SU1035410A1 - Устройство дл определени толщины волокнистых материалов - Google Patents
Устройство дл определени толщины волокнистых материалов Download PDFInfo
- Publication number
- SU1035410A1 SU1035410A1 SU823419291A SU3419291A SU1035410A1 SU 1035410 A1 SU1035410 A1 SU 1035410A1 SU 823419291 A SU823419291 A SU 823419291A SU 3419291 A SU3419291 A SU 3419291A SU 1035410 A1 SU1035410 A1 SU 1035410A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- transistor
- resistor
- collector
- emitter
- base
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ВОЛОКНИСТЫХ МАТЕРИАЛОВ, содержащее источник питани , первый транзистор с двум резисторами, коллектор которого через первый резистор подключен к выходу источника питани , эмиттер соединен с общим проводом непосредственно, а база через второй резистор, второй транзистор с двум резисторами, коллектор которого мерез Первый резистор, а эмиттер через второй резистор соединены с выходом источника питани , а база подключена к коллектору первого транзистора, светодиод, включенный между эмиттером второго транзистора и общим проводом, и фоторезистор , выключенный между базой первого и коллектором второго транзисторов , от ли ч а ю щ е е с тем, что, с целью повышени чувствительности и расширени диапазона измерени , оно снабжено третьим транзистором с двум резисторами, коллектор которого через первый резистор, а эмИттер через второй резистор соединены с выходом источника питани , а базе соединена с коллектором второго транзистора и дополнительным светодиодом, включенным между эмиттером третьего транзистора и общим проводом. оо 01
Description
I Изббо тение относитс к измерительной технике и может быть исполь зовано дл измерени толщины волок чистых материалов. Известно устройство дл контрол толщины волокнистых материалов, содержащее источник света, фотоприемник и блок обработки измерительного сигнала Г 1 1« Недостатки известного устройства невысока надежность и низка чувствительность . Наиболее близким к предлагаемому вл етс устройство дл определени толщины вoлoкнV1cтыx материалов, содержащее источник питани , первый транзистор с двум резисторами, коллектор которого через первый резистор подключен к выходу источника питани , эмиттер соединен с общим проводом непосредственно,а база - через второй резистор, второй транзистор с двум резисторами, коллектор которого через первый резистор, а эмиттер через второй ре зистор соединен с выходом источника питани , а база подключена к кол лектору первого транзистора, светодиод , включенный между эмиттером вт рого транзистора и общим проводом, и фоторезистор, включенный между бааой первого и коллектором второго транзисторов 2 Недостатками устройства вл ютс невысока чувствительность и неширокий диапазон измерени , Цель изобретени - повышение чув ствительности и расширение диапазона измерени . Поставленна цель достигаетс тем, что устройство дл определени толщины волокнистых материалов, содержащее источник питани , первый транзистор с двум резисторами, коллектор которого через первый резистор подключен к выходу источника питани , эмиттер соединен с общим проводом непосредственно, а база через второй резистор, второй транзистор с двум резисторами, коллектор которого через первый резистор, а эмиттер через второй резистор сое динены с выходом источника питани , а база подключена к коллектору переого транзистора, светодиод, включенный между эмиттером второго тран зистора и общим проводом, и фоторезистор , включенный между базой первого и коллектором второго транзис 10J ТОРОВ, снабжено третьим транзистором с Двум резисторами, коллектор которого через первый резистор, а эмиттер через второй резистор соединены с выходом источника питани , а база соединена с коллектором второго транзистора и дополнительным светодиодом , включенным.между эмиттером третьего транзистора и общим проводом. На чертеже приведена электрическа схема предлагаемого устройства. Устройство содержита первый транзистор 1 с двум резисторами 1.1 и 1.2, второй транзистор 2 с двум резисторами 2.1 и 2,2, третий транзистор 3 с. двум резисторами 3.1 и 3.2. светодиод i, включенный между эмиттером транзистора 2 и общим проводом , дополнительный светодиод S, включенный между эмиттером транзистора 3 и общим проводом, фоторезистор 6 и источник 7 питани . Устройство работает следующим образом . При подключении устройства к источнику 7 питани первый транзистор 1 закрыт из-за большого темнового сопротивлени фоторезистора 6 обратной св зи. Второй транзистор 2 открыт. Через светодиод k протекает ток, вызывающий свечение светодиода , Под действием потока излучени светодиода k проводимость фоторезистора 6 начинает увеличиватьс . Koi- да сопротивление фоторезистора 6 достигает определенной величины, соответствующей порогу отпирани первого транзистора 1, транзистор 1 отпираетс , и вследствие этого второй транзистор 2 запираетс . Светодиод гаснет. Теперь сопротивление .фоторезистора 6 спадает. Когда величина проводимости фоторезистора 6 достигает соответствующей величины напр жени запирани транзистора 1, транзистор 1 запираетс , и вследстие этого отпираетс второй транзистор 2 . Светодиод снова начинает излучать, и цикл повтор етс . Уровень темновой проводимости фоторезистора 6 смещаетс в зависимости от интенсивности потока излучени , поступающего на фоторезистор 6 от дополнительного светодиода 5 через контролируемый объект. При изменении толщины материала измен етс интенсивность прошедшего потока и, следовательно, измен етс часj ,4
тота колебаний на выходе устройства.1 чески св зан с первым светодибдом ,
Небольшие .изменени значени темно-срыва генерации не происходит. Вывой проводимости фоторезистора при-бором определенной величины тока
.вод т к значительным изменени м ча-светодиода 5 обеспечиваетс необстоты повторени импульсов, генери-j ходимый диапазон измерени ,
руемых генератором, что обеспечива-Изобретение позвол ет повнгемть
ет высокую чувствительность устрой-чувствительность и расширить диапаства . Так как фоторезистор 6 опти-зон измерений.
Claims (1)
- УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ВОЛОКНИСТЫХ МАТЕРИАЛОВ, содержащее источник питания, первый транзистор с двумя резисторами, коллектор которого через первый резистор подключен к выходу источника питания, эмиттер соединен с общим проводом непосредственно, а база - через второй резистор, второй транзистор с двумя резисторами, коллектор которого через Первый резистор, а эмиттер через второй резистор соединены с выходом источника питания, а база подключена к коллектору первого транзистора, светодиод, включенный между эмиттером второго транзистора и общим проводом, и фоторезистор, включенный между базой первого и коллектором второго транзисторов, отличающееся тем, что, с целью повышения чувствительности и расширения диапазона измерения, оно снабжено третьим транзистором с двумя резисторами, коллектор которого через первый резистор, а ' эмиттер через второй резистор соединены с выходом источника питания, а базе соединена с коллектором второго транзистора и дополнительным светодиодом, включенным между эмиттером третьего транзистора и общим проводом.d., 1035410
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823419291A SU1035410A1 (ru) | 1982-04-06 | 1982-04-06 | Устройство дл определени толщины волокнистых материалов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823419291A SU1035410A1 (ru) | 1982-04-06 | 1982-04-06 | Устройство дл определени толщины волокнистых материалов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1035410A1 true SU1035410A1 (ru) | 1983-08-15 |
Family
ID=21005325
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU823419291A SU1035410A1 (ru) | 1982-04-06 | 1982-04-06 | Устройство дл определени толщины волокнистых материалов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1035410A1 (ru) |
-
1982
- 1982-04-06 SU SU823419291A patent/SU1035410A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1. Патент GB № 1337020, кл. G 1 М, 1973. 2, Мухитдинов М. и др. Оптоэлектронный измеритель толщины. В кн.: Материалы республиканской научно-технической конференции молодых ученых, Ташкент, 1976, т. П, с. 61-63 (прототип). * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
GB1600101A (en) | Probe for detecting the presence of liquids | |
US3814935A (en) | Photo-optical transducer | |
SU1035410A1 (ru) | Устройство дл определени толщины волокнистых материалов | |
US4643568A (en) | Method and apparatus for measuring the illuminating power of incident light | |
US3334309A (en) | Light-to-frequency converter circuit | |
KR890015029A (ko) | 회로차단기 테스트장치 | |
US3924253A (en) | Indicating system using pulsed optical techniques | |
CA1065976A (en) | Alternating current liquid level indicator | |
US3610938A (en) | Apparatus for monitoring operational parameters of high-voltage valves | |
US3523739A (en) | Light meter for high powered repetitive light flashes | |
SU1525869A1 (ru) | Термочувствительный мультивибратор | |
SU630733A1 (ru) | Оптоэлектронный мультивибратор | |
SU478343A1 (ru) | Фотоэлектрический преобразователь | |
FR2363829A1 (fr) | Dispositif de commande d'apport d'energie | |
KR920017167A (ko) | 선속측정 고광 차단회로 | |
SU406131A1 (ru) | УСТРОЙСТВО дл ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ | |
SU1732283A1 (ru) | Измерительное устройство | |
JPS5640764A (en) | Measuring unit of lightning current | |
JPS57108702A (en) | Displacement meter | |
SU1375946A1 (ru) | Устройство дл измерени параметров вращающихс объектов | |
SU377694A1 (ru) | УСТРОЙСТВО дл ИЗМЕРЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЯ | |
SU1021957A1 (ru) | Устройство дл измерени интенсивности световых потоков | |
JPH07280848A (ja) | 光センサ | |
SU754214A1 (ru) | Устройство для регистрации уровня освещенности 1 | |
JPH0219703Y2 (ru) |