SU1133564A1 - Device for measuring modulus and phase of reflection coefficient in uhf circuits - Google Patents

Device for measuring modulus and phase of reflection coefficient in uhf circuits Download PDF

Info

Publication number
SU1133564A1
SU1133564A1 SU833623853A SU3623853A SU1133564A1 SU 1133564 A1 SU1133564 A1 SU 1133564A1 SU 833623853 A SU833623853 A SU 833623853A SU 3623853 A SU3623853 A SU 3623853A SU 1133564 A1 SU1133564 A1 SU 1133564A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
microwave
phase
measuring
reflection coefficient
path
Prior art date
Application number
SU833623853A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Юрий Борисович Румянцев
Александр Сергеевич Гайдаров
Original Assignee
Предприятие П/Я В-2058
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-2058 filed Critical Предприятие П/Я В-2058
Priority to SU833623853A priority Critical patent/SU1133564A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1133564A1 publication Critical patent/SU1133564A1/en

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

УСТРОЙСТВО Д)1Я ИЗМЕРЕНИЯ МОДУЛЯ И ФАЗЫ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ В СВЧ-ТРАКТАХ, включающее источник СВЧ-сигнала, соединенный с отрезком СВЧ-тракта, в котором размещены три измерительных зонда, выход которого  вл етс  входом дл  подключени  исследуемого СВЧ-тракта, и согласованную нагрузку дл  подключени  к входу исследуемого СВЧ-тракта, отличающеес  тем, что, с целью расширени  диапазона рабочих частот до двух октав от до 2 « повышени  точности измерений, в отрезок СВЧ-тракта введены три дополнительных измерительных зонда, при этом рассто ние между измерительными зондами соответственно равно 0,109Аср.0,056DEVICE E) 1N MEASUREMENT MODULE AND PHASE OF REFLECTION COEFFICIENT IN MICROWAVE TRACT, including a microwave source connected to a section of the microwave path, in which three measuring probes are placed, the output of which is an input for connecting the microwave path under study, and the matched load for connecting to the input of the studied microwave path, characterized in that, in order to extend the operating frequency range to two octaves from 2 "to increase the measurement accuracy, three additional measuring probes are inserted into the microwave path section, and p The distance between the measuring probes is respectively 0.109Arr.0.056

Description

0000

со елcoke

10ten

СП) Изобретение относитс  к технике измерений и может быть использовано при измерении параметров СВЧ-трактов Известно устройство измерени  модул  и фазы коэффициента отражени  в СВЧ-трактах, включающее генератор, подключенный к отрезку СВЧ-тракта с измерительным перемещающимс  зон,--.: дом l . Недостатком известного устройства измерени  модул  и фазы коэффициента отражени   вл етс  невозможность измерений в диапазоне частот без перестройки измерительного перемещающего с  зонда и низка  точность измерений Наиболее близким техническим ре- шением к изобретению  вл етс  устройство дл  измерени  модул  и фазы коэффициента отражени  в СВЧ-трактах включающее источник СВЧ-сигнала, сое диненный с отрезком СВЧ-тракта, в ко тором размещены три измерительньк ронда, выход которого  вл етс  входом дл  подключени  исследуемого СВЧ тракта, и согласованную нагрузку, дл  подключени  к выходу исследуемого СВЧ-тракта 2 , Недостатком известного устройства дл  измерени  модул  и фазы коэффици ента отражени  в СВЧ-трактах  вл етс  узкий диапазон рабочих частот и низка  точность измерений. Цель изобретени  - расширение диапазона рабочих частот до двух октав от tcp Я° и повышение точности измерений. Цель достигаетс  тем, что в устройство дл  измерени  модул  и фазы коэффициента отражени  в СВЧ-трактах , включающее источник СВЧ-сигнала соединенный с отрезком СВЧ-тракта, в котором размещены три измерительных зонда, выход которого  вл етс  входо дл  подключени  исследуемого СВЧтракта , и согласованную нагрузку дл  подключени  к выходу исследуемого СВЧ-тракта в отрезок СВЧ-тракта введены три дополнительных измерительных зонда, при этом рассто ние между измерительными зондами соответственно равно 0,109Лср, 0,056 ср ОП28 ср 0,,109l(.p, - средн   длина волны рабочего диапазона частот . На чертеже приведена структурна  электрическа  схема устройства дл  измерени  модул  и фазы коэффициента отражени  в СВЧ трактах. Устройство дл  измерени  модул  и фазы коэффициента отражени  в СВЧтрактах содержит источник 1 СВЧ-сигнала , отрезок 2 СВЧ-тракта с измерительньми зондами 3-8, исследуемый СВЧ-тракт 9, согласованную нагрузку 10. Устройство дл  измерени  модул  и фазы коэффициента отражени  в СВЧтрактах работает следующим образом, Производ т предварительное нормиро вание сигналов с измерительных зондов 3-8 и .. при работе тракта на согласованную нагрузку 10, далее опреде ., j. iv,, долее л ют уровни сигналов U| измерительных зондов 3-8 при работе на иссле- дуемый СВЧ-тракт 9, затем дважды рассчитывают величины модул  Г и фазы Cj коэффициента отражени  по формулам I II I--I Ч Г Г -jM2-IM -N AB-fAm W C08(A-oL)-f (AK-AmV U-il-Ae)) + 2(l-co9 Л) где .(.. - удвоенные фaJoвыe рассто ни  от 6 -го и HI-го зонда до нагрузки, / Aw-H-r06т varccoo - относительные нормированные уровни сигналов с измерительных зондов 3-8, которые равны приЛг-Х А1 А, А А2ДЛ  rj, А1 А, дл  г;; при f, Xf,p А1 Ag , ДЛЯ Г„ А1 А„ А Ац дл  Г результат определ ют ак среднеарифметическое из полученных двух значений модул  и фазы коэффициента отражени  гЧ г г - -i- , с,. L. Эффективность предлагаемого устройства определ етс  в 2,5 раза большей точностью измерений и в 6 раз более широким диапазоном волн, чем у известнохо. Предлагаемое шестизондовое устройство дл  измерени  модул  и фазы ко311335644JV) The invention relates to a measurement technique and can be used in measuring parameters of microwave paths. A device for measuring the modulus and phase of the reflection coefficient in microwave paths is known, including a generator connected to a segment of the microwave path with measuring moving zones, -: home l . A disadvantage of the known device for measuring the modulus and phase of the reflection coefficient is the impossibility of measuring in the frequency range without tuning the measuring displacement with the probe and low measurement accuracy. The closest technical solution to the invention is a device for measuring the modulus and phase of the reflection coefficient in the microwave paths including the source Microwave signal connected to a segment of the microwave path, in which three measuring chords are placed, the output of which is an input for connecting the microwave under study act, and a matched load, for connection to the output of the test microwave channel 2 drawback of the known devices for measuring modulation and phase coefficients cient reflectance in the microwave channel is a narrow range of operating frequencies and a low accuracy. The purpose of the invention is to expand the range of operating frequencies up to two octaves from tcp I ° and increase the accuracy of measurements. The goal is achieved in that the device for measuring the modulus and phase of the reflection coefficient in the microwave paths includes a microwave signal source connected to a segment of the microwave path in which three measurement probes are placed, the output of which is the input for connecting the microwave path under study, and a matched load for connection to the output of the studied microwave path in the segment of the microwave path introduced three additional measuring probes, while the distance between the measuring probes is respectively 0.109 Lrs, 0.056 sr OP28 avg 0,, 109l (.p, - average The wavelength of the working frequency range. In the drawing, the electrical circuit diagram of the device for measuring the modulus and phase of the reflection coefficient in the microwave paths is shown. The device for measuring the module and the phase of the reflection coefficient in the microwave paths contains a source of 1 microwave signal, a segment 2 of the microwave path with measuring probes 3 -8, the studied microwave path 9, the matched load 10. A device for measuring the modulus and phase of the reflection coefficient in the microwave contracts works as follows. Pre-normalizes the signals with the measured 3–8 probe probes and .. when the path is operated for a matched load of 10, then defined. j. iv ,, the levels of the signals U | measuring probes 3–8 when operating on the microwave path under study 9, then the magnitudes of the modulus G and phase Cj of the reflection coefficient are calculated twice using formulas I II I - I H YG -jM2-IM -N AB-fAm W C08 ( A-oL) -f (AK-AmV U-il-Ae)) + 2 (l-co9 L) where. (.. - doubled FJ distance from the 6th and HI-th probe to the load, / Aw- H-r06t varccoo - relative normalized signal levels from measuring probes 3-8, which are equal to priLg-X A1 A, A A2DL rj, A1 A, dl g ;; for f, Xf, p A1 Ag, FOR G А A1 A n And AC for G the result is determined as the arithmetic average of the obtained two values of the modulus and phase of the coefficient voltage MS rr - -i-, with ,. L. The efficacy of the device is defined by 2.5 times the measurement accuracy and 6 times wider wavelength range than izvestnoho shestizondovoe proposed apparatus for measuring the phase modulation and ko311335644.

эффициента отражени  в СВЧ-трактах - щее повышенной точностью измерений позвол ет создать широкодиапазонное .параметров СВЧ - тракта в СВЧ автоматическое устройство, обладаю- диапазоне.reflection coefficient in the microwave paths - enhanced measurement accuracy allows you to create a wide-range. parameters of the microwave path in the microwave automatic device, having a range.

Claims (1)

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ МОДУЛЯ И ФАЗЫ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ В СВЧ-ТРАКТАХ, включающее источник СВЧ-сигнала, соединенный с отрезкомDEVICE FOR MEASURING MODULE AND PHASE OF REFLECTING RATIO IN MICROWAVES, including a microwave signal source connected to a segment СВЧ-тракта, в котором размещены три измерительных зонда, выход которого является входом для подключения исследуемого СВЧ-тракта, и согласованную нагрузку для подключения к входу исследуемого СВЧ-тракта, отличающееся тем, что, с целью расширения диапазона рабочих частот до двух октав от ftcp/2 до 2 ftcp и повышения точности измерений, в отрезок СВЧ-тракта введены три дополнительных измерительных зонда, при этом расстояние между измерительными зондами соответственно равно 0,109 ftcp,0,056ftcp, 0,128^, 0055 ft Ср 0109ftCp ,где ftcp средняя длина волны рабочего диапа- $ зона частот.A microwave path, in which there are three measuring probes, the output of which is an input for connecting the studied microwave path, and a matched load for connecting to the input of the studied microwave path, characterized in that, in order to expand the operating frequency range to two octaves from ft cp / 2 to 2 ft cp and to increase the accuracy of measurements, three additional measuring probes are introduced into the microwave section, while the distance between the measuring probes is 0.109 ft cp , 0.056ft cp , 0.128 ^, 0055 ft С p 0109ft Cp , respectively, where ft cp average wave length of the working di $ PA-frequency area. >>
SU833623853A 1983-05-27 1983-05-27 Device for measuring modulus and phase of reflection coefficient in uhf circuits SU1133564A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833623853A SU1133564A1 (en) 1983-05-27 1983-05-27 Device for measuring modulus and phase of reflection coefficient in uhf circuits

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833623853A SU1133564A1 (en) 1983-05-27 1983-05-27 Device for measuring modulus and phase of reflection coefficient in uhf circuits

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1133564A1 true SU1133564A1 (en) 1985-01-07

Family

ID=21075080

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833623853A SU1133564A1 (en) 1983-05-27 1983-05-27 Device for measuring modulus and phase of reflection coefficient in uhf circuits

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1133564A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Ф. Тишер. Техника измерений по СВЧ. М., 1963, с. 108. 2. Ross Caldecott The Generalired Multiprobe Reflactometer and its Application to Automated Transmission Line Measurements. IEEE Transactions on Antennas and Propogation, ,vol P.-21, No 4, July 1973, p.37-40, *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU1133564A1 (en) Device for measuring modulus and phase of reflection coefficient in uhf circuits
US5767955A (en) Short-width pulse generating apparatus for measurement of reflection point, sampling apparatus for measurement of reflection point and reflection point measuring apparatus
RU2317559C1 (en) Method of measurement of complex resistances of multi-port network
RU2010248C1 (en) Meter of s parameter of shf nonreciprocal four-terminal network
SU1370532A1 (en) Device for measuring material parameters
SU1083130A1 (en) Method of measuring uhf device output reflection coefficient
SU1659731A1 (en) Device for measuring level of an insulating substance
SU1385088A1 (en) Complex reflection factor meter
SU1539686A1 (en) Method of determining types of wave in overmoded waveguides
SU1633367A1 (en) Method of determining modulus and phase of two-terminal shf device reflection factor
SU1084696A1 (en) Phase shift meter of non-reciprocal uhf device
SU1645913A1 (en) Device for measuring vswr of two-port
RU2082114C1 (en) Vibration meter
RU17806U1 (en) VIBRATION MEASUREMENT DEVICE
RU2181478C1 (en) Vibration meter
RU97101009A (en) DIAGNOSTIC METHOD AND DEVICE FOR ITS IMPLEMENTATION
SU1492310A1 (en) Panoramic four-terminal network gain meter
SU1201782A1 (en) Meter of modulus of microwave section reflection factor
SU1636796A2 (en) Measurer for parameters of dielectrics
SU1596303A1 (en) Apparatus for measuring group delay time of four-terminal networks with high attenuation
RU2025670C1 (en) Vibration meter
SU1298690A1 (en) Device for measuring reflection factor of microwave two-terminal network
SU1425564A1 (en) Device for measuring electromagnetic field in waveguide
SU1626200A1 (en) Passive two-port independent phase shift meter
SU1185259A1 (en) Meter of optical radiation intensity