SU1254292A1 - Method of checking profile of curvilinear surfaces - Google Patents

Method of checking profile of curvilinear surfaces Download PDF

Info

Publication number
SU1254292A1
SU1254292A1 SU843746268A SU3746268A SU1254292A1 SU 1254292 A1 SU1254292 A1 SU 1254292A1 SU 843746268 A SU843746268 A SU 843746268A SU 3746268 A SU3746268 A SU 3746268A SU 1254292 A1 SU1254292 A1 SU 1254292A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
light
mark
monitored
wavelengths
point
Prior art date
Application number
SU843746268A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Евгений Сергеевич Шаньгин
Original Assignee
Shangin Evgenij S
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shangin Evgenij S filed Critical Shangin Evgenij S
Priority to SU843746268A priority Critical patent/SU1254292A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1254292A1 publication Critical patent/SU1254292A1/en

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и можеч использоватьс  дл  измерени  и контрол  деталей сложной формы. Целью изобретени   вл етс  расширение диапазона контрол  путем устранени  вли ни  аберраций. Излучение от источника фокусируют двум  объективами на поверхностных зеркал, пропуска  его через светофильтры и через диафраг- ьел, тем самьп производ  последовательное формирование в каждой точке контролируемой поверхности изображени  световой марки с помощью световых лучей с отличными одна от другой длинами волн. Отраженные от контролируемой поверхности лучи с помощью плоского зеркала направл ют через светофильтры на фотоэлементы, производ  при этом сканирование изображени  марки, образующейс  на контролируемой поверхности. Наход т координаты каждой контролируемой точки и определ ют профиль поверхности. Возможно также формирование марки с помощью монохроматического излучени  с длинами волн, образующих при сме- шении цвет, длина волны которого равна полусумме длины волн или с помощью излучени  света, дополнительного по отношению к белому цвету, например желтого и синего. 2 з. п. ф-лы, 1 ил. i (Л СThe invention relates to a measurement technique and can be used to measure and control parts of complex shape. The aim of the invention is to expand the range of control by eliminating the effect of aberrations. The radiation from the source is focused by two lenses on the surface mirrors, passing it through the light filters and through the diaphragm, thereby making it possible to sequentially form at each point of the monitored surface an image of a light mark using light rays with different wavelengths one from the other. The rays reflected from the monitored surface are guided by a flat mirror through the light filters on the photocells, thereby scanning the image of the mark formed on the monitored surface. The coordinates of each controlled point are found and the surface profile is determined. It is also possible to form a mark using monochromatic radiation with wavelengths which, when mixed, form a color whose wavelength is equal to half the sum of the wavelengths or by means of light emission that is complementary to the white color, for example, yellow and blue. 2 h. item f-ly, 1 ill. i (Л С

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может использоватьс  дл  измерени  и контрол  деталей сложной формы.The invention relates to a measurement technique and can be used to measure and control parts of complex shape.

Целью изобретени   вл етс  расширение диапазона контрол  путем устранени  вли ни  аберраций.The aim of the invention is to expand the range of control by eliminating the effect of aberrations.

На чертеже представлена схема устройства, реализующего способ котрол  профил  криволинейных поверхностей .The drawing shows a diagram of the device that implements the method of controlling the profile of curved surfaces.

Устройство содержит источник 1 излучени , два объектива 2 и 3, два светофильтра 4 и 5 с отличными одна от другой длинами волн, две диафрагмы 6 и 7, два плоских зеркала 8 и 9, устновленных с возможностью поворота вокруг их центров и перемешивани  вдоль оптической оси устройства, плоское зеркало 10, установленное с возможностью вращени  вокруг его центра, фоторегистрирун ций блок 11, выполненный в виде двух фотоэлементов 12 и 13 и двух светофильтров 14 и 15, уставн 3вленных перед фотоэлементами 12 и 13 с отличными одна от другой длинами волн, и контролируема  поверхность 16,The device contains a source of radiation 1, two lenses 2 and 3, two filters 4 and 5 with different wavelengths one from the other, two diaphragms 6 and 7, two flat mirrors 8 and 9, installed with the possibility of rotation around their centers and mixing along the optical axis device, a flat mirror 10 mounted for rotation around its center, photo registration units 11, made in the form of two photocells 12 and 13 and two light filters 14 and 15, installed in front of photocells 12 and 13 with different wavelengths one from the other, and in control MA surface 16,

Способ контрол  профил  осуществл етс  следующим образом.The profile control method is carried out as follows.

Излучение от источника 1 фокусируют двум  объективами 2 и 3 на поверхност х зеркал 8 и 9, пропуска  его через светофильтры 4 и 5 и через диафрагмы 6 и 7, тем самым производ  последовательное формирование в каждой точке контролируемой поверхности 16 изображение световой марки с помощью световых лучей с отличными одна от другой длинами волн. Отраженные от контролируемой поверхности 16 лучи с помощью плоского зеркала 10 направл ют через светофильтры 14 и 15 на фотоэлемент 12 и 13, производ  при этом сканирование изображени  марки, образующейс  на контролируемой поверхности 16. Наход т координаты каждой контролируемой точки и определ ют профиль поверхности.The radiation from source 1 is focused by two lenses 2 and 3 on the surfaces of mirrors 8 and 9, passing it through light filters 4 and 5 and through diaphragms 6 and 7, thereby producing a consistent light image at each point of the surface being monitored 16 with excellent one from the other wavelengths. The rays reflected from the monitored surface 16 using a flat mirror 10 are directed through the optical filters 14 and 15 to the photocell 12 and 13, scanning the image of the mark formed on the monitored surface 16. The coordinates of each monitored point are found and the surface profile is determined.

Возможно также формирование марки с помощью монохроматического излучени  с длинами волн, образующих при смещении цвет, длина волны которого равна полусумме длин волн, или с помощью излучени  дополнительного по отношению к белому цвету, например желтого и синего.It is also possible to form a mark using monochromatic radiation with wavelengths that form a color with a wavelength equal to half the sum of the wavelengths, or by using additional radiation relative to white, for example, yellow and blue.

1515

Claims (3)

1.Способ контрол  профил  криволинейных поверхностей, заключающийс  в том, что последовательно форми-1. The method of controlling the profile of curvilinear surfaces, which consists in the fact that руют в каждой точке контролируемой Поверхности изображение световой марки, регистрируют лучи, отраженные от каждой точки контролируемой поверхности, и определ ют профиль поверхности, отличающийс  тем, что, с целью расширени  диапазона контрол , световую марку формируют с помощью световых лучей с отличными одна от другой длинамиAn image of a light mark is recorded at each point of the Surface to be monitored, rays reflected from each point of the surface being monitored are recorded, and a surface profile is defined, characterized in that, in order to extend the range of control, the light mark is formed using light beams with different lengths волн, сканируют изображение марки, наход т координаты каждой контролируемой точки и определ ют профиль поверхности.waves, scan the mark image, find the coordinates of each monitored point and determine the surface profile. 2.Способ по п. 1, о т л и ч а ю- Щ и и с   тем, что формируют световую2. The method according to claim 1, about tl and h and u-u and so that form the light марку с помощью монохроматического излучени  с длинами волн, образующих при смешении цвет, длина волны которого равна полусумме длин волн.a brand using monochromatic radiation with wavelengths forming a color when mixing, whose wavelength is equal to half the sum of the wavelengths. 3. Способ по п. 2, отличающийс  тем, что формируют световую марку с помощью монохроматического излучени ,  вл ющегос  дополнительным по отношению к белому цвету, например желтого и синего.3. A method according to claim 2, characterized in that a light mark is formed using monochromatic radiation, which is complementary to the white color, for example, yellow and blue. Редактор А. ДолиничEditor A. Dolinich Составитель Н. ЗахаренкоCompiled by N. Zakharenko Техред А.Кравчук Корректор Е. СирохманTehred A. Kravchuk Proofreader E. Sirohman Заказ 4709/43Тираж 670ПодписноеOrder 4709/43 Circulation 670 Subscription ВНИИПИ Государственного комитета СССРVNIIPI USSR State Committee по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска  наб., д. 4/5for inventions and discoveries 113035, Moscow, Zh-35, Raushsk nab., 4/5 Производственно-полиграфическое предпри тие, г. Ужгород, ул. Проектна , 4Production and printing company, Uzhgorod, st. Project, 4
SU843746268A 1984-06-04 1984-06-04 Method of checking profile of curvilinear surfaces SU1254292A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843746268A SU1254292A1 (en) 1984-06-04 1984-06-04 Method of checking profile of curvilinear surfaces

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843746268A SU1254292A1 (en) 1984-06-04 1984-06-04 Method of checking profile of curvilinear surfaces

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1254292A1 true SU1254292A1 (en) 1986-08-30

Family

ID=21121146

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843746268A SU1254292A1 (en) 1984-06-04 1984-06-04 Method of checking profile of curvilinear surfaces

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1254292A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2492420C2 (en) * 2011-08-18 2013-09-10 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики" Method of determining spatial position of object and apparatus for implementing said method

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское сввдетельство СССР № 227602, кл. G 01 В 11/24, 1968. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2492420C2 (en) * 2011-08-18 2013-09-10 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики" Method of determining spatial position of object and apparatus for implementing said method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4167677A (en) Optical device for the alignment of two superimposed objects
CN102227679A (en) Speckle mitigation in laser scanner projector systems
EP0263143A1 (en) High resolution optical scanner.
SU1254292A1 (en) Method of checking profile of curvilinear surfaces
US4567362A (en) Process and apparatus for the focusing of a beam of light on an object
CN113324498B (en) Multi-parameter high-precision measuring system and method for flatness of ultrathin glass substrate
US6654151B1 (en) Image projector
US4633074A (en) Method and apparatus for focusing a beam of light on an object
Tong et al. Laser spatial coherence suppression with refractive optical elements toward the improvement of speckle reduction by light pipes
JPS5674219A (en) Three-dimensional display device
JPS63500205A (en) Device for automatically determining whether the structure of a reference object or the structure of a comparison object
RU1789050C (en) Device for measuring velocity of objects scattering light
SU824107A1 (en) Method of optical system visual focusing to an object
SU1620832A1 (en) Optical device for measuring roughness of surface
CN218630380U (en) Color line structure light imaging system
SU1545197A1 (en) Method of interference resolution measurements
SU1244681A1 (en) Optronic correlation device
JPS55100526A (en) Photo scanner
SU669311A2 (en) Optical system for high-speed photo chronograph with driven scanning
SU1330457A1 (en) Method of checking surface curvature
SU1293481A1 (en) Method for measuring diameter of transparent fibre
SU1326879A1 (en) Interferometer
JPS61131960A (en) Color picture reader
SU1256089A1 (en) Device for reproducing information from relief optical medium
SU1675663A1 (en) Device for measurement of travels