266 A SU3778266 A SU 3778266A SU 1283524 A1 SU1283524 A1 SU 1283524A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
axis
photodetector
symmetry
control
quality
Prior art date
Application number
SU843778266A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Михаил Алексеевич Сюндюков
Игорь Васильевич Школьников
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6681
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6681 filed Critical Предприятие П/Я Р-6681
Priority to SU843778266A priority Critical patent/SU1283524A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1283524A1 publication Critical patent/SU1283524A1/en

Links

Abstract

Изобретение относитс  к области измерительной техники и может быть использовано при контроле качества изготовлени  параболических поверхностей . На контролируемую поверхность 7 с помощью пентапризмы 12 направл етс  пучок лучей, параллельный оси симметрии поверхности. Отраженный поверхностью пучок регистрируетс  позиционно-чувствительным фотоприемником 14, который автйматически разворачиваетс  своей чувствительной площадкой перпендикул рно отраженному пучку. Одновременно фотоприемник 14 автоматически смещаетс  вдоль оси симметрии контролируемой поверхности в положение, при котором сигнал на его выходе равен нулю.Регистратор 17 непрерывно измер ет смещение фотоприемника 14 относительно плоскости теоретическогофокуса контролируемой поверхности при зондировании ее освещающим вмеридиональной плоскости. После окончани  контрол  в одном меридиональном сечении объект контрол  разворачиваетс  механизмом 6 разворота вокруг оси симметрии контролируемой поверхности и измерени  повтор ютс  дл  другой меридиональной плоскости. Благодар  непрерывному измерению текущих значений продольной аберрации отраженного пучка достигаетс  повышение точности и производительности контрол  параболических поверхностей. 1 ил. сл IsD 00 00The invention relates to the field of measurement technology and can be used in the quality control of manufacturing parabolic surfaces. A beam of rays is directed to the controlled surface 7 by means of the pentaprism 12, parallel to the axis of symmetry of the surface. A beam reflected by a surface is detected by a position-sensitive photodetector 14, which automatically turns its perpendicularly reflected beam to its sensitive area. At the same time, the photoreceiver 14 automatically shifts along the axis of symmetry of the test surface to a position in which the signal at its output is zero. The recorder 17 continuously measures the displacement of the photoreceiver 14 relative to the plane of the theoretical focus of the test surface when probing it illuminating the meridional plane. After the termination of the control in one meridional section, the control object is turned by the turn mechanism 6 around the axis of symmetry of the test surface and the measurements are repeated for the other meridional plane. Due to the continuous measurement of the current values of the longitudinal aberration of the reflected beam, an increase in the accuracy and productivity of the control of parabolic surfaces is achieved. 1 il. sl IsD 00 00

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано при контроле качества изготовлени  крупногабаритных прожекторных параболических отражателей.The invention relates to a measurement technique and can be used in the quality control of manufacturing large-sized searchlight parabolic reflectors.

Целью изобретени   вл етс  повышение to4HocTH и производительности контрол , достигаемое благодар  непрерывному измерению текуЕцих значений продольной аберрации отраженного пучка при сканировании контролируемой поверхности.The aim of the invention is to increase to4HocTH and control performance achieved due to the continuous measurement of the current values of the longitudinal aberration of the reflected beam when scanning a controlled surface.

На чертеже представлена схема устройства дл  реализации способа. Устройство содержит основание 1 (с колонной 2, ползуном 3 и консолью 4, поворотный стол 5 с механизмом 6 поворота и перемещени , на котором размещают контролируемую поверхность 7, осветитель 8 со щелью 9, модул - тором Ю, рабочим коллиматором 11, фокус объектива которого расположен в плоскости щели 9, пентапризмы 12 с механизмом 13 горизонтального перемещени , двухкоординатный пози- ционно-чувствительный фотоприемник 14 с механизмами 15 и 16 вертикального перемещени  и разворота соответственно , регистратор 17, выполненный в виде устройства с записью на диаграммной ленте. Фотоприемник 14 подключен к автоматической фотоэлектрической измерительной системе 18.The drawing shows a diagram of the device for implementing the method. The device contains a base 1 (with a column 2, a slider 3 and a console 4, a turntable 5 with a turning and moving mechanism 6 on which a controlled surface 7 is placed, an illuminator 8 with a slit 9, a modulator Yu, a working collimator 11, the focus of which lens located in the plane of the slit 9, pentaprism 12 with a horizontal displacement mechanism 13, a two-coordinate position-sensitive photodetector 14 with vertical displacement and rotation mechanisms 15 and 16, respectively, a recorder 17, made in the form of a device with a record on the chart tape. The photodetector 14 is connected to the automatic photoelectric measuring system 18.

Устройство работает следующим образом ..The device works as follows.

Световой пучок проходит щель 9, модул тор 10, объектив коллиматора 11, пентапризму 12 и освещает определенную зону контролируемой поверхности 7. При этом исполнительный двигатель механизма 15 вертикального перемещени  работает в режиме поиска перемеща  фотоприемник 14 вдоль оси симметрии контролируемой поверхности до тех пор, пока изображение щели 9 не попадает на его чувствительную площадку. В этот момент автоматическа  -фотоэлектрическа  измерительна  система 18 формирует сигнал управлени , переключающий исполнительный двигатель в режим слежени . Одновременно включаетс  механизм 13 перемещени  пентапризмы 12 и приводитс  в действие механизм 16 разворота приемника 14 перпендикул рно отраженному от контролируемой поверхности световому пучку. В режиме слежени  автоThe light beam passes the slit 9, the modulator 10, the lens of the collimator 11, the pentaprism 12 and illuminates a certain area of the test surface 7. At the same time, the executive motor of the vertical displacement mechanism 15 operates in the search mode by moving the photodetector 14 along the symmetry axis of the test surface until the image slot 9 misses its sensitive area. At this point, the auto-photoelectric measuring system 18 generates a control signal that switches the executive motor to tracking mode. At the same time, the mechanism 13 for moving the pentaprism 12 is turned on, and the mechanism 16 is turned on for the receiver 14 to be perpendicularly reflected from the monitored surface to the light beam. In auto tracking mode

матическа  измерительна  система 18 вырабатывает сигнал рассогласовани , перемещающий фотоприемник 14 до полунени  на его выходе нулевого электрического сигнала. Такое положение фотоприемника поддерживаетс  дл  каждой зоны с помощью механизма 15 вертикального перемещени . Благодар  кинематической св зи фотоприемникаMathematical measuring system 18 generates a misalignment signal, moving the photodetector 14 to its polynomial at its zero electrical signal output. This position of the photodetector is maintained for each zone with the help of the mechanism 15 for vertical movement. Thanks to the kinematic connection of the photodetector

14 с приводом пера записывающего устройства регистратора 17 любое отклонение изображени  щели 9, вызванное погрещност ми формы контролируемой поверхности, фиксируетс  на днаграммной ленте.14 with the pen drive of the recorder of the recorder 17, any deviation of the image of the slit 9, caused by faults of the shape of the test surface, is recorded on the bottom of the tape.

После записи аберрограммы в одной меридиональной плоскости автоматически приводитс  в действие механизм поворота стола 5 на определенный угол и цикл измерений вновь повтор етс . По окончании последнего цикла прибор автоматически возвращает- )С  в исходное положение.After recording the aberrogram in one meridional plane, the rotation mechanism of the table 5 at a certain angle is automatically activated and the measurement cycle is repeated again. At the end of the last cycle, the device automatically returns-) C to its original position.

Ф о р мула изобретени F o r mula inventions

Способ контрол  качества изготовлени  параболической поверхности, заключающейс  в том, что направл ют на контролируемую поверхность параллельно ее оси параллельный пучок излучени , устанавливают позиционно- чувствительное фотоприемное устройство таким образом, что ось его чувствительности совпадает с осью симметрии контролируемой поверхности, регистрируют положение отраженного пучка, одновременно перемещают освещающий .пучок параллельно самому себе в плоскости, содержащей ось симметрии контролируемой поверхности , и наклон ют чувствительную площадку фотоприемного устройства таким образом, что ее поверхность остаетс  перпендикул рной оси отраженного пучка, и определ ют качество поверхности, отличающийс  тем, что, с целью повьщ1ени  точности и производительности контрол ,непрерывно перемещают фотоприемноеA method for controlling the quality of the manufacture of a parabolic surface, which directs a parallel beam of radiation on a controlled surface parallel to its axis, establishes a position-sensitive photodetector in such a way that its sensitivity axis coincides with the axis of symmetry of the controlled surface, and record the position of the reflected beam move the illuminating beam parallel to itself in the plane containing the axis of symmetry of the test surface, and tilt the sensitive area of the photodetector in such a way that its surface remains perpendicular to the axis of the reflected beam, and the surface quality is determined in that, in order to improve the accuracy and performance of the control, the photodetector is continuously moved

устройство в направлении оси симметрии контролируемой поверхности в положение , при котором сигнал на выходе фотоприемника устройства равен нулю, измер ют текущие значени  совмещени  центра чувствительной площадки фотоприемного устройства относительно расчетного положени  фокальной плоскости поверхности, повтор ютthe device in the direction of the axis of symmetry of the monitored surface to a position where the signal at the output of the photodetector of the device is zero, measure the current alignment values of the center of the sensitive area of the photoreceiver relative to the calculated position of the focal plane of the surface, repeat

312835244312835244

весь цикл измерений дл  нескольких зональных продольных аберраций по- меридиональных сечений контролируемой верхности, полученных в результате поверхности, а качество поверхности измерений всех контролируемых мери- определ ют по измеренным значени м диональных сечений.the entire measurement cycle for several zonal longitudinal aberrations of the meridional cross sections of the monitored surface resulting from the surface, and the surface quality of the measurements of all the monitored meridian are determined from the measured values of the diagonal cross sections.

Claims (1)

Ф о'р мула изобретенияClaim Способ контроля качества изготовления параболической поверхности, заключаюпдейся в том, что направляют на контролируемую поверхность параллельно ее оси параллельный пучок излучения, устанавливают позиционночувствительное фотоприемное устройство таким образом, что ось его чувствительности совпадает с осью симметрии контролируемой поверхности, регистрируют положение отраженного пучка, одновременно перемещают освещающий пучок параллельно самому себе в плоскости, содержащей ось симметрии контролируемой поверхности, и наклоняют чувствительную площадку фотоприеМного устройства таким образом, что ее поверхность остается перпендикулярной оси отражен45 ного пучка, и определяют качество поверхности, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и производительности контроля,непрерывно перемещают фотоприемноеA method for controlling the quality of manufacturing a parabolic surface is that a parallel beam of radiation is directed parallel to its axis on a surface to be controlled, a position-sensitive photodetector is installed so that its sensitivity axis coincides with the axis of symmetry of the surface being monitored, the position of the reflected beam is recorded, and the illuminating beam is simultaneously moved parallel to itself in a plane containing the axis of symmetry of the surface being monitored, and tilt the the sensitive area of the photodetector in such a way that its surface remains perpendicular to the axis of the reflected beam, and determine the surface quality, characterized in that, in order to improve the accuracy and performance of the control, the photodetector is continuously moved 50 устройство в направлении оси симметрии контролируемой поверхности в положение, при котором сигнал на выходе фотоприемника устройства равен нулю, измеряют текущие значения сов55 мещения центра чувствительной площадки фотоприемного устройства относительно расчетного положения фокальной плоскости поверхности, повторяют з 1283524 4 весь цикл измерений для нескольких меридиональных сечений контролируемой поверхности, а качество поверхности определяют по измеренным значениям зональных продольных аберраций поверхности, полученных в результате измерений всех контролируемых меридиональных сечений.50 the device in the direction of the axis of symmetry of the surface to be monitored to the position at which the signal at the output of the photodetector of the device is zero, measure the current values of the center of the sensitive area of the photodetector relative to the calculated position of the focal plane of the surface, repeat the whole measurement cycle from 1283524 4 for several meridional sections of the surface surface, and surface quality is determined by the measured values of the zonal longitudinal surface aberrations obtained in cut tate measurements all controlled meridional sections.
SU843778266A 1984-07-18 1984-07-18 Method for checking quality of manufacturing parabolic surface SU1283524A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843778266A SU1283524A1 (en) 1984-07-18 1984-07-18 Method for checking quality of manufacturing parabolic surface

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843778266A SU1283524A1 (en) 1984-07-18 1984-07-18 Method for checking quality of manufacturing parabolic surface

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1283524A1 true SU1283524A1 (en) 1987-01-15

Family

ID=21133793

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843778266A SU1283524A1 (en) 1984-07-18 1984-07-18 Method for checking quality of manufacturing parabolic surface

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1283524A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР 480904, кл. G 01 В 11/24, 1975. ; Авторское свидетельство СССР 974116, кл. G 01 В 11/24, 1981. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS63153456A (en) Optical disk testing system
JPH07103710A (en) Displacement detector
US3596362A (en) Surface measuring apparatus
US5825023A (en) Auto focus laser encoder having three light beams and a reflective grating
US3323408A (en) Optical alignment system
SU1283524A1 (en) Method for checking quality of manufacturing parabolic surface
JPS62126327A (en) Position sensor and centrifugal analyzer using said positionsensor
US4115008A (en) Displacement measuring apparatus
JP2001249003A (en) Optical interference device and position detector
JP2565748B2 (en) Lightwave distance measuring device with automatic tracking
JPH02140608A (en) Measuring instrument for surface shape
SU1298535A1 (en) Device for checking surface roughness
KR950013700B1 (en) Optical axis control method & control apparatus
SU1270554A1 (en) Device for checking masks and semiconductor plates
SU648832A1 (en) Aspheric reflector checking device
SU1332204A1 (en) Method of measuring the surface roughness
SU1479821A2 (en) Apparatus for monitoring linear dimensions
SU1267191A1 (en) Device for checking quality of manufacturing reflector parabolic surface
RU2065583C1 (en) Device for photometric testing of optical beams
SU1564490A1 (en) Pickup of surface position
SU1364864A1 (en) Device for measuring diffuse reflection surfaces
JPS61223604A (en) Gap measuring instrument
JPH035846Y2 (en)
SU1339241A2 (en) Apparatus for measuring azimuth angle
SU1350488A1 (en) Device for measuring linear shifts