SU1153298A2

SU1153298A2 - Device for pre-burning and testing flash modulator tubes

Info

Publication number: SU1153298A2
Application number: SU843686724A
Authority: SU
Inventors: Владимир Владимирович Степанов
Original assignee: Предприятие П/Я М-5044
Priority date: 1984-01-06
Filing date: 1984-01-06
Publication date: 1985-04-30

Abstract

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ТРЕНИРОВКИ И ИСПЫТАНИЯ ИМПУЛЬСНЫХ МОДУЛЯТОРНЫХ ЛАМП по авт. ев, № 1087928, о т л и .тем, что, с целью чающеес f повьшени достоверности и надежности испытани , в устройство вйедены второй накопительный конденсатор, второй измерительный резистор и безындуктивный ограничительный резистор, причем анод защитного диода через последовательно соединенные второй накопительный конденсатор и второй измерительный резистор соединен с общей шиной устройства, а безындуктивный ограничительный резистор включен между первым накопительным конденсатором и первым измерительным резистором.DEVICE FOR TRAINING AND TESTING OF PULSE MODULATOR LAMPS according to ed. No. 1087928, about tl and. the fact that, in order to increase the reliability and reliability of the test, a second storage capacitor, a second measuring resistor and a non-inductive limiting resistor were introduced into the device, and the anode of the protective diode was connected through a series-connected second storage capacitor and the second measuring resistor is connected to the common bus of the device, and the non-inductive limiting resistor is connected between the first storage capacitor and the first measuring resistor.

Description

слcl

с:with:

саsa

Л,L,

€0€ 0

соwith

00.00

/f f1 1 Изобретение относитс к контроль измерительной технике и может быть использовано при создании устройств дл тренировки и испытани импульсн модул торных ,ламп. По основному авт. св. № 1087928 известно устройство дл тренировки испытани импульсных модул торньк ламп, содержащее коммутатор, выполненньй в виде модул торной лампы,пе вый и второй управл ющие входы кото рого соединены соответственно с-пер вым и вторым выходами блока управле ни , соответствующий вывод которого соединен с общей цшной устройства, источник смещени , отрицательна клемма которого подключена к сеточной клемме дл подключени объекта контрол через первый ограничительный резистор, импульсный генератор, положительный выход которого подклю чен Через разделительный конденсато к сеточной клемме дл подключени объекта контрол , а управл ющий - к входу блока управлени , выс ковольт ный выпр митель, положительный выход которого через второй ограничительный резистор подключен к анодной клемме дл подключени объекта контрол , к катоду разделительного диода, источник импульсного тока, первый накопительньш конденсатор, первый вывод которого через первый измерительный резистор соединен с общей шиной устройства, защитном ДИОД и зар дный резистор, причем первый выход коммутатора подключен к катоду разделительного диода, вто рой выход - к аноду разделительного диода, к второму выводу первого накопительного конденсатора и катоду защитного диода, анод которого чере зар дный резистор соединен с положительным выходом источника импульс ного тока, а отрицательные выходы импульсного генератора, высоковольт ного выпр мител , источника импульс ного тока, .положительна клемма источника смещени и катодна клемма дл подключени объекта контрол со Однако данное устройство позво л ет проводить тренировку и испытание импульсных модул торных ламп is режиме, эквивалентном режиму короткого замыкани в нагрузке, причем при испытании мощных импульсных модул торных ламп емкость накопительного конденсатора в данном устройстве выбираетс из услови обеспечени формы тока в импульсе в соответствии с техническими услови ми на испытуемую лампу. При прохождении импульса тока анода, эквивалентного импульсу тока анода в режиме короткого замыкани в нагрузке, и при зар де накопительного конденсатора до выходного напр жени высоковольтного выпр мител в этом накопительном конденсаторе запасаетс значительна энерги выдел юща с во врем прохождени импульса анодного тока, что повышает веро тность разрушени катода . . Уменьшение емкости накопительного конденсатора не обеспечивает заданную в соответствии техническим условием форму тока анода в импульсе. Это приводит к тому, что испытание импульсных модул торных ламп в режиме,эквивалентном режиму короткого замыкани в нагрузке, происходит в более жестких услови х, чем те дл которых лампы предназначены, В результате чего , при испытании не обеспечиваетс высока достоверность испытани Кроме того, из-за большой энергии, запасенной в накопительном конденсаторе , невозможно обеспечить минимальную энергию пробо в лампе при тренировке ее в ре;киме, эквивалентном режиму короткого замыкани в нагрузке , что приводит к повышению веро тности разрушени катода лампы при пробо х.. Цель изобретени - повышение достоверности и Надежности испытани импульсных модул торных ламп. Поставленна цель достигаетс тем, что в устройство дл тренировки И испытани модул торных ламп, содер- жащее коммутатор, выполненный в виде модул торной лампы, первый и второй управл ющие входы которого соединены соответственно с первым и . вторым выходами блока управлени ,источник смещени , отрицательна клемма которого подключена к сеточной клемме дл подключени объекта контрол через первый ограничительный резистор, импульсный генератор, положительный выход которого подключен через разделительный конденсатор к сеточной клемме дл подключени объекта койтрол , а управл ющий - к входу блока управлени , высоковольтный выпр митель, положительный выход которого через второй ограничительный резистор подключен к анодной клемме дл подключени объекта контрол , к катоду разделительного диода источник импульсного тока, первый накопительный конденсатор, первый вы вод которого через первый измеритель ньм резистор соединен с общей шиной устройства, защитный диод и зар дный резистор, причем первый выход коммутатора подключен к катоду раздели;Тельного диода, второй выхо,п - к ано 1ду разделительного диода, к второму выводу первого накопительного конден сатора и к катоду защитного диода, анод которого через зар дный резисто соединен с положительным выходом источника импульсного тока, а отрицательные выходы импульсного генератора высоковольтного выпр мител , источни ка импульсного тока, положительна источника смещени и катодна клемма дл подключени объекта контрол соединены с общей щиной устрой- . ства, введень второй накопительный конденсатор, второй измерительный ре зистор и безындуктивный ограничитель ный резистор, причем анод защитного диода через последовательно соединен ные второй накопительньй конденсатор и второй измерительный -резистор соединен с общей шиной устройбезындуктивный ограниства , а чительный резистор включен между nepBbiM накопительньм конден сатором и первым измерительньм резистором. Введение в устройство последовательно соединенных второго накопительного конденсатора и второго изме рительного резистора позвол ет получить в устройстве два накопител энергии; первый - дл обеспечени формы импульса тока анода в соответствии с действующими, техническими ус лови ми, и второй - дл обеспечени заданной уменьшенной энергии пробо в режиме, эквивалентном- режиму короткого замыкани в нагрузке, как при испытании, так и при тренировке. Введение в устройство безындуктивног го ограничительного резистора позвол ет дозировать энергию пробо во врем тренировки за. счет ограничени резистором тока пробо , и тем самым повысить надежность испытани . 1 984 На чертеже представлена электрическа схема устройства. Устройство содержит анодную 1, сеточную 2 и катодную 3 клеммы, предназначенные дл подключени объекта контрол испытуемой импульсной модул торной лампы 4, источник 5 смещени , импульсный генератор 6, высоковольтный выпр митель 7, источник 8 импульсного тока в виде высоко .вольтного выпр мител , зар дный резистор 9, первый накопительный конденсатор 10, первый измерительный резистор I1, второй ограничительный резистор 12, разделительный даод 13, защитный диод 14, коммутатор 15, в виде модул торной, лампы с блоком 16 управлени , в виде тиратронного генератора , первый ограничительный резистор J7, разделительный конденсатор 18, второй накопительный конденсатор 19, второй измерительный резистор 20, безындуктивный ограничительный резистор 21. Импульсна модул торна лампа 4 подключена к устройству через анодную 1,- сеточную 2 и катодную 3 клеммы . Анодна клемма 1 подключена к положительному выходу высоковольтного выпр мител 7 через второй ограничительный резистор 12 и непосредственно к катоду разделительного диода 13 и аноду коммутатора 15.Сеточна клемма 2 лампы 4 подключена к отрицательной клемме источника 5 смещени через первьй ограничительный резистор 17 и к положительному выходу импульсного генератора 6 через разделительный конденсатор 18.Катодна клемма 3 лампы 4 подключена к общей шине з стройства; Параллельно разделительному диоду 13 подключу коммутатор 15 в виде модул торной лампы, анод которой соединен с катодом разделительного диода 13, а катод - с анодом разделительного диода 13, к которому подключены первый накопительный конденсатор 10 и катод .защитного диода 14. Анод защитного диода 14 подключен к положительному выходу источника 8 импульсного тока через зар дный резистор 9. Между анр-. дом защитного диода 14 и общей тиной устройства включена последовательна цепь, состо ща из второго накопительного конденсатора 19 и второго измерительного резистора 20,Между катодом защитного диода 14 и обS щей шиной устройства включена последовательна цепь , состо ща из пер вого накопительного конденсатора 10 безындуктивного ограничительного ре зистора 21 и измерительного резистора 11. Причем измерительный резистор 11 подключен к общей шине устройст ва.-Вход блока 16 управлени соедине с выходом импульсного генератора 6, а первый и второй выходы блока 16 управлени соединены соответственно с первым, и вторым входами коммутатора 15. Отрицательные выходы высоковольтного выпр мител 7, импульсного генератора 6, источника 8 импульсного тока, положительна клемма источник 5 смещени и соответствующий вывод блока J6 управлени соединены с общей шиной устройства. Устройство работает следующим образом , В исходном состо нии испытуема импульсна модул торна лампа 4 за перта по управл ющей сетке напр жением источника 5 смещени через первый ограничительный резистор 17, К аноду лампы 4 приложено напр жение высоковольтного выпр мител 7 через второй ограничительный резистор 12, Разделительный диод 13 закрыт, так как к нему приложено обратное напр жение , коммутатор 15 та1сже закрыт. Второй накопительный конденсатор 19 зар жаетс через второй ограничительный резистор 12 от источника 8 импульсного тока. Первый накопительный конденсатор 10 зар жаетс до напр жени источника 8. импульсного тока через защитный диод 14 и последовательную цепь, состо щ по нз безындуктивного резистора 21 и измерительного резистора I1, При поступлении импульса с импульсного генератора 6 на управл ющую сетку лампы 4 через конденсатор 18 лампа 4 открываетс , потенциал на ее аноде падает. Открываетс разделительный диод 13, происходит разр д первого накопительного конденсатора 10 и вт рого накопительного конденсатора 19 и через лампу 4 проходит импульс тока . 98 При этом величина тока анода в импульсе соответствует техническим услоВИЯМ на лампу или программе испытаний , С импульсного генератора 6 на блок 16 управлени поступают импульсь соответствующей частоты, в результате чего в блок 16 управлени на входы коммутатора 15 поступают управл ющие импульсы, частота которых задаетс техническими услови ми. Коммутатор 15 открываетс в паузе между импуль.сами генератора 6 на врем , необходимое дл зар да первого накопительного конденсатора 10 до заданного напр жени . Причем напр жение на первом накопительном конденсаторе 10 превыщает напр жение на втором накопительном конденсаторе 19 и защитный диод 14 закрыт. При поступлении рабочего импульса на сетку лампы 4 происходит разр д первого накопительного конденсатора Ю через разделительный диод 13, лампу 4, измерительный резистор 11, безындуктивный ограничительный резистор 21. В этом случае через лампу протекает ток перегрузки , эквивалентр1ый току, протекающему через лампу в режиме короткого замыкани в нагрузке реальной схемы. Но ввиду того, что падение напр жени на лампе.4 больше напр жени на втором накопительном конденсаторе 19, диод 14 закрыт и потреблени тока от импульсного источника 8 и второго накопительного конденсатора 19 не будет. Таким образом, в устройстве обеспечиваетс заданна -форма импульса тока анода, уменьшение энергии пробо в режиме эквивалентном режиму короткого замыкани в нагрузке, а также обеспечиваетс возможность дозировки энергии пробо путём ограничени тока пробо , Предлагаемое устройство обеспечивает повьЕцение надежности и достоверности испытани импульсных модул торных ламп по сравнению с известным устройством./ f f1 1 The invention relates to the control of measurement technology and can be used to create devices for training and testing pulse modulators, lamps. According to the main author. St. No. 1087928, a device for training testing pulsed lamp modules is known, comprising a switchboard, made in the form of a modulator lamp, the first and second control inputs of which are connected respectively to the first and second outputs of the control unit, the corresponding output of which is connected to the common a binary device, an bias source, the negative terminal of which is connected to the grid terminal for connecting the test object through the first limiting resistor, a pulse generator, the positive output of which is connected Through a separating condensate to the grid terminal for connecting the control object, and the control one to the input of the control unit, a high voltage rectifier whose positive output through the second limiting resistor is connected to the anode terminal for connecting the control object to the cathode of the isolation diode, pulse current source , the first storage capacitor, the first output of which through the first measuring resistor is connected to the common bus of the device, protective DIODE and charging resistor, the first output of the switch connected to the cathode of the isolation diode, the second output to the anode of the separation diode, to the second output of the first storage capacitor and to the cathode of the protective diode, the anode of which is connected to the positive output of the pulsed current source through the charging resistor, and the high-voltage rectifier a detector, a source of pulsed current, a positive terminal of a bias source and a cathode terminal for connecting a test object. However, this device allows for training and testing. pulsed modulator lamps is a mode equivalent to a short circuit in the load, and when testing high-power pulsed modulator lamps, the capacitance of the storage capacitor in this device is selected from the condition of providing the current pulse shape in accordance with the technical conditions of the test lamp. With the passage of the current pulse of the anode, equivalent to the current pulse of the anode in the short circuit mode in the load, and with the charging of the storage capacitor to the output voltage of the high voltage rectifier, this storage capacitor accumulates significant energy released during the passage of the anode current pulse, which increases destruction of the cathode. . A decrease in the capacitance of the storage capacitor does not provide the shape of the anode current in a pulse, which is specified in accordance with the technical condition. This leads to the fact that the test of pulsed modulator lamps in a mode equivalent to a short circuit in the load occurs under more severe conditions than those for which the lamps are intended. As a result, the test does not provide a high reliability of the test. Moreover, - due to the high energy stored in the storage capacitor, it is impossible to ensure the minimum energy of the lamp sample when it is trained in re, which is equivalent to the short circuit mode in the load, which leads to an increase in the probability and destruction of the cathode of the lamp during breakdowns. The purpose of the invention is to increase the reliability and reliability of testing pulsed modulator lamps. This goal is achieved by the fact that the device for training and testing modulator lamps, containing a switch made in the form of a modulator lamp, the first and second control inputs of which are connected respectively to the first and. the second outputs of the control unit, the bias source, the negative terminal of which is connected to the grid terminal for connecting the control object through the first limiting resistor, the pulse generator, the positive output of which is connected through the coupling capacitor to the grid terminal for connecting the object to the coyrol, and the control terminal to the input of the control unit , high-voltage rectifier, the positive output of which through the second limiting resistor is connected to the anode terminal for connecting the test object, as One of the separation diode is a source of pulsed current, the first storage capacitor, the first output of which is connected to the common bus of the device, the protective diode and the charging resistor through the first meter, the resistor, the first output of the switch is connected to the cathode, the TEL diode, the second output, n - to the anode of the separation diode, to the second output of the first storage capacitor, and to the cathode of the protective diode, the anode of which is connected to the positive output of the pulsed current source through the charging resistor, and the negative the high-voltage pulse generator pulses, the pulse current source, the positive bias source, and the cathode terminal for connecting the test object are connected to the total device. Injecting a second storage capacitor, a second measuring resistor, and a non-inductive limiting resistor, the protective diode anode being connected through a second storage capacitor and a second measuring resistor in series with a common bus to non-inductive constraints, and an effective resistor connected between the nepBbiM storage cone with a connector and a connector. the first measuring resistor. The introduction of a second storage capacitor and a second measuring resistor in series into the device allows the device to receive two energy storage devices; the first is to ensure the shape of the current pulse of the anode in accordance with the current technical conditions, and the second is to provide a given predetermined reduced breakdown energy in a mode equivalent to a short circuit in the load, both during testing and training. The introduction of a non-inductive limiting resistor into the device allows the sample energy to be dispensed during a workout. by limiting the resistance of the current to the sample, and thereby increase the reliability of the test. 1 984 The drawing shows the electrical circuit of the device. The device contains an anode 1, a grid 2 and a cathode 3 terminals for connecting the test object of the test pulsed modulator lamp 4, a bias source 5, a pulse generator 6, a high voltage rectifier 7, a pulse current source 8 in the form of a high voltage rectifier, a charge bottom resistor 9, first storage capacitor 10, first measuring resistor I1, second limiting resistor 12, isolation daod 13, protective diode 14, switch 15, in the form of a modulator, lamp with control unit 16, in the form of thyratron g Generator, first limiting resistor J7, coupling capacitor 18, second storage capacitor 19, second measuring resistor 20, non-inductive limiting resistor 21. Pulse modulator lamp 4 is connected to the device via anode 1, grid 2 and cathode 3 terminals. The anode terminal 1 is connected to the positive output of the high voltage rectifier 7 through the second limiting resistor 12 and directly to the cathode of the isolation diode 13 and the anode of the switch 15. The grid terminal 2 of the lamp 4 is connected to the negative terminal of the bias source 5 through the first limiting resistor 17 and to the positive output of the pulse generator 6 through a coupling capacitor 18. The cathode terminal 3 of the lamp 4 is connected to the common bus of the device; Parallel to the separation diode 13, I connect the switch 15 in the form of a modulator lamp, the anode of which is connected to the cathode of the separation diode 13, and the cathode to the anode of the separation diode 13, to which the first storage capacitor 10 and the cathode of the protective diode 14 are connected. to the positive output of the source 8 of the pulsed current through the charging resistor 9. Between the an-. The house of the protective diode 14 and common device is connected to a series circuit consisting of a second storage capacitor 19 and a second measuring resistor 20. A series circuit consisting of the first storage capacitor 10 of an inductively restrictive restrain circuit is connected between the cathode of the protection diode 14 and the device busbar. of the resistor 21 and the measuring resistor 11. Moreover, the measuring resistor 11 is connected to the common bus of the device. The input of the control unit 16 is connected to the output of the pulse generator 6, and the first and second The outputs of the control unit 16 are connected respectively to the first and second inputs of the switch 15. The negative outputs of the high-voltage rectifier 7, the pulse generator 6, the pulse current source 8, the positive terminal of the bias source 5 and the corresponding output of the control unit J6 are connected to the common bus of the device. The device operates as follows. In the initial state, a pulsed modular lamp 4 is tested for the first voltage across the control grid by the voltage of the bias source 5 through the first limiting resistor 17, The high voltage rectifier 7 is applied to the anode of the lamp 4 through the second limiting resistor 12, Isolating switch the diode 13 is closed, since a reverse voltage is applied to it, the switch 15 is also closed. The second storage capacitor 19 is charged through the second limiting resistor 12 from the source 8 of the pulsed current. The first storage capacitor 10 is charged before the voltage of the source 8. of the pulsed current through the protective diode 14 and a series circuit consisting of an inductively non-inductive resistor 21 and the measuring resistor I1. When a pulse is generated from the pulse generator 6 to the control grid of the lamp 4 through a capacitor 18 lamp 4 opens, the potential at its anode drops. The separation diode 13 is opened, the first storage capacitor 10 and the second storage capacitor 19 are discharged and a current pulse passes through the lamp 4. 98 In this case, the magnitude of the current of the anode in the pulse corresponds to the technical conditions for the lamp or the test program. From the pulse generator 6, the control unit 16 receives a pulse of the corresponding frequency, as a result of which the control unit 16 receives the control pulses at the inputs of the switch 15, the frequency of which is conditions. Switch 15 is opened in the pause between the pulses of the generator 6 for the time required to charge the first storage capacitor 10 to a predetermined voltage. Moreover, the voltage on the first storage capacitor 10 exceeds the voltage on the second storage capacitor 19 and the protective diode 14 is closed. When a working pulse arrives at the grid of the lamp 4, the first storage capacitor Yu is discharged through separation diode 13, lamp 4, measuring resistor 11, non-inductive limiting resistor 21. In this case, an overload current equivalent to the current flowing through the lamp in the short mode flows through the lamp closure in the load of the real circuit. But since the voltage drop across the lamp 4 is greater than the voltage on the second storage capacitor 19, the diode 14 is closed and there will be no current consumption from the pulse source 8 and the second storage capacitor 19. Thus, the device provides a predetermined shape of the current pulse of the anode, reducing the breakdown energy in a mode equivalent to a short circuit in the load, and also makes it possible to dose the breakdown energy by limiting the breakdown current. The proposed device ensures that the pulse modulator lamps are reliably and reliably measured compared with the known device.

Claims

DEVICE FOR TRAINING AND TESTING PULSE MODULATOR LAMPS by ed. St. No. 1087928, it is noteworthy that, in order to increase the reliability and reliability of the test, a second storage capacitor, a second measuring resistor and a non-inductive limiting resistor are introduced into the device, the anode of the protective diode through a second storage capacitor connected in series and a second measuring resistor is connected to the device common bus, and a non-inductive limiting resistor is connected between the first storage capacitor and the first measuring resistor.

1 153298