SU1270561A1 - Способ контрол шероховатости поверхности - Google Patents

Способ контрол шероховатости поверхности Download PDF

Info

Publication number
SU1270561A1
SU1270561A1 SU843800063A SU3800063A SU1270561A1 SU 1270561 A1 SU1270561 A1 SU 1270561A1 SU 843800063 A SU843800063 A SU 843800063A SU 3800063 A SU3800063 A SU 3800063A SU 1270561 A1 SU1270561 A1 SU 1270561A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
radiation
sample
roughness
surface roughness
intensity
Prior art date
Application number
SU843800063A
Other languages
English (en)
Inventor
Виктор Валентинович Зверев
Дмитрий Петрович Иванов
Александр Евгеньевич Янчукович
Original Assignee
Ленинградский Ордена Ленина Политехнический Институт Им.М.И.Калинина
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ленинградский Ордена Ленина Политехнический Институт Им.М.И.Калинина filed Critical Ленинградский Ордена Ленина Политехнический Институт Им.М.И.Калинина
Priority to SU843800063A priority Critical patent/SU1270561A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1270561A1 publication Critical patent/SU1270561A1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к конт- , рольно-измерительной технике и может быть использовано дл  экспре.ссного контрол  степени шероховатости поверхности . Цель изобретени  - повьппение точности контрол  путем использовани  вторичного характеристического рентгеновского излучени  от контролируемого образца. Выбирают эталонный образец из материала контролируемой .поверхности с известной шероховатостью . Образец и контролируемую поверхность облучают пучком ионизирующего излучени , регистрируют интенсивности характеристических рентгеновских излучений от образца и поверхности, а величину шероховатости поверхности определ ют по разности зарегистриро;ванных интенсивностёй. W

Description

ю
Изобретение относитс  к способам технических измерений и может быть использовано дл  экспрессного кон:трол  степени шероховатости, в том числе в системах автоматического кон:трол .
Цель изобретени  - повьшшние точно-сти контрол  путем использоввни  вторичного характеристического рентгеновского излучени  от контролируемого образца.
Способ осуществл етс  следующим образом.
Поверхности эталонного и контролируемого образцов последрвательно облучают пучком первичного ионизирующего излучени  и регистрируют интенсивность вторичного характеристического рентгеновского излучени  от обоих образцов . В качестве эталонного образца выбираетс  образец с химическим составом , аналогичным составу контролируемого образца, и с известной щероховатостью поверхности. Измерени  провод т по наиболее интенсивной лиНИИ спектра вторичного характеристического рентгеновского излучени ,, напри1 ер , по К| - линии элемента, присутствующего в образце в наибольшем количестве, в качестве которого, например , выбирают при контроле поверхностей образцов из дерева или органических материалов углерод, из стекла или керамики - кремний, из алюминиевых сплавов - алюминий, из стали других сплавов на основе железа (инвар, пермалой, фехраль и др.) - железо, из спланов на основе меди латунь, константан, манганин, нейзильбер, никелин , реотан и др.) - медь, из сплавов на основе никел  (инконель, м6нель , нихром и др.) никель и т.д. В качестве первичного ионизирующего излучени  используют излучение, наиболее эффективно возбуждающее вторичное характеристическое рентгеновское излучение, например, дл  возбуждени  атомов с атомным номером, метльтим 13 -об-частиц, дл  возбуждени  более т желых атомов - м гкое рентгеновское излучение, источниками которых могут быть рентгеновские трубки, радиоизотопные источники, ускорители зар женных частиц. Энергию первичного излучени  выбирают такой, чтобы его проникающа  способность бьша одного пор дка с характерными размерами шероховатостей , но большей энергии ионизации , соответствующей внутренней оболочки атома дл  м гкого рентгеновского излучени , и большей 1 МэВ дл 
с гчастиц. Угол падени  первичного излучени  выбирают в пределах 10-30, что повьппает чувствительность измерений . Угол регистрации вторичного характеристического рентгеновского излучени  должен составл ть 80-90°, что снижает вли ние химического состава контролируемых образцов на результаты измерений. Изменение степени шероховатости облучаемой поверх5 ности приводит к изменению интенсивности вторичного характеристического рентгеновского излучетш , при этом увеличение шероховатости вЪТзьшаёт уменьшение интенсивности вторичного
0 излучени . Максимальное изменение интенсивности вторичного излучени  наблюдаетс  при изменении характерных размеров шероховатостей поверхности образца в пределах от величины
5 ПОЛНОГО: пробега об-частиц в веществе образца до дес ти величин полного пробега. При возбуждении рентгеновским излучением в качестве величины полного пробега используют величину, обратную линейному коэффициенту ослаблени  первичного рентгеновского излучени  веществом образца. При указанных . геометрических услови х и пределах изменени  шероховатости поверх , ности изменение интенсивности вторич5 ного характеристического рентгеновского излучени  составл ет от 30до 60% в зависимости от геометрии измерений , энергии первичного.излучени  и образца. Сравнива  интенсивности вторичного характеристического рентгеновского излучени  от эталонного и контролируемого образцов, по разности зарегистрированных интенсивностей суд т о шероховатости контролиру5 емой поверхности.

Claims (1)

  1. -Формулаиз обретени 
    Способ контрол  шероховатости поверхности , заключающийс  в том, что контролируемую поверхность облучают пучком первичного ионизирующего излучени , регистрируют интенсивность вторичного излучени  и определ ют ве5 личину шероховатости поверхности, отличающийс  тем, что, с целью повьш1ени  точности контрол , в качестве вторичного излучени  ре3 .12705614
    гистрируют интенсивность характерис--геновского излучени  от эталонного
    тического рентгеновского излучени ,образца и определ ют величину шероховыбирают эталонный образец из мате-ватости поверхности по разности зарериала контролируемой поверхности с :гистрированных интенсивностей хаизвестной шероховатостью, направл ют sрактеристического рентгеновского
    на эталонный образец превичного иони-излучени  от эталонного образца
    зирующего излучени , регистрируют ин-и от контролируемой поверхнос тенсивность характеристического рент-ти.
SU843800063A 1984-10-05 1984-10-05 Способ контрол шероховатости поверхности SU1270561A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843800063A SU1270561A1 (ru) 1984-10-05 1984-10-05 Способ контрол шероховатости поверхности

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843800063A SU1270561A1 (ru) 1984-10-05 1984-10-05 Способ контрол шероховатости поверхности

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1270561A1 true SU1270561A1 (ru) 1986-11-15

Family

ID=21142056

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843800063A SU1270561A1 (ru) 1984-10-05 1984-10-05 Способ контрол шероховатости поверхности

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1270561A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 1004755, кл. G 01 В 11/30, 1984. За вка JP № 57г41691, кл. G 01 В 11/00, 1982. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
USRE22531E (en) Method and apparatus for measuring
Deconninck Quantitative analysis by (p, X) and (p, γ) reactions at low energies
Calvert et al. Oxygen diffusion studies using nuclear reactions
US2277756A (en) Method and apparatus for measuring thickness
Been Nondestructive soil bulk density measurements by X-ray attenuation
Hughes Probing materials with positrons
Konstantinov et al. Determination of the wear of machine parts by charged particle surface activation
US2937275A (en) Metal determination by radiation absorption
SU1270561A1 (ru) Способ контрол шероховатости поверхности
Jundt et al. Proton-induced X-ray analysis of trace elements in tissue sections
Dolinšek et al. Determination of aluminium in dental enamel by the carbon cup atomic-absorption method
Wittry Methods of quantitative electron probe analysis
US3160753A (en) Method and means for measuring hardness
Boslett et al. Determination of parts per billion levels of electrodeposited metals by energy dispersive x-ray fluorescence spectrometry
Ma et al. Element concentrations from overlapping X-ray spectra
US3223840A (en) Method and apparatus for measuring the property of a magnetizable workpiece using nuclear radiation
Johnson et al. Simple method of obtaining Si (Li) detector efficiency
Mandel The β-ray absorption spectrum of 147Pm61 and its application to thickness measurement
Respaldiza et al. Quality control by PEXE of Al/Si alloys
SU1245881A1 (ru) Способ измерени толщины покрыти
Nadahara et al. Quantitative investigation of Cu-Ni and Ag-Pd alloys with a laser microprobe mass analyzer
El-Kateb et al. Determination of Aluminum in Copper-Aluminum Alloy Using Gamma-Ray Spectrometry
Sommer et al. Optimation of fluorine detection for biological and geological applications with a nuclear microprobe
Joseph Characterization of a few gem stones by x-ray emission techniques (EDXRF and external PIXE)
Nelson et al. Proton Elastic Scattering Analysis—A Complement to Proton-Induced X-Ray Emission Analysis of Aerosols