Изобретение относитс к электроизмерительной технике и предназначено дл использовани при контроле электрических параметров высоковольт ных цепей в услови х воздействи мешающих электромагнитных полей. Известно устройство дл бесконтак ного измерени тока и напр жени , содержащее оптически св занные и установленные друг за другом лазерный источник света, пол ризатор, два электромагнитооптических кристалла, расположенных в электрическом и магнитном пол х, проводники с током по разные стороны от него, два отражател , размещенных между кристаллами под углом 90° друг к другу и под углом 45 к падающим и отраженным лучам , анализатор и фотоприемник, к выходу которого подключен вычислительный блок ij . Указанное устройство обладает высокой помехозащищенностью, однако характеризуетс значительной сложностью построени вычислительного блока . Наиболее близким к предлагаемому вл етс устройство дл бесконтактно го, измерени тока и напр жени , содержащее лазерный источник света, оптически св занный с расщепителем, в каждом из двух образованных с про тивоположных сторон проводника с током оптических каналов установлены друг за другом пол ризатор, модулирующий электромагнитооптический кристалл , расположенный в электрическом и магнитном пол х проводника с током анализатор и фотоприемник, общие дл выходных канальных цепей блок суммировани и блок вычитани , входы которых подключены к выходам фотоприемников 2 .. Недостаток известного устройства заключаетс в низкий помехозащищенности . В частности, при воздействии мешающих сторонних) электромагнитных полей на выходной сигнал, отображающий напр жение, накладываетс токоаа составл юща помехи, а на выходной сигнал, отображающий ток потенциальна составл юща помехи. Цель изобретени - повышение помехозащищенности подобного измерительного устройства. Поставленна цель достигаетс тем что в устройство-дл бесконтактного измерени тока и напр жени , содержа щее лазерный источник света, оптичес ки св занный с расщепителем, в каждом из двух образованных с псютивоположных сторон проводника с током оптических каналов установлены друг за другом пол ризатор, модулирующий электромагнитооптический кристалл, расположенный в электрическом и махнитном пол х проводника с током, ана лизатор и фотоприемник, общие дл выходных канальных цепей блок суммировани и блок вычитани , входы которых подключены, к выходам фотоприемников , введены дополнительные модулирующие электромагнитооптические кристаллы и отражатели, причем кристаллы размещены в оптических каналах попарно симметрично по разные стороны от проводника.с током, а отражатели установлены в транзитных вершинах полученных контуров под углом 45° к падающим и отраженным лучам. На чертеже представлена функциональна схема предлагаемого устройства дл бесконтактного измерени тока и напр жени . Устройство содержит гелий-неоновый лазерный источник 1 монохроматического света, оптически св занный с расщепителем 2. в первый из двух образованных оптических каналов вход т установленные друг за другом пол ризатор 3, модулирующий электромагнитооптический (кварцевый) кристалл 4, отргокатель 5, кристалл 6, отражатель 7, кристалл 8, отражатель 9, кристалл 10, анализатор 11 и фотоприемник 12. Второй канал включает в себ установленные друг за другом пол ризатор 13, кристалл 14, отражатель 9, кристалл 15, отражатель 7, кристалл 16, отражатель 5, кристалл 17, анализатор 18 и фотоприемник 19. На выходах устройства предусмотрены блок 20 суммировани и блок 21 вычитани , входы которых подключены к выходам фотоприемников 12 и 19. Кристаллы 4и8, биЮ, 14и16, 15 и 17 размещены в оптических каналах попарно симметрично по разные стороны от проводника 22 с током в его электрическом и магнитном пол х. Отражатели 5, 7 и 9 установлены в транзитных вершинах полученных контуров под углом 45° к падающим и отраженным лучам. Устройство работает следующим образом . От лазерного источника 1 света луч поступает в расщепитель 2, где расщепл етс на два потока света. Эти потоки после пол ризации в пол ризаторах 3 и 13 проход т вокруг проводника 22 с током в противоположных направлени х соответственно через кристаллы и отражатели 4-5-6-7-8-9-10 и 14-9-15-7-16-5-17 и имеют линейную пол ризацию, параллельную проводнику 22. Каждый электромагнитооптический кристалл обладает одинаковым коэффициентом прело1члени по двум оптическим ос м, отличающимс от показател преломлени по третьей оптической оси. При пропускании луча света с линейной пол ризацией через кристалл с отклонением от третьей оптической оси возникают одновременно линейна и кругова пол ризации и выходной луч расщепл етс на два эллиптичес ких пол ризованных луча с одинаковой раст нутостью эллипсов пол ризации и взаимной перпендикул рностью их главных осей, В зависимости от прило женного электрического пол измен - етс разность скоростей распространени дл лучей с противоположньни направлени ми пол ризации и при маjbix углах относительно оси эффект сложени лучей на фотоприемниках 12 и 19 после прохождени анализаторов 11 и 18 можно представить как вращение направлени пол ризации линейно пол ризованного луча с углом oi CEg, где С - посто нна эффекта, Е - напр женность электрического пол , 2 - длина кристалла. На электромагниторптические крис .таллы воздействует и магнитное поле под действием которого происходит вращение направлени пол ризации линейно пол ризованного луча с углом ,о6м В.Н6 , где В - посто нна Вердета , Н - напр женность магнитного пол . Проводник 22 с током в месте расположени электромагнитооптических кристаллов создает электромагнитное поле с напр женност ми Е и Н соответ ственно электрического и магнитного полей. Вращение направлени пол ризации дл противоположно расположенных по отношению к проводнику 22 кристаллов, через которые проходит один из потоков света, составл ет «, 2(,(К,,Н). Дл другого потока света справедливо ,E + KiH-K E K7H -2K E- -2K2E, где К и К - посто нные градуировки Выходные сигналы фотоприемников 1 и 19 соответствуют: i2 + ); -2Jo ( + KjH), где JQ - интенсивность световых луСигнал на выходе блока 20 суммировани определ етс как + и, ., а на. выходе блока вычитани 21 - как г - 2 - 9 При воздействии на устройство помехи с напр женностью электромагнитных полей Б v( Н;( и Е J Hg дл проти-. воположно расположенных по отношению к проводнику 22 кристаллов вращение напр жени пол ризации можно представить дл одного потока света в виде ,(.E+E,Hl 2lM-H4VK.(E-Ejl+W,lHi-H2l а дл другого потока света - в виде л,„-кЛЕ4Е ух,1н-н,1-у Се-Е7Ь 2Сн н,у Тогда как дл результирующего сигнала на выходе блока 20 суммировани расчетное выражение будет иметь вид -JoK,ltH + 2(- Н, ) , а дл результирующего сигнала на выходе блока вычитани 21 Щ + 2( Е,,). Так как рассто ние между проводником 22 к элактромагнитооптическими кристаллами меньше, чем рассто ние, до источника помех, погрешность от воздействи внешних электромагнитных полей оказываетс весьма малой. Предлагаемое устройство позвол ет одновременно контролировать ток и напр жение в высоковольтных цеп х при воздействии метающих электромагнитных полей и дает возможность размещать измерительньй преобразователь непосредственно на проводнику с током без гальванической св зи.The invention relates to electrical measuring equipment and is intended for use in monitoring electrical parameters of high voltage circuits under the influence of interfering electromagnetic fields. A device for non-contact current and voltage measurement is known, which contains a laser source of light optically connected and installed one after another, a polarizer, two electro-optical crystals located in an electric and magnetic fields, conductors with a current on either side of it, two reflectors placed between the crystals at an angle of 90 ° to each other and at an angle of 45 to the incident and reflected rays, the analyzer and the photodetector, to the output of which the computing unit ij is connected. The said device has a high noise immunity, however, it is characterized by a considerable complexity of building a computing unit. Closest to the present invention, there is a device for contactless, current and voltage measurement, comprising a laser light source, optically coupled to a splitter, in each of two optical channels formed from opposite sides of the conductor with a current of optical channels, modulating Electro-optical crystal, located in the electric and magnetic fields of a conductor with a current analyzer and photodetector, common to the output channel circuits the summation unit and the subtraction unit, whose inputs connected to the outputs of photodetectors 2. The disadvantage of the known device is low noise immunity. In particular, when disturbing third-party electromagnetic fields are applied, the output signal, which represents the voltage, is superimposed on the current component of the interference, and the output signal, which represents the current, is the potential component of interference. The purpose of the invention is to improve the noise immunity of such a measuring device. This goal is achieved by the fact that a device for contactless current and voltage measurement, containing a laser light source, optically coupled to a splitter, in each of two optical channels formed from positive-facing sides of the conductor with optical current, modulates Electro-optic crystal, located in the electric and mechanical fields of a conductor with current, an analyzer and a photodetector, common to the output channel circuits are the summation unit and the subtraction unit, the inputs of which are dklyucheny, the outputs of photodetectors introduced additional modulating elektromagnitoopticheskie crystal and reflectors, wherein the crystals are placed in the optical channels in pairs symmetrically on opposite sides of provodnika.s current, and reflectors are installed in transit vertices contours obtained at 45 ° to the incident and reflected rays. The drawing shows the functional diagram of the proposed device for contactless measurement of current and voltage. The device contains a helium-neon laser source 1 of monochromatic light optically coupled to the splitter 2. The first of the two formed optical channels consist of a polarizer 3 that modulates an electro-optical (quartz) crystal 4, a deflector 5, a crystal 6, a reflector 7, crystal 8, reflector 9, crystal 10, analyzer 11, and photodetector 12. The second channel includes a polarizer 13, a crystal 14, a reflector 9, a crystal 15, a reflector 7, a crystal 16, a reflector 5, a crista l 17, analyzer 18 and photodetector 19. At the outputs of the device, a summation unit 20 and a subtraction unit 21 are provided, the inputs of which are connected to the outputs of photodetectors 12 and 19. Crystals 4 and 8, biu, 14 and 16, 15 and 17 are placed in optical channels in pairs symmetrically on opposite sides from conductor 22 with current in its electric and magnetic fields. Reflectors 5, 7 and 9 are installed in transit tops of the received contours at an angle of 45 ° to the incident and reflected rays. The device works as follows. From the laser light source 1, the beam enters the splitter 2, where it splits into two streams of light. These flows, after polarization in polarizers 3 and 13, pass around conductor 22 with current in opposite directions, respectively, through crystals and reflectors 4-5-6-7-8-9-9 and 14-9-15-7-16 -5-17 and have a linear polarization parallel to the conductor 22. Each electro-optical crystal has the same coefficient of reflection on two optical axes, which differ from the refractive index on the third optical axis. When a beam of light with linear polarization passes through a crystal with a deviation from the third optical axis, linear and circular polarizations arise simultaneously and the output beam splits into two elliptical polarized rays with the same extensibility of the polarization ellipses and the mutual perpendicularity of their main axes, Depending on the applied electric field, the difference in the propagation velocities for the rays with opposite polarization directions and at mabix angles about the axis, the effect of the addition of the beam changes. It on photodetectors 12 and 19 after passing through analyzers 11 and 18 can be represented as a rotation of the polarization direction of a linearly polarized beam with an angle oi CEg, where C is the effect constant, E is the electric field strength, 2 is the crystal length. Electromagnetic crystals are affected by a magnetic field and under the action of which the direction of polarization of the linearly polarized beam rotates with an angle of about 6m V.H6, where B is the Verdet constant, H is the intensity of the magnetic field. Conductor 22 with current at the location of electro-optic crystals creates an electromagnetic field with strengths E and H, respectively, of electric and magnetic fields. The rotation of the polarization direction for crystals 22 that are opposite to the conductor and through which one of the light streams passes is ", 2 (, (К ,, Н). For the other light flow is true, E + KiH-K E K7H - 2K E- -2K2E, where K and K are permanent calibrations. The output signals of photodetectors 1 and 19 correspond to: i2 +); -2Jo (+ KjH), where JQ is the light intensity LuSignal at the output of summation unit 20 is defined as + and,., And on. output of the subtraction unit 21 - as r - 2 - 9 When an interference with the intensity of electromagnetic fields B v (H; (and E J Hg for crystals opposite to the conductor 22 of the crystals 22) is applied, the rotation of the polarization voltage can be represented for one stream of light in the form, (. E + E, Hl 2lM-H4VK. (E-Ejl + W, lHi-H2l and for another stream of light - in the form of l, „- KLE4E yy, 1n-n, 1-y Се-Е7Ь 2Сн н, у Whereas, for the resultant signal at the output of summation block 20, the calculated expression will be -JoK, ltH + 2 (- Н,), and for the resultant signal at the output of the block it is read and 21 u + 2 (E ,,). Since the distance between the conductor 22 to the elactromagnet-magneto-optical crystals is less than the distance to the source of interference, the error from the effects of external electromagnetic fields is very small. The proposed device allows you to simultaneously control current and voltage It is possible to place a measuring transducer directly on a conductor with a current without galvanic coupling.