SU1045265A1 - Method of inspecting width of working gap of magnetic head - Google Patents

Method of inspecting width of working gap of magnetic head Download PDF

Info

Publication number
SU1045265A1
SU1045265A1 SU823394797A SU3394797A SU1045265A1 SU 1045265 A1 SU1045265 A1 SU 1045265A1 SU 823394797 A SU823394797 A SU 823394797A SU 3394797 A SU3394797 A SU 3394797A SU 1045265 A1 SU1045265 A1 SU 1045265A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
head
width
magnetic head
gap
working gap
Prior art date
Application number
SU823394797A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Ярослав Мкртычевич Погосян
Тамара Арсеновна Погосян
Артур Карапетович Овсепян
Гарник Андрушевич Вермишян
Original Assignee
Ордена Трудового Красного Знамени Ереванский Государственный Университет
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ордена Трудового Красного Знамени Ереванский Государственный Университет filed Critical Ордена Трудового Красного Знамени Ереванский Государственный Университет
Priority to SU823394797A priority Critical patent/SU1045265A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1045265A1 publication Critical patent/SU1045265A1/en

Links

Landscapes

  • Magnetic Heads (AREA)

Abstract

СПОСОБ КОНТРОЛЯ ШИРИНЫ РАБОЧЕГО ЗАЗОРА МАГНИТНОЙ ГОЛОВКИ , основанный на регистрации области действи  полей головки оптическими средствами , отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности измерени , магнитную головку помешают в дифракционную камеру электронного микроскопа с направлением длины зазора вдоль оптической оси микроскопа , измен ют ток промежуточной линзы, лолучают лоренцмикроскопическое конвер .рентное изображение пол  в области рабочего зазора головки и по ординате коивер гентного изображени  определ ют пр мо лропорциональную ей ширину рабочего заiopa .METHOD OF CONTROL OF THE WIDTH OF THE WORKING GAP OF THE MAGNETIC HEAD, based on recording the field of action of the head fields by optical means, characterized in that, in order to improve the measurement accuracy, the magnetic head will be interfered into the diffraction chamber of the electron microscope with the direction of the length of the gap along the optical axis of the microscope to change the intermediate lenses, catching a Lorentz microscopic conversion image of the field in the region of the working gap of the head and determining the direct direction of the lens along the co-divergent image of the head the width of the working zoopa that is proportional to it.

Description

Изобретение относитс  к приборостроению , в частности к технике -магнитной записи , и может быть использовано дл  контрол  параметров магнитных головок. Известно устройство дл  контрол  ширины рабочего зазора магнитной головки, содержащее магнитный элемент, укрепленный на немагнитной основе, смонтированный с возможностью сопр жени  с рабочей поверхностью магнитной головки, оптически прозрачную пластину и оптический индикатор 1. Недостаток данного способа состоит в том, что измеренна  ширина рабочего зазора  вл етс  функцией от величины тока намагничивани . Наиболее близким к предлагаемому  вл етс  способ контрол  ширины рабочего зазора магнитной головки с помощью источника света, оптической системы в виде двух пол роидов, магнитооптического датчика , оптического индикатора и источника посто нного напр жени  дл  питани  обмотки магнитной головки 2. Однако известный способ характеризуетс  недостаточной точностью контрол  ширины рабочего зазора головки. Цель изобретени  - повышение точности измерени . Поставленна  цель достигаетс  тем, что при измерении ширины рабочего зазора магнитной головки, основанном на регистрации области действи  полей головки оптическими средствами, магнитную головку гтОмеш ,ают в дифракционную камеру электронного микроскопа с направлением длины зазора вдоль оптической оси микроскопа, измен ют ток промежуточной линзы, получают лоренцмикроскопическое изображение пол  в области рабочего зазора головки и по ординате конвергейтного изображени  определ ют пр мо пропорциональную ей ширину рабочего зазора. На фиг. 1 и 2 изображено расположение головки в электронном микроскопе,при котором возникающа  сила Лоренца F, перпендикул рна скорости электронов v, направлена от зазора (фиг. I) или к зазору (фиг.2), что в режиме недофокусировани  (W- величина недофокусировани ) формирует на гглоскости изображени  промежуточной линзы S дивергентное изображение пол  головки (фиг. 1) и конвергентное изображение (фиг. 2); на фиг. 3 - изображение поверхности записывающей головки в отсутствии пол  (а), дивергентное изображение (б) и конвергентное изображение (в), ноложе65 кие фокуса которого отмечено буквой L ; на фиг. 4 - то же, дл  воспроизвод щей головки . Фигуры 3 и 4 получают при одинаковом релсиме работы электронного микроскопа . Контроль ширины рабочего зазора осушествл ют следуюпги.ч образом. Магнитную головку помещают в дифракционную камеру электронного микроскопа с направлением прот женности зазора вдоль оптической оси микроскопа, затем подают рабочий ток на подмагничивающие катущки () и подбираетс  така  величина тока промежуточной линзы { ISOmj) (режим расфокусировани  W), чтобы на конвергентном Лоренцмикроскопическом изображении поверхности головки по вилась бы петл  с выраженным фокусом. Затем, сфотографировав на одной фотопластинке изображение поверхности головки без подмагничивающего тока и при величине тока, соответствующей сфокусированному конвергентному Лоренцмикроскопическому изображению (в данном случае 2та);, при одном и том же значении тока промежуточной линзы, определ ют ординату фокуса L петли конвергентного изображени  с помощью оптического микроскопа. Q К- Ширина зазора где L - ордината фокуса; т - степень увеличени  микроскопа; К - коэффициент, характеризующий глубину зазора, определ емый эмпирически. Из приведенный фиг. 3 и 4 хорошо видно различие ординат фокуса L двух различных головок. Дл  осуществлени  измерени  требуетс  иметь на одной фотопластинке изображение поверхности головки в отсутствии гюл  (а) и конвергентное изображение (в) при наличии пол . Дл  приведенной (фиг. 3) магнитной головки величина L 23890 мк, / 1000, К 0,28,при этом ширина из .мер емого зазора равна 6,7 мк, а дл  головки на фиг. 4 - L 7940 мк, и соответственно ширина зазора - 2,2 мк. Повьпиение точности определени  ширины рабочего зазора предлагаемым способом обусловлено тем, что вместо непосредственного измерени  очень малой величины пор дка нескольких микрон, измер етс  значительно больща  величина пор дка дес тков миллиметров, что достигаетс  благодар  использованию Лоренцова отклонени . ОThe invention relates to instrumentation, in particular to a technique of magnetic recording, and can be used to control the parameters of magnetic heads. A device for controlling the width of the working gap of a magnetic head is known, which contains a magnetic element mounted on a non-magnetic base, mounted with mating with the working surface of the magnetic head, an optically transparent plate and an optical indicator 1. The disadvantage of this method is that the measured width of the working gap is a function of the magnitude of the magnetizing current. The closest to the proposed method is to control the width of the working gap of the magnetic head using a light source, an optical system in the form of two polaroids, a magneto-optical sensor, an optical indicator and a constant voltage source to power the winding of the magnetic head 2. However, the known method is characterized by insufficient accuracy control the width of the working gap of the head. The purpose of the invention is to improve the measurement accuracy. The goal is achieved by measuring the width of the working gap of the magnetic head based on detecting the field of action of the head fields by optical means, the magnetic head is mixed into the diffraction chamber of the electron microscope with the direction of the length of the gap along the optical axis of the microscope Lorentz microscopic image of the field in the area of the working gap of the head and the ordinate of the convergate image determine the width of the working gap directly proportional to it but. FIG. 1 and 2 depict the location of the head in an electron microscope, in which the resulting Lorentz force F, perpendicular to the electron velocity v, is directed from the gap (Fig. I) or toward the gap (Fig. 2), which is in the under-focusing mode (W is the under-focusing value) on the glg surface of the image of the intermediate lens S, forms a divergent image of the head floor (Fig. 1) and a convergent image (Fig. 2); in fig. 3 - image of the surface of the recording head in the absence of the floor (a), the divergent image (b) and the convergent image (c), with a negative focus marked with the letter L; in fig. 4 is the same for the reproducing head. Figures 3 and 4 are obtained with the same convergence of the electron microscope. Controlling the width of the working gap is carried out in the following way. The magnetic head is placed in the diffraction chamber of the electron microscope with the direction of the gap along the optical axis of the microscope, then the working current is applied to the biasing coils () and the current of the intermediate lens {ISOmj) (defocusing mode W) is selected so that the convergent Lorentzmicroscopic image of the head surface there would be a loop with a pronounced focus. Then, taking a picture of the surface of the head without a magnetizing current and at a current value corresponding to a focused convergent Lorentz microscopic image (in this case 2ta) on a single photographic plate, the convergent image loop focus L is determined using the optical microscope. Q К - Width of the gap where L is the ordinate of the focus; t is the degree of magnification of the microscope; K is the coefficient characterizing the depth of the gap, which is determined empirically. From FIG. 3 and 4, the difference in the ordinates of the focus L of two different heads is clearly seen. To make a measurement, it is required to have on one photographic plate an image of the surface of the head in the absence of gyul (a) and convergent image (c) in the presence of sex. For the magnetic head shown in Fig. 3, the magnitude is L 23890 micron, / 1000, K 0.28, with the width of the measured gap equal to 6.7 microns, and for the head in FIG. 4 - L 7940 microns, and accordingly the gap width - 2.2 microns. The accuracy of determining the width of the working gap by the proposed method is due to the fact that instead of directly measuring a very small value of the order of several microns, a much larger value of the order of tens of millimeters is measured, which is achieved by using Lorentz's deviation. ABOUT

Z.Z.

Claims (1)

СПОСОБ КОНТРОЛЯ ШИРИНЫ РАБОЧЕГО ЗАЗОРА МАГНИТНОЙ ГОЛОВКИ, основанный на регистрации области действия полей головки оптическими средствами, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, магнитную головку помешают в дифракционную камеру электронного микроскопа с направлением длины зазора вдоль оптической оси микроскопа, изменяют ток промежуточной линзы, лолучают лоренцмикроскопическое конвер.гентное изображение поля в области рабочего зазора головки и по ординате конвер гентного изображения определяют прямо пропорциональную ей ширину рабочего за- слMETHOD FOR CONTROLING THE WIDTH OF THE WORKING GAP OF THE MAGNETIC HEAD, based on recording the field of action of the fields of the head by optical means, characterized in that, in order to increase the measurement accuracy, the magnetic head is placed in the diffraction chamber of the electron microscope with the direction of the gap length along the optical axis of the microscope, the current of the intermediate lens is changed , they receive a Lorentz microscopic converter. The image of the field in the region of the working gap of the head and the ordinate of the image are directly proportional the width of the working column Сп КЭ сг> СИCn cg si> SI
SU823394797A 1982-02-08 1982-02-08 Method of inspecting width of working gap of magnetic head SU1045265A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823394797A SU1045265A1 (en) 1982-02-08 1982-02-08 Method of inspecting width of working gap of magnetic head

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823394797A SU1045265A1 (en) 1982-02-08 1982-02-08 Method of inspecting width of working gap of magnetic head

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1045265A1 true SU1045265A1 (en) 1983-09-30

Family

ID=20996821

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823394797A SU1045265A1 (en) 1982-02-08 1982-02-08 Method of inspecting width of working gap of magnetic head

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1045265A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Авторское свидетельство СССР № 431544, кл. G 11 В 5/46, 03.10.72. 2. Авторское свидетельство СССР № 593241, кл. G И В 5/46, 16.08.76 (пр . тип) *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Visscher et al. Construction of multiple-beam optical traps with nanometer-resolution position sensing
US5594544A (en) Flow type particle image analyzing method and apparatus
JPS62124441A (en) Fluidized cell measuring device
US5214279A (en) Scanning microscope and tuning fork scanning mechanism for varying the width over which a sample is scanned
SU1045265A1 (en) Method of inspecting width of working gap of magnetic head
CN108955582A (en) Laser focal beam spot area measuring device
US5327217A (en) Apparatus for measuring particulate size without contacting the particulate
US5113063A (en) Method of monitoring focusing condition using rate of change signal at a border in a semiconductor image position sensitive device
KR100371600B1 (en) Magnetooptical Microscope Magnetometer
JPS62108126A (en) Method of determining mode field radius of single mode optical fiber and test set
SU945652A1 (en) Method of measuring surface roughness
DE69625342D1 (en) Method and apparatus for controlling bias levels in a magneto-optical recording device
JPS61286763A (en) Method for evaluating magnetic head
SU1396761A1 (en) Method of measuring the intensity of static periodical magnetic field
SU940236A1 (en) Device for measuring coercive force of magnetic one-axis films
SU1315923A1 (en) Device for focusing lens
SU972576A2 (en) Device for checking magnetic head front gap
SU676991A1 (en) Device for optical processing of information
SU1056272A1 (en) Method of checking uniformity of magnetic field in gap of magnetic head for recording information
SU257624A1 (en) MAGNETOMETER FOR THE INVESTIGATION OF THIN FILMS
JPS61153502A (en) Height detecting device
SU892205A1 (en) Apparatus for monitoring focus distances of positive lens
SU1396025A1 (en) Method of inspection of bubble-domain structures
SU1518671A1 (en) Method of monitoring roughness of surface
SU913183A1 (en) Refraction index non-uniformity determination method