SU1075131A1 - Способ активного теплового контрол - Google Patents

Способ активного теплового контрол Download PDF

Info

Publication number
SU1075131A1
SU1075131A1 SU823401103A SU3401103A SU1075131A1 SU 1075131 A1 SU1075131 A1 SU 1075131A1 SU 823401103 A SU823401103 A SU 823401103A SU 3401103 A SU3401103 A SU 3401103A SU 1075131 A1 SU1075131 A1 SU 1075131A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
control
thermal
line
radiometer
defects
Prior art date
Application number
SU823401103A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Васильевич Ширяев
Владимир Платонович Вавилов
Александр Иванович Иванов
Original Assignee
Научно-Исследовательский Институт Электронной Интроскопии При Томском Ордена Октябрьской Революции И Ордена Трудового Красного Знамени Политехническом Институте Им.С.М.Кирова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-Исследовательский Институт Электронной Интроскопии При Томском Ордена Октябрьской Революции И Ордена Трудового Красного Знамени Политехническом Институте Им.С.М.Кирова filed Critical Научно-Исследовательский Институт Электронной Интроскопии При Томском Ордена Октябрьской Революции И Ордена Трудового Красного Знамени Политехническом Институте Им.С.М.Кирова
Priority to SU823401103A priority Critical patent/SU1075131A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1075131A1 publication Critical patent/SU1075131A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Description

сд
ее Изобретение относитс  к области теплового неразрушающегос  контрол  и может быть использовано дл  обнаружени  дефектов в многослойных кон струкци х. Известен способ активного теплового контрол , предусматривающий предварительный нагрев участка поверхности объекта контрол  и регист рацию инфракрасного излучени  этого участка поверхности дл  обнаружени  дефектов ij , Однако этот способ не обеспечива ет достоверности контрол  в силу ра личи  в спектральных составах излучени  подсветки и собственного теплового излучени  участка поверхности объекта контрол  , 1аиболее близким техническим решёниегу к изобретению  вл етс  спосо активного теплового контрол , заклю чающийс  в нагреве объекта контрол  перемещении его в поле зрени  инфра красного радиометра, регистрации интенсивности теплового, излучени . объекта контрол , аналого-цифровсм преобразовании, сигнала радиометра, определении наличи  дефектов по отношению значений интенсивности теплового излучени  одной и той же точки, поверхности дл  двух различных моментов времени. Дл  контрол  тепловыдел ющих эле ментов  дерных реакторов врем  задержки сигнала первого радиометра равно одной секунде ввиду малой тол щины и высокой теплопроводности образца Отношение сиг.налов двух радиометров не зависит от излучательных свойств поверхности образца, а определ етс  наличием внутренних дефектов, информаци  о которых содержитс  в сигнале первого радиомет ра 2 . Недостатками известного способа  вл ютс  наличие двух инфракрасных радисметров, низка  производительность контрол , так как дл  дефекто располагающихс  на различной глубине , оптимальные временные моменты контрол  будут различными, а это требует многократной перестройки контрол  и многократного повторени  операции контрол . Недостат ком  вл етс  также ограниченкуэсть номенклатуры контролируемых материа лов, поскольку дл  материалов с низкой теплопроводностью (неметаллов ) характерное задержки сиг нала второго радиометра врем  исчезновени  температурного сигнала от дефекта) составл ет несколько дес тков секунд, что с помошдло аналоговой линии задержки, примен емой в способе, создать затруднительно. Целью изобретени   вл етс  површение производительности.контрол  и расширение номенклатуры контролируемых материалов. Указанна  цель достигаетс  тем, что согласно способу активного теплового контрол , заключающемус  в нагреве о.бъекта контрол , -перемещении его в поле зрени  инфракрасного радиометра, регистрации интенсивности теплового излучени  объекта контрол , аналого-цифровом преобразовании сигнала радиометра, определении наличи  дефектов по отношению значений интенсивности теплового излучени  одной и той же точки поверхности дл  двух различных моментов времени, сканируют инфракрасным радиометрог тепловое поле объекта контрол  вдоль направлени  его перемещени  со скоростью , равнрй произведению числа элементов строки сканировани  на скорость перемещени  объекта контрол , а цифровую информацию об интенсивности теплового излучени  записывают- построчно в  чейки матрицы пам ти магазинного типа. I . В предлагаемом способе сканирование производ т вдоль направлени  пере1 1ещени  объекта. Число элементов сканировани  Y равно i(/6, где i длина строки сканировани , а С - разрешение радиометра. Продольное сканирование позвол ет за один просмотр строкиполучить информацию о распределении температуры или излучени  вдоль этой строки . Это распределение существенно не равномерно из-за наличи  источника нагрева, мимо которого перемещаетс  объект. В каждый момент времени имеетс  информаци  не просто о температуре в некоторой точке, наход щейс  на определенном рассто нии от источника нагрева, а о температурах И точек, расположенных вдоль линии сканировани . В предлагаемом способе при правильном выборе длины строки сканировани  можно вы вить дефекты на всех глубинах при одноразовом сканировании , поскольку дефектУ на различных глубинах будут создавать максшиальные сигналы в различных элементах строки. Скорость сканировани  V получена исход  из услови , согласно которому один просмотр строки сканирова- . ни  должен производитьс  за врем , равное времени перемещени  объекта контрол  на. один элe leнт сканировани , T.e-.V/v D , гдeV - скорость перемещени  объекта, П - число элементов сканировани , определ ющее П  чеек и h строк матрицы пам ти магазинного типа. Это условие обеспечивает салошное сканирование объктов без пропусков и наложений отдельных элементов, а также позвол ет организовать запись информсщии в  чейки матрицы пам ти магазинного типа так,что при смещении Объекта контрол  на один элемент строки происходит запись очередной строки сканировани  в верхнюю строку матрицы пам ти, а имевша с  перед этим информаци  последовательн перемещаетс  в нижележащие строки. Рассмотрим более подробно матриц пам ти магазинного типа, представл  ющую собой.матрицу из ft строк и И столбцов. Запись в  чейки производитс  построчно. Вначале записывают значени  интенсивности излучени в верхнюю строку. За врем  записи верхней строки объект контрол  перемещаетс  на один элемент из-за наличи  режимного услови  скорости сканировани . Значени  сигнала стр ки за следующий просмотр записывют в ту же верхнюю строку матрицы,при этом предыдущие значени  смещаютс  на одну строку вниз, и так до тех пор, пока не заполнитс  вс  матриц Это поизойдет после просмотра стро Таким образом, дл  бездефектного издели  характерна матрица, в кото рой все строки содержат повтор ющиес  значени , отражающие распределение температуры на различных рассто ни х от источника нагрева. Например, при тепловом контроле из дели  сталь-бронза бездефектна  матрица имеет следующий вид: Значени  в  чейках - это температу ры объекта вдоль строки сканировани . В силу режимного услови  значени  температуры, расположенные в любых диагональных  чейках, относ тс  к одному и тому же элементу поверхности, мо в различные моменты времени. Тогда отношение температур таких  чеек может служить критерием качества объекта. Например, дл  выделенных вматрице  чеек это отноше ние равно ,3. При отсутствии дефектов это отношение остаетс  посто нным . Внутренние дефекты искажают температуру на поверхности, измен ют вид матрицы и, следовательно, измен ют вышеуказанное отношение как критерий качества. В силу непрерывности сканировани  матрица непрерыв но измен ет свой вид при регистрации дефектов, и отношение сигналов двух  чеек также измен етс  от бездефектного значени  до макеимума в мсмент прохождени  центра дефекта. На чертеже представлено устройство дл  реализации способа. Способ осуществл етс  следующим образом. Проводитс  активный тепловой контроль па ной конструкции 1 (сталь толщиной 2 мм, бронза - 10 мм) дЛ  обна-, ружени  дефекта 2, представл ющего собой непропай. Нагрев участка поверхности образца проводитс  лампой 3 накаливани  мощностью 500 Вт до температуры, превышающей комнатную на 20°С, при скорости перемещени  образца в направлении радиометра, равной 5. мм/с. Сканирование в направлении перемещени  производитс  зеркальным четырехгранным барабаном 4, длина строки сканировани  равн етс  20 мм. Выбрав величину элемента разложени  строки, равной величине минимально допустимого дефекта, получаем ,число элементов строки сканировани  И , равное 10. Излучение отдельных элементов строки сканировани  регистрируетс  инфракрасным радиометром 5, выход которого через аналого-цифровой преобразователь 6 подключаетс  к блоку 7 пам ти. Синхронизатор 8, св занный с зеркальным барабаном 4, подключаетс  к блоку 9 управлени , который соединен с блоком 7 пам ти шиной адреса и управлени , и с блоком 10 арифметического устройства шиной . управлени . Информаци  об интенсивности теплового излучени  строки сканировани  записываетс  построчно в блок 7 пам ти. Выход блока 10 арифметического устройства подключаетс  к блоку 11 вывода данных. Проводилось сравнение предлагаемого способа с базовым объектом, в качестве которого был выбран способ контрол  тепловыдел ющих элементов, реализованный с помощью модифицированных радиометров серии Смотрич. Установлено, что предлагаемый способ позвол ет увеличить производительность контрол  в 3-6 раз, поскольку реализаци  базового способа требует многократного повторени  операции контрол  (5-7 раз в зависимости от толщины контролируемого издели ) дл  обнаружени  дефектов на различной глубине. Кроме того, наличие матрицы пам ти в устройстве, в  чейках которой записаны температурные сигналы объекта контрол /в т.ч. и сигналы от дефектов на различной глубине), позвол ет определ ть предлагаемым способом наличие дефектов на различной глубине за врем  одной операции контрол . Использование предлагаемого способа позвол ет также расширить номенклатуру контролируег1«а1Х материа 1075131
лов по сравнению с базовым способомрых врем  исчезновени  сигнала от
за счет материалов с низкой тепло-дефекта может составл ть дес тки
проводностью (неметаллов) , дл  кото-секунд.

Claims (1)

  1. (5 4) СПОСОБ АКТИВНОГО ТЕПЛОВОГО КОНТРОЛЯ, заключающийся в нагреве объекта контроля, перемещении его в поле зрения инфракрасного радио- метра, регистрации интенсивности теплового излучения объекта контроля, аналого-цифровом преобразовании сигнала радиометра, определении наличия дефектов по отношению значения интенсивности теплового из-Йучения одной и той же точки поверхности для двух различных моментов . времени, отлич ающийся тем, что, с целью повышения производительности контроля и расширения номенклатуры контролируемых материалов, сканируют инфракрасным радиометром тепловое поле объекта контроля вдоль направления его перемещения со скоростью, равной произведению числа элементов строки сканиро- S вания на скорость перемещения объекта контроля, а цифровую информацию об интенсивности теплового излучения записывают построчно в ячейки матрицы памяти магазинного типа.
SU823401103A 1982-03-01 1982-03-01 Способ активного теплового контрол SU1075131A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823401103A SU1075131A1 (ru) 1982-03-01 1982-03-01 Способ активного теплового контрол

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823401103A SU1075131A1 (ru) 1982-03-01 1982-03-01 Способ активного теплового контрол

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1075131A1 true SU1075131A1 (ru) 1984-02-23

Family

ID=20998934

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823401103A SU1075131A1 (ru) 1982-03-01 1982-03-01 Способ активного теплового контрол

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1075131A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4203272A1 (de) * 1992-02-05 1993-08-12 Busse Gerd Prof Dr Rer Nat Verfahren zur phasenempfindlichen effektmodulierten rasterabbildung

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1.Авторское свидетельство СССР 602842, кл. Q 01 М 25/72, 197/. 2.Патент US № 3378685, кл. 250-833, 1968 (прототип. . *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4203272A1 (de) * 1992-02-05 1993-08-12 Busse Gerd Prof Dr Rer Nat Verfahren zur phasenempfindlichen effektmodulierten rasterabbildung

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6517236B2 (en) Method and apparatus for automated thermal imaging of combustor liners and other products
Shorthill et al. Nonuniform cooling of the eclipsed Moon: A listing of thirty prominent anomalies
US6661519B2 (en) Semiconductor impurity concentration testing apparatus and semiconductor impurity concentration testing method
US20060262971A1 (en) Transient defect detection algorithm
GB1337357A (en) Remote analyzing apparatus for gaseous material
Pickering et al. LED optical excitation for the long pulse and lock-in thermographic techniques
JPS5667277A (en) Laser recording device
CN108693141A (zh) 激光与红外复合的无损检测设备及方法
CN108872248A (zh) 激光与红外复合的无损检测设备及方法
US20050058247A1 (en) X-ray analysis apparatus
SU1075131A1 (ru) Способ активного теплового контрол
US20170302826A1 (en) Synchronous sampling methods for infrared cameras
Grigoryev et al. Observations of the solar mean magnetic field at the Sayan Observatory during 1982–1984
JP2003227754A (ja) 赤外画像装置における多素子検出器からのデータ取得方法
SU1213407A1 (ru) Способ теплового неразрушающего контрол
Noguchi et al. Heating curves of solids obtained by a solar furnace
JPS56153228A (en) Method and device for measurement of stress
SU1583806A1 (ru) Сканирующий интроскоп
JPS6155050B2 (ru)
SU879428A1 (ru) Способ обнаружени дефектов в многослойных издели х
SU1318891A1 (ru) Способ тепловой дефектоскопии тел вращени
SU707402A1 (ru) Способ разбраковки изделий электроннойТЕХНиКи пО иНфРАКРАСНОМу излучЕНию
Kaplan Infrared thermal imaging applications for manufacturing processes and quality control: an overview
CA1278842C (en) Thermal wave imaging apparatus
SU1448876A1 (ru) Устройство дл контрол дефектов полированной поверхности