1 Изобретение относитс к исследовани м оптических свойств материалов , в частности измерени м коэффициента пропускани образцов, и може быть использовано при изготовлении и оценке качества оптических матери алов. Известен способ измерени коэффи циента пропускани образца, включающий фокусировку параллельного пучк лазерного излучени на образец и ре гистрацию прошедшего через образец излучени QJ. Недостатками этого способа вл ютс сильна зависимость аогрешносТ измерений от толщины образца, а также ограничени , накладьтаемые на диапазон измерение толщины образ цов без перестройки ; схемы. Наиболее близким к изобретению вл етс способ измерени коэффициен та пропускани образца оптического материала, включающий пропускание через клиновидный образец оптическо материала параллельного пучка когерентного излучени .и регистрацию интенсивности прошедшего излучени Недостатком известного способа вл етс мала точность измерений, св занна с тем, что при исследован образца с помощью высокоразрешающей аппаратуры угол клиновидности образ ца необходимо делать весьма значи тельным (,/i 0,3-0,5) , при этом, изменение толщины образца в предела исследуемой области может составл т существенную долю толщины образца. Целью изобретени вл етс повышение точности измерени коэффициента пропускани образца. Поставленна цель достигаетс те что при способе измерени коэффициента пропускани образца оптическог материала, включающем пропускание через клиновидный образец оптическо материала параллельного пучка коге (Рентного излучени и регистрацию интенсивности прошедшего излучени , регистрируют максимум (tcc и минимум JjuHH интенсивности одной из полос интерференционной картины излучени , прошедшего через образец с клиновидностью j5 ) причем тл;-где Я - длина волны излучени ; п - показатель преломлени материала образца; 182 Ед - размер облучаемой области образца, а коэффициент пропускани образца t определ ют по соотношению . К (Гм«кс мин ) f -f MoiKC мин где К V г АЛИКС Мо(К..с N ммкс ммн Лр - интенсивность падающего на образец пучка излучени . На чертеже показано распределение интенсивности излучени по сечению пучка .до и после образца. Способ осуществл ют следующим образом. Коллимироваинь1й пучок когерентного излучени пропускают через клиновидный образец исследуемого оптического материала и регистрируют с помощью сканирующего фотоприемного устройства. Образец ориентируют таким образом, что интерференционные полосы перпендикул рны направлению сканировани . Измер ют интенсивности 3 , и и ПС формуле (1) определ ют коэффициент поглощени образца t. Проведем сравнение погрешностей изерений С известным и предлагаемым способами на измерени коэффициента пропускани t пластины из поликрис таллического германи толщиной с/ 1 мм, имеющей угол клиновидности /5 0,5 при использовании регистрирующей аппаратуры, имеющей f 100 мкм, ; 10,6 мкм и диаметр исследуемой области if 30 мм. При этом рассматриваютс только составл ющие погрешности Д , и , которые определ ютс способом измерений. При известном способе составл юща погрешности Д,, равна 8,5%. Составл юща погрешности д , определ ема изменением толщины данного образца в пределах исследуемой области , составл ет 4,25% при 0,26 мм. Дп измерений предлагаемым способом достаточно наличи всего двух интерференционных полос в исследуемой области, поэтому при ЕЯ 30 мм может быть измерено пропускание пластины, имеющей угол клиновидности й ::-г- О при этом измене/h «с( ние толщины образца в исследуемой области составл ет oj 1,2 мкм, т.е в 210 раз меньше, чем при известном способе, поэтому составл ющей погреш ности 4j в предлагаемом способе можно пренебречь. Составл юща погрешности д,, искл и за счет того, что при измеречаетс НИИ f, И вычислении f используетс информаци величины об отражательных и поглощательных свойствах образца, заложенна в распределении интенсивности излучени в полосах равной толщины, т.е. в данном случае интерференционные полосы вл ютс не мешающим фактором а используютс непосредственно дл измерений. Таким образом, при предлагаемом способе измерений LO составл ющие погрешности д и д существенно меньше, чем при известном способе. 1 84 что обеспечивает более высокую точность Измерений. Кроме того, при предлагаемом способе возможно проводить измерени коэффициента пропускани плоскопараллельных образцов, всегда имеющих небольшую клиновидность из-за неточности изготовлени , котора , как правило, не превышает 1-2 . Погрешность измерений при предлагаемом способе определ етс , в основном, аппаратурной составл ющей, в частности такими факторами, как нестабильность излучени лазера за врем измерений, нестабильность коэффициента передачи сканирующего преобразовател изображени и собственна погрешность .регистрирующего устройства. Вклад в общую погрешность методической составл ющей , обусловленной способом из epeний , незначителен, что подтверждает эффективность предлагаемого способа.1 The invention relates to the study of the optical properties of materials, in particular measurements of the transmittance of samples, and can be used in the manufacture and evaluation of the quality of optical materials. A known method for measuring the transmission coefficient of a sample involves focusing a parallel beam of laser radiation on the sample and registering the radiation transmitted through the sample QJ. The disadvantages of this method are the strong dependence of the measurement errors on the sample thickness, as well as the limitations imposed on the measurement range of the thickness of the samples without adjustment; scheme. The closest to the invention is a method for measuring the transmittance of a sample of an optical material, including passing a parallel coherent radiation beam through a wedge-shaped sample of optical material. And recording the transmitted radiation intensity. The disadvantage of this method is the small measurement accuracy associated with With the help of high-resolution equipment, the angle of the wedge-shaped specimen should be made very significant (, / i 0.3-0.5), while changing the thickness of the specimen WCA limit in the investigated region may comprise a substantial proportion m sample thickness. The aim of the invention is to improve the accuracy of measurement of the sample transmittance. The goal is achieved by the method of measuring the transmittance of a sample of optical material, including passing a wedge-shaped optical material through a wedge-shaped sample of a parallel beam (Rental radiation and recording the transmitted radiation intensity, record the maximum (tcc and minimum JjuHH of one of the interference pattern of the radiation transmitted through sample with wedge shape j5) where t is; where i is the radiation wavelength; n is the refractive index of the sample material; 182 U is the size of the irradiation my sample area, and the sample transmittance t is determined by the ratio. K (Hm к ks min) f -f MoiKC min where K V g ALIX Mo (K..s N mmks mmn Lr is the intensity of the radiation beam incident on the sample. The drawing shows the distribution of the radiation intensity over the beam section before and after the sample. The method is carried out as follows: The collimated radiation beam of coherent radiation is passed through a wedge-shaped sample of the optical material under study and recorded using a scanning photoreceiver. The sample is oriented in such a way that the interference fringes are perpendicular to the scanning direction. The intensities of 3 are measured, and the PS of formula (1) is the absorption coefficient of the sample, t. We will compare the errors of C measurements with known and proposed methods for measuring the transmittance t of a polycrystalline germanium plate with a thickness of / 1 mm, having a wedge angle of / 5 0.5 using recording equipment having f 100 µm,; 10.6 µm and diameter of the test area if 30 mm. In this case, only the error components D, and which are determined by the measurement method are considered. With the known method, the error component D ,, is equal to 8.5%. The error component, d, determined by the change in the thickness of this sample within the area under study, is 4.25% at 0.26 mm. The dp measurement by the proposed method is sufficient to have only two interference fringes in the studied area, therefore, at HER 30 mm, the transmittance of a plate having a wedge angle nd :: - g - O can be measured with this change h h (the thickness of the sample in the studied area em oj 1.2 µm, i.e., 210 times less than with the known method, therefore, the component error 4j can be neglected in the proposed method. It is due to the fact that when the scientific research institute f is measured, And the calculation of f uses the information about the reflective and absorbing properties of the sample, embedded in the distribution of the radiation intensity in bands of equal thickness, i.e. in this case, the interference bands are not an interfering factor and are used directly for measurements. Thus, with the proposed method of measuring LO, the components of error d and d is significantly less than with the known method.184 which provides higher accuracy of measurements.In addition, with the proposed method it is possible to measure the transmittance of plane pairs llelnyh samples always have a small wedge due to manufacturing inaccuracies, which usually do not exceed 1-2. The measurement error in the proposed method is mainly determined by the hardware component, in particular, factors such as the instability of the laser radiation during the measurement time, the instability of the transmission coefficient of the scanning image converter and the inherent error of the recording device. The contribution to the total error of the methodological component, due to the method of history, is insignificant, which confirms the effectiveness of the proposed method.