SU1187030A1 - Фотометрический шар дл абсолютных измерений - Google Patents

Фотометрический шар дл абсолютных измерений Download PDF

Info

Publication number
SU1187030A1
SU1187030A1 SU823485983A SU3485983A SU1187030A1 SU 1187030 A1 SU1187030 A1 SU 1187030A1 SU 823485983 A SU823485983 A SU 823485983A SU 3485983 A SU3485983 A SU 3485983A SU 1187030 A1 SU1187030 A1 SU 1187030A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
ball
hole
holes
area
radiation
Prior art date
Application number
SU823485983A
Other languages
English (en)
Inventor
Михаил Александрович Бухштаб
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6681
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6681 filed Critical Предприятие П/Я Р-6681
Priority to SU823485983A priority Critical patent/SU1187030A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1187030A1 publication Critical patent/SU1187030A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

ФОТОМЕТРИЧЕСКИЙ ШАР ДЛЯ А СОЛЮТНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ, содержащий по ходу излучени  входное отверстие, версти  дл  исследуемого образца и приемника излучени , между которым установлен прозрачный экран, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности измерений путем исключени  вли ни  отвер тий независимо от длины волны излу чени , в свободном от отверстий участке поверхности шара выполнено дополнительное отверстие, причем коэффициент первого отражени  поверхности шара, ограниченной диаметром пучка излучени  и содержащей дополнительное отверстие, равен эффективному коэффициенту первого отражени  всей внутренней поверхности фотометрического шарар , определ емому по формуле , ,.iL|S л Э; f площадь внутренней поверхности шара, в котором отсутствуют отверсти ; коэффициент отражени  свободного от отверстий участка его поверхности; площадь и коэффициент отражени  j-ro отверсти  в шаре.

Description

1 Изобретение относитс  к оптическому приборостроению, в частности фото- и спектрофотометрии, и может быть использовано в научных исследовани х , метрологии и промьшшенности . Цель изобретени  - повыигение точности измерений путем исключени  вли ни  отверстий независимо от длины волны излучени . На чертеже изображены фотометрический шар с оптической системой формующей излучение. Система включает источник 1 .излу ченшц апертурную диафрагму 2, зеркало 3, а фотометрический шар содержит входное отверстие 4, отверстие с образцом 5, которое отделено от приемника 6 непрозрачным экраном 7, в свободной поверхности учас ка шара 8 выполнено дополнительное отверстие 9. Устройство работает следующим образом. Когда зеркало 3 и экран 7 сто т в показанном пунктиром положении, свет цопадает на участок поверхности шара 8, в котором имеетс  дополнительное отверстие 9 такого ра мера, что выполн етс  следующее соотношение: где Sj - площадь участка поверхности шара 8; Sg - площадь внутренней поверхности шара; Sj - площадь отверсти  9; S - площадь входного отверсти  4. В предлагаемой конструкции шара свет, первый раз отразившись от исследуемого образца, может потер тьс 2 ко во входном отверстии, котоничем не закрыто, поэтому firH-f V fg - спектральный коэффициент отражени -покрыти  внутренней поверхности шара; jJj эффективный спектральный коэффициент первого отражени  всей внутренней поверхности шара. ледовательно , ys . , ;   ол 1 р - коэффициент отражени  участка поверхности шара с дополнительным отверстием . тсчет приемника при освещении льзуемого вместо эталона участка рхности шара равен NO-KI P,- ; -1- р 0 S6 К - коэффициент пропорциональности; - поток вход щего в шар излучени ; pjj - эффективный спектральный коэффициент отражени  всей внутренней поверхности шара. огда свет направл ют на исследуобъект с коэффициентом отражер , отсчет N равен Н.КФРУ, ig ому дл  любой длины волны коэфент отражени- будет определ тьез систематической погрешности.

Claims (1)

  1. ФОТОМЕТРИЧЕСКИЙ ШАР ДЛЯ АБСОЛЮТНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ, содержащий по ходу излучения входное отверстие, отверстия для исследуемого образца и приемника излучения, между которыми , установлен прозрачный экран, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений путем исключения влияния отверстий независимо от длины волны излу чения, в свободном от отверстий участке поверхности шара выполнено дополнительное отверстие, причем коэффициент первого отражения поверхности шара, ограниченной диаметром пучка излучения и содержащей дополнительное отверстие, равен эффективному коэффициенту первого отражения всей внутренней поверхности фотометрического шарар^ , определяемому по формуле _ где So siи f,'
    - площадь внутренней поверхности шара, в котором отсутствуют отверстия;
    - коэффициент отражения свободного от отверстий участка его поверхности;
    - площадь и коэффициент отражения j-ro отверстия в шаре.
    SU .... 1187030
SU823485983A 1982-09-02 1982-09-02 Фотометрический шар дл абсолютных измерений SU1187030A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823485983A SU1187030A1 (ru) 1982-09-02 1982-09-02 Фотометрический шар дл абсолютных измерений

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823485983A SU1187030A1 (ru) 1982-09-02 1982-09-02 Фотометрический шар дл абсолютных измерений

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1187030A1 true SU1187030A1 (ru) 1985-10-23

Family

ID=21027409

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823485983A SU1187030A1 (ru) 1982-09-02 1982-09-02 Фотометрический шар дл абсолютных измерений

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1187030A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 759863, кл. G 01 J 1/04, 1980. Топорец А.С. Приспособление к спектрофотометру СФ-4 с интегрирующим шаром дл измерени коэффициентов отражени и пропускани . Оптика и спектроскопи , Т.Х, вып. с. 528. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4022534A (en) Reflectometer optical system
DE3279511D1 (en) Device for the photometric measuring by reflection
US3588496A (en) Radiation analysis apparatus having an absorption chamber with partially reflective mirror surfaces
SE8301574D0 (sv) Apparat for optisk undersokning av foremal
US5359406A (en) Luminous flux measuring apparatus which calculates spectral efficiencies for error compensation
US2768553A (en) Refractometers
US2451501A (en) Specular reflectometer
KR890000876A (ko) 미소 고저차 측정장치 및 그 방법
US2739246A (en) Exposure head for photometric comparator instruments
SU1187030A1 (ru) Фотометрический шар дл абсолютных измерений
RU2123177C1 (ru) Устройство для измерения силы света
SU1249324A1 (ru) Устройство дл контрол шероховатости поверхности
SU1539537A1 (ru) Фотометрический шар
SU1511599A1 (ru) Диафрагма дл фотометрировани излучени от небесных тел и фона неба
SU1281952A1 (ru) Устройство дл измерени спектрального коэффициента пропускани объективов
RU1824547C (ru) Рефлектометр дл вогнутых зеркал
RU1464676C (ru) Способ измерени атмосферной рефракции
JPS581742B2 (ja) ブンコウコウドケイ
SU1453183A1 (ru) Люксметр
SU823273A1 (ru) Оптико-электронное измерительноеуСТРОйСТВО
RU2033603C1 (ru) Способ измерения коэффициента отражения
SU1446465A2 (ru) Устройство дл контрол шероховатости поверхности
SU1413441A2 (ru) Астрономический двухканальный фотометр
SU1395946A1 (ru) Прибор дл контрол шероховатости поверхности
SU759863A1 (ru) Фотометрический шар для абсолотных измерений