Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Д.М. Зив, Б.И. ШестаковfiledCriticalД.М. Зив
Priority to SU603823ApriorityCriticalpatent/SU120675A1/en
Application grantedgrantedCritical
Publication of SU120675A1publicationCriticalpatent/SU120675A1/en
Analysing Materials By The Use Of Radiation
(AREA)
Description
.Способ определени угла смачивани и поверхностного или ...-.,.-.-.The method for determining the wetting angle and the surface or ...-.,.-.-.
зового нат жени непрозрачных систем при высоких темлератлр;г х фотографированием контура мениска или лежащей капли, о т.ч и ч а юмежф:;щнйс тем, что, с целью упрощени аппаратурного оформлени процесса , фотографирование контура осуществл ют в пучке м гких .чучей, получаемых от радиоа аивных изотопов, например ириди - 192, тули - 170 или европи 154 или 156.of tensioning opaque systems at high tem- raters; g x photographing the contour of the meniscus or a droplet lying, oh, and houmef:; from radioactive isotopes, for example, iridi — 192, thuli — 170 or europium 154 or 156.
SU603823A1958-07-111958-07-11
Method for determining wetting angle and surface or interfacial tension
SU120675A1
(en)