SU1153369A1 - Устройство дл электронно-микроскопического исследовани образцов при воздействии ультразвука - Google Patents
Устройство дл электронно-микроскопического исследовани образцов при воздействии ультразвука Download PDFInfo
- Publication number
- SU1153369A1 SU1153369A1 SU833661971A SU3661971A SU1153369A1 SU 1153369 A1 SU1153369 A1 SU 1153369A1 SU 833661971 A SU833661971 A SU 833661971A SU 3661971 A SU3661971 A SU 3661971A SU 1153369 A1 SU1153369 A1 SU 1153369A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- ultrasound
- source
- ultrasonic vibrations
- electronic
- crossbar
- Prior art date
Links
Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
I. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЭЖКТРОННО-МИКРОСКОГЩЧЕСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ ОБРАЗЦОВ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ УЛЬТРАЗВУКА содержащее источник ультразвуковых колебаний, концентратор и объектодержатель , о .т л и ч а ю щ е е с тем, что, с целью расширени функциональных возможностей, концентратор вьтолнен в виде И-образной пластины, образованной двум . стойками и перекладиной, при зтом объектодержатель установлен на, двух смежных торцах стоек, а источник ультразвуковых колебаний закреплен на внешней боковой поверхности одной из стовк у противоположного торца . 2. Устройство по п. 1, отличающеес тем, что перекла (О дина пластины выполнена с полостью, с внутри которой размещен нагревательный элемент. .
Description
1 11
Изобретение относитс к технике электронной микроскопии и может быть использовано при исследовании физических свойств металлов в услови х сочетани ультразвукового и статического воздействи на кристаллы металлов и непосредственного излучени тех структур в кристаллической ре шетке, которые вызываютс ультразвуковь )м воздействием совместно со статическим нагружением.
Известны устройства дл электронно-микроскопического исследовани образцов при воздействии статического нагружени , содержащие механизм нагружени и Ъбъектодержатель СП.
Однако такие устройства не могут быть использованы дл исследований в случае воздействи на образец ультразвуковых колебаний.
Наиболее близким к изобретению - .
по технической сущности вл етс устройство дл электронно-микроскопического исследовани образцов при воз-, действии ультразвука, содержащее источник ультразвуковых колебаний, концентратор и объектодержатель Ез}.
Известное устройство обладает ограниченными функциональными возможност ми . Оно не позвол ет налагать на образец дополнительные нагрузки, проводить исследовани при повышенных температурах, регулировать параметры ультразвуковых колебаний, исплльзовать стандартные пленочные образцы . Кроме того, в устройстве затруднен контроль колебаний образца и его температуры в процессе исследований .
Целью Изобретени вл етс расширение функциональных возможностей устройства.
Указанна цель достигаетс тем, ЧтЬ в устройстве дл электронно-микроскопического исследовани образцов при воздействии ультразвука, содержащем , источник ультразвуковых колебаний , концентратор и объектодержа- Тель, концентратор вьтолнен в виде Н-образной пластины, образованной, вум стойками и перекладиной, при этом объектодержатель установлен на двухсмежных торцах стоек, а источник ультразвуковых: колебаний закреплён на внешней боковой поверхности одной из стоек у противоположного торца.
33691
Кроме того, перекладина пластины может быть выполнена с полостью, внутри которой размещен нагревательный элемент.
5 На Фиг.1 показан концентратор, общий ВИД} на Лиг.2 и 3 - то же, вид сбоку и сверху, соответственно.
Концентратор устройства выполнен в виде Н-образной пластины, включающей вертикальные стойки 1 и 2 полу .волновой длины {фиг.| и горизонтальную перекладину 3. На внешней боковой поверхности вертикальной стойки 1 закреплен источник 4 ультразвуковых колебаний. На противоположных смежных торцах вертикальных стоек и 2 с помощью пластин 5 и винтов 6 закреплен объектодержатель 7 с окном 8 дл установки объекта в виде пленки или
0 фольги, прозрачных дл электронного луча микроскопа.В горизонтальной перекладине 3 расположен нагревательный элемент 9, например константано- ва спираль в термостойкой изол ции.
5 В средней части пластины ( в узле колебаний ) установлена разрезна упруга конусна шайба 10, котора с помощью стандартного приспособлени может быть установлена в соответствую-
0 шее конусное отв-ерстие гониометрического столика электронного микроскопа. Гониометрический столик устанавливаетс под углом (фиг.2 ) относительно оси электронного луча так, что луч 5 проходит мимо горизонтальной перекладины 3, воздействует на образец в окне 8 и дает его микроскопическое изображение или дифракционную картину.
Работа устройства осуществл етс следующим образом.
На конце внещней поверхности вертикальной стойки 1 Н-образной пластины.закрепл ют источник 4 ультразвуковых колебаний, а между противоположными торцами вертикальных стоек 1 и 2 закрепл ют объектодержатель 7 с образцом тонкой фольги. При включе0 НИИ источника 4 ультразвуковых колебаний в Н-образной пластине возникает сто ча ультразвукова волна с пучностью колебаний в месте расположени образца. Включение нагревательного элемента 9 вызывает деформацию образца в результате теплового расширени горизонтальной перекладины 3 пластины, вызывающей соответствующее
Claims (1)
- (571 I. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯОБРАЗЦОВ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ УЛЬТРАЗВУКА содержащее источник ультразвуковых колебаний, концентратор и объектодержатель, отличающеес я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей, концентратор выполнен в виде Н-образной пластины, образованной двумя стойками и перекладиной, при этом объектодержатель установлен на, двух смежных торцах стоек, а источник ультразвуковых колебаний закреплен на внешней боковой поверхности одной из стоек у противоположного торца.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833661971A SU1153369A1 (ru) | 1983-11-09 | 1983-11-09 | Устройство дл электронно-микроскопического исследовани образцов при воздействии ультразвука |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833661971A SU1153369A1 (ru) | 1983-11-09 | 1983-11-09 | Устройство дл электронно-микроскопического исследовани образцов при воздействии ультразвука |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1153369A1 true SU1153369A1 (ru) | 1985-04-30 |
Family
ID=21088917
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU833661971A SU1153369A1 (ru) | 1983-11-09 | 1983-11-09 | Устройство дл электронно-микроскопического исследовани образцов при воздействии ультразвука |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1153369A1 (ru) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7860727B2 (en) | 2003-07-17 | 2010-12-28 | Ventana Medical Systems, Inc. | Laboratory instrumentation information management and control network |
US8719053B2 (en) | 2003-07-17 | 2014-05-06 | Ventana Medical Systems, Inc. | Laboratory instrumentation information management and control network |
-
1983
- 1983-11-09 SU SU833661971A patent/SU1153369A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1, Дополнительные устройства современньгх электронных микроскопов. Обзорна ииформа11и . Сер. ТС-4. М,, 1ЩИЙТЭИ приборостроени , 1976, с. 17. 2. Лангенекер Б. Электронно-микроскопическое исследование образцов, подвергаеьлпс воздействию ультразвука. - Приборы дл научных исследо- ваиий. Пер. с англ. 1966, т. 37, 1, с. 109-112 (прототип). * |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7860727B2 (en) | 2003-07-17 | 2010-12-28 | Ventana Medical Systems, Inc. | Laboratory instrumentation information management and control network |
US8719053B2 (en) | 2003-07-17 | 2014-05-06 | Ventana Medical Systems, Inc. | Laboratory instrumentation information management and control network |
US8812329B2 (en) | 2003-07-17 | 2014-08-19 | Ventana Medical Systems, Inc. | Laboratory instrumentation information management and control network |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Bicanic | Photoacoustic and Photothermal Phenomena III: Proceedings of the 7th International Topical Meeting, Doorwerth, The Netherlands, August 26–30, 1991 | |
Teitelbaum et al. | Direct measurement of anharmonic decay channels of a coherent phonon | |
Scheingraber et al. | Heat pipe oven of well‐defined column density | |
JP2007033460A (ja) | 旋光計 | |
CN104089977A (zh) | 纺织品吸光发热性能的测试系统及测试方法 | |
SU1153369A1 (ru) | Устройство дл электронно-микроскопического исследовани образцов при воздействии ультразвука | |
Janzen et al. | Ultrafast electron diffraction at surfaces after laser excitation | |
SU1238173A2 (ru) | Устройство дл электронно-микроскопического исследовани образцов при воздействии ультразвука | |
Winter et al. | Ultrafast laser energy deposition in copper revealed by simulation and experimental determination of optical properties with pump-probe ellipsometry | |
Sung | New modification of the diamond anvil press: A versatile apparatus for research at high pressure and high temperature | |
Wu et al. | Photoacoustic microbeam-oscillator with tunable resonance direction and amplitude | |
Schnitzel | High temperature damping of tantalum, rhenium, and tungsten | |
Cheng et al. | Photoinduced interlayer dynamics in Td-MoTe2: A broadband pump-probe study | |
Stafford et al. | Time-gated resonance schlieren studies of analyte distribution in a graphite furnace atomiser | |
Mühlig et al. | Absolute absorption measurements in nonlinear optical crystals | |
CN218698434U (zh) | 一种热分离芯片开盖辅助装置 | |
Son et al. | Ultrafast time-resolved fluorescence at cryogenic temperature | |
Hasebe et al. | Broad‐Wavelength Light‐Fueled Organic Crystal Oscillators Driven by Multimodal Photothermally Resonated Natural Vibration | |
Li et al. | Measurement of ultrafast laser damage threshold on optical materials | |
US3560091A (en) | High pressure optical cell | |
SU819662A1 (ru) | Устройство дл определени тепло-ВыХ СВОйСТВ МАТЕРиАлОВ | |
Kellett et al. | Heating and cooling attachments for x-ray powder diffractometry | |
Zheng et al. | Multi-wavelength investigation of the influence of polarization orientation on bulk damage resistance of type I doubler KDP crystals | |
Tsepelev et al. | The unit for determining the density and surface tension of metallic liquid alloys, using the sessile drop method | |
Liu et al. | In-situ characterization of femtosecond laser-induced crystallization in borosilicate glass using time-resolved surface third-harmonic generation |