SU1173328A1 - Method of measuring electrical and non-electrical values - Google Patents

Method of measuring electrical and non-electrical values Download PDF

Info

Publication number
SU1173328A1
SU1173328A1 SU833597539A SU3597539A SU1173328A1 SU 1173328 A1 SU1173328 A1 SU 1173328A1 SU 833597539 A SU833597539 A SU 833597539A SU 3597539 A SU3597539 A SU 3597539A SU 1173328 A1 SU1173328 A1 SU 1173328A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
test
value
measured
measurement
result
Prior art date
Application number
SU833597539A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Александр Иванович Матикс
Виктор Николаевич Сумительнов
Татьяна Яковлевна Хинтицкая
Original Assignee
Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт Комплексной Автоматизации Мелиоративных Систем
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт Комплексной Автоматизации Мелиоративных Систем filed Critical Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт Комплексной Автоматизации Мелиоративных Систем
Priority to SU833597539A priority Critical patent/SU1173328A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1173328A1 publication Critical patent/SU1173328A1/en

Links

Abstract

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ И НЕЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ВЕЛИЧИН, основанный на последовательном измерении исследуемой величины х и тестовой величины кх, где к -параметр мультипликативного теста, отличающийс  тем, что, с целью.повышени  -точности, дополнительно измер ют образцовую меру Ь , а истинное значение исследуемой величины определ 18т из соотношени  .).L X У - -УЗ (УЗ - У,) k где У| - результат измерени  исслеi дуемой величины Х ; у - результат тестового изме (Л рени  величины кх ; у J - результат измерени  образцовой меры Ь .METHOD OF MEASUREMENT OF ELECTRIC AND NON-ELECTRIC VALUES, based on the sequential measurement of the quantity X and test quantity K, where k is a multiplicative test parameter, characterized in that, for the purpose of increasing accuracy, the sample measure is additionally measured, and the true value of the test is measured, and the sample measure is also measured, additionally the sample measure, and the true value of the test is measured, the sample measure, and the true value of the test is measured, and the target measurement is measured, additionally, the sample measurement is measured, and the true value of the test is measured, and the true value of the test is the sample measure, and determines 18t from the ratio.). LX Y - -UZ (UZ - Y,) k where Y | - measurement result of the X value being studied; y is the result of the test change (L of the value of k x; y of J is the result of measurement of the exemplary measure b.

Description

X/-/ XX / - / X

/X/ X

ZZ

0000

со ю 00 1 Изобретение относитс  к электронным измерени м и может быть использовано во многих отрасл х промышленности , где требуетс .осуществить контроль параметров различной физической природы. Целью изобретени   вл етс  повышение точности путем замены операции измерени  тестовой величины, составленной в виде суммы измер емой величины и параметра аддитивного теста, операцией измерени  образцовой меры не св занной с измер емой величиной Ка чертеже представлена функциональна  схема устройства дл  измерени  радиации, реализующего предложенньй способ. Устройство состоит из фильтра 1 и последовательно включенных трансформатора 2, цифрового регистрирующего прибора 3, вычислительного бло ка 4 и блока 5 индикации. Устройство работает следующим образом. На трансметре 2 вьщел етс  термоЭДС Е, соответствующа  уровню радиации Q, воспринимаемой приемной поверхностью трансметра 2. Сначала регистрирующим прибором 3 фиксируетс  термоЭДС EQ, соответствующа  значению радиации Q х- Результат измерени  заноситс  в вычислительньй блок 4. Затем под приемной поверхностью трансметра 2 располагают фильтр 1, ослабл ющий поток радиации в К раз (например, фильтр из стекла ИКС-2 толщиной 1 мм -при потоке радиации с 282 длиной волны 2,1 мкм имеет коэффициент пропускани 0,87). Регистрирующим прибором 3 фиксируетс  термоЭДС Е (j(,соответствующа  значению радиации К Q . Результат измерени  также заноситс  в вычислительньй блок 4. Далее фильтр 1 убирают. Регистрирующим прибором 3 фиксируетс  термоЭДС Е Q , соответствующа  образцовому -значению радиации Q| (в качестве образцовой меры Q может быть использована нулева  радиаци  ночью, либо заданна  радиаци  от установленной над приемной поверхностью трансметра 2 лампы). Результат измерени  вновь заноситс  в вьиислительньй блок 4. Последний, исход  из системы уравнений Q. , + QX :,,,а, + , определ ет истинное значение радиации Q)( из соотношени  . / () Е.,„ - Е + (Е «к Л/ V, , Ч, Значение радиации Q с выхода вычислительного блока 4 поступает в блок 5 индикации искомого результата, которьш в данном случае не зависит от параметров Q и а статической функции преобразовани .co 00 1 The invention relates to electronic measurements and can be used in many industries where it is required to control parameters of different physical nature. The aim of the invention is to improve the accuracy by replacing the measurement operation of a test value, compiled as a sum of the measured value and an additive test parameter, with an exemplary measure measuring operation not related to the measured value. The device consists of a filter 1 and a transformer 2 connected in series, a digital recording device 3, a computing unit 4 and a display unit 5. The device works as follows. Thermopower E corresponds to transmeter 2 corresponding to the radiation level Q perceived by the receiving surface of transmeter 2. First, thermoEMF EQ is recorded by the recording device 3 corresponding to the radiation value Q x- The measurement result is entered into computing unit 4. Then filter 1 is placed under the receiving surface of transmeter 2 which reduces the radiation flux by a factor of K (for example, an IKS-2 glass filter with a thickness of 1 mm — at a radiation flux with a 282 wavelength of 2.1 μm, has a transmittance of 0.87). Thermopower E (j (corresponding to the value of radiation K Q) is recorded by recording device 3. The measurement result is also entered into computational unit 4. Next filter 1 is removed. Recording device 3 records thermoEMF E Q corresponding to exemplary value of radiation Q | (as a standard measure Q can be used at night zero radiation, or given radiation from the lamp installed above the receiving surface of transmeter 2. The result of the measurement is again recorded in exponential unit 4. The latter, based on the system of equations Q., + QX: ,,, a, +, determines the true value of radiation Q) (from the ratio. / () E., "- E + (E" to L / V,, H, Value of radiation Q from the output the computing unit 4 enters the display unit 5 of the desired result, which in this case does not depend on the parameters Q and on the static conversion function.

Claims (1)

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИ-ELECTRIC METHOD ЧЕСКИХ И НЕЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ВЕЛИЧИН, /# -Z ζί основанный на последовательном измерении исследуемой величины х и тестовой величины кх, где к -параметр мультипликативного теста, отличающийся тем, что, с целью.повышения -точности, дополнительно измеряют образцовую меру L , а истинное значение исследуемой величины определяйт из соотношения (у_2_2_У1)_Г____CLEAN AND NON-ELECTRIC VALUES, / # -Z ζί based on sequential measurement of the studied value of x and the test value of kx, where k is the multiplicative test parameter, characterized in that, in order to increase accuracy, they additionally measure the standard measure L, and the true value of the studied value, determine from the ratio (y_2_2_U1) _G ____ У2 - У 3 +3 - У, ) к у( - результат измерения дуемой величины X ; У2 - результат тестового рения величины кх ; у i - результат измерения разцовой меры V · где исслеоб~ изме-U2 - U 3 + (y 3 - Y,) k y ( is the result of measuring the blown value of X; Y 2 is the result of the test rhenium of the value of kx; y i is the result of measuring the measure taken V · where 1173328 21173328 2
SU833597539A 1983-05-30 1983-05-30 Method of measuring electrical and non-electrical values SU1173328A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833597539A SU1173328A1 (en) 1983-05-30 1983-05-30 Method of measuring electrical and non-electrical values

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833597539A SU1173328A1 (en) 1983-05-30 1983-05-30 Method of measuring electrical and non-electrical values

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1173328A1 true SU1173328A1 (en) 1985-08-15

Family

ID=21065662

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833597539A SU1173328A1 (en) 1983-05-30 1983-05-30 Method of measuring electrical and non-electrical values

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1173328A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 949464, кл. G ОТ R 27/02, 1980. Бромберг Э.М. и др. Тестовые методы повышени точности измерени . М., Энерги , 1978, с. 21. Авторское свидетельство СССР №257032, кл. G 01 В 7/00, 1968. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2892378A (en) Indicating turbidimeter
US2889518A (en) Digital meter
US4652811A (en) Method for measuring liquid content in a porous medium such as soil
DE59209626D1 (en) Procedure for determining a measured variable
US2616949A (en) Conductivity cell test element
US4326164A (en) Electrical resistance corrosion probe
EP0145073B1 (en) Gas analysis apparatus
US1960168A (en) Oil tester using radio frequency
US3430130A (en) Conductivity measuring circuit utilizing conductivity cell as input resistance of an operational amplifier
SU1173328A1 (en) Method of measuring electrical and non-electrical values
US2356238A (en) Photoelectric apparatus for measuring color and turbidity
US3086169A (en) Systems for measuring electrolytic conductivity
US2904996A (en) Apparatus for comparing the moisture transmission characteristics of materials
JPS58221122A (en) Sensor circuit for oil level
US3807878A (en) Optical densitometer for indicating the optical density and rate of change of the optical density of a specimen
US3167377A (en) Digital read-out apparatus
SU1474452A1 (en) Method and device for testing surface of electroconductive article
JPS6329235A (en) Measuring instrument for degree of contamination of fluid
SU1228021A1 (en) Meter of complex impedance parameters
SU783578A1 (en) Apparatus for measuring object deflection from predetermined orientation
RU2077023C1 (en) Method of measurement of electric and nonelectric quantities
SU378781A1 (en) DEVICE FOR AUTOMATIC MONITORING "PUNCHING ELECTRICALLY INSULATING VOLTAGE
SU643740A1 (en) Device for checking automatic monitoring instruments
SU421917A1 (en) AUTOMATIC DOUBLE-BLUE PHOTOMETER FOR ANALYSIS OF LIQUID MEDIA
SU1767454A1 (en) Device for measuring electrical parameters of quartz resonators