SU122879A1 - Method for measuring coating thickness - Google Patents
Method for measuring coating thicknessInfo
- Publication number
- SU122879A1 SU122879A1 SU598056A SU598056A SU122879A1 SU 122879 A1 SU122879 A1 SU 122879A1 SU 598056 A SU598056 A SU 598056A SU 598056 A SU598056 A SU 598056A SU 122879 A1 SU122879 A1 SU 122879A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- thickness
- frequency
- coating
- voltage
- measuring
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
Спо.собы замера толщины покрытий посредством устройств, содержащих индуктивный датчик и высокочастотный генератор, измер ющий толщину покрыти по изменению напр жени , известны.Measures for measuring the thickness of coatings by means of devices containing an inductive sensor and a high-frequency generator measuring the thickness of the coating by voltage variation are known.
Отличительна особенность предлагаемого способа заключаетс в том, что дл одновременного измерени двух параметров, например, толщины покрыти и прослойки или толщины покрыти и его проводимости , дополнительно измер ют частоту и по величинам частоты и напр жени определ ют контролируемые параметры; определение последних осуществл етс на основании заранее построенных кривых экспериментальных зависимостей напр жени и частоты от изменени этих параметров.A distinctive feature of the proposed method is that in order to simultaneously measure two parameters, for example, the thickness of the coating and the interlayer or the thickness of the coating and its conductivity, the frequency is additionally measured and controlled parameters are determined from the values of frequency and voltage; The determination of the latter is carried out on the basis of the previously constructed curves of the experimental dependences of voltage and frequency on the variation of these parameters.
На фиг. 1 изображены кривые изменени частоты и напр жени высокочастотного генератора; на фиг. 2 - принципиальна схема устройства дл осуществлени описываемого способа; на фиг. 3 - кривые, полученные посредством этого устройства.FIG. Figure 1 shows the frequency and voltage curves of a high-frequency generator; in fig. 2 is a schematic diagram of an apparatus for carrying out the described method; in fig. 3 - curves obtained through this device.
Ниже в качестве примера описываетс способ, дающий возможность без разрушени издели измер ть толщину никелевых покрытий и медной прослойки. Способ этот основан на том, что изменение частоты и напр жени генератора, в резонансный контур которого включен измерительный датчик (катущка на ферритовом сердечнике), зависит от толщины покрыти и прослойки на контролируемом изделии. Эта зависимость св зана с возникновением вихревых токов на поверхности. Вихревые токи вли ют на электрические свойства датчика, а изменение последних вызывает изменение частоты и напр ж;ени генератора.Below, as an example, a method is described which makes it possible to measure the thickness of nickel coatings and the copper layer without destroying the product. This method is based on the fact that the change in the frequency and voltage of the generator, in the resonant circuit of which a measuring sensor is included (a coil on a ferrite core), depends on the thickness of the coating and the layer on the product being tested. This dependence is associated with the occurrence of eddy currents on the surface. Eddy currents affect the electrical properties of the sensor, and a change in the latter causes a change in the frequency and voltage of the generator.
На фиг. 1 показана -крива О изменени частоты F и напр жени У генератора при нулевой толщине прослойки в зависимости от изменени толщины никелевого покрыти от О до толщины большей глубины проникновени электромагнитного пол , созданного датчиком, 5, 10, 15 - аналогичные кривые дл прослоек толщиной 5 м, 10 м, иFIG. 1 shows the curve O of the variation of the frequency F and the voltage of the generator at zero thickness of the interlayer as a function of the change in the thickness of the nickel coating from 0 to the thickness of the greater penetration depth of the electromagnetic field created by the sensor; , 10 m, and
№ 122879- 2 -No. 122879-2 -
15 м. Устройство, схема которого изображена на фиг. 2, состоит в основном из генератора, резонансного контура, чувствительного к изменени м частоты генератора, прибора /, измер ющего напр жение генератора , и регистрирующего изменени частоты последнего прибора 2. Посредством этого устройства сн ты кривые, представленные на фиг. 3. Кривые эти сн ты следующим образом. Определ лись показани приборов Vi и 1/2 дл прослоек толщиной О ж 5 м, 10 м, 20 м, 30 м и 40 м с никелевым покрытием толщиной Ом, 10 м, 20 ж и 30 м. Соответствующие точки соедин лись кривыми. При этом жирные кривые показывают расположение точек дл случа , когда измен етс толщина покрыти никел при определенной толщине прослойки меди. Измерепие толщины никел и медной прослойки осуществл ют в следующей последовательности . На контролируемое изделие с двуслойным покрытием устанавливают измерительный датчик. Отсчитывают показани приборов / и 2 и полученную точку отмечают на координатной сетке.15 m. A device whose diagram is shown in FIG. 2 consists mainly of a generator, a resonant circuit sensitive to changes in the frequency of the generator, an instrument / measuring the voltage of the generator, and a recording change in the frequency of the last device 2. With this device, the curves shown in FIG. 3. These curves are as follows. The indications of the instruments Vi and 1/2 were determined for interlayers with a thickness of 0 m, 10 m, 20 m, 30 m and 40 m with a nickel coating of ohm, 10 m, 20 m and 30 m thick. The corresponding points were connected by curves. In this case, the bold curves show the location of points for the case when the thickness of the nickel coating changes at a certain thickness of the copper interlayer. The thickness measurement of the nickel and copper layer is carried out in the following sequence. A measuring sensor is installed on the monitored product with a double-layer coating. The readings of the instruments / and 2 are counted and the resulting point is marked on the coordinate grid.
Расположение этой точки указывает соответствующие толщины никелевого покрыти и просло&ки.The location of this point indicates the corresponding thickness of the nickel coating and interlayer & ki.
Предмет изобретени Subject invention
Способ замера толщины покрытий посредством индуктивного датчика и высокочастотного генератора, измер ющего толщину покрыти по изменению напр жени , отличающийс тем, что, с целью одновременного измерени двух параметров, например, толщины покрыти и прослойки или толщины покрыти и его проводимости, дополнительно измер ют частоту и по величинам частоты и напр жени определ ют контролируемые параметры на основании заранее построенных экспериментальных зависимостей напр жени и частоты от изменени этих параметров.The method of measuring coating thickness by means of an inductive sensor and a high-frequency generator measuring the thickness of the coating by voltage variation, characterized in that, in order to simultaneously measure two parameters, such as coating thickness and interlayer or coating thickness and its conductivity, the frequency and by determining the values of frequency and voltage, the controlled parameters are determined on the basis of previously constructed experimental dependences of voltage and frequency on the variation of these parameters.
500500
О Ю 20 30 ftO 50 V, Фиа iO Yu 30 30 ftO 50 V, Fia i
н-II fe-иn-ii fe
е.e.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU598056A SU122879A1 (en) | 1958-04-25 | 1958-04-25 | Method for measuring coating thickness |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU598056A SU122879A1 (en) | 1958-04-25 | 1958-04-25 | Method for measuring coating thickness |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU122879A1 true SU122879A1 (en) | 1958-11-30 |
Family
ID=48394498
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU598056A SU122879A1 (en) | 1958-04-25 | 1958-04-25 | Method for measuring coating thickness |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU122879A1 (en) |
-
1958
- 1958-04-25 SU SU598056A patent/SU122879A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US2802182A (en) | Current density responsive apparatus | |
US3234461A (en) | Resistivity-measuring device including solid inductive sensor | |
US2933677A (en) | Probe for a thickness testing gage | |
US4125021A (en) | Apparatus for detecting conductive liquid level | |
Das et al. | Time domain response of a sphere in the field of a coil: Theory and experiment | |
US2764734A (en) | Phase angle method of metal thickness indication | |
SU122879A1 (en) | Method for measuring coating thickness | |
Semirov et al. | Impedance and magnetic properties of CoFeCrSiB amorphous ribbons near the Curie point | |
US3722281A (en) | Liquid height gauge | |
US2809346A (en) | Apparatus for measuring the thickness of electroconductive films | |
US3407352A (en) | Method of and apparatus for monitoring the thickness of a non-conductive coating on a conductive base | |
Li et al. | Mechanism of temperature influence in thickness measurement using eddy current sensors | |
CN105571662B (en) | A kind of electromagnetic flowmeter signal processing method and processing device | |
Ishkov et al. | Control electrically conductive of thin films by using subminiature eddy current transducers | |
Owston | A high frequency eddy-current, non-destructive testing apparatus with automatic probe positioning suitable for scanning applications | |
Dziczkowski | Effect of eddy current frequency on measuring properties of devices used in non-destructive measurements of non-ferromagnetic metal plates | |
SU1083140A1 (en) | Method of touch-free measuring of cylinder-shaped conductive non-magnetic specimen electrical conductivity | |
JPS5582013A (en) | Eddy current type displacement meter | |
SU938124A1 (en) | Electromagnetic device for checking inner diameter of ferromagnetic pipes | |
SU853517A1 (en) | Electromagnetic thickness meter | |
SU607136A1 (en) | Eddy-current device for measuring electroconductive article parameters | |
SU423068A1 (en) | ||
SU1383195A1 (en) | Method of measuring layer thickness of multilayer articles | |
SU361448A1 (en) | DEVICE FOR MEASUREMENT OF ELECTRICAL CONDUCTIVITY | |
SU945768A1 (en) | Material electric conductivity change indicator |