SU1236929A1 - Устройство дл отбраковки полупроводниковых приборов по их шумовым свойствам - Google Patents

Abstract

УСТРОЙСТВО ДЛЯ. ОТБРАКОВКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ ПО ИХ ШУМОВЫМ СВОЙСТВАМ, содержащее схему усреднени  уровн , входную схему, выход которой соединен с входом блока обнаружени  повьшенного эффективного значени  шума, выход которого

Description

СО

№t.1

Изобретение относитс  к области контрол  готовых полупроводниковых приборов и может быть использовано дл  отбраковки полупроводниковых приборов со взрывным Шумом и с повьпчен ным эффективным значением шумов.

Целью изобретени   вл етс  повышение достоверности отбраковки контролируемых приборов путем повьппени  чувствительности обнаружени  взрывного шума с помощью формировани  модул  разности пр мого и задержанного значений низкочастотной части шума контролируемого прибора.

На фиг, 1 представлена блок-схема устройства дл  отбраковки полупроводниковых приборов по их иумовым свойствам; па фиг. 2 - временна  диаграмма иллюстрирующа  формирование сигнала в канале обнаружени  взрывного шума ,

Устройство дл  отбраковки полупроводниковых приборов по их шумовым свойствам содержит схему 1 усреднени  уровн , входную схему 2, выход которой соединен с входом блока 3 обнаружени  повьш1енного эффективного значени  шума, выходом соединенного с первым входом блока 4 индикации, второй вход которого соединен с выходом блока 5 обнаружени  взрывного иума, фильтр 6 низких частот (ФНЧ), элемент 7 задержки, вычитатель 8 и блок 9 вычислени  модул . Причем выход входной схемы 2 подключен к входу фильтра 6 низких частот, выход которого соединен с первым, а через элемент 7 задержки с вторым входами вычитател  8, Выход последнего через блок 9 вычислени  модул  соединен с сигнальным входом блока 5 обнаружени  взрывного шума и входом схемы 1 усреднени  уровн , выход которой соединен с опорным входом блока 5 обнаружени  взрывного шума. Врем  задержки в элементе 7 равно времени нарастани  импульсов взрывного шума на выходе фильтра низких частот, полеса пропускани  которого.равна ширине спектра взрывного шума.

Устройство дл  отбраковки полупроводниковых приборов по их шумовым

свойствам работает следуюш м образом

Исследуемый полупроводниковый прибор подключаетс  к входной схеме 2, выполненной, например, в виде согласующего широкополосного усилител . Шум с контролируемого прибора усиливаетс  входной схемой 2 и поступает на фильтр б низких частот. После фильтровани  вычитатель 8 вычисл ет разность между текущим и задержанным в элементе 7 значени ми шума„ Врем  задержки Т,, - выбрано равньм времени нарастани  фронта импульса 10 взрывного шумад и после прихода импульса на выходе вычитател  8 по вл ютс  выбросы 1i и 12 с амплитудами , равными высоте импульса 10, а среднеквадратическое отклонение фонового 1чума в этом разностном процессе значительно уменьшаетс . В случае отсутстви  взрывного шума дисперси  процесса на выходе вычитател  б может быть вычислена по формуле

G, (Т, ) ,

где b - дисперси  шума на выходе

фильтра низких частот; К(Т) - коррел ционна  функци  шума на выходе фильтра низких частот.

Полоса фильтра 6 выбираетс  равной ширине спектра взрывного шума, на практике равной 2 кГц.

В рассматриваемом диапазоне частот от 10 Гц до 2 кГц фоновым шумом  вл етс  фликкер-шум со спектральной плотностью мощности

G(f), :2)

где G - коэффициент мен ющийс  от

прибора к прибору в широких пределах;

L коэффициент, приблизительно равный t,

Если врем  задержки Т выбрано намного меньше времени коррел ции фликкер-шумаС j,jj| , то КТ мало отличаетс  от J и дисперси  G стремитс  к нулю при . Однако при этом уменьшаетс  и амплитуда импульсов 11 и 12.

В устройстве врем  задержки равно времени нарастани  импульсов взрыного шума на выходе ФНЧ, что намного меньше времени коррел ции фликкершума и при этом амплитуда импульсов 11 и 12 еще равна амплитуде импульса 10.

В качестве фильтра 6 низких частот может, например, использоватьс  фильтр Чебьшшва дес того пор дка с частотой среза ff,2 кГц и с неравпомерностью в полосе пропускани