Изобретение относитс к области масс спектрометрии, в частности к масс-спектрометрам с анализирующими системами, содержащими неоднородные аксиально-симметричные магнитные пол , измен ющиес по закону . р п Н Н (:-) , и может быть использован дл химического и изотопного ан лиза. веществ и материалов, а также в качестве масс-сепаратора при разделении изотопов. По основному авт.св. № 270330 известен масс-спектрометр, содержащий ионный источник ионов, регйстри руимцее устройство и магнитный анали затор, например 270-градусный с нео нородным магнитным полем, например с h 1, причем магнитный анализатор имеет пр мые границы. Камера магнитного анализатора расположена вокруг вымораживающей ловушки, а между источником ионов и магнитным анализатором установлена формирующа сход щийс пучок ионов электростатическа линза, в фокусе которой расположен приемник ионов Щ . Разрешающа способность такого масс-спектрометра зависит от геомет рического увеличени анализирующей системы, которое о предел етс величиной отношени длины пролета иона от линзы до приемника ионов к длине пролета иона от источника ионов до линзы. Например, в промьшленном призменном масс-спектрометре МХ-2301, 6 котором реализована известна -ионно-оптичеека система, разрешающа способность на превышает 1000 из-за геометрического увеличени анализирующей системы, равного 2. Дл того, чтобы величина геометрического увеличени была меньшей или равной единице, источни ионов приходитс удал ть от электри ческой линзы на некоторое рассто ни большее или равное длине пролета Иона от линзы до приемника ионов. На участке источник ионов - линза фокусировка ионного пучка не производитс , в результате ухудшаетс транспортировка ионов в анализирующей системе и снижаетс чуствительность масс-спектрометра. Цель изобретени - повьш1ение разрешающей способности и изотопи .ческой чувствительности масс-спектр метра без увеличени габаритов его анализирующей системы. Эта цель достигаетс тем, что в устройстве дополнительно установлена аксиально-симметрич а магнитна призма с коэффициентом неоднородности магнитного пол h 1, котора расположена .между источником ионов и электростатической линзой, а параметры призмы определ ютс из услови Н, «pjH. где г, и Н, - радиус центральной траектории ионов, и соответствующа ему напр женность магнитного пол дополнительной призмы; 2 Аналогичные параметры основной призмы. На чертеже представлена принципиальна схема предлагаемого массспектрометра . Устройство содержит последовательно расположенные источник 1 ионов, дополнительную аксиально-симметричную магнитную призму 2, электростатическую линзу 3, ОСНОВН5ТО магнитную призму 4 и приемник 5 ионов. Масс-спектрометр работает следующим образом. Ионы, .вьш1едшие из ионного источника 1 в виде расход щегос пучка, поступают в дополнительную магнитную призму 2 и раздел ютс в ее неоднородном магнитном поле по величине отношени массы иона к его зар ду. Ионы регистрируемой массы М движутс по центральной траектории, поскольку геометрические и. физические параметры дополнительной призмы выбраны такими,. что выполн етс основное уравнение магнитного масс-спектрометра м : °(144)U где М -. массовое число иона, ат.м.; и - напр жение, ускор ющее ионы. В; Г, - радиус центральной траектории , см; Н - напр женность магнитного пол , Э. После прохождени дополнительной магнитной призмы предварительно раз 3 деленншй по массам ионный пучок пос тупает в электростатическую фокусирующзпо систему (линзу или систему линз), котора преобразует расход щийс ионный пучок в сход щийс , -т.е. фокусирует его на коллектор пр емника ионов. На пути движени к приемнику ионы проход т неоднородно магнитное поле основной магнитной призмы, в котором они еще больше . раздел ютс по величине отношени массы иона к его зар ду. Параметры основной магнитной призмы выбраны такими, что соблюдаетс условие, пр котором ионы регистрируемой массы Мр движутс по центральной траекто рии Поскольку левые части уравнений (2) и (3) равны, получаем условие (1 согласовани параметров дополнитель ной и основной магнитных призм. Регистрацию ионов различных масс в предлагаемом масс-спектрометре можно осуществить либо путем измене ки ускор ющего ионы напр жени , либо путем изменени напр женности магнитных полей обеих призм. В последнем случае электромагниты призм следует подключать к общему источнику питани в цел х уменьшени вли ни флуктуации магнитных полей призм на разрешаюцуюспособность масс спектрометра. I Разрешающа способность предла-. гаёмого масс-спектрометра в t,5 раз 08 вьш1е, чем известного, при той же длине йролета иона от источника ионов к приемнику. Повьппение разрешающей способности происходит за .счет увеличени дисперсии по массам анализируюшей системы. Одновременно в 1,5-2 раза улучшаетс и абсолютна чувствительность масс-спектрометра за счет аксиальной фокусировки ионного пучка неоднородным магнитным полем дополнительной призмы на участке траектории ионный источник электростатическа фокусирующа система. Изотопическа чувствительность масс-спектрометра повышаетс в 7-8 раз вследствие разделени ионов основной массы и примесной массы в дополнительном масс-анализаторе. Предлагаемый масс-спектрометр не критичен к выбору геометрических параметров, поскольку изменение любого из зтих параметров может быть скомпенсировано регулировкой фокусного рассто ни электростатической фокусирующей системы путем изменени потенциалов на ее электродах. Поэтому анализирующа система предлагаемого масс-спектрометра не требует {механической юстировки, на аналити- ческие характеристики прибора не вли ют пол рассе ни магнитных призм и пространственный зар д ионного пучка, что упрощает технологию изготовлени и эксплуатацию такого масс-спектрометра. ПредлагаемьА масс-спектрометр имеет небольшие габариты и простую конструкцию.