SU1196699A1 - Apparatus for measuring temperature of transistor junction - Google Patents

Apparatus for measuring temperature of transistor junction Download PDF

Info

Publication number
SU1196699A1
SU1196699A1 SU843738316A SU3738316A SU1196699A1 SU 1196699 A1 SU1196699 A1 SU 1196699A1 SU 843738316 A SU843738316 A SU 843738316A SU 3738316 A SU3738316 A SU 3738316A SU 1196699 A1 SU1196699 A1 SU 1196699A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
transistor
collector
measured
additional
resistor
Prior art date
Application number
SU843738316A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Валерий Васильевич Дементьев
Галина Николаевна Дьякова
Анатолий Маркович Лихницкий
Александр Викторович Сухоручкин
Original Assignee
Всесоюзный научно-исследовательский институт радиовещательного приема и акустики им.А.С.Попова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Всесоюзный научно-исследовательский институт радиовещательного приема и акустики им.А.С.Попова filed Critical Всесоюзный научно-исследовательский институт радиовещательного приема и акустики им.А.С.Попова
Priority to SU843738316A priority Critical patent/SU1196699A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1196699A1 publication Critical patent/SU1196699A1/en

Links

Landscapes

  • Amplifiers (AREA)

Abstract

1. УСТЮЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ ПЕРЕХОДА ТРАНЗИСТОРА, работающего в непрерывном режиме и включенного по схеме с общим коллектором, содержащее резистор, подключенный первым |выводом к эмиттеру транзистора, измеритель температуры с контактным термопреобразова- : телем, отличающеес  тем, что, с целью повышени  точности измерени  температуры перехода без вскрыти  транзистора, в него введены дифференциальный усилитель; переменный резистор, нагревательный элемент, измеритель напр жени  и дополнительный транзистор, база и коллектор которого соответственно подключены к базе и коллектору измер емого транзистора, а эмиггер подключен через переменный резистор к вторюму выводу резистора и первому входу дифференциального усилител , второй вход которого соединен с эмиттером измер емого транзистора, а выход подключен к измерителю напр жени  и нагревательному элементу, наход щемус  в тепловом контакте с дополнительным транзистором, на корпусе которого расположен контактный термоиреобразователь измерител  темиерату-. пы1. APPARATUS FOR MEASURING THE TRANSISTOR TRANSITION TEMPERATURE, operating in continuous mode and connected according to a common-collector circuit, containing a resistor connected by a first output terminal to the emitter of the transistor, a temperature meter with a contact thermoconversion: a body, characterized in that, in order to improve accuracy measuring the junction temperature without opening the transistor; a differential amplifier is introduced into it; variable resistor, heating element, voltage meter and additional transistor, the base and collector of which are respectively connected to the base and collector of the measured transistor, and the emigger is connected via a variable resistor to the second output of the resistor and the first input of the differential amplifier, the second input of which is connected to the emitter measured transistor, and the output is connected to a voltage meter and a heating element, which is in thermal contact with an additional transistor, on the body of which th pin is termoireobrazovatel meter temieratu-. py

Description

2. Усгройство по п. 1, о т л и ч а го щ е е с   тем, что, с целью уменьшени  нагрева дополнительного транзистора рассйиваемой мощностыв, в него введень второй дополнительный транзистор и резистивный делитель напр жени , включе1шый м.ежду коллектором измер емого транзистора и вторым выводом резистора, при зтЬм коллектор первого2. The device according to claim 1, so that, in order to reduce the heating of the additional transistor of dissipated power, into it introduce a second additional transistor and a resistive voltage divider, including the measuring gauge transistor and the second output of the resistor;

дополнительного транзистора подключен к коллектору измер емого транзистора через второй дополиительньш транзистор, база которого подключена к средней точке делител , а змиттер и коллектор соединены соответственно ,с коллекторами первого дополнительного и измер емого транзисторов .The additional transistor is connected to the collector of the measured transistor through the second additional transistor, the base of which is connected to the midpoint of the divider, and the emitter and collector are connected, respectively, with the collectors of the first additional and measured transistors.

Изебретение относитс  к области температурных измерений и может быть использовано в устройствах, служащих дл  измерени  температуры перехода транзистора в услови х работы ere в непрерывном режиме в злектрической схеме, например, усилителе мощности . Цель изобретени  - повышение точности измерени  температуры перехода без вскрыти  транзистора и уменьшение нагрева дополнительного транзистора рассеиваемой мощностью. На фиг. 1 представлена приндипиальна  схема устройства; на фиг. 2 - то же, в усовершенствованном варианте. Устройство предназначено дл  измерени  температуры перехода транзистора 1, работаю щего в непрерывно режиме, например в вых ном каскаде усилител  низкой частоты. Коллектор зтого транзистора соединен с клеммо 2 подключаемой к источнику питани , а эмиттер через резистор 3 змиттерной стабили зации соединен с клеммой 4 - выходным зажимом усилител , Устройство содержит дополнительный транзистор 5 той же проводимости, что и из мер емый, переменньш резистор 6, дифферен циальный усилитель 7, измеритель 8 напр же ни , нагревательный элемент 9, который находитс  в тепловом контакте с корггусом транзистора 5, контактный термопреобразователь 10, расположенный на корпусе транзистора 5 и подключенный к измерителю 11 те температуры. Усовершенствованный вариант устройства, обеспечивающий уменьшение мощности рассе ни  на коллекторе транзистора 5 (фиг.2) дополнительно содержит резистивный делитель на резисторах 12 и 13, включенный между клеммами 2 и 4, и второй дополнительный транзистор 14, включенный между коллек рами транзисторов 1 и 5. стройство работает следующим образом. ри работе транзистора 1, например, в выном каскаде усилител  низкой частоты, р жение на его эмиттере равно Ei(UB. б1БГЕ1Е1 ; апр жение на эмиттере транзистора 5 рав ,WU65(ti-tp,5en И)-1Б5ГБ5-1Е5 Е5; потенциальный барьер базаЧт , 5эмиттерного перехода транзисторов 1 и 5 соответственно; Ug, напр жение на базе соответственно транзисторов 1-5 (U,,U,); g, {t), (tj- мгновенное значение тока змиттера транзисторов 1 и -5; . ic IF,C мгновенное значение тока базы транзисторов 1 и 5; диффузионные составл ющие обратного тока змиттерных переходов транзисторов 1 и6 , определ емые конструктивными параметрами транзисторов и абсолютной температурой р - п перехода; 61 сопротивление базы транзисторов 1 и 5; EI сопротивление змиггеров транзисторов 1 и 5. момент подачи на вход усилител  низкой оты синусоидального напр жени  температупереходов транзисторов 1 и 3 будут равтемпературе окружающей среды. Путем бора величины Kg сопротивлени  резис6The denial refers to the temperature measurement domain and can be used in devices used to measure the transition temperature of a transistor under operating conditions ere in a continuous mode in an electrical circuit, such as a power amplifier. The purpose of the invention is to improve the accuracy of measuring the transition temperature without opening the transistor and reducing the heating of the additional transistor with dissipated power. FIG. 1 is a schematic diagram of the device; in fig. 2 - the same, in an improved version. The device is designed to measure the transition temperature of the transistor 1 operating in continuous mode, for example, in the output stage of a low-frequency amplifier. The collector of the transistor is connected to terminal 2 connected to the power source, and the emitter is connected via terminal 4 to the zmitter stabilization terminal to the output terminal of the amplifier. The device contains an additional transistor 5 of the same conductivity as the measured variable resistor 6 differential. amplifier 7, meter 8, for example, heating element 9, which is in thermal contact with the coil of transistor 5, contact thermocouple device 10 located on the body of transistor 5 and connected to the meter 11 those temperatures. An improved version of the device, which reduces the power dissipation at the collector of transistor 5 (Fig. 2), further comprises a resistive divider of resistors 12 and 13 connected between terminals 2 and 4, and a second additional transistor 14 connected between collections of transistors 1 and 5. The structure works as follows. When transistor 1 is working, for example, in a high-frequency low-frequency amplifier stage, the emitter on its emitter is Ei (UB. B1BGE1E1; Aa base voltage barrier, 5 emitter junction of transistors 1 and 5, respectively; Ug, voltage on the basis of respectively transistors 1-5 (U ,, U,); g, {t), (tj - instantaneous value of the emitter current of transistors 1 and -5 ;. ic IF, C is the instantaneous value of the base current of transistors 1 and 5; the diffusion components of the reverse current of the emitter junction of transistors 1 and 6 are definable The operational parameters of the transistors and the absolute temperature of the p – n junction; 61 resistance of the base of transistors 1 and 5; EI resistance of the zigmger transistors 1 and 5. The moment of input to the input of the low-voltage amplifier of the sinusoidal voltage of the transistors 1 and 3 will be equal to temperature of the environment Kg resis 6

Claims (2)

1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ ПЕРЕХОДА ТРАНЗИСТОРА, 1 температуры с контактным термопреобразова- : телем, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения температуры перехода без вскрытия транзистора, в него введены дифференциальный усилитель; переменный резистор> нагревательный элемент, измеритель напряжения и дополнительный транзистор, база и коллектор которого соответственно подключены к базе и коллектору измеряемого транзистора, а эмиггер подключен через переменный резистор к второму выводу резистора и первому входу дифференциального усилителя, второй вход которого соединен с · эмиттером измеряемого транзистора, а выход подключен к измерителю напряжения и нагревательному элементу, находящемуся в теплоработающего в непрерывном режиме и включенного по схеме с общим коллектором, совом контакте с дополнительным транзистором, на корпусе которого расположен контактный1. DEVICE FOR MEASURING A TRANSISTOR TRANSITION TEMPERATURE, 1 temperature with contact thermoconversion: a body, characterized in that, in order to improve the accuracy of measuring the transition temperature without opening the transistor, a differential amplifier is introduced into it; variable resistor> heating element, voltage meter and additional transistor, the base and collector of which are respectively connected to the base and collector of the measured transistor, and the emigger is connected through a variable resistor to the second output of the resistor and the first input of the differential amplifier, the second input of which is connected to the emitter of the measured transistor , and the output is connected to a voltage meter and a heating element that is in heat operation in a continuous mode and switched on according to the scheme with a common lecturer sovom contact with a further transistor, which is located on the pin body 2. Устройство по п. /отличающееся тем, что, с целью уменьшения нагрева дополнительного транзистора рассйиваемой мощностью, в него введены второй дополнительный транзистор и резистивный делитель напряжения, включенный между коллектором измеряемого транзистора 'ц вторым выводом резистора, при эгЬм коллектор первого дополнительного транзистора подключен к коллектору измеряемого транзистора через второй дополнительный транзистор, база которого подключена к средней точке делителя, а эмиттер и коллектор соединены соответственно ,с коллекторами первого дополнительного и измеряемого транзисторов.2. The device according to claim / characterized in that, in order to reduce the heating of the additional transistor by power dissipation, a second additional transistor and a resistive voltage divider are inserted into it, connected between the collector of the measured transistor and the second output of the resistor, with the collector of the first additional transistor connected to the collector of the measured transistor through the second additional transistor, the base of which is connected to the midpoint of the divider, and the emitter and collector are connected respectively to the collector proof operation and the measured first additional transistors.
SU843738316A 1984-03-27 1984-03-27 Apparatus for measuring temperature of transistor junction SU1196699A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843738316A SU1196699A1 (en) 1984-03-27 1984-03-27 Apparatus for measuring temperature of transistor junction

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843738316A SU1196699A1 (en) 1984-03-27 1984-03-27 Apparatus for measuring temperature of transistor junction

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1196699A1 true SU1196699A1 (en) 1985-12-07

Family

ID=21118059

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843738316A SU1196699A1 (en) 1984-03-27 1984-03-27 Apparatus for measuring temperature of transistor junction

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1196699A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1046923A2 (en) * 1993-11-08 2000-10-25 Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha Apparatus for inspecting electric component for inverter circuit

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 10497 кл. G 01 К 7/16, G 01 R 31/26, 1979. Закс Д. И. Параметры теплового режима полупроводниковых микросхем. М.: Радиосв зь, 1983, с. 32-33. *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1046923A2 (en) * 1993-11-08 2000-10-25 Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha Apparatus for inspecting electric component for inverter circuit
EP1046923A3 (en) * 1993-11-08 2001-10-04 Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha Apparatus for inspecting electric component for inverter circuit

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3882728A (en) Temperature sensing circuit
GB664029A (en) Radiation type thermometric device
SU1196699A1 (en) Apparatus for measuring temperature of transistor junction
US3488573A (en) Overload protection for thermally sensitive load device
Roth et al. Application of germanium resistance thermometers below 0.1 K
US3576492A (en) Mean power detector circuit employing a semiconductor differential amplifier on an integrated circuit chip
JPS59104515A (en) Detector for liquid level
JPH087465Y2 (en) Highly stable constant current power supply
RU2122713C1 (en) Semiconductive temperature pickup
SU1682827A1 (en) Device for temperature measurements
SU1624278A1 (en) Device for compensating temperature effect on free ends of termoelectric transducer
SU1681283A1 (en) Method of determination of the transistor thermal resistance
SU1176183A1 (en) Semiconductor temperature meter
SU1122903A1 (en) Temperature-to-frequency converter
USH1095H (en) Cooled, temperature controlled electrometer
SU1506402A1 (en) Method of determining the gain of high-voltage transistor
SU1500862A2 (en) Device for measuring temperature
SU552560A1 (en) Device for measuring the physical parameters of the medium
SU1183903A1 (en) Hot-wire anemometer
SU720368A1 (en) Shf signal transducer
SU1456789A1 (en) Heat flowmeter
SU1140226A1 (en) Current amplifier
SU1720020A1 (en) Thermal flow meter
SU1597596A1 (en) Electronic temperature-sensitive element
JPS5826362Y2 (en) Temperature measurement circuit