Изобретение относитс к неразрушающим методам испытаний материалов и изделий магнитным методом и м жет быть использовано дл контрол . качества,ферромагнитных изделий в машиностроительной и,металлургическ -промышленности. Известно устройство, содержащее корпус, установленный неподвижно в корпусе магнит, магниточувствительный элемент, установленный в цилинд рической полости кольцевого магнита и регистрируюи,ий прибор Ij, Однако это устройство имеет вены сокую чувствительность и достоверность контрол , обусловленную вли нйем колебани зазора на конечный результат контрол . Наиболее близким по технической сущности к изобретению вл етс маг нитный дефектоскоп, содержащий корпус,.магнит, цилиндрический электро магнит, магниточувствительный элемент и регистрирующую аппаратуру, Электромагнит броневого типа устано лен неподвижно, а в зазоре между электромагнитом и изделием установлен с возможностью вращени немагни ный диск. На диске установлена пр м угольна измерительна катушка, ось 1максимальной чувствительности которой совпадает с направлением магнитно го потока.2, Недостатком данного устройства л етс низка достоверность контрол 9к дефектам контролируемой поверхнос ти из-за чувствительности датчика к изменению зазора между датчиком и издели м. Кроме того, оно чувствительно к внешним магнитным пол м из за конструктивного исполнени датчи ка. Целью йзЬбретени вл етс повыше ние достоверности контрол . Поставленна цель достигаетс тем что в магнитном дефектоскопе, содержащем корпус, магнит, магниточувствительный элемент и регистрирующий блок, магнит выполнен кольцевым и ус тановлен в корпусе с возможностью вращени вокруг оси, магниточувствительный элемент закреплен на торце магнита и выполнен по схеме градиентомеров , ориентированных ос ми максимальной чувствительности по касательной к окружности с центром на оси магнита. Кроме того, рабочий торец кольцевого магнита вьшолнен в форме сферического по са. На фиг.1 изображен дефектоскоп дл контрол плоской поверхности} на фиг.2 - то же, вид сбоку; на фиг.2 - распределение магнитного пол дефекта в зазоре между магнитом и изделием; на фиг.4 - положение дат чика над шаровой поверхностью. Магнитный дефектоскоп содержит ко пус 1 датчика, кольцевой магнит 2, магниточувствительные элементы 3 и 4, выполненные по схеме градиентомеров , вал 5, регистрирующий блок 6. Кольцевой магнит 2 установлен на валу 5 с возможностью вращени относительно оси 7, а магниточувствительные элементы 3 и 4 установлены на рабочей поверхности 8 кольцевого магнита 2 и сориентированы ос ми 9 максимальной чувствительности по касательной к окружности с центром на. оси 7 кольцевого магнита 2, расположенного над изделием 10 плоской или шаровой формы, имеющим дефект 11 с полем 12 рассе ни . Магнитный дефектоскоп дл контрол плоских изделий работает следующим образом. Датчик дефектоскопа (фиг.1) устанавливают на контролируемую поверхность издели 10, привод т во вращение магнит 2 вокруг его оси 7 и перемещают датчик по поверхности контролируемого издели 10. При этом магнит 2j намагниченный вдоль, оси 7, намагничивает изделие в зоне расположени магниточувствительных .элементов 3 и 4 нормально контролируемой поверхности. Если при перемещении по изделию 10 датчика дефектоскопа S намагничиваемую зону попадает дефект 11-(фиг.2), то он образуе.т магпитное поле 12 рассе ни . Так как .магниточувствительньае элементы 3 и 4 . сориентированы ос ми 9 (фиг.1) максимальной чувствительности по касательной к окружности с центром на оси 7 кольцевого магнита 2, то при прохождении их над дефектом 11 на элементы 3 и 4 действует тангенциальна составл юща магнитного пол 12 рассе ни , в результате чего на выходе элементов 3 и 4 по вл етс ЭДС, котора регистрируетс блоком 6. Кроме того, благодар такой ориентации магниточувствительных элементов 3 и 4 производитс отсройка от вли ни зазора между датчиком и изделием. Изменение зазора сопровождаетс изменением магнитного пол в зазоре. Однако все изменени происход т в рамках той симметрии, которую имеет магнитное поле кольцевого магнита, а силовые линии этого пол перпендикул рны направлению оси 7 максимальной чувствительности магниточувствительных элементов 3 и 4, Соединение элементов 3 и 4 по схеме градиентомера способствует повышению отношени сигнала от дефекта помеха , т.е. повышению селективности устройства к дефектам. Магнитный дефектоскоп дл контрол шаровой поверхности (фиг.З) работает следующим образом. Датчик дефектоскопа устанавливают на шаровую поверхность 10, привод т во вращение магнит 2 вокруг его оси 7, чем осуществл етс сканироваThe invention relates to non-destructive testing of materials and products by a magnetic method and can be used for control. quality, ferromagnetic products in the engineering and metallurgy industries. A device is known that comprises a housing fixed magnetically in a housing, a magnetically sensitive element mounted in a cylindrical cavity of a ring magnet and registering an Ij device. However, this device has high sensitivity and accuracy of control due to the influence of the gap oscillations on the final result of the control. The closest to the technical essence of the invention is a magnetic flaw detector, comprising a housing, a magnet, a cylindrical electromagnet, a magnetically sensitive element and recording equipment. The armor-type electromagnet is fixed, and in the gap between the electromagnet and the product the nonmagnetic disk is mounted with the possibility of rotation. . The disk is equipped with a right-angle measuring coil, the 1-axis maximum sensitivity of which coincides with the direction of the magnetic flux. 2. The disadvantage of this device is the low reliability of the control 9 to the defects of the monitored surface due to the sensitivity of the sensor to the change in the gap between the sensor and the products. Moreover, it is sensitive to external magnetic fields due to the design of the sensor. The purpose of the resolution is to increase the reliability of the control. The goal is achieved by the fact that in a magnetic flaw detector containing a housing, a magnet, a magnetically sensitive element and a registering unit, the magnet is annular and mounted in the housing so that it can rotate around the axis, the magnetically sensitive element is fixed on the magnet end face and is designed according to the axis of maximum sensitivity tangential to a circle centered on the magnet axis. In addition, the working end of the ring magnet is implemented in the form of a spherical shell. FIG. 1 shows a flaw detector for monitoring a flat surface} in FIG. 2 - the same side view; figure 2 - distribution of the magnetic field of the defect in the gap between the magnet and the product; Fig. 4 shows the position of the sensor above the ball surface. The magnetic flaw detector contains a sensor gauge 1, an annular magnet 2, magnetically sensitive elements 3 and 4, made according to the gradient gauge scheme, a shaft 5, a recording unit 6. An annular magnet 2 is mounted on the shaft 5 rotatably about axis 7, and the magnetosensitive elements 3 and 4 mounted on the working surface 8 of the ring magnet 2 and oriented with the axes 9 of maximum sensitivity tangentially to a circle centered on. an axis 7 of an annular magnet 2 located above a flat or spherical product 10 having a defect 11 with a scattering field 12. Magnetic flaw detector for monitoring flat products works as follows. The flaw detector sensor (Fig. 1) is mounted on the controlled surface of the product 10, the magnet 2 is rotated around its axis 7, and the sensor is moved along the surface of the tested product 10. At the same time, the magnet 2j magnetized along axis 7 magnetizes the product in the area of magnetically sensitive. elements 3 and 4 normally controlled surface. If a defect 11- (figure 2) enters the magnetized zone when moving around the flaw detector sensor product 10, it will form a magnetic field 12 of the scattering. Since. Magnetosensitive elements 3 and 4. axis 9 (figure 1) of maximum sensitivity is tangential to a circle centered on axis 7 of ring magnet 2, then as they pass over defect 11, elements 3 and 4 are affected by the tangential component of magnetic field 12 scattered, resulting in The output of elements 3 and 4 is the EMF, which is recorded by block 6. In addition, due to this orientation of the magnetically sensitive elements 3 and 4, cut-off is made from the influence of the gap between the sensor and the product. A change in the gap is accompanied by a change in the magnetic field in the gap. However, all changes occur within the framework of the symmetry that the magnetic field of the ring magnet has, and the lines of force of this field are perpendicular to the direction of the axis 7 of the maximum sensitivity of the magnetically sensitive elements 3 and 4. The combination of elements 3 and 4 according to the gradient meter contributes to an increase in the signal ratio from the interference noise i.e. increase the selectivity of the device to defects. Magnetic flaw detector to control the spherical surface (fig.Z) works as follows. The flaw detector's sensor is mounted on the spherical surface 10, the magnet 2 is rotated around its axis 7, which is scanned