SU1187030A1 - Фотометрический шар дл абсолютных измерений - Google Patents
Фотометрический шар дл абсолютных измерений Download PDFInfo
- Publication number
- SU1187030A1 SU1187030A1 SU823485983A SU3485983A SU1187030A1 SU 1187030 A1 SU1187030 A1 SU 1187030A1 SU 823485983 A SU823485983 A SU 823485983A SU 3485983 A SU3485983 A SU 3485983A SU 1187030 A1 SU1187030 A1 SU 1187030A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- ball
- hole
- holes
- area
- radiation
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
ФОТОМЕТРИЧЕСКИЙ ШАР ДЛЯ А СОЛЮТНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ, содержащий по ходу излучени входное отверстие, версти дл исследуемого образца и приемника излучени , между которым установлен прозрачный экран, отличающийс тем, что, с целью повышени точности измерений путем исключени вли ни отвер тий независимо от длины волны излу чени , в свободном от отверстий участке поверхности шара выполнено дополнительное отверстие, причем коэффициент первого отражени поверхности шара, ограниченной диаметром пучка излучени и содержащей дополнительное отверстие, равен эффективному коэффициенту первого отражени всей внутренней поверхности фотометрического шарар , определ емому по формуле , ,.iL|S л Э; f площадь внутренней поверхности шара, в котором отсутствуют отверсти ; коэффициент отражени свободного от отверстий участка его поверхности; площадь и коэффициент отражени j-ro отверсти в шаре.
Description
1 Изобретение относитс к оптическому приборостроению, в частности фото- и спектрофотометрии, и может быть использовано в научных исследовани х , метрологии и промьшшенности . Цель изобретени - повыигение точности измерений путем исключени вли ни отверстий независимо от длины волны излучени . На чертеже изображены фотометрический шар с оптической системой формующей излучение. Система включает источник 1 .излу ченшц апертурную диафрагму 2, зеркало 3, а фотометрический шар содержит входное отверстие 4, отверстие с образцом 5, которое отделено от приемника 6 непрозрачным экраном 7, в свободной поверхности учас ка шара 8 выполнено дополнительное отверстие 9. Устройство работает следующим образом. Когда зеркало 3 и экран 7 сто т в показанном пунктиром положении, свет цопадает на участок поверхности шара 8, в котором имеетс дополнительное отверстие 9 такого ра мера, что выполн етс следующее соотношение: где Sj - площадь участка поверхности шара 8; Sg - площадь внутренней поверхности шара; Sj - площадь отверсти 9; S - площадь входного отверсти 4. В предлагаемой конструкции шара свет, первый раз отразившись от исследуемого образца, может потер тьс 2 ко во входном отверстии, котоничем не закрыто, поэтому firH-f V fg - спектральный коэффициент отражени -покрыти внутренней поверхности шара; jJj эффективный спектральный коэффициент первого отражени всей внутренней поверхности шара. ледовательно , ys . , ; ол 1 р - коэффициент отражени участка поверхности шара с дополнительным отверстием . тсчет приемника при освещении льзуемого вместо эталона участка рхности шара равен NO-KI P,- ; -1- р 0 S6 К - коэффициент пропорциональности; - поток вход щего в шар излучени ; pjj - эффективный спектральный коэффициент отражени всей внутренней поверхности шара. огда свет направл ют на исследуобъект с коэффициентом отражер , отсчет N равен Н.КФРУ, ig ому дл любой длины волны коэфент отражени- будет определ тьез систематической погрешности.
Claims (1)
- ФОТОМЕТРИЧЕСКИЙ ШАР ДЛЯ АБСОЛЮТНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ, содержащий по ходу излучения входное отверстие, отверстия для исследуемого образца и приемника излучения, между которыми , установлен прозрачный экран, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений путем исключения влияния отверстий независимо от длины волны излу чения, в свободном от отверстий участке поверхности шара выполнено дополнительное отверстие, причем коэффициент первого отражения поверхности шара, ограниченной диаметром пучка излучения и содержащей дополнительное отверстие, равен эффективному коэффициенту первого отражения всей внутренней поверхности фотометрического шарар^ , определяемому по формуле _ где So siи f,'- площадь внутренней поверхности шара, в котором отсутствуют отверстия;- коэффициент отражения свободного от отверстий участка его поверхности;- площадь и коэффициент отражения j-ro отверстия в шаре.SU .... 1187030
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823485983A SU1187030A1 (ru) | 1982-09-02 | 1982-09-02 | Фотометрический шар дл абсолютных измерений |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823485983A SU1187030A1 (ru) | 1982-09-02 | 1982-09-02 | Фотометрический шар дл абсолютных измерений |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1187030A1 true SU1187030A1 (ru) | 1985-10-23 |
Family
ID=21027409
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU823485983A SU1187030A1 (ru) | 1982-09-02 | 1982-09-02 | Фотометрический шар дл абсолютных измерений |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1187030A1 (ru) |
-
1982
- 1982-09-02 SU SU823485983A patent/SU1187030A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 759863, кл. G 01 J 1/04, 1980. Топорец А.С. Приспособление к спектрофотометру СФ-4 с интегрирующим шаром дл измерени коэффициентов отражени и пропускани . Оптика и спектроскопи , Т.Х, вып. с. 528. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4022534A (en) | Reflectometer optical system | |
DE3279511D1 (en) | Device for the photometric measuring by reflection | |
US3588496A (en) | Radiation analysis apparatus having an absorption chamber with partially reflective mirror surfaces | |
SE8301574D0 (sv) | Apparat for optisk undersokning av foremal | |
US5359406A (en) | Luminous flux measuring apparatus which calculates spectral efficiencies for error compensation | |
US2768553A (en) | Refractometers | |
US2451501A (en) | Specular reflectometer | |
KR890000876A (ko) | 미소 고저차 측정장치 및 그 방법 | |
US2739246A (en) | Exposure head for photometric comparator instruments | |
SU1187030A1 (ru) | Фотометрический шар дл абсолютных измерений | |
RU2123177C1 (ru) | Устройство для измерения силы света | |
SU1249324A1 (ru) | Устройство дл контрол шероховатости поверхности | |
SU1539537A1 (ru) | Фотометрический шар | |
SU1511599A1 (ru) | Диафрагма дл фотометрировани излучени от небесных тел и фона неба | |
SU1281952A1 (ru) | Устройство дл измерени спектрального коэффициента пропускани объективов | |
RU1824547C (ru) | Рефлектометр дл вогнутых зеркал | |
RU1464676C (ru) | Способ измерени атмосферной рефракции | |
JPS581742B2 (ja) | ブンコウコウドケイ | |
SU1453183A1 (ru) | Люксметр | |
SU823273A1 (ru) | Оптико-электронное измерительноеуСТРОйСТВО | |
RU2033603C1 (ru) | Способ измерения коэффициента отражения | |
SU1446465A2 (ru) | Устройство дл контрол шероховатости поверхности | |
SU1413441A2 (ru) | Астрономический двухканальный фотометр | |
SU1395946A1 (ru) | Прибор дл контрол шероховатости поверхности | |
SU759863A1 (ru) | Фотометрический шар для абсолотных измерений |