SU1265493A1 - Method for determining absolute spectral sensitivity of brightness meter - Google Patents

Method for determining absolute spectral sensitivity of brightness meter Download PDF

Info

Publication number
SU1265493A1
SU1265493A1 SU843776224A SU3776224A SU1265493A1 SU 1265493 A1 SU1265493 A1 SU 1265493A1 SU 843776224 A SU843776224 A SU 843776224A SU 3776224 A SU3776224 A SU 3776224A SU 1265493 A1 SU1265493 A1 SU 1265493A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
radiation
source
spectrum
monochromatic
spectral sensitivity
Prior art date
Application number
SU843776224A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Иван Александрович Киселев
Александр Семенович Панфилов
Игорь Алексеевич Сеславинский
Александр Анатольевич Богданов
Original Assignee
Предприятие П/Я Г-4149
Предприятие П/Я В-8584
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Г-4149, Предприятие П/Я В-8584 filed Critical Предприятие П/Я Г-4149
Priority to SU843776224A priority Critical patent/SU1265493A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1265493A1 publication Critical patent/SU1265493A1/en

Links

Landscapes

  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к области оптико-физических измерений и может быть использовано в фотометрии дл  измерени  абсолютной спектральной чувствительности радиометров и энергетической  ркости . С целью повышени  точности измерений учитывают ослабление светового потока за счет пол ризационных свойств источника монохроматического излучени  и оптической системы исследуемого  ркомера. Это достигаетс  путем раздельного измерени  составл ющих спектральной чувствительности в двух взаимно ортогональных плоскост х пол ризации за счет осуществлени  пол ризации монохроматического излучени  и дополнительной пол ризации световых потоков при сравнении интенсивностей монохроматического излучени  и излучени  сплошного спектра с излучением эталонного источника , осуществл емом при взаимно параллельном и взаимно перпендикул рном i расположении плоскостей пол ризации эталонного источника и монохроматического (Л излучени .The invention relates to the field of optical and physical measurements and can be used in photometry to measure the absolute spectral sensitivity of radiometers and energy luminance. In order to improve the measurement accuracy, the attenuation of the light flux due to the polarization properties of the source of monochromatic radiation and the optical system of the examined meter is taken into account. This is achieved by separately measuring the spectral sensitivity components in two mutually orthogonal polarization planes by implementing the polarization of monochromatic radiation and the additional polarization of light fluxes when comparing the intensities of monochromatic radiation and radiation of a reference source, carried out with mutually parallel and mutually perpendicular i arrangement of the planes of polarization of the reference source and monochromatic (L and rays.

Description

1C1C

Од елOd ate

Claims (1)

со оо Изобретение относитс  к технической оптике и может быть использовано в фотометрии дл  измерени  абсолютной спектральной чувствительности радиометров. Способ основан на том, что излучение, поступающее на вход  ркомера, можно представить в виде двух независимых друг от друга пол ризованных во взаимно ортофнальных плоскост х составл ющих и расс1матривать спектральную чувствительйость  ркомера в виде суммы двух составл ющих спектральной чувствительности к Излучению, пол ризованному в двух ортогональных плоскост х, одна из которых совпадает с собственной плоскостью пол ризации оптической системы  ркомера. Способ осуществл ют следующим обраНа вход исследуемого  ркомера направ4 ют монохроматическое излучение с длийой волны К, выделенное из излучени  исto4HHKa сплощного спектра и прощедшее через пол ризатор. Пол ризатор или исслеДуемый  ркомер разворачивают относительно пучка излучени  и измер ют величины максимального и минимального выходных сигналов. Максимальному сигналу соответствует взаимно-параллельное, а минимальному - взаимно перпендикул рное сопр жение плоскостей пол ризации излучени  и оптической системы  ркомера. Затем выдел ют из источника сплошного спектра заданные длины волны Я,2, Кз,...,Лп и повтор ют измерени . После этого направл ют на вход  ркомера излучение источника сплощного спектра и эталонного источника, прощедщее через пол ризатор, и регистрируют выходные сигНаЛы  ркомера. С помощью компаратора сравнивают интенсивности монохроматического излучени  и излучени  источника сплощного спектра с эталонным источником излучени  при взаимно параллельном и взаимно перпендикул рном положени х оптических осей пол ризаторов, установленных в пучках монохроматического излучени  и излучени  эталонного источника. Абсолютную спектральную чувствительность  ркомера определ ют по соотнощению с JJ « абс-т;; jU.(). А,- L«(X)-I где 5абс - абсолютна  спектральна  чувствительность  ркомера; и - сигнал, регистрируемый по излучению сплощного спектра; Ь„с(А,) - спектральна  плотность энергетической  ркости излучени  сплощного спектра; LM(A,) - спектральна  энергетическа   ркость монохроматического излучени ; UMHH(A,)L-минимальный и максимальный и Uiia«(x) выходные сигналы  ркомера; К -длина волны, соответствующа  А,1, А,2, контролируемым значени м спект ...,Х„ральной чувствительности. Формула изобретени  Способ определени  абсолютной спектральной чувствительности  ркомеров, включающий выделение из излучени  источника сплощного спектра монохроматического излучени  с заданными длинами волн, сравнение компаратором интенсивности монохроматического излучени  на каждой из заданных длин волн и интенсивности излучени  источника сплощного спектра с излучением эталонного источника, регистрацию монохроматического излучени  и излучени  источника сплощного спектра исследуемым  ркомером и определение абсолютной спектральной чувствительности  ркомера по выходным сигналам  ркомера и компаратора, отличающийс  тем, что, с целью повыщени  точности, из излучени , источника сплощного спектра выдел ют пол ризованное монохроматическое излучение, направленные на компаратор световые потоки дополнительно пол ризуют , при измерении выходных сигналов  ркомеров и при сравнении интенсивностей излучени  исследуемый  ркомер и компаратор вращают вокруг их оптических осей, измер ют минимальные и максимальные значени  выходных сигналов  ркомера и компаратора, а выходные сигналы представл ют в виде суммы измеренных значений, причем в качестве источника сплощного спектра используют источник непол ризованного излучени .co oo The invention relates to technical optics and can be used in photometry to measure the absolute spectral sensitivity of radiometers. The method is based on the fact that the radiation arriving at the input of the rykomer can be represented as two components independent from each other polarized in mutually orthopnal planes and consider the spectral sensitivity of the rommer as a sum of the two components of the spectral sensitivity to radiation polarized two orthogonal planes, one of which coincides with the own plane of polarization of the optical system of the meter. The method is carried out as follows: the entrance of the test chamber is monitored by monochromatic radiation of wavelength K, extracted from the radiation of isto4HHKa of the flat spectrum and passed through the polarizer. The polarizer or test chamber is deployed relative to the radiation beam and the values of the maximum and minimum output signals are measured. The maximum signal corresponds to a mutually parallel, and to the minimum, a mutually perpendicular conjugation of the polarization planes of the radiation and the optical system of the camera. Then, the specified wavelengths I, 2, Cs, ..., Lp are extracted from the source of the continuous spectrum and the measurements are repeated. After that, the radiation of the source of the spectrum spectrum and the reference source, which feeds through the polarizer, is directed to the entrance of the rcomer, and the output signals of the rcomer are recorded. The comparator compares the intensities of monochromatic radiation and the radiation of the source of the flat spectrum with the reference radiation source at mutually parallel and mutually perpendicular positions of the optical axes of the polarizers installed in the beams of the monochromatic radiation and the radiation of the reference source. The absolute spectral sensitivity of a rcomer is determined by its ratio with JJ "abs-t ;; jU. (). A, - L «(X) -I where Abab is the absolute spectral sensitivity of the meter; and - the signal recorded by the radiation of the spread spectrum; Bnc (a, a) is the spectral density of the energy luminance of the radiation of the spared spectrum; LM (A,) is the spectral energy of monochromatic radiation; UMHH (A,) L-minimum and maximum and Uiia «(x) output signals of the meter; K is the wavelength, corresponding to A, 1, A, 2, controlled values of the spectral and X-ray sensitivity. The invention method for determining the absolute spectral sensitivity of rockmeters, including the selection of a monochromatic radiation spectrum source with given wavelengths, comparing the monochromatic radiation intensity at each of the predetermined wavelengths and radiation intensity of the flat spectrum source with a reference source radiation, registering monochromatic radiation and radiation the source of the spectrum spectrum by the examined rock meter and the determination of the absolute The sensitivity of the camera to the output signal of the camera and the comparator, characterized in that, in order to improve the accuracy, polarized monochromatic radiation is directed from the radiation of the flat spectrum source, the light streams directed to the comparator are further polarized when measuring the output signals of the flowmeters and comparing the radiation intensities of the investigated rkomer and the comparator rotate around their optical axes, measure the minimum and maximum values of the output signals of the rcomer and the comparator a, and the output signals represent the sum of the measured values, and as a source sploschnogo spectrum source is used unpolarized radiation.
SU843776224A 1984-07-31 1984-07-31 Method for determining absolute spectral sensitivity of brightness meter SU1265493A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843776224A SU1265493A1 (en) 1984-07-31 1984-07-31 Method for determining absolute spectral sensitivity of brightness meter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843776224A SU1265493A1 (en) 1984-07-31 1984-07-31 Method for determining absolute spectral sensitivity of brightness meter

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1265493A1 true SU1265493A1 (en) 1986-10-23

Family

ID=21132940

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843776224A SU1265493A1 (en) 1984-07-31 1984-07-31 Method for determining absolute spectral sensitivity of brightness meter

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1265493A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Холопов Г. К. Методы энергетической градуировки оптических радиометров.- Обзор № 1199, М.: ЦНИИИТЭИ, 1975, с. 30. Авторское свидетельство СССР № 870969, кл. G 01 J 3/40, 1981. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0231820B2 (en)
US4081215A (en) Stable two-channel, single-filter spectrometer
EP0654657A2 (en) System and method for measuring polarization dependent loss
CN107063456B (en) Time resolution diffraction efficiency of grating spectral measurement device in situ and method
JPS61105431A (en) Method and device for measuring beam wavelength and wavelength compensating beam output from monochromatic beam source
CA1141190A (en) Apparatus for determining the refractive index profile of optical fibres
CN105758625B (en) A kind of device and method for the linear polarization sensitivity measuring remote sensing instrument
RU2135983C1 (en) Process measuring transmission, circular dichroism and optical rotation of optically active substances and dichrograph for its realization
US4165937A (en) Magneto-optic spectrophotometer
SU1265493A1 (en) Method for determining absolute spectral sensitivity of brightness meter
US3600094A (en) Suspended solids concentration measurement using circular polarized light
JP3131242B2 (en) Method of measuring incident angle of light beam, measuring device and method of using the device for distance measurement
US3016789A (en) Polarimetric apparatus
RU2683880C1 (en) Method for determining radiometric characteristics and assessing the photobiological effect of radiation sources and a complex for carrying out said method
RU51742U1 (en) GAS ANALYZER
SU1518728A1 (en) Method of determining parameters of polarization ellipse
CN110441034A (en) Optical device attenuation characteristic test device and method based on Mach-Zehnder interferometer
JPH11101739A (en) Ellipsometry apparatus
SU152091A1 (en) Instrument for measuring the indicatrix of dispersion
SU922597A1 (en) Device for measuring absorption factor
SU789686A1 (en) Density meter
SU717635A1 (en) Method of determining metal refraction coefficient
SU1196744A1 (en) Dilatometer
SU870969A1 (en) Method of measuring intensity meter absolute spectral sensitivity
CN106353262A (en) Atomic absorption measuring method and measuring device