Изобретение относитс к измерительной технике и предназначено дл использовани при тестовых измерени х различных физических величин. Известен способ определени электрических и неэлектрических параметров ij , предусматривающий измерение исследуемого параметра х при разомкнутой и замкнутой цепи обратной св зи измерительного преобразовател возведение коэффициента обратной св зи в степень, отличную от единицы, например в квадрат, измерение исследуемого параметра х при измененном коэффициенте обратной св зи и определение истинного значени f,- исследуемого параметра из соотношени ( N, - N,) ,., ист ( N2 У- Nj где N. - результат измерени х при разомкнутой цепи обратной св зи; результат измерени х при замкнутой цепи обратной св зи; результат измерени х при замкнутой цепи обратной св зи с измененным коэффициен том обратной св зи. Недостаток известного способа св зан со значительной сложностью его практической реализации, обусловлен ной необходимостью перестройки в пр цессе измерений коэффициента обрат ной св зи измерительного преобразовател , Наиболее близким техническим реш нием к данному изобретению вл етс способ измерени электрических и не электрических параметров 2j , заклю чающийс в проведении трех последов тельных измерений: вначале исследуем го параметра х, затем исследуемого параметра х вместе с образцовой мерой дх и исследуемого параметра х, умноженного на козффициент. К переда чи входного звена, и определении ис тинного значени х исследуемого параметра из соотношени - Г(5)1Н11сх)Дх tN(x) - N(x+ux)J:(k-l) где N(x) - результат измерени xj N(kx)- результат измерени kx| N(2+АХ)- результат измерени .X -Ьдх. 5 2 Указанный способ позвол ет получить результат х, инвариантным к параметрам функции преобразовани измерительного канала при ее кусочно-линейном описании отрезками N a,j + ,, ,(3) где m - номеручастка аппроксимации ; й- ,, параметры функции преобразовани измерительного канала. Однако при практической реализации известного способа имеет место методическа погрешность $ змерени , вызванна многоконтактностью измерительного процесса. Целью изобретени вл етс повышение fочности измерени . Поставленна цель-достигаетс тем, что, согласно способу измерени электрических и неэлектрических параметров , основанному на проведении трех последовательных измерений: вначале исследуемого параметра х, затем исследуемого параметра х вместе с образцовой мерой их и исследуемого параметра X, умноженного на коэффициент k передачи входного звена, вычислении разностей между первым и третьим, первым и вторым результатами измерений , определении отношени указанных разностей и умножении найденного отношени на образцовую меру их, - полученное произведение принимают за новую образцовую меру йХц) провод т четвертое измерение исследуемого параметра X вместе с новой образцовой мерой AXj, а истинное значение X|(, исследуемого параметра определ ют из соотношени N(x)-N(kx) ,,. NCxbNTx+JvxJaCk-l) где N(x-i-ax )- результат измерени х+йхц; N(x) - результат измерени х; N(kx) - результат измерени kx. Известно, что через две точки можно абсолютно точно провести график полинома первой степени (3). Предположим , что две точки (М,х),( +дх), соответствующие двум первым тактовым преобразовани м, принадлежат уравнению (З), а точка (N,kx), соответствующа третьекгу тактовому преобразованию, не принадлежит этому уравнению. При этом в третьем такте измерени возникает погрешность 4., f(kx)-(a,| + a,, kx), (5) где f(kx) - реальна функци преобразовани при выключенн входном звене с коэффициентом k передачи. Перепишем выражение (2) с учетом выражени 5) NllilSii ilNl2) 4J( N(x+ux)-N(x) k-1 По разности между выражени ми (6 и (2) определ ем погрешность тестов го метода измерени N(x+ux)-N(x) (k-l) Если функци f(х) на отрезке х+йх; kx) обладает производными до (n-l)-ro пор дка включительно, ее можно разложить в р д Тейлера. С учетом выражени (2) путем несложны расчетов можно показать, что ( xk-x) +а. (l-k)x; ( хк-х) . , 0 (К-0 5: Переход от и к приведенной ко в ду входного звена относительной по грешности 8 измерени и ограничива лишь трем членами размножени f(х) в р д Тейлора, будем иметь )(iv:-i) . - , ilxi Из выражени (Ю) видно, что8 л етс функцией к, U X и k, причем оказываете на нулевом уровне при X + а X Дл того, чтобы в заданном диапазоне изменени х8 0, необходимо обеспечить вьтолнение услови 00 любой точке диапазона от х На чертеже представлена структура устройства, реализующегопредложенный способ измерени электрических и неэлектрических величин. Устройстбо содержит адаптивный блок 1 формировани посто нной составл ющей аддитивного теста, входное звено 2 с коэффициентом k передачи, измерительный преобразователь 3, аналого-цифровой преобразователь 4, вычислительный блок 5, логический блок 6,сумматоры 7 и Выключи 9-11. Работа устройства происходит следующим образом. С выхода измерительного преобразовател 3 электрический сигнал, пропорциональный исследуемому параметру х, поступает на вход аналогоцифрового преобразовател 4. Цифровой эквивалент параметра х преобразуетс в вычислительном блоке 5 в цифровой код и поступает на вход логического блока 6, управл ющего работой адаптивного блока 1 формировани посто нной составл ющей аддитивного теста. Весь цикл измерени состоит из четырех тактов. При этом, поскольку значение исследуемого параметра х к моменту проведени эксперимента неизвестно , начальное значение образцовой меры выставл етс как Х mj После этого isXg - - - 2 провод тс три первых такта измерени , В первом такте, при разомкнутых ключах 9 и 10 и замкнутом ключе П измер ют исследуемый параметр х. Результат измерени при этом определ етс соотношением 3 . Во втором тактп, при замкнутых ключах 9 и 11, и третьем акте, при замкнутом ключе 10, измер ютс , соответственно, величины х+ьх. kx. Полученные результаты N,N2 N измерений указанных величин обрабаты ваютс в вычислительном блоке 5 по алгоритму N ( - N 3 ь X о NI - N.. Поскольку текущее значение х в общем случае не равно j,, о результат исто будет обладатьпогрешностью 8о в соответствии с выражением ClО). Дл устранени погрешности SQ в устройстве выполн етс дополнительный. 511 четвертый, такт измерени величины X +йхц, где А X((k-l) Xj,j. о- сформированна логическим блоком 6 нова образцова мера. Получеюшй результат Ny обрабатываетс в вычислительном блоке 5 совместно с N;, N-) по алгоритму /JilSiLlSK. «г ( - 1) т.е. в полном соответствии с выражением (4). 268 5 10 5. При этом, если /х - х(,, гдеU - в соответствии с выражением (9) дискретность мер, используемых при формировании Лх, то проводитс еще один дополнительный такт измерени X с вновь уточненной образцовой мерой. В большинстве случаев оказываетс , однако, достаточным лишь один шаг коррекции образцовой меры их. При этом погрешность 5о практически сводитс к нулю, что характеризует повьшенную точность предложенного способа.The invention relates to a measurement technique and is intended for use in test measurements of various physical quantities. A known method for determining the electrical and non-electrical parameters ij involves measuring the parameter under study x with an open and closed feedback circuit of a measuring transducer, raising the feedback coefficient to a power different from one, for example, squared, measuring the parameter under study x with a modified feedback ratio and determining the true value of f, - the parameter under study from the relation (N, - N,),., ist (N2 Y - Nj where N. is the result of measurements with an open feedback circuit and; measurement result with a closed feedback circuit; measurement result with a closed feedback circuit with a modified feedback coefficient. The disadvantage of this method is associated with the considerable complexity of its practical implementation, due to the necessity of restructuring in the process of measuring the coefficient the feedback of the transmitter, the closest technical solution to this invention is a method of measuring electrical and non-electrical parameters 2j, which consists in carrying out three consecutive measurements: first, the investigated parameter x, then the investigated parameter x, together with the standard measure dx and the investigated parameter x multiplied by the coefficient. To the transfer of the input link, and the determination of the true values of the parameter being studied from the relation - Г (5) 1Н11сх) Дх tN (x) - N (x + ux) J: (kl) where N (x) is the result of measuring xj N (kx) is the measurement result of kx | N (2 + AH) is the measurement result .X-Ldx. 5 2 This method allows to obtain the result x, invariant to the parameters of the transformation function of the measuring channel with its piecewise linear description in the segments N a, j +,, (3) where m is the number of the approximation part; th- ,, parameters of the conversion function of the measuring channel. However, in the practical implementation of the known method, the methodological error of measuring takes place, caused by the multi-contact measurement process. The aim of the invention is to increase the measurement accuracy. The goal is achieved by the fact that, according to the method of measuring electrical and non-electric parameters, based on three consecutive measurements: first the parameter x, then the parameter x, together with an exemplary measure of them and the parameter X, multiplied by the transfer factor k of the input link, calculating the differences between the first and third, first and second measurement results, determining the ratio of the specified differences and multiplying the ratio found by their exemplary measure This product is taken as the new model measure xHc), the fourth dimension of the parameter X under study is carried out together with the new model measure AXj, and the true value X | (, the parameter under study is determined from the ratio N (x) -N (kx) ,,. NCxbNTx + JvxJaCk-l) where N (xi-ax) is the result of measurements + yxc; N (x) is the measurement result; N (kx) is the measurement result of kx. It is known that through two points it is possible to accurately plot the graph of a first-degree polynomial (3). Suppose that two points (M, x), (+ dx), corresponding to the first two clock transformations, belong to equation (W), and point (N, kx), corresponding to the third clock transformation, does not belong to this equation. In this case, in the third measurement cycle, an error of 4 occurs., F (kx) - (a, | + a ,, kx), (5) where f (kx) is the real conversion function when the input link is turned off with the transfer factor k. Let us rewrite expression (2) with regard to expression 5) NllilSii ilNl2) 4J (N (x + ux) -N (x) k-1) By the difference between expressions (6 and (2) we determine the error of the test method for measuring N (x + ux) -N (x) (kl) If the function f (x) on the segment x + yx; kx) has derivatives up to (nl) -ro on an inclusive order, it can be expanded in the Tayler series. With regard to the expression (2 ) by simple calculations, it can be shown that (xk-x) + a. (lk) x; (xk-x)., 0 (K-0 5: Transition from and to the reduced to the input link of relative error of 8 dimensions and limited to only three members of the reproduction f (x) in the Taylor series, we will have) (iv: -i). ilxi From expression (10) it can be seen that 8 is a function of k, UX and k, and it is rendered at zero level at X + a X. To ensure that in a given range of x8 0, it is necessary to ensure that the 00 condition is fulfilled at any point in the range from x The drawing shows the structure of the device that implements the proposed method of measuring electrical and non-electric quantities.The device contains an adaptive unit 1 for forming a constant component of the additive test, an input link 2 with a transfer coefficient k, a measuring transducer 3, analog-digital th converter 4, computing unit 5, logical block 6, adders 7 and Turn off 9-11. The operation of the device is as follows. From the output of the measuring converter 3, an electrical signal proportional to the parameter under study x is fed to the input of the analog-digital converter 4. The digital equivalent of the parameter x is converted in the computing unit 5 into a digital code and fed to the input of the logic unit 6 controlling the operation of the adaptive unit 1 forming a constant component additive test. The whole measurement cycle consists of four cycles. In this case, since the value of the parameter under study x is unknown at the time of the experiment, the initial value of the exemplary measure is set as X mj. After this isXg - - - 2, the first three measurement cycles are performed. In the first cycle, with open keys 9 and 10 and a closed key P measure the parameter to be examined x. The result of the measurement is determined by the ratio 3. In the second step, with the keys 9 and 11 closed, and the third act, with the key 10 closed, the values of x + x are measured, respectively. kx. The obtained N, N2 N measurements of these quantities are processed in the computing unit 5 according to the algorithm N (- N 3 X X NI - N .. Since the current value of x is generally not equal to j, o the result will have an error of 8 ° according to with the expression ClO). To eliminate the error SQ, the device performs an additional one. 511 is the fourth, the measurement cycle of the magnitude X + yxc, where A X ((kl) Xj, j.o- is formed by the logical block 6 of the new model measure. The resulting result Ny is processed in the computing unit 5 together with N ;, N-) according to the algorithm / JilSiLlSK. "G (- 1) i. in full accordance with the expression (4). 268 5 10 5. At the same time, if / x - x (, where U is the discreteness of the measures used in the formation of Lx, according to expression (9), then one more additional measure T of X with the newly refined standard measure is carried out. In most cases However, only one correction step of an exemplary measure of them is sufficient, while the error of 5 ° is practically reduced to zero, which characterizes the increased accuracy of the proposed method.