Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл обнаружени механических дефектов в элементах конструкций . Известен способ дефектоскопии, состо щий в том, что о наличии дефектов и местах их расположени су д т по картине, получаемой при совмещении голографической интерферограммы тестируемого объекта с ег фотографией, выполненно й в инфракрасном свете 1. Недостатком указанного способа вл етс значительна сложность ег практической реализации. Кроме тог при одновременной регистрации голо графической интерферограммы и инфракрасной фотографии последнюю уд етс получать в качественном виде только дл термостабильных материа лов. Наиболее близким по технической сути к предлагаемому вл етс способ голографи.ч ского неразрущающего контрол механических д.фектов, состо щий в том, что получают голо графические интерферограммы эталон ного и тестируемого объектов при идентичных услови х внешнего воздействи и наход т места отличий и терферограмм, соответствующие местам расположени дефектов 2. Недостаток известного способа состоит в том, что он позвол ет об наружить в тестируемом образце тол ко наиболее грубые механические де фекты по причине, которую можно у снить на примере двухэкспозидион ных интерферограмм. В том случае картина интерференционных полос на интерферограмме тестируемого объекта описываетс уравнением J N 5 J - О сумма ортов направлений наблюдени и освещени пол перемещений эталонного и тестируемого объе тов соответственно; длина световой волны; пор док интерференционных полос. ф1 технологических дефектов пол U и Uj отличаютс мало (не более, чем на 10-15%). Причем из сравнени интерферограмм могут быть обнаружены только наиболее сильные механические дефекты, вызывающие в тестируемом объекте значительную концент рацию деформаций (Кц 2, где коэффициент концентрации деформаций ) и изменение пол перемещений больше, чем 5-10%. Только такие дефекты заметным образом измен ют интерферограмму тестируемого объекта по сравнению с интерферограь1мой эталона. Более слабые дефекты, вызывающие меньшую концентрацию деформаций (К ц 4 1,5-2), недостаточно измен ют интерферограмму тестируемого объекта и поэтому не могут быть обнаружены указанным способом. Цель изобретени - повышение точности обнаружени и локализации дефектов , не обнаруженных при сравнении интерферограмм, путем выделени из интерферограммы тестируемого Л объекта информации о поле перемещений , св занной только с дефект и. 5 казанна цель достигаетс тем, что согласно способу, состо щему в том, что получают голографические интерферограммы эталонного и тестируемого объектов при идентичных услови х внешнего воздействи и наход т места отличий интepфepoгpaм 1, соответствующие местам расположени дефектов, дополните.ьно получают две муаровые картины,одну из которых образуют путем наложени указанных интерферограмм с совмещением Контуров эталонного и тестируемого объектов, на ней наход т области, охватываемые замкнутыми муаровыми полосами, и места пересечени муаровых полос, соответствующие местам расположени дефектов, другую муаровую картину образуют путем наложени со сдвигом двух дублей интерферограммы тестируемого объекта, на ней наход т места возникновени новых муаровых полос в процессе плавного увеличени сдвига, соответствующие местам расположени дефектов , и по полученным данным суд т оналичии и местах расположени механических дефектов в тестируемом объекте. На чертеже приведена структурна схема одного из возможных устройств, реализующих предлагаемый способ. Устройство состоит из голографического интерферометра 1, устройства 2 восстановлени голограмм и получени интерферограмм, приспособлени 3 дл получени муаровой картины путем наложени интерферограмм эталонного и тестируемого объектов, приспособлени 4 дл получени муаровой картины путем плавного сдвига двух дублей интерферограммы тестируемого объекта. Голографический интерферометр 1 состоит из лазера, светоделител , двух зеркал, двух микрообъективов и .штатива дл закреплени фотопластинок . Устройство 2 .восстановлени го лограмм и получени интерферограмм, состоит из лазера, коллиматора, штатива дл укреплени фототехнических пленок. Приспособлени 3 и 4 дл получени муаровых картин состо т из двух рамок, в которые укрепл ютс интерThe invention relates to a measurement technique and can be used to detect mechanical defects in structural elements. There is a method of flaw detection, which consists in the fact that the presence of defects and the locations of their location is given by the pattern obtained by combining the holographic interferogram of the test object with its photograph taken in infrared light 1. The disadvantage of this method is the considerable complexity of its practical implementation. In addition to the simultaneous recording of a holographic interferogram and infrared photograph, the latter can be obtained in qualitative form only for thermostable materials. The closest in technical terms to the proposed invention is a method of holographic nondestructive control of mechanical defects, which consists in obtaining holographic interferograms of a reference and test object under identical external conditions and finding the places of differences and terferograms, corresponding to the location of the defects 2. The disadvantage of this method is that it allows detecting in the sample under test only the coarsest mechanical defects due to It is an example dvuhekspozidion GOVERNMENTAL interferograms. In this case, the pattern of interference fringes on the interferogram of the test object is described by the equation J N 5 J - О the sum of orts of the directions of observation and illumination of the displacement field of the reference and test volumes, respectively; light wavelength; order of interference bands. F1 technological defects of the field U and Uj differ little (no more than 10-15%). Moreover, from the comparison of interferograms, only the strongest mechanical defects can be detected, causing a significant strain concentration in the test object (Cc 2, where the deformation concentration coefficient) and the change in the sex of displacements are greater than 5–10%. Only such defects noticeably change the interferogram of the test object as compared with the interferogram of the standard. Weaker defects that cause a lower concentration of deformations (Kc 4 1.5-2) do not sufficiently change the interferogram of the test object and therefore cannot be detected by this method. The purpose of the invention is to improve the accuracy of detecting and localizing defects not detected when interferograms are compared, by extracting information from the interferogram of the tested L object about the field of displacements associated only with the defect and. 5, the cauldron goal is achieved by the fact that according to the method consisting in that they get holographic interferograms of the reference and test objects under identical external conditions and find the places of differences in the interferogram 1 corresponding to the locations of the defects, additionally get two patterns of moire, one of which is formed by superimposing the indicated interferograms with the alignment of the contours of the reference and test objects, on it are areas covered by closed moire bands, and and moire bands corresponding to the location of defects, another moire pattern is formed by superposing the interferogram of the test object with a shift of two duplicates, on it there are new moire bands appearing in the process of smoothly increasing the shift corresponding to the location of defects, and according to the obtained court data and locations of mechanical defects in the test object. The drawing shows a structural diagram of one of the possible devices that implement the proposed method. The device consists of a holographic interferometer 1, a device 2 for restoring holograms and obtaining interferograms, a device 3 for obtaining a moire pattern by superimposing interferograms of a reference and test object, a device 4 for obtaining a moiré pattern by smoothly shifting two duplicates of the interferogram of the test object. The holographic interferometer 1 consists of a laser, a beam splitter, two mirrors, two micro-lenses and a stand for fixing photographic plates. The device 2. Restoration of the holograms and obtaining of the interferograms consists of a laser, a collimator, a tripod for strengthening phototechnical films. Attachments 3 and 4 for moire patterns consist of two frames in which inter