SU1270657A1 - Интерференционно-пол ризационный рефрактометр (его варианты) - Google Patents

Abstract

. Интерференционно-пол ризационньй рефрактометр, содержащий ис-. точник пол ризованного излучени  и последовательно расположенные по ходу излучени  кристаллическую пластину дл  расщеплени  светового пучка, измерительную кювету, полуволновую пластину, устройство дп  совмещени  световых пучков и узел измерени  разности хода, отличающийс   тем, что, с целью повышени  стабильности измерений, между измерительной кюветой и долуволновой пластиной установлен отражатель с плоской отражающей поверхностью, перпендикул рной плоскости главного сечени  кристаллической пластины, между о S прлуволновой пластиной и устройством (П дл  совмещени  световых пучков установлен второй отражатель с плоской с отражающей поверхностью, перпендикул рной плоскости главного сечени  кристаллической пластины и отражающей поверхности первого отражател , ю отражатели жестко соединены между Nj собой, а устройством дл  совмещени  световых пучков служит кристаллическа  пластина дп  расщеплени  светосл ,вого пучка. м

Description

2. Интерференционно-пол ризационный рефрактометр, содержащий источник пол ризованного излучени  и последовательно установленные по ходу .луча кристаллическую пластину до  расщеплени  светового пучка, измерительную кювету, полуволновзто пластину , устройство дп  совмещени  световьрс пучков и узел измерени  разности хода, от, личающийс  тем, что, с целью повьшени  стабильности измерений, между, кристаллической пластиной и измерительной кюветой установлей уголковый отражатель.

главное сечение которого параллельно или перпендикул рно главному сечению кристаллической пластины, между полуволновой пластиной и устройством дп  совмещени  световых пучков установлен второй уголковый отражатель , главное сечение которого параллельно главному сечению первого отражател , уголковые отражатели жестко соединены между собой, а устройством дл  совмещени  световых пучков кристаллическа  пластина дл  расщеплени  светового пучка.

Изобретение относитс  к интерференционной рефрактометрии и м«ажет быть использовано дл  количественного и качественного анализа различных сред оптическим методом по разности показателей преломлени .

Цель изобретени  - повьшение стабильности измерений.

Благодар  тому, что в предпагае- мых вариантах интерфереиционно-пол ризационного рефрактометра дп расщеплени  и совмещени  световьрс- пучков используетс  одна и та ще кристаллическа  пластина, вли ние температурных возмущений, которое в известном рефрактометре св зано с неидентичностью температурных условий и условий фиксации двух кристаллических пластин, полностью исключаетс .

Снижение вли ни  механических возмущений обеспечиваетс  тем, что в первом варианте рефрактометра развороты кристаллической пластины в плоскости главного сечени , которые в известном рефрактометре привод т к наибольшим изменени м разности хода, не привод т к изменению суммарной разности хода, так как при таких разворотах положение кристаллической пластины относительно расщепл емых и совмещаемых световых пучков измен етс  одинаково, а следовательно, соответствующие изменени  разности хода равны по абсолютной величине и противоположны по знаку. Во втором варианте рефрактометра суммарна  разность хода остаетс  посто нной при любых изменени х взаимного положени  кристаллической пластины и системы отражателей в целом. Неизменность

взаимного положени  отражателей как в первом, так и во втором вариантах обеспечиваетс  тем, что они жестко соединены между собой,

Существенно также, что снижение чувствительности к изменению положени  кристаллической пластины позвол ет снизить требовани  к жесткости жсации пластины, что, в свою очередь , обеспечивает снижение термоупругих напр жений, которые могут оказатьс  различными в пределах светового сечени  одной и той же кристаллической пластины.

Возможность по влени  дополнительного фактора нестабильности, св занного с изменением амплитуды и фазы световых волн при отражени х,

в предлагаемых вариантах рефрактометра исключена тем, что полуволнова  пластина устгловлена между отра1жател ми . При таком положении полуволновой пластины изменени  амплитуц  и фазы в первом отражателе компенсируютс  изменени ми амплитуды и фазы во втором отражателе.

Совокупность указанных качеств в каждом из вариантов интерференционно-пол ризационного рефрактометра 5 обеспечивает существенное повыше- ние стабильности показаний. В то же врем  во втором варианте достигаетс  более высока  стабильность показаний .10

На фиг.1 приведена принципиальна  схема интерференционно-пол ризационного рефрактометра, выполненного согласно первому варианту; на фиг.2 принципиальна  схема интерференцион- t5 но-пол ризационного рефрактометра, выполненного согласно второму варианту .

Интерференционно-пол ризационный 20 рефрактометр (фиг.1) состоит из источника 1 пол ризованного излучени , кристаллической пластины 2 (например, из кальцита), зеркала 3, отражак ца  поверхность которого перпендикул р- 25 на главному сечению кристаллической пластины 2, полуволиовой пластины 4, второго зеркала 5, отражак ца  поверхность которого перпендикул рна главному сечению кристаллической пласти-зо ны 2 и отражающей поверхности зеркала 3, узла 6 измерени  разности хода, а также измерительной дифференциальной кюветы 7, котора  в данном случае остановлена между кристалличес- j кой пластиной 2 и зеркалом 3, но в других случа х может быть установлена между зеркалами 3 и 5, либо между зеркалом 5 и пластиной 2. Зеркала 3 и 5 жестко соединены между собой. 40

Интерференционно-пол ризационный рефрактометр работает следующим образом .

Пучок света от источника 1 излучени  расщепл етс  кристаллической . 5 пластиной 2 на два световых пучка, линейно пол ризованных в ортогональных плоскост х, один из которых проодит через измерительную  чейку кюеты 7, а другой - через сравнитель- 50 ую  чейку той же кюветы. Оба тражаютс  зеркалом 3, проход т полуволновую пластину 4, котора  измен ет азимут пол ризации каждого из пуков на 90°, отражаютс  зеркалом 5 и совмещаютс  в один пучок кристаллитической пластиной 2. В результате совмещени  пучков с ортогональными пол ризаци ми образуетс  пучок с эллиптической пол ризацией. Компоненты эллиптически пол ризованного света обладают разностью хода, пропорциональной исследуемой разности показателей преломлени  сравниваемых сред. Измерение разности хода производитс  с помощью узла 6 измерени  разности хода.

Интерференционно-пол ризационный рефрактометр, выполненный согласно второму варианту (фиг.2), содержит .элементы и узлы I, 2, 4, 6 и 7 (фиг.1), но вместо первого зеркала 3 установлен уголковый отражатель 8, главное сечение которого в данном случае параллельно главному сечению кристаллической пластины 2. Вместо зеркала 5 установлен уголковый отражатель 9, главное сечение которого параллельно главному сечению первого отражател  8. Уголковые отражатели 8 и 9 жестко соединены между собой. Данный вариант интерференционнопол ризационного рефрактометра работает аналогично интерференционно-пол ризационному рефрактометру, приведенному на фиг.1.

Предлагаемое изобретение повышает достоверность анализа, позвол ет исключить потери времени на многократное повторение эксперимента и существенно сократить врем  выхода прибора на режим, тем самым обеспечиваетс  более высока  эффективность исследовательских работ. Изобретение может быть положено,в основу новых приборов, предназначенных дл  решени  задач особой сложности в новых разделах науки (например, в молекул рной биологии и генетике при исследовании количественного и качественного составов веществ, выделение которых требует значительных затрат времени и производитс  в микроколичествах ).

Claims (1)

1. Предлагаемое изобретение повышает достоверность анализа, позволяет исключить потери времени на многократное повторение эксперимента и существенно сократить время выхода прибора на режим, тем самым обеспечивается более высокая эффективность исследовательских работ. Изобретение может быть положено.в основу новых приборов, предназначенных для решения задач особой сложности в новых разделах науки (например, в молекулярной биологии и генетике при исследовании количественного и качественного составов веществ, выделение которых требует значительных затрат времени и производится в микроколичествах).