SU1137492A1 - Устройство дл моделировани бипол рного транзистора - Google Patents
Устройство дл моделировани бипол рного транзистора Download PDFInfo
- Publication number
- SU1137492A1 SU1137492A1 SU833645423A SU3645423A SU1137492A1 SU 1137492 A1 SU1137492 A1 SU 1137492A1 SU 833645423 A SU833645423 A SU 833645423A SU 3645423 A SU3645423 A SU 3645423A SU 1137492 A1 SU1137492 A1 SU 1137492A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- collector
- transistor
- base
- current
- amplifying transistor
- Prior art date
Links
Landscapes
- Amplifiers (AREA)
Abstract
УСТРОЙСТВО ДЛЯ МОДЕЛИРОВАНИЯ БИПОЛЯРНОГО ТРАНЗИСТОРА, содержащее переменный резистор, блок моделировани тока базы, выполненный в виде усилительного транзистора, .эмиттер которого подключен к первому выходу переменного резистора, блок моделировани коллекторного тока, вьтолненный в виде усилительного транзистора, кoллeкfop которого вл етс коллекторным выводом устройства, базовый вьшод которого соединен с базой усилительного транзистора блока моф делировани тока базы, отличающеес тем, что, с целью повышени точности моделировани , в него введен блок моделировани изменени коэффициента усилени по току, выполненный в виде усилительного транзистора, коллектор которого подключен к второму, выводу переменного резистора, подвижный контакт которого соединен с базой усилительHoi:o транзистора блока моделировани коллекторного тока, эмиттер котот iporo вл етс эмиттерным выводом устройства и подключен к первому выводу переменного резистора, коллектор усилительного транзистора блока моделировани тока базы сое (Л динен с базой усилительного транзистора блока моделировани изменени коэффициента усилени по току, эмиттер которого соединен с коллектором усилительного транзистора блока моделировани коллекторного тока. со 4 СО to
Description
-€)
Изобретение относитс к вычислительной технике и может быть испольЭовано дл анализа работоспосрбности устройств в услови х повьшенной температуры и технологического разбро™ са параметров транзисторов. Известно устройство дл моделировани пйлупроводникового элемента, содержащего операционные усилители, переменный резистор и транзистор fQ Наиболее близким по технической сущности к изобретении вл етс устройство дл моделировани полупроводникового элемента, содержащее входной усилительный транзистор, эмиттер которого подключен к первому выводу переменного резистора, и дополнительный транзистор, позвол ющее моделировать изменение коэффицие та передачи по току транзистора Однако известные устройства характеризуютс недостаточной точность моделировани эмиттерного перехода кремниевого транзистора при больших токах базы, на которую оказывают вли ние многие факторы, в том числе вид входных характеристик германиевых усилительных транзисторов, точность подбора компенсирующего резистора-и вьтр мительного диода, поло- жение движка переменного резистора, в св зи с чем устройства оказываютс неработоспособными в услови х, св занных с необходимостью регулировки в больших пределах коэффициента, усилени по току и одновременно точного моделировани характеристик эмиттерного перехода транзистора при больших токах базы, а также запирающем смещении на эмиттерном переходе, Цель изобретени - повышение точности моделировани . Поставленна цель достигаетс тем, что в устройство дл моделировани бипол рного транзистора, содержащее переменный резистор, блок моделировани тока базы, выполненный в виде усилительного транзистора, эмиттер которого подключен к первому выводу переменного резистора, блок моделировани коллекторного тока, вьтолненный в виде усилительного транзистора, коллектор которого вл етс коллекторным выводом устройства , базовый вывод которого соединен с базой усилительного транзистора блока моделировани тока базы, введен блок моделировани изменени коэффициента усилени по то ку, выполненный в виде усилительного транзистора, коллектор которого подключен к второму выводу переменного резистора, подвижный контакт которого соединен с базой усилительного транзистора блока моделировани коллекторного тока, эмиттер которого вл етс эмиттерным выводом устройства и подключен к первому выводу переменного резистора, коллектор усилительного транзистора блока моделировани тока базы соединен с базой усилительного транзистора блока моделировани изменени коэффициента по току, эмиттер которого соединен с коллектором усилительного транзистора блока моделировани коллекторного тока. На чертеже представлена схема предлагаемого устройства. Устройство содержит блок моделировани тока базы, выполненный в виде усилительного транзистора 1, блок моделировани коллекторного тока, выполненный в виде усилительного транзистора 2, блок моделировани коэффициента усилени по току, выполненный в виде усилительного транзистора 3., и переменный резистор 4. Устройство работает следующим образом. Усилительные транзисторы 1,2 и 3 служат дл имитации увеличени коэффициента усилени транзистора по току с ростом температуры. Транзистор 3 выполн ет также фукцию элемента разв зки. Введение в схему устройства транзистора 3 и св занное с этим изменение включени входного транзистора 1 впервые позволило исключить необходимость применени и подбора элементов,, выравнивающих входную характеристику устройства , и достичь максимально возможной точности моделировани входной характеристики транзистора при любых, в том числе больших значени х тока, а также при запирающем смещении на эмиттерном переходе. В ;зависи- мости от положени движка переменного резистора А мен ютс величины коллекторного тока транзистора 3 и базового тока транзистора 2, а следовательно, и величины эмиттерно- го тока транзистора 3, что при неизменном базовом токе устройства эквивалентно изменению коэффициента
3
усилени по току устройства „ . Обозначим коэффициенты усилени по току транзисторов 1,2 и 3 соответственно 4 , Р и R , Тогда при верхнем положении движка переменного резистора 4 м гРгРз При нижнем положении движка переменного резистора 4 J3/ Д. ,
Устройство можно использовать в услови х, св занных с необходимостью регулировки в болыцих пределах коэффициента усилени по току и одновременно точного моделировани , характеристик эмиттерного перехода транзистора при больших токах базы, а также запирающем смещении на эмиттерном переходе, например при оценке вли ни изменени и технологического разброса величины коэффициента усилени по току транзисторов на работоспособность
374924
переключательных транзисторов схем.
Дл создани устройства могут быть использованы серийные транзис-
J торы,
Использование предлагаемого устройства позвол ет упростить аппаратуру , предназначенную дл проведени экспериментальных исследований , и проводить оценку вли ни на работоспособность переключательных транзисторных схем технологического разброса величины коэффициента усиле ни транзисторов по току без использовани специально подобранных транзисторов с граничными зна е;ни ми В t а также теютературного -изменени коэффициента усилени по току транзисторов без-проведени климатических испытаний в камере тепла.
Claims (1)
- УСТРОЙСТВО ДЛЯ МОДЕЛИРОВАНИЯ БИПОЛЯРНОГО ТРАНЗИСТОРА, содержащее переменный резистор, блок моделирования тока базы, выполненный в виде усилительного транзистора, эмиттер которого подключен к первому выходу переменного резистора, блок моделирования коллекторного тока, выполненный в виде усилительного транзистора, коллектор которого является коллекторным выводом устройства, базовый вывод которого соединен с базой усилительного транзистора блока мо- делирования тока базы, отличающее с я тем, что, с целью повышения точности моделирования, в него введен блок моделирования изменения коэффициента усиления по току, выполненный в виде усилительного транзистора, коллектор которого подключен к второму выводу перемен—' ного резистора, подвижный контакт которого соединен с базой усилительного транзистора блока моделирования коллекторного тока, эмиттер κοτογ iporo является эмиттерным выводом устройства и подключен к первому выводу переменного резистора, коллектор усилительного транзистора с блока моделирования тока базы соединен с базой усилительного транзистора блока моделирования изменения коэффициента усиления по току, эмиттер которого соединен с коллектором усилительного транзистора блока моделирования коллекторного тока.SU ,„.1137492 >1 1137492 2
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833645423A SU1137492A1 (ru) | 1983-09-28 | 1983-09-28 | Устройство дл моделировани бипол рного транзистора |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833645423A SU1137492A1 (ru) | 1983-09-28 | 1983-09-28 | Устройство дл моделировани бипол рного транзистора |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1137492A1 true SU1137492A1 (ru) | 1985-01-30 |
Family
ID=21082946
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU833645423A SU1137492A1 (ru) | 1983-09-28 | 1983-09-28 | Устройство дл моделировани бипол рного транзистора |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1137492A1 (ru) |
-
1983
- 1983-09-28 SU SU833645423A patent/SU1137492A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1.Авторское свидетельство СССР 631944, кл. G 06 G 7/62, 1977. 2. Авторское свидетельство СССР № 963005, кл. G 06 G 7/62, 1982 (прототип). * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Zweidinger et al. | Thermal impedance extraction for bipolar transistors | |
Codecasa et al. | Modeling the thermal response of semiconductor devices through equivalent electrical networks | |
SU1137492A1 (ru) | Устройство дл моделировани бипол рного транзистора | |
KR880701044A (ko) | 정확한 가변이득 제어기능을 갖고 있는 캐스케이드식 내부 임피던스 종속 증폭기 | |
Winson et al. | A table-based bias and temperature-dependent small-signal and noise equivalent circuit model | |
SU1049932A1 (ru) | Устройство дл моделировани входных характеристик транзистора | |
JPH06276039A (ja) | 高周波回路の設計方法 | |
SU1251123A1 (ru) | Устройство дл моделировани бипол рного транзистора | |
SU631944A1 (ru) | Устройство дл моделировани полупроводникового элемента | |
SU982030A1 (ru) | Модель бипол рного транзистора | |
Hamel et al. | Modeling of output resistance in SiGe heterojunction bipolar transistors with significant neutral base recombination | |
SU928376A1 (ru) | Устройство дл моделировани бипол рного транзистора | |
Barker et al. | Precision absolute-value circuit technique | |
ATE413727T1 (de) | Dämpfungssteuerschaltung eines schrittweisen strommodells in digitaler technologie | |
Rudolph et al. | Direct extraction of FET noise models from noise figure measurements | |
Nagyt et al. | Ekv mos transistor model for ultra low-voltage bulk-driven ic design | |
Chen et al. | Research on the Characteristic Curve of ZTX450 Three-level Transistor Based on Circuit Simulation and Virtual Instrument Technology | |
N. Makarov et al. | Bipolar junction transistor and BJT circuits | |
Miranda et al. | Influence of the calibration kit on the estimation of parasitic effects in HEMT devices at microwave frequencies | |
SU419914A1 (ru) | Устройство для решения краевых задач теорииполя | |
Scognamillo et al. | Validation of Thermometer-Based Techniques to Experimentally Extract the Impact of Nonlinear Thermal Effects on the Thermal Resistance of Bipolar Transistors | |
SU881898A2 (ru) | Устройство дл моделировани полупроводникового элемента | |
SU732917A1 (ru) | Устройство дл моделировани полупроводникового элемента | |
SU378891A1 (ru) | аСЕСОЮЗНАЯ | |
Qin et al. | Modeling of Operational Amplifier based on VHDL-AMS |