SU1026009A1 - Способ определени разнотолщинности кристаллических элементов - Google Patents

Способ определени разнотолщинности кристаллических элементов Download PDF

Info

Publication number
SU1026009A1
SU1026009A1 SU813305767A SU3305767A SU1026009A1 SU 1026009 A1 SU1026009 A1 SU 1026009A1 SU 813305767 A SU813305767 A SU 813305767A SU 3305767 A SU3305767 A SU 3305767A SU 1026009 A1 SU1026009 A1 SU 1026009A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
electrodes
difference
thickness
crystal element
elements
Prior art date
Application number
SU813305767A
Other languages
English (en)
Inventor
Сергей Николаевич Кибирев
Леонид Федорович Савуков
Original Assignee
Предприятие П/Я В-2132
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-2132 filed Critical Предприятие П/Я В-2132
Priority to SU813305767A priority Critical patent/SU1026009A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1026009A1 publication Critical patent/SU1026009A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

СПОСОБ ОПРВДЕЛЕНИЯ РАЗНОТОЛЦИННОСТИ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ , заключающийс  в том, что устанавливают между электродами исследуе мый элемент;t возбуждают в немколебани  при двух различ шх конфигураци х электродов, при ка щой из них измер ют значени  резонансных частот первых raiMOHHK, ito разности определ ют разнотолщннность кристаллического элемента, отличающийс  т&л, что, с целью повыше -. ни  точности, выполн ют электроды составными, подключением элементов электродов получают различную нх конфигурацию и возбужцают колебани  последовательного резонанса на основной и ангармонической модах. 1 fcb,

Description

J
Ю
СП)
;& Изобретение относитс  к средствам ультразвукового контрол  и может быть использовано при производстве пьезоэлектрических элементов. Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому  вл етс  способ определени  разнотолщинности кристаллических элементов, заключающийс  в том, что устанавливают между электродами исследуемый элемент,возбуждают в нем колебани  при двух раз личных конфигураци х электродов, при каждой из них измер ют значени  резонансных частот первых гармоник, по разности которых определ ют разнотолщинность кристаллического элемента ij . Недостатком указанного способа  вл етс  то, что при ка адом измерении необходима смена электродов. Это приводит к нарушению посто нства заэора между электродами и пьезопласти ной, что уменьшает точность оценки разнотолщинности. Цель изобретени  - повышение точности определени  разнотолщинности, Поставленна  цель достигаетс  тем что согласно способу определени  разнотолщинности кристаллических элементов, заключающемус  в том,что устанавливают между электродами исследуемый элемент, возбуждают в нем колебани  при двух различных конфигураци х электродов, при каждой из них измер ют значение резонансных частот первых гармоник, по разности которых определ ют разнотолщинность кристаллического элемента, выполн ют электроды составньми, подключением элементов электродов получают различ ную их конфигурацию и возбуждают колебани  последовательного резонанса на основной и ангармонической модах На фиг.1 изображена электрическа  схема устройства, реализующего пред .лагаемый способ при возбуждении на основной моде; на фиг,2 - то же, при возбуждении на ангармонической моде. Устройство содержит неподвижный и подвижный электроды, св занные с исследуемым кристаллическим элементом 1 и с генератором электрических колебаний (не показан). Сущность способа заключаетс  в том, что устанавливают между элементами неподвижного и подвижного электродов исследуемый элемент 1, возбуждают в нем колебани  последовательного резонанса путем включени  по схеме фиг,1 на основной моде и по схеме фиг.2 при возбуждении на ангармонической моде. Измер ют значени  резонансных частот первых гармоник и по их разности определ ют разнотолщинность кристаллического элемента 1, Способ осуществл ют следующим образом, В кристаллическом элементе 1 одним из известных способов определ ют и фиксируют направление кристаллографических осей в направлении измерени  разнотолщинности. Кристаллический элемент 1 укладывают в соответствую- щую центрирующую  чейку (не показана) так, чтобы определенна  кристалле графическа  ось была направлена перпендикул рно зазорам элементов неподвижных электродов. Затем на кристаллический элемент 1 устанавливают элементы подвижного электрода и с помощью генератора электрических колебаний и коммутирующего устройства (не показаны) возбуждают поочередно колебани  основной и ангармонической моды,- Разность частот определ ют по показани м частотомера (не показан), и по полученному результату производ т оценку разнотолщинности кристаллического элемента 1. Использование изобретени  позвол ет усовершенствовать технологический процесс шлифовки и доводки кристаллических элементов путетл повыщени  точности выполнени  технологических операций -.-. тем уменьшить разброс динамических параметров изделий из пьезокерамики.
I JT
т

Claims (1)

  1. СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗНОТОЛЦИННОСТИ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ, заключающийся в том, что устанавливают между электродами исследуемый элемент, возбуждают в нем коле бания при двух различных конфигурациях электродов, при каждой из них измеряют значения резонансных частот первых гармоник, По разности которых определяют разиотолщинность кристаллического элемента, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, выполняют электроды составными, подключением элементов электродов получают различную их конфигурацию и возбуждают колебания последовательного резонанса на основной и ангармонической модах.
    фиг I
SU813305767A 1981-06-01 1981-06-01 Способ определени разнотолщинности кристаллических элементов SU1026009A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813305767A SU1026009A1 (ru) 1981-06-01 1981-06-01 Способ определени разнотолщинности кристаллических элементов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813305767A SU1026009A1 (ru) 1981-06-01 1981-06-01 Способ определени разнотолщинности кристаллических элементов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1026009A1 true SU1026009A1 (ru) 1983-06-30

Family

ID=20964789

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU813305767A SU1026009A1 (ru) 1981-06-01 1981-06-01 Способ определени разнотолщинности кристаллических элементов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1026009A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
I. Авторское свидетельство СССР 456351, кл. Н 03 Н 9/00, 1975 i (прототип). *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Mason et al. Methods for measuring piezoelectric, elastic, and dielectric coefficients of crystals and ceramics
Essen A new aether-drift experiment
US4199990A (en) Elastic surface wave accelerometer
RU2524743C2 (ru) Способ бездемонтажной поверки пьезоэлектрического вибропреобразователя на месте эксплуатации
SU1026009A1 (ru) Способ определени разнотолщинности кристаллических элементов
JPS62194720A (ja) 輪郭すべり水晶振動子
US3019636A (en) Ultrasonic inspection and measuring means
US2550528A (en) Supersonic inspection
CN116429281B (zh) 基于阵列结构的谐振器以及测温方法
SU1094133A1 (ru) Способ контрол качества поверхности пьезоэлектрических пластин
SU1161828A1 (ru) Устройство дл определени разбаланса ветвей камертона кварцевого резонатора
US5047726A (en) Method and apparatus for implementing four-frequency measuring process for coupled-dual resonator crystals using both resonator ports
SU913165A1 (en) Vibration viscometer
SU1262365A1 (ru) Способ виброакустического контрол изделий
US3732846A (en) Crystal plating monitoring system
RU2354949C2 (ru) Способ неразрушающего контроля качества железобетонных конструкций блочного типа
SU798185A1 (ru) Способ контрол процесса вибро-ОбРАбОТКи КОНСТРуКций и уСТРОйСТВОдл ЕгО ОСущЕСТВлЕНи
SU911320A1 (ru) Способ дефектоскопии пьезокерамических преобразователей
SU691690A1 (ru) Измерительное устройство на основе колебательной системы
SU1097917A1 (ru) Устройство дл измерени в зкоупругих свойств твердых тел
SU1368648A1 (ru) Устройство дл измерени массы
SU1362363A1 (ru) Устройство дл измерени контактной разности потенциалов
SU1415178A1 (ru) Способ вибрационного контрол конструкций
SU1265601A1 (ru) Способ контрол качества акустического контакта пьезопреобразовател при дефектоскопии изделий и устройство дл его осуществлени (его варианты)
Hartmann et al. Distortion of transverse mode symmetry in SAW transversely coupled resonators due to natural SPUDT effects