SU1153369A1

SU1153369A1 - Устройство дл электронно-микроскопического исследовани образцов при воздействии ультразвука

Info

Publication number: SU1153369A1
Application number: SU833661971A
Authority: SU
Inventors: Геннадий Сергеевич Басенок; Ильдар Камильевич Вагапов; Альберт Алексеевич Мокеев
Original assignee: Витебский Государственный Педагогический Институт Им.С.М.Кирова
Priority date: 1983-11-09
Filing date: 1983-11-09
Publication date: 1985-04-30

Abstract

I. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЭЖКТРОННО-МИКРОСКОГЩЧЕСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ ОБРАЗЦОВ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ УЛЬТРАЗВУКА содержащее источник ультразвуковых колебаний, концентратор и объектодержатель , о .т л и ч а ю щ е е с тем, что, с целью расширени функциональных возможностей, концентратор вьтолнен в виде И-образной пластины, образованной двум . стойками и перекладиной, при зтом объектодержатель установлен на, двух смежных торцах стоек, а источник ультразвуковых колебаний закреплен на внешней боковой поверхности одной из стовк у противоположного торца . 2. Устройство по п. 1, отличающеес тем, что перекла (О дина пластины выполнена с полостью, с внутри которой размещен нагревательный элемент. .

Description

1 11

Изобретение относитс к технике электронной микроскопии и может быть использовано при исследовании физических свойств металлов в услови х сочетани ультразвукового и статического воздействи на кристаллы металлов и непосредственного излучени тех структур в кристаллической ре шетке, которые вызываютс ультразвуковь )м воздействием совместно со статическим нагружением.

Известны устройства дл электронно-микроскопического исследовани образцов при воздействии статического нагружени , содержащие механизм нагружени и Ъбъектодержатель СП.

Однако такие устройства не могут быть использованы дл исследований в случае воздействи на образец ультразвуковых колебаний.

Наиболее близким к изобретению - .

по технической сущности вл етс устройство дл электронно-микроскопического исследовани образцов при воз-, действии ультразвука, содержащее источник ультразвуковых колебаний, концентратор и объектодержатель Ез}.

Известное устройство обладает ограниченными функциональными возможност ми . Оно не позвол ет налагать на образец дополнительные нагрузки, проводить исследовани при повышенных температурах, регулировать параметры ультразвуковых колебаний, исплльзовать стандартные пленочные образцы . Кроме того, в устройстве затруднен контроль колебаний образца и его температуры в процессе исследований .

Целью Изобретени вл етс расширение функциональных возможностей устройства.

Указанна цель достигаетс тем, ЧтЬ в устройстве дл электронно-микроскопического исследовани образцов при воздействии ультразвука, содержащем , источник ультразвуковых колебаний , концентратор и объектодержа- Тель, концентратор вьтолнен в виде Н-образной пластины, образованной, вум стойками и перекладиной, при этом объектодержатель установлен на двухсмежных торцах стоек, а источник ультразвуковых: колебаний закреплён на внешней боковой поверхности одной из стоек у противоположного торца.

33691

Кроме того, перекладина пластины может быть выполнена с полостью, внутри которой размещен нагревательный элемент.

5 На Фиг.1 показан концентратор, общий ВИД} на Лиг.2 и 3 - то же, вид сбоку и сверху, соответственно.

Концентратор устройства выполнен в виде Н-образной пластины, включающей вертикальные стойки 1 и 2 полу .волновой длины {фиг.| и горизонтальную перекладину 3. На внешней боковой поверхности вертикальной стойки 1 закреплен источник 4 ультразвуковых колебаний. На противоположных смежных торцах вертикальных стоек и 2 с помощью пластин 5 и винтов 6 закреплен объектодержатель 7 с окном 8 дл установки объекта в виде пленки или

0 фольги, прозрачных дл электронного луча микроскопа.В горизонтальной перекладине 3 расположен нагревательный элемент 9, например константано- ва спираль в термостойкой изол ции.

5 В средней части пластины ( в узле колебаний ) установлена разрезна упруга конусна шайба 10, котора с помощью стандартного приспособлени может быть установлена в соответствую-

0 шее конусное отв-ерстие гониометрического столика электронного микроскопа. Гониометрический столик устанавливаетс под углом (фиг.2 ) относительно оси электронного луча так, что луч 5 проходит мимо горизонтальной перекладины 3, воздействует на образец в окне 8 и дает его микроскопическое изображение или дифракционную картину.

Работа устройства осуществл етс следующим образом.

На конце внещней поверхности вертикальной стойки 1 Н-образной пластины.закрепл ют источник 4 ультразвуковых колебаний, а между противоположными торцами вертикальных стоек 1 и 2 закрепл ют объектодержатель 7 с образцом тонкой фольги. При включе0 НИИ источника 4 ультразвуковых колебаний в Н-образной пластине возникает сто ча ультразвукова волна с пучностью колебаний в месте расположени образца. Включение нагревательного элемента 9 вызывает деформацию образца в результате теплового расширени горизонтальной перекладины 3 пластины, вызывающей соответствующее

Claims

(571 I. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ

ОБРАЗЦОВ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ УЛЬТРАЗВУКА содержащее источник ультразвуковых колебаний, концентратор и объектодержатель, отличающеес я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей, концентратор выполнен в виде Н-образной пластины, образованной двумя стойками и перекладиной, при этом объектодержатель установлен на, двух смежных торцах стоек, а источник ультразвуковых колебаний закреплен на внешней боковой поверхности одной из стоек у противоположного торца.