Изобретение относитс к автоматике и вычислительной техникеf в частности к устройствам дл контрол качества функционировани систем, и может найти применение в измерительной технике. При функциониров ании различных систем выход параметра за пределы но л допуска часто не вл етс свидетельством отказа системы, однако при этом предъ вл ютс жесткие требо вани .к относительному времени пребьюани параметра за пределами пол допуска в течение контрольного отрез , ка времени. Известно устройство дл контрол I автоматической стабилизации технологических параметров, содержащее вход ной нормирующий преобразователь, соединенный с блоком сравнени , гене ратор импульсов,первый и второй счет чики импульсов и элементы И и ИЛИ, Устройство позвол ет определить превышение времени пребывани параметра скстема за пределами пол допуска относительно заданного временного , интервала , Недостатком данного устройства . вл ютс низкие точностные характери стики, что св зано с возможной выдачей ложного сигнала об отказе систегФа , если частота выходов за пре делы пол допуска превышает частоту сброса показаний счетчика отказов. Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности и достигаемому эффекту вл етс устройство дл обработки информации о дефектности изделий, включающее дефектоскоп с элементами цифровой логики, предназн ченный дл определени выхода измер емого параметра за пределы допустимых значений, элементы И-НЕ, регистр сдвига, запоминающее устройство , импульсный датчик перемещени изделий, предназначенный дл согласовани длины анализируемого участк а издели со сче-рчиком дефектов, и индикатор. Указанное устройство позв л ет производить подсчет числа дефектов на заданном скольз щем контрольном интервале и вести их индикацию Г2 . Недостат1гом известного устройств вл ютс большие аппаратурные затраты ПРИ малых допусках на число обна руживаемых дефектов и большой длине заданного контрольного интервала. Цель изобретени - упрощение уст ройства. Поставленна цель достигаетс тем, что устройство дл контрол качества функционировани систем, содержащее дефектоскоп, подключенный входом к контролируемой системе, ге нератор тактовых импульсов, линию з держки,. форкшрователь импульсов и блок индикации, содержит задатчик временного интервала и N+1 канал, каждый из которых содержит элемент И, подключенный первым входом к выходу генератора импульсов, к входу линии задержки и к управл ющему входу дефектоскопа, вторым входом - к выходу элемента И-НЕ и к соответствующему входу блока индикации, а выходом - к счетному входу счетчика импульсов , соединенного установочным входом с шиной Установка исходного состо ни , управл ющим входомс- выходом элемента задержки последующего канала и с входом элемента задер ски предыдущего канала, а выходами каждого разр да - с информационными входами счетчика импульсов последующего канала и с входами элемента И-НЕ, причем информационные входы счетчика импульсов первого канала подклк чены к соответствующим выходам задатчика временного интервала, |а выход дефектоскопа св зан с первым входом формировател импульсов , подключенного вторым входом к выходу линии задержки, а выходом - к управл ющему входу счетчика импульс с в последнего канала. На чертеже изображена функциональ на схема устройства. Устройство содержит дефектоскоп- 1, генератор 2 тактовых импульсов, линию 3 задержки, блок 4 индикации, формирователь 5 импульсов, задатчик 6 временного интервала иW+1 каналов , состо щих из счетчика 7 импульсов , элемента И-НЕ 8, элемента 9 задержки и элемента И 10. Така конструкци устройства позвол ет перейти от запоминани проведенных измерений с признаком Нор ма и Не в норме к запоминанию только измерений с признаком Не в норме с отметкой момента измерени . При Малом допустимом числе результатов с признаком .Не.в норме это ведет к уменьшению потребногр числа запомина1рщих элементов. Устройство работает следующим образом. . Сигнал с выхода генератора 2 тактовых импульсов поступает на один из входов элемента И 10 всех каналов и одновременно синхронизирует дефектоскоп 1 и через линию 3 задержки запускает формирователь импульсов. В установившемс режиме при отсутстг ВИИ измерений с результатом Не в норме счетчики 7 импульсов всех каналов заполнены и на выходах всех разр дов присутствует- сигнал На выходе элемента И-НЕ 8 в этом случае устанавливаетс сигнал О, который запирает: элемент И 10 каждого канала. На блок 4 индикации сигнал о наличии сбо не подаетс . При по влении результата измерени Не в норме на выходе дефекThe invention relates to automation and computer technology, in particular, to devices for controlling the quality of the functioning of systems, and may find application in measurement technology. When various systems are operating, a parameter overshoot is often not an indication of system failure, however, this imposes strict requirements on the relative time the parameter has stayed outside the tolerance field during the control period. A device for controlling I automatic stabilization of technological parameters is known, comprising an input normalizing converter connected to a comparator unit, a pulse generator, first and second pulse counters, and AND and OR elements. The device allows determining the stay time of the system parameter outside the tolerance field relative to a given time interval, the disadvantage of this device. are low accuracy characteristics, which is associated with the possible issuance of a false signal about the failure of the system if the frequency of the outputs outside the tolerance field exceeds the frequency of resetting the counter of failures. The closest to the proposed technical essence and the achieved effect is a device for processing information on the defectiveness of products, including a flaw detector with elements of digital logic, designed to determine the output of the measured parameter beyond the permissible values, AND-NOT elements, shift register, storage device , a pulse sensor of movement of products, intended to match the length of the analyzed area of the product with the counter of defects, and the indicator. The said device allows counting the number of defects at a given sliding control interval and keeping their indication G2. A disadvantage of the known devices is the large hardware costs, with small tolerances on the number of defects to be detected and a large length of a given control interval. The purpose of the invention is to simplify the device. The goal is achieved by the fact that the device for monitoring the quality of the functioning of the systems, which contains the flaw detector connected to the system under control, is a generator of clock pulses, a hold line ,. pulse forkshraver and display unit, contains a time interval master and N + 1 channel, each of which contains an I element connected by the first input to the output of the pulse generator, to the input of the delay line and to the control input of the defectoscope, the second input to the output of the I- element NOT and to the corresponding input of the display unit, and the output to the counting input of the pulse counter connected by the installation input to the bus. Setting the initial state, controlling the input with the output of the delay element of the subsequent channel and the input delay of the previous channel, and the outputs of each bit — with the information inputs of the pulse counter of the subsequent channel and with the inputs of the NAND element, the information inputs of the pulse counter of the first channel are connected to the corresponding outputs of the time interval setter, and the output of the flaw detector is associated with the first the input of the pulse generator connected by the second input to the output of the delay line, and the output to the control input of the counter pulse c in the last channel. The drawing shows the functional scheme of the device. The device contains a flaw detector-1, a generator of 2 clock pulses, a delay line 3, an indication unit 4, a pulse shaper 5, a time interval setting unit 6 and W + 1 channels consisting of a pulse counter 7, an AND-HE element 8, a delay element 9 and an element And 10. Such a device design allows one to go from storing the measurements made with the Norma and Not sign to normal to remembering only the measurements with the Not sign sign with the mark of the measurement moment. With a small permissible number of results with a sign. No. In the norm, this leads to a decrease in the number of memorizing elements. The device works as follows. . The signal from the generator output 2 clock pulses to one of the inputs of the element And 10 of all channels and simultaneously synchronizes the defectoscope 1 and through line 3 delay starts the pulse shaper. In steady-state mode with the absence of HII measurements with the result Not normally, counters 7 pulses of all channels are filled and there is a signal at the outputs of all bits — The output of the AND-NE element 8 in this case sets the signal O, which locks: the element 10 of each channel. On the display unit 4, a signal about the presence of a fault is not given. When a measurement result appears Not normal at the output of the defect