SU1132668A1 - Устройство дл измерени концентрации атомов и молекул в плазме - Google Patents

Устройство дл измерени концентрации атомов и молекул в плазме Download PDF

Info

Publication number
SU1132668A1
SU1132668A1 SU833600787A SU3600787A SU1132668A1 SU 1132668 A1 SU1132668 A1 SU 1132668A1 SU 833600787 A SU833600787 A SU 833600787A SU 3600787 A SU3600787 A SU 3600787A SU 1132668 A1 SU1132668 A1 SU 1132668A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
resonator
optical
plasma
michelson
arms
Prior art date
Application number
SU833600787A
Other languages
English (en)
Inventor
Р.А. Ахмеджанов
М.С. Гитлин
М.А. Новиков
И.Н. Полушкин
А.И. Щербаков
Original Assignee
Институт прикладной физики АН СССР
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт прикладной физики АН СССР filed Critical Институт прикладной физики АН СССР
Priority to SU833600787A priority Critical patent/SU1132668A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1132668A1 publication Critical patent/SU1132668A1/ru

Links

Landscapes

  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ АТОМОВ И МОЛЕКУЛ В ПЛАЗ МЕ, содержащее лазер .с двуплечим резонатором Майкельсона с оптическими длинами плеч L, и L и установленную в одном из плеч  чейку с исследуемой плазмой, отличающеес  тем , что, с целью повышени  чувствительности измерений, в другое плечо резонатора введен оптический элемент с селективными потер ми. 2.Устройство по п.1, отличающеес  тем, что, .элемент с селективными потер ми выполнен в виде установленных последовательно пол ризатора и двулучепреломл ющей пластинки, оптические оси которых ориентированы под углом друг к другу, при этом оптические длины плеч резонатора Майкельсона L, L св заны соотношением L, - L « und, где &п - разность показателей преломлени  обыкновенного и необыкновенного лучей, ad- толщина пластины. 3.Устройство по п. 1, о т л   ч аю щ е е с   тем, что элемент с селектнвными потер ми выполнен в вцде ни- : терферометра Фабри-Перо, при этом оптические дпшш плеч резонатора Майкельсона L и L св заны соотношением L, - L nt, где п - коэффициент преломлени  среды в интерферометре Фабри-Перо, at- его толвоша.

Description

I Изобретение относитс  к оптико-ин терференционным средствам измерени  . и диагностики плазмы и может быть ис пользовано при исследовании импульсной плазмы низкой концентрации в установках УТС, МГД-преобразовател х энергии, плазмотронах и т.п. Известны устройства дл  измерени  концентрации атомов в плазме, содержащие перестраиваемый квазимонохро-матический лазер и двухплечевой инте ферометр Маха-Цандера, состо щий из двух глухих и двух полупрозрачных зе кал. В одном из плеч интерферометра помещена  чейка с исследуемой плазмой На выходе интерферометра установлен фотоаппарат дл  регистрации интерференционной картины. Концентраци  ато мов определ етс  из соотношени : N 6,25 - fp, где К - сдвиг интерференционных поло в присутствии плазмы в интерферометр относительно положени  интерференцио ных полос в отсутствие плазмы; S/ - ширина исследуемой спектраль ной линии; 1 - рассто ние, проходимое лазер ным излучением в плазме; f - сила осцилл тора. Недостатком известных устройств   л етс  их низка  чувствительность, обусловленна  минимально регистрируе мой величиной сдвига интерференционных полос К, а также сложностью и йизкой точностью необходимых измерений ширины исследуемой спектральной линии 5Д . Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату  вл етс  устройство дл  измерени  ко центрации атомов и молекул в плазме, содержащее лазер с двуплечим резонатором Майкельсона с оптическими длинами плеч L,, и L и установленную в одном из плеч  чейку с исследуемой плазмой. В известном устройстве резонатор Майкельсона состоит из четырех зеркал , три из которых вьтолнены оптически глухими, а четвертое - полупрозрачным с коэффициентом отражени  50%о На выходе резонатора установлен анализатор спектра - спектрограф,-ос ществл ющий регистрацию на фотоматериале спектре излучени  лазера. Регистрируемый спектр представл ет собой эквидистантно расположенные груп 82 . пы спектральных составл ющих, так назьтааемые квазимоды, рассто ние между которыми определ етс  разностью оптических путей в двух плечах резонатора Майкельсона. Помещение исследуемого вещества в резонатор приводит к спектральному сдвигу (сближению) квазимод в силу того, что вблизи линии поглощени  исследуемого вещества вследс вие аномальной дисперсии оптическа  разность хода сильно зависит от длины волны излучени . По регистрируемым сдвигам К определ етс  концентраци  N атомов и молекул плазмы и,з соотношени : I, 6,)K (2) длина волны, соответствующа  центру линии поглощени ; А - длина волны просвечивающего плазму излучени  ( - 600 нм). Недостатком устройства  вл етс  его мала  чувствительность, поскольку с его помощью могут быть измерены лишь сдвиги, сравниваемые с рассто - . ни ми между квазимодами. Это не обе- спечивает возможности измерени  малых концентраций плазмы. Кроме того, в устройстве необходимо использовать анализаторы спектра с большим разрешением . (Аппаратна  ширина должна быть много меньше ширины квазимоды). Наконец, определение концентрации атомов и молекул в плазме с помощью этого устройства требует значительных затрат времени из-за необходимости обработки фотоматериалов. Целью изобретени   вл етс  повьш1е- ние чувствительности устройства. Поставленна  цель достигаетс  тем, что в устройстве дл  измерени  концентрации атомов и молекул в плазме, содержащем лазер с двуплечим резонатором Майкельсона с оптическими длинами плеч L, и L и установленную в одном из плеч  чейку с исследуемой плазмой, в другое плечо резонатора введен оптический элемент с селективными потер ми, и тем, что элемент с селективными потер ми вьтолнен в виде установленных последовательно пол ризатора и двулучепреломл ющей пластинки , оптические оси которых ориентированы под углом друг к другу, при этом оптические длины плеч резонатора Майкельсона L, и L св заны соотношением L, - L &nd, где Лп 3 . 1 разность показател  преломлени  обыкновенного и необыкновенного лучей, а d - толщина пластины, а также тем, что элемент с селективными потер ми выполнен в виде интерферометра ФабриПеро , при этом оптические длины плеч резонатора Майкельсона L и L св заны соотношением L, - L nt, где п - коэффициент преломлени  среды в интерферометре Фабри-Перо, at- его толщина. В вариантах вьшолнени  устройства повьшение его чувствительности достигаетс  введением в резонатор Майкельсона селективных потерь, величина которых св зана с длиной волны излучёни  лазера. Выбор оптических длин L, и L плеч резонатора обеспечивает срвпадение спектрального расположени  минимумов потерь, обусловленных интерференцией в обоих плечах рёзонатора в отсутствие плазмы со спектральным расположением минимумов се- лективных потерь. Это позвол ет создать услови , при которых малые спектральные сдвиги квазимод, обусловленные-внесением плазмы, можно регистрировать в виде измеримого изменени  интенсивности этих квазимод по сравнению с их интенсивностью в отсутствие плазмы или с интенсивностью квази мод вдали от линии поглощени  плазмы. .В первом варианте устройства, основанном на использовании эффекта дву лучепреломлени , пол ризатор и двулучепреломл юща  пластина в совокупнести образуют элемент с селективными потер ми V, , завис щими от длины волны излучени  лазера Oi : V sin 26sin (3) А где & - угол между оптическими ос ми пол ризатора и пластины. Величина потерь V, периодически зависит от дЛины волны h с периодом . 2 , „ Во втором варианте устройства, основанном на  влении многолучевой интерференции , элемент с селективными „ . потер ми представл ет собой интерфе - „ рометр Фабри-Перо. Величина потерь „ V, в нем определ етс  соотношением г (l-R) Т 4Rsin() - , где R - коэффициент отражени  зеркал интерферометра Фабри-Перо. 684 Величина потерь V периодически зависит от длины волны с периодом Х Подбор величины коэффициента отражени  R позвол ет добитьс  более сильной (нежели V, (-х)) зависимости величины V отХ вблизи минимумов потерь. Это обеспечивает уменьшение по сравнению с первым вариантом спектральной ширины квазимод, что расшир ет: диапазон экспериментальных усповий в области низких концентраций, На фиг.1 и 2 представлены различные варианты выполнени  устройства, На фиг.1 - вариант с использованием пол ризатора и дйулучепреломл ющей пластины; на фиг.2 - вариант с использованием интерферометра Фабри-Перо . На фиг.3,4 представлен спектр регистрируемого лазерного излучени : на фиг.З - спектр в отсутствие плазмы, на фиг.4 - спектр при внесенной плазме . Устройство (см.фиг.1,2) содержит широкополосный лазер с резонатором Майкель сона, образованным глухими зеркалами 1, 2, 3 (коэффициенты отражени  - 98%) и полупрозрачным зеркалом 4. Внутри резонатора расположены  чейка 5 с активным веществом,  чейка 6 с исследуемой плазмой и элемент . 7 с селективными потер ми. За зерка- лом 2 расположена поворотна  призма 8, оптически св зывакица  его с анализатором спектра - спектрометром 9. На фиг.1 элемент 7 выполнен в виде оптически св занных пол ризатора 10 и двулзгчепреломл ющей пластины 11, оптические оси которой ориентированы ° углом О друг к другу. Пол ризатор 10 установлен в оправе 12, обеспечивающей возможность поворота вокруг оси резонатора дл  плавного и контролируемого изменени  угла в . Оптическа  длина L, плеча, в котором установлены пол ризатор 10 и пластина св зана с оптической длиной L плеча, в котором установлена  чейка , т . j б, соотношением: L, - . где 2 АП - двулучепреломление материала ,, j пластины , а - ее толщина. „ , « На фиг.2 элемент 7 выполнен в ви .. А тт л. де интерферометра Фабри-Перо с коэф „ к f f Фициентом R отражени , величина ко торого определ етс  условием эксперимента . Оптическа  длина плеча L , в котором установлен интерферометр Фабри-Перо, св зана с оптической длиной плеча L, в котором установлена  чейка 6, соотношением L, - L nt, где п - показатель преломлени  интерферометра Фабри-Перо, t - его толщина. Поскольку работа указанных вариан тов основана на одном принципе - вве дение во второе плечо резонатора Май кельсона элемента с селективными потер ми приводит к изменению интенсив ности квазимод вблизи линии поглощени  в плазме вследствие их спектраль ных сдвигов, обусловленных аномально дисперсией в плазме. Работа устройст ва по снена на примере первого вариа та (см.фиг.1). Устройство работает следующим образом . В резонаторе, образованном зеркалами 1-4, генерируетс  широкополосно лазерное излучение. Спектр этого излучени  в отсутствие плазмы обусловлен суммой потерь, определ емой с од ной стороны потер ми из-за интерференции в резонаторе Майкельсона, завис щими от оптических длин L, , резонатора, с другой стороны, селективными потер ми V, . Эффективные пот ри V системы зеркал 1-4 с элементом 7,определ ютс  соотношением: i,.29sin sir. где член sin 2n-(L,-L.)/- определ ётс  потер ми, обусловленными интерференцией волн в резонаторе Майкельсона , а остальные сомножители - поте р ми, обусловленными элементом 7 см соотношение (3)J . Поскольку размеры плеч резонатора выбраны так, что вьшолн етс  условие L, - 1 And, то спектральное расположение минимумов потерь, обусловленi ных интерференцией в обоих плечах L,, L резонатора в отсутствие плазмы ;совпадает с положением минимумов селективных потерь, .вводимых элементами 10, 11. Поэтому спектр лазерного излучени  в отсутствие плазмы представл ет собой набор эквидистантных . квазимод одинаковой интенсивности 1 (фиг.3). Спектральное рассто ние X А, между этими квазимодами определ етс  геометрическими размерами плеч резонатора и параметрами двулучепреломл ющей пластины 11. Центры этих областей генерации - квазимод - соответствуют селективным потер м, равным нулю, согласно уравнению (5). Внесение плазмь приводит к возникновению аномальной дисперсии лазерного излучени  вблизи линий поглощени . Это обуславливает изменение оптической длины L плеча, содержащего  чейку 6. В этих услови х минимальные потери , определ емые интерференции и селективным поглотителем 7, станов тс  не равными нулю. Интенсивность I генерации квазимод, возникающих в спектральных .област х, соответствующих этим минимальным (но отличным от нул ) потер м, меньше интенсивности Ijj квазимод, отсто щих далеко от линии поглощени  (см,фиг.4, гдеХ центр к-ой линии поглощени ). Таким образом, спектрометр 9 регистрирует распределение интенсивности 1() квазимод , показанное на фиг.4. Измерение относительного уменьшени  интенсивности I;/Ig i-ой моды позвол ет определить величину &V, потерь, привод щих к этому уменьшению, по формуле: . . .. uV, где с - скорость света} - длительность импульса генерации ; L - длина резонатора лазера. Из равенства (3) видно, что тт у 2 „- . 4;Тй 1 2йЛ /тч ЛУ, 7sLn 2esin -д- (7) где ЛХ - спектральный сдвиг квазимоды . При малых сдвигах Ир. 47 f- 4irK где К - относительный сдвиг квазимоды , аналогичный сдвигу интерференционной полосы в уравнении (I). Величина потерь определ етс  соотношением AV, 20 К (8) Поскольку сдвиг к квазимоды определ ет концентрацию атомов см. (2) , то измерение К| и двух квазимод, лежащих по обе стороны от центра линии поглощени , позвол ет определить значение N из соотношени  01 V . V N ft 7S -in fQ N Ь,2Ь 10 if(K,+K.) Аналогичным образом работает второй вариант устройства, использующий в качестве селективного поглотител  7 интерферометр Фабри-Перо. В конкретном варианте устройство Ьодержит импульсный лазер на растворе родамина в этаноле с накачкой от двух импульсных газоразр дных ламп с широким , около 10 нм, спектром генерации вблизи А 600 нм. Длительность импульса генерации составл ет 50 мкс, длина резонатора L равна 1 м. Дл  исключени  паразитной селекции диэлектрические зеркала 1-4 нанесены на клиновидные стекл нные подложки с углом около 10°. В качестве пол ризатора 10 используетс  призма из кальцита с преломл ющим углом 8 , пластина 11 также выполнена из кальцита с двулучепреломлением ,172, толщиной ,5 см. Это соответствует периоду Л, 0,01 нм зависимости V, (7i Достижение положительного эффекта по  сн етс  на примере, когда в результате внесени  плазмы интенсивности i-ой и i+1-ой квазимоД (ближайших квазимод, лежапщх по обе стороны цен тра линии поглощени  71 ок) уменьшилис до величины Ij,;,/ ° Формуле (6) определ ют потери, вносимое селективным элементом 7 на фиг.I, на дпинах волнЛ;,, &V лУи, 1,2-Ю-, .а затем из равенства (7) рассчитываю значение величины относительного . Дл  рассматриваемого случа  при 9 45° из (7) имеем , К; К;„ 1,23-10 (И по формуле (9) 68 N. ь-i Эти оценки показывают, что при стандартной широко распространенной спектральной аппаратуре и длительности импульса лазераf 50 мкс (эта величина определ ет временную разрешающую способность устройства) чувствительность предлагаемого устройства более, чем в, 10 раз превышает чувствительность аналога и прототипа. Повьш1ение разрешахщей способности анализатора спектра к уменьшение требований к временной разрешакмцей спо собности устройства приводит к пропорциональному увеличению чувствительности . Достоинством устройства  вл етс  простота его реализации: в отличие от известного устройства изобретение позвол ет использовать стандартную, серийно выпускаемую спектральную аппаратуру . Другим важным достоинством устройства по сравнению с известным  вл етс  оперативности получени  результатов , возможность автоматизации процесса измерений и непосредственного соединени  системы регистрации с ЭВМ дл  обработки экспериментальных результатов . Работоспособность предлагаемого устройства подтверждена зкспериментально при использовании лазера с длительностью импульса 2 мкс.
//////f/ Yf/ffff
I
Фиг.
3
J
О
ок Фиг.
0К tPt/g.

Claims (3)

1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ АТОМОВ И МОЛЕКУЛ В ПЛАЗМЕ, содержащее лазер с двуплечим резонатором Майкельсона с оптическими длинами плеч L, и L2 и установленную, в одном из плеч ячейку с исследуемой плазмой, отличающееся тем, что, с целью повышения чувстви- ‘ тельности измерений, в другое плечо резонатора введен оптический элемент с селективными потерями.
2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что, элемент с селективными потерями выполнен в виде установленных последовательно поляризатора и двулучепреломлякицей пластинки, оптические оси которых ориентированы под углом друг к другу, при этом оптические длины плеч резо натора Майкельсона L<, L2 связаны со отношением
L — L2 β & nd *, где &п - разность показателей преломления обыкновенного и необыкновенного лучей, ad- толщина пластины.
3. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что элемент с· селек тивными потерями выполнен в виде интерферометра Фабри-Перо, при этом оптические длины плеч резонатора Майкельсона L4 и L2 связаны соотношением L, - L2 = nt, где η - коэффициент преломления среды в интерферометре Фабри-Перо, at- его толщина.
Фин!
SU833600787A 1983-06-06 1983-06-06 Устройство дл измерени концентрации атомов и молекул в плазме SU1132668A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833600787A SU1132668A1 (ru) 1983-06-06 1983-06-06 Устройство дл измерени концентрации атомов и молекул в плазме

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833600787A SU1132668A1 (ru) 1983-06-06 1983-06-06 Устройство дл измерени концентрации атомов и молекул в плазме

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1132668A1 true SU1132668A1 (ru) 1987-07-30

Family

ID=21066809

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833600787A SU1132668A1 (ru) 1983-06-06 1983-06-06 Устройство дл измерени концентрации атомов и молекул в плазме

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1132668A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2534219C2 (ru) * 2013-01-25 2014-11-27 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "ДАГЕСТАНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ" Способ определения аномальной дисперсии

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2534219C2 (ru) * 2013-01-25 2014-11-27 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "ДАГЕСТАНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ" Способ определения аномальной дисперсии

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Butcher et al. On the use of a Fabry—Perot etalon for the determination of rotational constants of simple molecules—the pure rotational Raman spectra of oxygen and nitrogen
US5943136A (en) Intra-cavity total reflection for high sensitivity measurement of optical properties
CN103674497B (zh) 窄线宽激光器线宽高精度测量系统
US3817622A (en) Measurement of plasma temperature and density using radiation absorption
US3506362A (en) Laser system which indicates the angular position of an optically anisotropic element
US4449825A (en) Optical measuring apparatus employing a laser
SU1132668A1 (ru) Устройство дл измерени концентрации атомов и молекул в плазме
Scholl et al. Broadband precision wavelength meter based on a stepping Fabry–Pérot interferometer
JPH07198597A (ja) 光電測定装置
CN107525589B (zh) 一种波长定标系统及方法
Flamholz et al. Transient Interference Studies of Passively Q‐Switched Ruby‐Laser Emission
Ledsham et al. Dispersive reflection spectroscopy in the far infrared using a polarising interferometer
US5084621A (en) Radiometric standard infrared detector
US4457623A (en) Atomic absorption spectrophotometer providing background correction using the Zeeman effect
Birich et al. Precision laser spectropolarimetry
Dändliker et al. Noise-resistant signal processing for electronically scanned white-light interferometry
JPS60104236A (ja) 偏波保持光フアイバのモ−ド複屈折率測定方法およびその装置
RU2089848C1 (ru) Лазерный деформометр
Cavallini et al. A Fabry Perot spectrometer for measuring solar velocity fields
Carlstrom et al. Optical design for Li beam Zeeman polarimetry measurements on DIII–D
SU1599786A1 (ru) Устройство дл измерени высокого напр жени
CA1213446A (en) Atomic absorption spectrophotometer providing simply derived background absorbance measurement
Rust et al. Vector magnetography.
Cotnoir et al. A wavemeter for use with a line-narrowed alexandrite laser in differential absorption LIDAR
SU878023A1 (ru) Измерительна чейка дл исследовани диэлектрических параметров жидкостей