SU1062518A1 - Device for measuring interferention picture parameters - Google Patents

Device for measuring interferention picture parameters Download PDF

Info

Publication number
SU1062518A1
SU1062518A1 SU823402115A SU3402115A SU1062518A1 SU 1062518 A1 SU1062518 A1 SU 1062518A1 SU 823402115 A SU823402115 A SU 823402115A SU 3402115 A SU3402115 A SU 3402115A SU 1062518 A1 SU1062518 A1 SU 1062518A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
unit
photocells
electron
signal processing
processing circuit
Prior art date
Application number
SU823402115A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Геннадий Васильевич Меркишин
Original Assignee
Московский Ордена Ленина Авиационный Институт Им.Серго Орджоникидзе
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский Ордена Ленина Авиационный Институт Им.Серго Орджоникидзе filed Critical Московский Ордена Ленина Авиационный Институт Им.Серго Орджоникидзе
Priority to SU823402115A priority Critical patent/SU1062518A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1062518A1 publication Critical patent/SU1062518A1/en

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОЙ КАРТИНЫ , содержащее оптическую системуд электронно-оптический блок и.схему обработки сигналов, отличающеес  тем, что, с целью упрощен ни  конструкции, электронно-оптический блок выполнен в виде двух расположенных взаимно перпендикул рно линеек, кажда  из которьк состоит из четырех фотоэлементов, один из средних фотоэлементов - общий дл  линеек, а схема обработки сигналов выполнена в виде двух каналов,каждый из которых состоит из соединенных последовательно блока делени  с вычитанием единицы и блока вычислени  arccos, и двух блоков вычитани  , выходы которых соединены с первьм и вторым входом блока делени  с вьмитанием единицы,а входы i подключены соответственно к крайним и средним фотоэлементам одной (Л из линеек.A DEVICE FOR MEASURING THE PARAMETERS OF AN INTERFERENCE PICTURE, containing an optical system, an electron-optical unit, and a signal processing circuit, characterized in that, in order to simplify the design, the electron-optical unit is made in the form of two mutually perpendicular rulers, each consisting of four photocells, one of the middle photocells is common for the rulers, and the signal processing circuit is made in the form of two channels, each of which consists of a dividing unit connected in series with ychitaniem unit and calculating unit arccos, and two subtractor units whose outputs are connected to the second input and pervm block dividing unit with vmitaniem and i inputs connected respectively to the extreme and one middle photocells (A of lines.

Description

о: to елabout: to eat

0000

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в интерференционных измерител х линейных размеров.The invention relates to instrumentation engineering and can be used in interference measuring devices of linear dimensions.

Известен интерферометр, предназначенный дл  контрол  качества оптических систем,, состо щий из движущейс  дифракционной решетки, многоканального фотоприемника с измерителем фазы сигнала на выходе каждого канала и схемы обработки сигналов Cl 3.An interferometer is known for monitoring the quality of optical systems, consisting of a moving diffraction grating, a multichannel photodetector with a signal phase meter at the output of each channel, and a Cl 3 signal processing circuit.

Недостатком этого интерферометра  вл етс  наличие дифракционной решетки с механическим перемещением, что снижает надежность и точность измерени .The disadvantage of this interferometer is the presence of a diffraction grating with mechanical displacement, which reduces the reliability and accuracy of measurement.

Наиболее близким к изобретению  вл етс  уртройство дл  измерени  параметров интерференционной картины , содержащее оптическую систему, электронно-оптический блок и схему обработки сигналов.Closest to the invention is a device for measuring the parameters of the interference pattern, comprising an optical system, an electron-optical unit, and a signal processing circuit.

Электронно-оптический блок выполнен в виде замкнутой телевизионной системы, а схема обработки сигналовв виде схемы анализов первой и второй производных измерительного видесигнала с применением линии 3BMf2 .The electro-optical unit is made in the form of a closed-circuit television system, and the signal processing circuit is in the form of an analysis of the first and second derivatives of the measuring video signal using the 3BMf2 line.

Недостатком известного устройства  вл етс  сложность конструкции, обусловленна  наличием телевизионной системы, что вызывает необходимость предварительного измерени  направлени  интерференционных полос , а затем ориентировани  их перпендикул рно развертке телевизионно камеры.A disadvantage of the known device is the complexity of the design, due to the presence of a television system, which necessitates a preliminary measurement of the direction of the interference fringes, and then orienting them perpendicularly to the sweep of the television camera.

Целью изобретени   вл етс  упрощение конструкции.The aim of the invention is to simplify the design.

Поставленна  цель достигаетс  те что в устройстве дл  измерени  параметров интерференционной картины, содержащем оптическую систему,электронно-оптический блок и обработки сигналов, электронно-оптический блок выполнен в виде двух расположенных взаимно перпендикул рно линеек , кажда  из которых состоит из четырех фотоэлементов, один из средних фотоэлементов - общий дл  обеих линеек, а схема обработки сигналов выполнена в виде двух каналов, каждый из которых состоит из соединенных последовательно блока делени  с вычитанием единицы и блока вычислени  arccos, и двух блоков вычитани , выходы которых соединены с первым и вторым входом блока делени  с вычитанием единицы, а входы подключены соответственно к крайним и средним фотоэлементам одной из линеек.The goal is achieved by the fact that in a device for measuring the parameters of an interference pattern containing an optical system, an electron-optical block and signal processing, the electron-optical block is made in the form of two mutually perpendicular rulers, each of which consists of four photo cells, one of the middle photocells - common to both lines, and the signal processing circuit is made in the form of two channels, each of which consists of a series-connected division block with subtraction of one and an arccos calculation unit, and two subtraction units, the outputs of which are connected to the first and second input of the division unit with subtraction of one, and the inputs are connected to the extreme and middle photocells of one of the lines.

На чертеже представлена блок-схема предлагаемого устройства.The drawing shows a block diagram of the proposed device.

Устройство состоит из оптической системы 1, электронно-оптического блока 2, состо щего из двух расположенных взаимно перпендикул рно линеек , кажда  из которых содержит четыре фотоэлемента, один из средних фотоэлементов - общий дл  обеих линеек , схемы обработки сигналов, содержащей два канала, состо щих из блоков 3,4 и 5,6 вычитани , блоков 7 и b делени  с вычитанием единицы, соединенных с выходами соответствующих блоков 3,4 и 5,6 вычитани , блоков 9 и 10 вычислени  arccos,подключенных соответственно к блокам 7 и 8 .делени  с вычитанием единицы, блоки 3,4 и 5,6 вычитани  подключены к крайним и средним фотоэлементам соответствующей линейки электронно-оптического блока 2.The device consists of an optical system 1, an electron-optical unit 2 consisting of two mutually perpendicularly arranged rulers, each of which contains four photocells, one of the middle photoelectric cells — a common for both lines, a signal processing circuit containing two channels consisting from blocks 3,4 and 5,6 of subtraction, blocks 7 and b of division with subtraction of a unit connected to the outputs of corresponding blocks 3,4 and 5,6 of subtraction, blocks 9 and 10 of arccos calculation, connected respectively to blocks 7 and 8. with unit subtraction, blo and 3.4 and 5.6 are connected to a subtractor extreme and mean line corresponding photocells electron-optical unit 2.

Устройство работает следующим образом.The device works as follows.

Анализируема  интерференционна  картина с помощью оптической системы 1 проецируетс  на линейки электронно-оптического блока 2, сигналы с фотоэлементов каждой линейки на блоки 3,4 и 5,6 вычитани , в которых вычисл етс  разность сигналов крайних и средних фотоэлементов линеек.The analyzed interference pattern with the help of the optical system 1 is projected onto the rulers of the electron-optical unit 2, the signals from the photocells of each ruler onto the 3.4 and 5.6 subtraction blocks, in which the difference between the signals of the extreme and average photocells of the rulers is calculated.

Выходные си17налы олоков 3,4 и 5,6 вычитани  подаютс  на блоки 7 и 8 делени  с вычитанием единицы, гд происходит деление разности сигналов крайних фотоэлементов на разность сигналов средних фотоэлементов и вычитание из полученного отношени  единицы . Сигнал из блоков 7 и 8 поступает в блоки 9 и 10 вычислени  arccos, выходные сигналы которых пропорциональны частоте пространственной гармоники интерференционной картины в направлении расположени  соответствующей линейки фотоэлементов .The output channels of the 3,4 and 5.6 subtraction blocks are fed to division blocks 7 and 8 with subtraction of one, where the difference between the signals of the outer photocells is divided by the difference between the signals of the average photoelectric cells and subtracted from the resulting unit ratio. The signal from blocks 7 and 8 enters the blocks 9 and 10 of the arccos calculation, the output signals of which are proportional to the spatial harmonic frequency of the interference pattern in the direction of the corresponding photocell line.

Таким образом, за счет замены телевизионной системы электроннооптическим блоком с двум  взаимно перпендикул рными линейками фотоэлементов и применени  описанной схемы обработки сигналов упрощаетс  конструкци  устройства, а следовательно , снижаетс  ее стоимость и повышаетс  надежность.Thus, by replacing the television system with an electron-optical unit with two mutually perpendicular photocell arrays and using the described signal processing circuit, the design of the device is simplified, and therefore its cost is reduced and reliability is increased.

Claims (1)

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОЙ КАРТИНЫ, содержащее оптическую систему, электронно-оптический блок и.схему обработки сигналов, отличаю- щееся тем, что, с целью упрощен ния конструкции, электронно-оптический блок выполнен в виде двух расположенных взаимно перпендикулярно линеек, каждая из которых состоит из четырех фотоэлементов, один из средних фотоэлементов — общий для линеек, а схема обработки сигналов выполнена в виде двух каналов,каждый из которых состоит из соединенных последовательно блока деления с вычитанием единицы и блока вычисления arccos, и двух блоков вычитания, выходы которых соединены с первым и вторым входом блока деления с вычитанием единицы,а входы подключены соответственно к крайним и средним фотоэлементам одной из линеек.DEVICE FOR MEASURING INTERFERENCE PICTURE PARAMETERS, comprising an optical system, an electron-optical block and a signal processing circuit, characterized in that, in order to simplify the design, the electron-optical block is made in the form of two lines arranged mutually perpendicular to each other, consists of four photocells, one of the middle photocells is common for the rulers, and the signal processing circuit is made in the form of two channels, each of which consists of a dividing unit with a subtraction connected in series iem unit and calculating unit arccos, two subtraction units, the outputs of which are connected to first and second input division block subtraction unit and the inputs connected respectively to the innermost and the middle one of the lines of photocells. SU ... 1062518SU ... 1062518
SU823402115A 1982-02-19 1982-02-19 Device for measuring interferention picture parameters SU1062518A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823402115A SU1062518A1 (en) 1982-02-19 1982-02-19 Device for measuring interferention picture parameters

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823402115A SU1062518A1 (en) 1982-02-19 1982-02-19 Device for measuring interferention picture parameters

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1062518A1 true SU1062518A1 (en) 1983-12-23

Family

ID=20999282

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823402115A SU1062518A1 (en) 1982-02-19 1982-02-19 Device for measuring interferention picture parameters

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1062518A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Stumpf D. Real-time interferometer.-Optical Engineering, 1379, 18, 6, p. 648653. 2. Патент US № 4159522, кл. G 01 В 11/00-, 1979 (прототип). *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3586665A (en) Apparatus for producing phase-shifted electric signals
GB1191336A (en) Improvements in or relating to Photoelectric Sensing Devices
US3198061A (en) Optical system for analyzing movement of a movable grating
JPS6337322B2 (en)
FR2524633B1 (en) STATIONARY WAVE INTERFEROMETER FOR MEASURING OPTICAL PATH DIFFERENCES
JPS6228623A (en) Photometer
SU1062518A1 (en) Device for measuring interferention picture parameters
EP0216163A2 (en) Optical measuring apparatus
GB1176953A (en) Improvements in or relating to Photoelectric Devices for Creating Electric Impulses
US4769539A (en) Electro-optical roll angle detector
US3697183A (en) Optical apparatus using slitted masks for detecting rotary motion of object
CA1203597A (en) Apparatus for detecting the irregularities on the surface of a linear material
GB1364487A (en) Optical position measurement apparatus
US3566136A (en) System for detecting the sense of the direction of the variation in phase of a cyclically varying signal
ATE64198T1 (en) POSITION MEASUREMENT DEVICE WITH OPTICAL GRIDS.
JPS5744823A (en) Fourier spectroscope device
JPS5574408A (en) Optical inspection device for object surface
JPS57141560A (en) Detector for travelling object
SU765651A1 (en) Method of checking linear dimensions of periodic microstructures
SU1290171A1 (en) Contactless meter of velocity of elongated object which is optically inhomogeneous
JPS60129645A (en) Gas concentration measuring apparatus
SU1126812A1 (en) Device for measuring deformations of diffuse-reflective objects
SU1490483A1 (en) Displacement meter
SU1096493A1 (en) Method and device for checking micro-wire diameter
SU1083070A2 (en) Interference device for measuring displacements