SU1091250A1 - Scanning device - Google Patents

Scanning device Download PDF

Info

Publication number
SU1091250A1
SU1091250A1 SU813261402A SU3261402A SU1091250A1 SU 1091250 A1 SU1091250 A1 SU 1091250A1 SU 813261402 A SU813261402 A SU 813261402A SU 3261402 A SU3261402 A SU 3261402A SU 1091250 A1 SU1091250 A1 SU 1091250A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
output
recording unit
threshold element
aperture plate
hole
Prior art date
Application number
SU813261402A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Лидия Ивановна Андреева
Владимир Иосифович Берко
Александр Павлович Гулый
Виктор Андреевич Жовтянский
Сергей Александрович Кайдалов
Евгений Михайлович Пчелов
Борис Михайлович Степанов
Юрий Иванович Чутов
Original Assignee
Киевский Ордена Ленина Государственный Университет Им.Т.Г.Шевченко
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Киевский Ордена Ленина Государственный Университет Им.Т.Г.Шевченко filed Critical Киевский Ордена Ленина Государственный Университет Им.Т.Г.Шевченко
Priority to SU813261402A priority Critical patent/SU1091250A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1091250A1 publication Critical patent/SU1091250A1/en

Links

Abstract

СКАНИРУЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО, содержащее отклон ющую систему, апертурную пластину с вырезываюащм отверстием и регистрирующий блок, вывод которого соединен с измерительным блоком, отличающее с  тем, что, с целью повышени  точности измерений в широком диапазоне длительностей процесса, в него введены дополнительный регистрирующий блок, пиковый вольтметр, делитель напр жени  и пороговьй элемент, при этом апертурна  пластина выполнена с двум  одинаковыми вырезываюи1 ми отверсти ми при отношении рассто ни  между ними к размеру отверстий, равном 2-6, и за первым по направлению сканировани  отверстием установлен дополнительташ регистрирующий блок, вывод которого через последовательно включенные пиковьш вольтметр и делитель напр жени  соединен с первым входом порогового элементаJ второй вход которого соединен с выводом основного регистрирующего блока, а выход порогового элемента соехщнен с измерительным блоком,. .A SCANNING DEVICE, containing a deflecting system, an aperture plate with a cutting hole and a recording unit, the output of which is connected to a measuring unit, so that, in order to improve measurement accuracy in a wide range of process durations, an additional recording unit is inserted, the peak voltmeter , the voltage divider and the threshold element, while the aperture plate is made with two identical cutting holes with a ratio of the distance between them to the size of the holes, equal to 2-6, and for the first hole in the scanning direction, an additional recording unit is installed, the output of which is connected to the output of the main recording unit through the sequentially connected peak voltmeter and voltage divider and the output of the threshold element measuring unit. .

Description

Изобретение относитс  к электронной технике,-в частности к устройствам дл  фотоэлектрического считывани  пространственного распределени  интенсивности излучени  на выходе спектральных приборов и преобразовани  его в анализируемый электрический сигнал. Известно сканирующее устройство, например, дл  измерени  ширииы контура спектральной линии, основанное на .фиксации с помощью двойного дифференцировани  моментов времени, соответствующих .максимальной скорости изменени  электрического сигналааналога распределени  интенсивности излучени  по профилю спектральной линии Li. Данные устройства н.е обеспечиваю априорной информации о параметрах контура и не могут быть использованы дл  измерений в моноимпульсных процессах . Наиболее близким к предлагаемому  вл етс  сканирующее устройство, . .содержащее отклон ющую систему, апер турную пластину с вырезывакнцим отвер стием и регистрирующий блок, вывод которого соединен с измерительным блоке. 1, например, с осциллографом C Недостатком известного устройств  вл етс  низка  точность измерений, характерна  дп  осциллографических методов, а также трудность его использовани  дл  исследовани  моноим пульсных процессов, когда параметры контура заранее неизвестны. Цель изобретени  - повышение точ ности измерений в широком диапазоне длительностей процесса. Указанна  цель достигаетс  тем, Что в сканирующее устройство содержащее отклон кицую систему, апертурную пластину с ззырезывающим отверсти ем и регистрирующий блок, вывод которого соединен с измерительным блоком, введены дополнительный регистрирующий блок, пиковый вольтмет делитель напр жени  и пороговый элемент , при этом апертурна  пластина выполнена с двум  одинаковыми вырезы вающими отверсти ми при отношении рассто ни  между ними к размеру отверстий, равном , и за первым по направлению сканировани  отверстием установлен дополнительный регистрирующий блок, вывод которого через последовательно включенные пиковый вольтметр и делитель напр жени  соединен с первым входом порогового элемента, второй вход которого соединен с выводом основного регистрирующего блока, а выход порогового элемента соединен с измерительным блоком. На чертеже показана схема сканирующего устройства, построенного на основе диссектора. Диссектор устройства включает фотокатод ),, систему 2 фокусировки и ускорени  электронов, отклон ющую систему 3, апертурную пластину 4 с первым по направлению сканировани  отверстием 5 и основным отверстием 6 соответственно, дополнительный 7 и основной 8 регистрирующие блоки, в случае диссектора - электронные 5 ножители, размещенные внутри оболочки 9 диссектора. Выводы 10 и 11 дополнительного и основного электронных умножителей соединены со схемой измерений, представленной в варианте дл  трех параллельно работающих каналов, i. Выход 10 дополнительного электронного ум1лОжител  7 соединен через пиковый вольтметр 12 и параллельно включенные делители 13 напр жени  с пороговыми элементами 14, которые, в свою очередь, включены между основным электронным умножителем 8 и измерительными блоками 15. Параллельные каналы отличаютс  лишь настройкой делителей 13 напр жени  от пикового вольтметра 12. Схема может включать также второй пиковый вольтметр 16 и электронно-вычислительное устройство 17. Устройство работает следующим образом. В диссекторе восприютмаемый фотокатодом 1 сигнал от спектрального прибора преобразуетс  с помощью системы 2 фокусировки и ускорени  электронов в электронный пучок, сканируемый отклон ющей системой 3 по апертурной пластине 4 в направлении от ее первого отверсти  5 к основному отверстию 6, Размер этих отверстий и рассто ние между ними выбираетс  иэ услови , чтобы к началу считывани  отверстием 6 наиболее интенсивной части контура линии на первом отверстии 5 уже было зафиксировано максимальное значение амплитуды контура. Таким образом, временное опережение Д t считывани  контура иа отверстии 5 должно бытьThe invention relates to electronic equipment, in particular, to devices for photoelectric reading of the spatial distribution of the radiation intensity at the output of spectral instruments and converting it into an analyzed electrical signal. A scanning device is known, for example, to measure the width of the spectral line contour, based on fixation by double differentiation of time points corresponding to the maximum rate of change of the electrical signal of the radiation intensity distribution over the profile of the spectral line Li. These devices do not provide a priori information about the parameters of the circuit and cannot be used for measurements in monopulse processes. The closest to the proposed is a scanning device,. containing a deflecting system, an aperture plate with a cutting hole and a recording unit, the output of which is connected to the measuring unit. 1, for example, with an oscilloscope C A disadvantage of the known devices is the low measurement accuracy, characteristic of oscillographic methods, and the difficulty of its use for studying mono-pulse processes when the parameters of the circuit are not known in advance. The purpose of the invention is to improve the accuracy of measurements in a wide range of process durations. This goal is achieved by the fact that an additional recording unit, a peak voltmeter voltage divider and a threshold element are inserted into the scanning device containing a deviating Kits system, an aperture plate with a cutting hole and a recording unit, the output of which is connected to the measuring unit. with two identical cutouts, the holes between them, with the ratio of the distances between them to the size of the holes, are equal, and there is an additional hole behind the first hole in the direction of scanning. A recording unit, the output of which is connected to the first input of the threshold element through a series-connected peak voltmeter and voltage divider, the second input of which is connected to the output of the main recording unit, and the output of the threshold element is connected to the measuring unit. The drawing shows a diagram of a scanning device, built on the basis of the dissector. The device's dissector includes a photocathode), electron focusing and acceleration system 2, the deflecting system 3, the aperture plate 4 with the first aperture 5 in the scanning direction and the main hole 6, respectively, an additional 7 and main 8 recording units, in the case of a dissector - electronic 5 scissors placed inside the shell 9 of the dissector. Conclusions 10 and 11 of the additional and main electron multipliers are connected to the measurement scheme presented in the variant for three parallel channels, i. The output 10 of the additional electronic attenuator 7 is connected via a peak voltmeter 12 and parallel-connected voltage dividers 13 with threshold elements 14, which, in turn, are connected between the main electronic multiplier 8 and the measuring units 15. The parallel channels differ only in voltage divider 13 peak voltmeter 12. The circuit may also include a second peak voltmeter 16 and electronic computing device 17. The device operates as follows. In the dissector, the signal received by the photocathode 1 from the spectral device is converted by the system 2 of focusing and accelerating electrons into an electron beam scanned by the deflecting system 3 along the aperture plate 4 in the direction from its first hole 5 to the main hole 6, the size of these holes and the distance between They select the conditions so that by the beginning of reading by the opening 6 of the most intensive part of the contour of the line on the first opening 5 the maximum value of the contour amplitude is recorded. Thus, the time lead D t of reading the contour of the hole 5 must be

ut u , где максимальна  ширина контура на измер емых уровн х амплитуды. Выполнение этого услови  необходимо дп  обеспечени  адаптизации уровн  срабатывани  пороговых элементов 1А. С другой стороны-необходимо , чтобы амплитудные значени  контуров на выходах 10 и П электронных умножителей 7 и 8 заметно не отличались друг от друга при изменени х процесса.ut u, where the maximum width of the contour at the measured amplitude levels. Fulfillment of this condition is necessary to ensure the adaptation of the response level of threshold elements 1A. On the other hand, it is necessary that the amplitude values of the circuits at the outputs 10 and P of the electron multipliers 7 and 8 do not noticeably differ from each other as the process changes.

Это соответствует условию, накладываемому на временное опережение, Ati Tg/4, где Tj-период к олебаний, соответствующий верхней частоте изменени  амплитудного значени  контура в исследуемом процессе. Из условий на временное опережение и t считывани  сигнала и вытекает необходимое соотношение между размером а отверстий апертурной пластины 4 в направлении сканировани  и рассто нием d между ними, а именно 2 d/a 4 6. Здесь нижний предел определ етс  предельной измер емой шириной контура (минимальное опережение ) , а верхний предел - необходимой полосой пропускани  при достаточно малом времени, за которое параметры процесса не успевают сильно изменитьс .This corresponds to the condition imposed on a temporary lead, Ati Tg / 4, where Tj is the period to vibrations, corresponding to the upper frequency of the change in the amplitude value of the contour in the process under study. The conditions for the time advance and t read the signal and the required ratio between the size a of the holes of the aperture plate 4 in the scanning direction and the distance d between them, namely 2 d / a 4 6. Here the lower limit is determined by the maximum measured width of the contour ( minimum advance), and the upper limit is the necessary bandwidth for a sufficiently short time, during which the process parameters do not have time to change much.

Таким образом, на выходах электронных умножителей формируютс  два близких по характеристикам сигнала . В линии дополнительного умножител  7 на выходе пикового вольтметра 12 устанавливаетс  максимальное значение интенсивности в контуре линии (в преобразованном аналоговом виде). Делителем напр жени  с помощью делителей 13 в заданном соот ношении (например,3:5,1:2,2:5). на управл ющих входах пороговых элементов 14 устанавливаютс  адаптизированные к амплитуде импульсов (контуров ) уровни, на которых определ етс  его длительность. При этом адаптизаци  производитс  до прихода основной части импульса с выхода 11 основного электронного умножител  8. Далее с выходов каждого из пороговых элементов 14 снимаетс  сигнал, длительность которого, измер ема  в измерительных блоках 15, соответствует ширине спектральной линии на заданном относительном уровне . Второй пиковой вольтметр 16 и электронно-вычислительное устройство 17 могут быть использованы дл  последующей математической обработки результатов измерений.Thus, at the outputs of electron multipliers, two signals with similar characteristics are formed. In the line of the additional multiplier 7 at the output of the peak voltmeter 12 sets the maximum intensity value in the line circuit (in the converted analog form). The voltage divider with the help of dividers 13 in a given ratio (for example, 3: 5.1: 2.2: 5). on the control inputs of the threshold elements 14, levels adapted to the amplitude of the pulses (contours) are set, at which its duration is determined. In this case, the adaptation is performed before the main part of the pulse arrives from the output 11 of the main electron multiplier 8. Next, from the outputs of each of the threshold elements 14, a signal is removed, the duration of which, measured in measuring blocks 15, corresponds to the width of the spectral line at a given relative level. The second peak voltmeter 16 and the electronic computing device 17 can be used for the subsequent mathematical processing of measurement results.

В диссекторе устройства реализова метод измерени  однократных электрических импульсов на адаптизируемых пороговых элементах, причем необходима  дл  этого лини  задержки выполнена непосредственно в диссекторе на электронном уровне. Это позвол ет в большой степени устранить искажени  импульсов и расширить диапазон измер емых длительностей в одном устройстве. В целом устройство позвол ет проводить измерени  н моноимпульсных процессах при отсутствии априорной информации о параметрах контура высокой точностью в широком диапазоне верхних частот исследуемых процессов. Принцип работы устройства позвол ет осуществл ть измерени  не только контуров спектральных линий, но и радиальных профилей интенсивностей излучени  в трубке при развертывании изображени  диссектором по пространственной координате, масс-спектров при развертывании анализатором масс-спектрометра по и другие подобные измерени .The device dissector implements the method of measuring single electric pulses on adaptable threshold elements, and the delay line is required for this directly in the dissector at the electronic level. This allows a large extent to eliminate the distortion of the pulses and to expand the range of measured durations in one device. In general, the device allows to measure n monopulse processes in the absence of a priori information about the parameters of the circuit with high accuracy in a wide range of high frequencies of the studied processes. The principle of operation of the device makes it possible to measure not only the contours of the spectral lines, but also the radial profiles of the radiation intensities in the tube when the image is unwrapped by the spatial coordinate, the mass spectra are deployed by the mass spectrometer, and other similar measurements.

//

/. V/. V

4 ff 4 ff

LL JLl j

Claims (1)

СКАНИРУЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО, содержащее отклоняющую систему, апертурную пластину с вырезывающим отверстием и регистрирующий блок, вывод которого соединен с измерительным блоком, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений в широком диапазоне длительностей процесса, в него введены дополнительный регистрирующий блок, пиковый вольтметр, делитель напряжения и пороговый элемент, при этом апертурная пластина выполнена с двумя одинаковыми вырезывающими отверстиями при отношении расстояния между ними к размеру отверстий, равном 2-6, и за первым по направлению сканирования отверстием установлен дополнительный регистрирующий блок, вывод которого через последовательно включенные пиковый вольтметр и делитель напряжения соединен с первым входом порогового элемента, второй вход которого соединен с выводом основного регистрирующего блока, а выход порогового элемента соединен с измерительным блоком.A SCANNING DEVICE containing a deflecting system, an aperture plate with a cutting hole and a recording unit, the output of which is connected to the measuring unit, characterized in that, in order to increase the accuracy of measurements in a wide range of process durations, an additional recording unit, a peak voltmeter, a divider are introduced into it voltage and a threshold element, while the aperture plate is made with two identical cutting holes with a ratio of the distance between them to the size of the holes equal to 2 -6, and behind the first hole in the scanning direction, an additional recording unit is installed, the output of which is connected through a series-connected peak voltmeter and voltage divider to the first input of the threshold element, the second input of which is connected to the output of the main recording unit, and the output of the threshold element is connected to the measuring unit . )091250) 091250
SU813261402A 1981-03-17 1981-03-17 Scanning device SU1091250A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813261402A SU1091250A1 (en) 1981-03-17 1981-03-17 Scanning device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813261402A SU1091250A1 (en) 1981-03-17 1981-03-17 Scanning device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1091250A1 true SU1091250A1 (en) 1984-05-07

Family

ID=20948037

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU813261402A SU1091250A1 (en) 1981-03-17 1981-03-17 Scanning device

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1091250A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Авторское свидетельство СССР № 356482, кл. G 01 J.3/34, 1970. 2. Андреева Л.И. и др. Приставка к спектрографу ДФС-8 дл осциллографической регистрации контуров спектральных линий с высоким временным разрешением. Приборы и техника эксперимента, № 5,1979, с. 267 (прототип). *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH04229B2 (en)
US3903477A (en) Network time domain measurement system
US4801879A (en) Electron beam testing of integrated circuits
SU1091250A1 (en) Scanning device
EP0135869A1 (en) Process and arrangement for measuring an electric signal arising in a circuit
SU926687A1 (en) Device for determination of pulse signal amplitude distribution probabilities
SU658495A2 (en) Arrangement for measuring characteristics of random process overshoots
SU1171718A1 (en) Cathode-ray oscillograph
SU922805A1 (en) Device for determining pulse signal maximum amplitude probability distribution
Konopasek Proposed beam current measuring system
SU805076A1 (en) Method of measuring amplitude-frequency response of a photomultiplier
SU1068821A1 (en) Oscilloscopic meter of single signal duration
US2768303A (en) Mass spectrometer
DE19647686A1 (en) Electromagnetic test signal sequence generation unit
SU560202A1 (en) The method of digital measurement of the duration of the electric pulse
SU491956A1 (en) Statistical analyzer
EP0395679A1 (en) Process and arrangement for measuring the variation of a signal at a measuring point of a specimen.
SU987637A1 (en) Device for determining pulse signal amplitude probability distribution
SU953582A1 (en) Device for measuring frequency in radio receiver channels
SU953573A1 (en) Periodic electric signal stroboscopic conversion method
US3436652A (en) Method for measuring delay and distortion of frequency components
RU2250531C2 (en) Method for calibrating time sweep of chronographic image converter-recorder
SU393789A1 (en) METHOD OF MEASUREMENT OF CONSUMPTION OF A RAY OF OPTICAL QUANTUM GENERATOR
SU769424A1 (en) Device for measuring electrode potentials under non-standard conditions of electrolysis
SU585445A1 (en) Stroboscopic oscilloscope