SU1270561A1 - Способ контрол шероховатости поверхности - Google Patents
Способ контрол шероховатости поверхности Download PDFInfo
- Publication number
- SU1270561A1 SU1270561A1 SU843800063A SU3800063A SU1270561A1 SU 1270561 A1 SU1270561 A1 SU 1270561A1 SU 843800063 A SU843800063 A SU 843800063A SU 3800063 A SU3800063 A SU 3800063A SU 1270561 A1 SU1270561 A1 SU 1270561A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- radiation
- sample
- roughness
- surface roughness
- intensity
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к конт- , рольно-измерительной технике и может быть использовано дл экспре.ссного контрол степени шероховатости поверхности . Цель изобретени - повьппение точности контрол путем использовани вторичного характеристического рентгеновского излучени от контролируемого образца. Выбирают эталонный образец из материала контролируемой .поверхности с известной шероховатостью . Образец и контролируемую поверхность облучают пучком ионизирующего излучени , регистрируют интенсивности характеристических рентгеновских излучений от образца и поверхности, а величину шероховатости поверхности определ ют по разности зарегистриро;ванных интенсивностёй. W
Description
ю
Изобретение относитс к способам технических измерений и может быть использовано дл экспрессного кон:трол степени шероховатости, в том числе в системах автоматического кон:трол .
Цель изобретени - повьшшние точно-сти контрол путем использоввни вторичного характеристического рентгеновского излучени от контролируемого образца.
Способ осуществл етс следующим образом.
Поверхности эталонного и контролируемого образцов последрвательно облучают пучком первичного ионизирующего излучени и регистрируют интенсивность вторичного характеристического рентгеновского излучени от обоих образцов . В качестве эталонного образца выбираетс образец с химическим составом , аналогичным составу контролируемого образца, и с известной щероховатостью поверхности. Измерени провод т по наиболее интенсивной лиНИИ спектра вторичного характеристического рентгеновского излучени ,, напри1 ер , по К| - линии элемента, присутствующего в образце в наибольшем количестве, в качестве которого, например , выбирают при контроле поверхностей образцов из дерева или органических материалов углерод, из стекла или керамики - кремний, из алюминиевых сплавов - алюминий, из стали других сплавов на основе железа (инвар, пермалой, фехраль и др.) - железо, из спланов на основе меди латунь, константан, манганин, нейзильбер, никелин , реотан и др.) - медь, из сплавов на основе никел (инконель, м6нель , нихром и др.) никель и т.д. В качестве первичного ионизирующего излучени используют излучение, наиболее эффективно возбуждающее вторичное характеристическое рентгеновское излучение, например, дл возбуждени атомов с атомным номером, метльтим 13 -об-частиц, дл возбуждени более т желых атомов - м гкое рентгеновское излучение, источниками которых могут быть рентгеновские трубки, радиоизотопные источники, ускорители зар женных частиц. Энергию первичного излучени выбирают такой, чтобы его проникающа способность бьша одного пор дка с характерными размерами шероховатостей , но большей энергии ионизации , соответствующей внутренней оболочки атома дл м гкого рентгеновского излучени , и большей 1 МэВ дл
с гчастиц. Угол падени первичного излучени выбирают в пределах 10-30, что повьппает чувствительность измерений . Угол регистрации вторичного характеристического рентгеновского излучени должен составл ть 80-90°, что снижает вли ние химического состава контролируемых образцов на результаты измерений. Изменение степени шероховатости облучаемой поверх5 ности приводит к изменению интенсивности вторичного характеристического рентгеновского излучетш , при этом увеличение шероховатости вЪТзьшаёт уменьшение интенсивности вторичного
0 излучени . Максимальное изменение интенсивности вторичного излучени наблюдаетс при изменении характерных размеров шероховатостей поверхности образца в пределах от величины
5 ПОЛНОГО: пробега об-частиц в веществе образца до дес ти величин полного пробега. При возбуждении рентгеновским излучением в качестве величины полного пробега используют величину, обратную линейному коэффициенту ослаблени первичного рентгеновского излучени веществом образца. При указанных . геометрических услови х и пределах изменени шероховатости поверх , ности изменение интенсивности вторич5 ного характеристического рентгеновского излучени составл ет от 30до 60% в зависимости от геометрии измерений , энергии первичного.излучени и образца. Сравнива интенсивности вторичного характеристического рентгеновского излучени от эталонного и контролируемого образцов, по разности зарегистрированных интенсивностей суд т о шероховатости контролиру5 емой поверхности.
Claims (1)
- -Формулаиз обретениСпособ контрол шероховатости поверхности , заключающийс в том, что контролируемую поверхность облучают пучком первичного ионизирующего излучени , регистрируют интенсивность вторичного излучени и определ ют ве5 личину шероховатости поверхности, отличающийс тем, что, с целью повьш1ени точности контрол , в качестве вторичного излучени ре3 .12705614гистрируют интенсивность характерис--геновского излучени от эталонноготического рентгеновского излучени ,образца и определ ют величину шероховыбирают эталонный образец из мате-ватости поверхности по разности зарериала контролируемой поверхности с :гистрированных интенсивностей хаизвестной шероховатостью, направл ют sрактеристического рентгеновскогона эталонный образец превичного иони-излучени от эталонного образцазирующего излучени , регистрируют ин-и от контролируемой поверхнос тенсивность характеристического рент-ти.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843800063A SU1270561A1 (ru) | 1984-10-05 | 1984-10-05 | Способ контрол шероховатости поверхности |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843800063A SU1270561A1 (ru) | 1984-10-05 | 1984-10-05 | Способ контрол шероховатости поверхности |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1270561A1 true SU1270561A1 (ru) | 1986-11-15 |
Family
ID=21142056
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU843800063A SU1270561A1 (ru) | 1984-10-05 | 1984-10-05 | Способ контрол шероховатости поверхности |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1270561A1 (ru) |
-
1984
- 1984-10-05 SU SU843800063A patent/SU1270561A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 1004755, кл. G 01 В 11/30, 1984. За вка JP № 57г41691, кл. G 01 В 11/00, 1982. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
USRE22531E (en) | Method and apparatus for measuring | |
Deconninck | Quantitative analysis by (p, X) and (p, γ) reactions at low energies | |
Calvert et al. | Oxygen diffusion studies using nuclear reactions | |
US2277756A (en) | Method and apparatus for measuring thickness | |
Been | Nondestructive soil bulk density measurements by X-ray attenuation | |
Hughes | Probing materials with positrons | |
Konstantinov et al. | Determination of the wear of machine parts by charged particle surface activation | |
US2937275A (en) | Metal determination by radiation absorption | |
SU1270561A1 (ru) | Способ контрол шероховатости поверхности | |
Jundt et al. | Proton-induced X-ray analysis of trace elements in tissue sections | |
Dolinšek et al. | Determination of aluminium in dental enamel by the carbon cup atomic-absorption method | |
Wittry | Methods of quantitative electron probe analysis | |
US3160753A (en) | Method and means for measuring hardness | |
Boslett et al. | Determination of parts per billion levels of electrodeposited metals by energy dispersive x-ray fluorescence spectrometry | |
Ma et al. | Element concentrations from overlapping X-ray spectra | |
US3223840A (en) | Method and apparatus for measuring the property of a magnetizable workpiece using nuclear radiation | |
Johnson et al. | Simple method of obtaining Si (Li) detector efficiency | |
Mandel | The β-ray absorption spectrum of 147Pm61 and its application to thickness measurement | |
Respaldiza et al. | Quality control by PEXE of Al/Si alloys | |
SU1245881A1 (ru) | Способ измерени толщины покрыти | |
Nadahara et al. | Quantitative investigation of Cu-Ni and Ag-Pd alloys with a laser microprobe mass analyzer | |
El-Kateb et al. | Determination of Aluminum in Copper-Aluminum Alloy Using Gamma-Ray Spectrometry | |
Sommer et al. | Optimation of fluorine detection for biological and geological applications with a nuclear microprobe | |
Joseph | Characterization of a few gem stones by x-ray emission techniques (EDXRF and external PIXE) | |
Nelson et al. | Proton Elastic Scattering Analysis—A Complement to Proton-Induced X-Ray Emission Analysis of Aerosols |