SU1237994A1 - Method of determining complex reflection factor of microwave device - Google Patents
Method of determining complex reflection factor of microwave device Download PDFInfo
- Publication number
- SU1237994A1 SU1237994A1 SU843836716A SU3836716A SU1237994A1 SU 1237994 A1 SU1237994 A1 SU 1237994A1 SU 843836716 A SU843836716 A SU 843836716A SU 3836716 A SU3836716 A SU 3836716A SU 1237994 A1 SU1237994 A1 SU 1237994A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- twelve
- input
- phase
- complex reflection
- terminal
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к технике измерени на ВЧ и СВЧ, Повышаетс точность определени комплексного коэффициента отражени (ККО). Способ реализуетс устройством, содержащим г-р качающейс частоты (ГКЧ) 1, двенадцатиполюсник (ДП) 2, измер емое устройство 3, переключатель 4, фазометр 5 и микроЭВМ 6. На 1-й вход ДП 2 подаетс сигнал ГКЧ 1, а 2-й вход ДП 2 подключаетс к измер емому устройству 3. Затем измер етс фазовьй угол между сигналами на 3-м и 4-м входах ДП 2 а (Л с: to со sl о :о 4The invention relates to a technique for measuring at RF and microwave frequencies. The accuracy of determining the complex reflection coefficient (ECC) is improved. The method is implemented by a device containing rr of the oscillating frequency (HGP) 1, twelve-port (DF) 2, measured device 3, switch 4, phase meter 5, and microcomputer 6. At the 1st input of the DF 2, the signal of the HKCH 1 is given, and 2 The input of DP 2 is connected to the measured device 3. Then the phase angle between the signals at the 3rd and 4th inputs of the DP 2 a is measured (L с: to с sl about: 4
Description
и вычисл етс его тангенс. Анало- гично определ ютс тангенсы фазовых углов между сигналами на 3-м и 5-м и на и 6-м входах ДП 2. После определени тангенсов фазовых углов вычисл ютс модуль и фаза с учеИзобретение относитс к технике измерени на высоких и сверхвысоких частотах и может быть использовано дл измерени комплексного коэффициента отражени на основе двенад- цатиполюсника, волноводных и коаксиальных устройств.and its tangent is calculated. The tangents of the phase angles between the signals at the 3rd and 5th and at the 6th inputs of the DP 2 are determined similarly. After determining the tangents of the phase angles, the modulus and phase are calculated, and the invention relates to the technique of measuring at high and ultrahigh frequencies and can be used to measure complex twofold reflection coefficient, waveguide and coaxial devices.
Целью изобретени вл етс повышение точности.The aim of the invention is to improve the accuracy.
На чертеже приведена структурна электрическа схема устройства, реализующего способ.The drawing shows a structural electrical circuit of the device implementing the method.
Устройство содержит генератор 1 качающейс частоты двенадцатиполюс- ник 2, измер емое устройство 3, пе- реключатель 4,фазометр 5,микроЭВМ 6The device contains a twelve-pole 2 oscillating frequency generator 1, a measurable device 3, a switch 4, a phase meter 5, a microcomputer 6
Двенадцатиполюсник 2 состоит из направленных ответвителей 7 и 8 падающей и отраженной волн, преобразовател 9 частоты,90 - фазовраща- тел 10, 180 - фазовращател 11 и сумматоров 12-14.Twelve-port 2 consists of directional couplers 7 and 8 of the incident and reflected waves, frequency converter 9, 90 - phase shifters 10, 180 - phase shifters 11 and adders 12-14.
Сигнал генератора 1 поступает на первый вход двенадцатиполюсника 2, ко второму.входу которого подключе- но измер емое устройство 9. На выходах направленных ответвителей 7 и 8 вьщел ютс сигналы падающей а и отраженной Ь волн, которые преобразуютс преобразователем 9 частоты в сигналы промежуточной частоты 100 кГц,The signal from generator 1 is fed to the first input of the twelve-port network 2, to the second input of which the measuring device 9 is connected. kHz,
Сигнал падающей волны Я с выхода преобразовател 9 частоты поступает через 90 - фазовращатель 10 на сум матор 12, на другой вход которого поступает сигнал отраженной волны b На выходе сумматора 12 формируетс сигнал b+ja- Выход сумматора 12 вл етс шестым входом двенадцатиполюника 2.The incident wave signal I from the output of frequency converter 9 comes through 90 - phase shifter 10 to sum 12, to another input of which reflected wave b arrives. At the output of adder 12, the signal b + ja- is generated. The output of adder 12 is the sixth input of the twelve-terminal 2.
Сигнал падающей волны а поступает также через 180 -фазовращатель 1The signal of the incident wave a also enters through the 180 phase converter 1
том собственных параметров каждого из входов ДП 2 из заданной линейной системы уравнений. Затем модуль и фаза ККО определ ютс переводом из декартовых координат в пол рные. 1 ил.volume of own parameters of each of the inputs of DP 2 from a given linear system of equations. Then, the modulus and phase of the ECC are determined by converting from Cartesian coordinates to polar ones. 1 il.
j j
0 0
5 о 5 o
00
на сумматор 13, на второй вход которого поступает сигнал отраженной волны Ь, На выходе сумматора 13 формируетс сигнал Ь-а, Выход сумматора 13 вл етс п тым входом двенадцатиполюсника 2,to the adder 13, to the second input of which a signal of the reflected wave b arrives; At the output of the adder 13 a signal b is generated, the output of the adder 13 is the fifth input of the twelve-terminal 2,
Кроме того, сигнал падающей волны а поступает на вход сумматора 14, на второй вход которого поступает сигнал отраженной волны I), На выходе сумматора 14 формируетс сигнал а+Ь , Выход сумматора 14 вл етс четвертым входом двенадцатиполюс- ника 2, Выход преобразовател 9 падающей волны вл етс третьим входом двенадцатиполюсника 2,In addition, the signal of the incident wave a arrives at the input of the adder 14, the second input of which receives the signal of the reflected wave I). At the output of the adder 14 a signal is generated a + b the waves is the third input of the twelve-terminal 2,
Сигнал а с третьего входа двенадцатиполюсника 2 поступает на один из входов фазометра 5. На другой вход фазометра 5 через переключатель 4 поочередно подаютс сигналы с четвертого (б+а), 5-го (Ь-а) и 6-го (b+ja) входов двенадцатиполюсника 2. 1Дифрова информаци с выхода-фазометра 5 вводитс в микроЭШ 6, где происходит определение тангенсов измеренных гЬазовых углов и решение системы уравнений. Кроме того, мик- роЭВМ 6 управл ет работой переключател 4,The signal a from the third input of the twelve-terminal 2 is fed to one of the inputs of the phase meter 5. The signals from the fourth (b + a), 5th (b-a) and 6th (b + ja ) The inputs of the twelve-port network 2. 1Diffection information from the output of the phase meter 5 is inputted into Micro School 6, where the determination of the tangents of the measured green angles and the solution of the system of equations takes place. In addition, microcomputer 6 controls the operation of switch 4,
Измерение состоит из следующих операций.The measurement consists of the following operations.
На первый вход двенадцатиполюсника 2 подают сигнал генератора,на второй вход двенадцатиполюсника 2 подключают измер емое устройство 3. Затем измер ют фазовый угол между сщгнсшаьш на третьем и четвертом входах двенадцатиполюсника 2 и вычисл ют его тангенс . Аналот ично определ ют тангенсы Т,, T-g фазовых углов между сигналами на третьем и п том и третьем и шестом входахThe first input of the twelve-terminal 2 is supplied with a generator signal, the second entrance of the twelve-terminal 2 is connected to the measuring device 3. Then the phase angle between the second and fourth inputs of the twelve-terminal 2 is measured and its tangent is calculated. The tangent T ,, T of the phase angles between the signals at the third and fifth, and the third and sixth inputs are determined analogously.
3I3I
двенадцатиполюсника 2, После определени тангенсов фазовых углов вычисл ют модуль Г и фазу с с учетом собственных параметров каждого из входов двенадцатиполюсника из системы уравненийtwelve-terminal 2, After determining the tangents of the phase angles, the module G and phase c are calculated, taking into account the intrinsic parameters of each of the twelve-terminal inputs from the system of equations
rcosg ()+rsinq (T4l4.-b) +rcosg () + rsinq (T4l4.-b) +
+ r(T m4-C4)d4-T4n+ r (T m4-C4) d4-T4n
rcosq (T5-K5-a)+rsinq)(T5-l5-b5-) + +r(Tjtn5-C5)rcosq (T5-K5-a) + rsinq) (T5-l5-b5-) + + r (Tjtn5-C5)
Tcostf(Tj,Ke-aJ+rsinq(Tj,lb-b6) + +Г (,-C,)d6-Tgn,.Tcostf (Tj, Ke-aJ + rsinq (Tj, lb-b6) + + T (, -C,) d6-Tgn ,.
Система уравнений линейна относительно параметров rcosLf Psint и Г, поэтому указанные величины вычисл ют по обычным правилам решени системы линейных уравнений. После определени Tcostf и Tsincf модуль Г и фазу Ц ККО определ ют переводом из декартовых координат в пол рныеThe system of equations is linear with respect to the parameters rcosLf Psint and Г, therefore, these values are calculated according to the usual rules for solving a system of linear equations. After determining Tcostf and Tsincf, the module G and the phase Q of the ECC are determined by converting from Cartesian coordinates to polar
Ф. ормула изобретени F. formula of invention
Способ определени комплексного коэффициента отражени СВЧ-устрой- ства, заключающийс в том, что исслеРедактор Н.Горват Заказ 3284/45The method for determining the complex reflection coefficient of a microwave device, which consists in studying the editor N.Gorvat Order 3284/45
Составитель Р.Кузнецова Техред Л.СердюковаCompiled by R.Kuznetsova Tehred L. Serdyukova
Кор-ректор Corrector
Тираж 728ПодписноеCirculation 728 Subscription
ВНИИПИ Государственного комитета СССРVNIIPI USSR State Committee
по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска наб., д. 4/5for inventions and discoveries 113035, Moscow, Zh-35, Raushsk nab., 4/5
Производственно-полиграфическое предпри тие, г. Ужгород, ул. Проектна , 4Production and printing company, Uzhgorod, st. Project, 4
379944379944
дуемое СВЧ-устройство подключают ко второму входу двенадцатиполюсника, на первый вход которого подают СВЧ- сигнал, измер ют параметры сигналов 5 на третьем, четвертом, п том и шестом входах двенадцатиполюсника и определ ют комплексный коэффициент отражени с учетом собственных параметров двенадцатиполюсника, о т 10 личающи йс тем, что, с целью повьш1ени точности, измер ют разности фаз между сигналами на тре- тьем входе и сигналами на четвертом , П том и шестом входах двенадца-the microwave device is connected to the second input of the twelve-terminal, the first input of which is supplied with a microwave signal, the parameters of signals 5 are measured at the third, fourth, fifth and sixth inputs of the twelve-terminal, and the complex reflection factor is determined, about 10 in order to increase the accuracy, measure the phase difference between the signals at the third input and the signals at the fourth, fifth and sixth inputs of the twelve
15 типолюсника, а модуль Г и фазу о ком™ плексного коэффициента отражени определ ют путем решени системы уравнений15, and the modulus G and phase of the complex reflection coefficient is determined by solving the system of equations
rcoscp(T, K;-a;)+rsin(f(T, l;-b.) +rcoscp (T, K; -a;) + rsin (f (T, l; -b.) +
+r(T.m.-C;)d.-T;n,+ r (T.m.-C;) d.-T; n,
где T; tgCf;; ,5,6; qi| - измеренна разность фаз между сигналами на третьем входе и i -м входе двенад- цатиполюсника, k; ,а,,Ь,,т,,С; ,d; , nj,; - параметры t -го входа двенадцатиполюсника .where t is; tgCf ;; , 5.6; qi | - the measured phase difference between the signals at the third input and the i-th input of the twelve-terminal, k; , a, b, t, s; , d; , nj ,; - parameters of the t-th entrance of the twelve-port.
Кор-ректор Т, КолбCore Rector T, Kolb
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843836716A SU1237994A1 (en) | 1984-12-30 | 1984-12-30 | Method of determining complex reflection factor of microwave device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843836716A SU1237994A1 (en) | 1984-12-30 | 1984-12-30 | Method of determining complex reflection factor of microwave device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1237994A1 true SU1237994A1 (en) | 1986-06-15 |
Family
ID=21155892
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU843836716A SU1237994A1 (en) | 1984-12-30 | 1984-12-30 | Method of determining complex reflection factor of microwave device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1237994A1 (en) |
-
1984
- 1984-12-30 SU SU843836716A patent/SU1237994A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Бондаренко И.К. и др. Автоматизаци измерений параметров СВЧ-трак- тов, М.: Советское -радио, 1969, с. 12-18. Engen G.F. The six-port reflec- toraeter. An alternative network analyzer. IEEE Trans Microwave Theory Techn V MTT-25, 1977, № 12, p. 1075-1080. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU1237994A1 (en) | Method of determining complex reflection factor of microwave device | |
Lewis | Mode couplers and multimode measurement techniques | |
SU1322131A1 (en) | Device for measuring parameters of dielectric materials | |
SU1599796A1 (en) | Method of measuring phase difference | |
Kulkarni | Alternative derivations for the fields inside a waveguide | |
SU1298693A1 (en) | Method of determining s-parameters of microwave four-terminal network | |
SU1191837A1 (en) | Apparatus for measuring pulse feed-through power | |
SU1312457A1 (en) | Automatic microwave moisture meter | |
SU1270726A1 (en) | Meter of parameters of non-reciprocal four-terminal networks | |
SU1408385A1 (en) | Device for measuring complex reflective indices of microwave two-terminal networks | |
SU1275327A1 (en) | Device for measuring attenuation of magnetostatic waves in ferrite films | |
SU1163281A1 (en) | Meter of reflection factor in microwave range | |
SU881910A1 (en) | Directional coupler of multimode power | |
SU1328767A1 (en) | Apparatus for determining junction attenuation of channels of multichannel power divider | |
SU1252715A1 (en) | Interferometer for diagnostic checking of plasma | |
SU978072A1 (en) | Microwave device impedance meter | |
RU1830490C (en) | Method of determination of phasemeter performances and device to do it | |
SU1180803A1 (en) | Radiation-pressure power meter for mismatched ducts | |
SU1317368A1 (en) | Panoramic meter of complex reflectance | |
SU1223317A1 (en) | Magnetostatic wave device | |
SU1357868A1 (en) | Method of determining phase of reflection factor of microwave four-terminal network | |
SU1361492A1 (en) | Panoramic meter of s-parameters of microwave elements | |
CN118098648A (en) | Device for measuring 4.6GHz low clutter parallel refractive index in tokamak | |
SU1264108A1 (en) | Device for measuring parameters of dielectrics | |
SU1497586A1 (en) | Meter of s-parameters of nonreciprocal microwave four-port network |