SU101190A1 - Method for measuring the amplitude modulation depth ratio - Google Patents

Method for measuring the amplitude modulation depth ratio

Info

Publication number
SU101190A1
SU101190A1 SU450374A SU450374A SU101190A1 SU 101190 A1 SU101190 A1 SU 101190A1 SU 450374 A SU450374 A SU 450374A SU 450374 A SU450374 A SU 450374A SU 101190 A1 SU101190 A1 SU 101190A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
measuring
amplitude
modulated
amplitude modulation
modulation depth
Prior art date
Application number
SU450374A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
М.И. Трач
Original Assignee
М.И. Трач
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by М.И. Трач filed Critical М.И. Трач
Priority to SU450374A priority Critical patent/SU101190A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU101190A1 publication Critical patent/SU101190A1/en

Links

Landscapes

  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Description

При измерени х глубины амплитудной модул ции передатчиков часто пользуютс  электронно-лучевым осциллографом и линейным детектором . При слабых колебани х и, тем более, с повышением частоты несу щей применение этого метода становитс  затруднительным, так как сказываетс  инерционность перемещени  луча. На частотах пор дка 500-1000 мггц и выше на простых осциллографах уже нельз  наблюдать кривую высокочастотного моду .шровапного колебани , нельз  измер ть коэффициент глубинь модул ции . Дл  того чтобы наблюдать модулированное колебание сверхвысокой частоты, необходимо иметь специальный высорюскоростной осциллограф , позвол ющий развернуть кривую напр жени  несущей.When measuring the depth of amplitude modulation, transmitters often use an electron-beam oscilloscope and a linear detector. With weak oscillations and, especially, with an increase in the frequency of the carrier, the application of this method becomes difficult, because of the inertia of the beam movement. At frequencies of the order of 500-1000 MHz and higher, on simple oscilloscopes it is already impossible to observe the curve of the high-frequency mode of the wobble oscillation, it is impossible to measure the depth-of-modulation factor. In order to observe the modulated oscillation of an ultra-high frequency, it is necessary to have a special high-speed oscilloscope that allows the carrier voltage curve to be developed.

Предлагаемый способ измерени  коэффициента глубины модул ции имеет целью обеспечить повышение точности измерени  и тем самы.м возможность применени  обычней аппаратуры дл  осуществлени  измерени  на сверхвысокочастотпом диапазоне .The proposed method of measuring the modulation depth coefficient is intended to provide an increase in the measurement accuracy and, thus, the possibility of using the most common apparatus for measuring at the microwave range.

Поставленна  задача решаетс  путем дополнительной импульсной моДУЛЯН ..ИИ модулированных по амплитуде синусоидальным напр жением колебаний сверхвысокой частоты и использовани  дл  измерени  получившихс  амплитудно-модулированных импульсных сигналов после детектировани  и усилени  по низкой частоте.The problem is solved by additional pulsed modulation of amplitude-modulated sinusoidal voltage of ultra-high frequency oscillations and using to measure the resulting amplitude-modulated pulse signals after detection and amplification of low frequency.

На фиг. I показана блок-схема устройства, предназначенного дл  осуществлени  предлагаемого способа; на фиг. 2 - представлены формы напр жени  в отдельных узлах этого устройства.FIG. I shows a block diagram of a device for implementing the inventive method; in fig. 2 shows the voltage forms in the individual nodes of this device.

Синусоидальное напр жение, снимаемое с модул тора / (фиг. 1), модулирует по амплитуде колебани  генератора 2 сверхвысокой частоты. На фиг. 2 буквой А показано модулирующее напр жение (в точке а блок-схемы) и буквой Б -- модулированное напр жение ( в точке б блоксхемы ) .The sinusoidal voltage taken from the modulator / (Fig. 1) modulates, in amplitude, the oscillations of the ultra high frequency oscillator 2. FIG. 2, the letter A shows the modulating voltage (at point a of the block diagram) and the letter B - the modulated voltage (at point b of the block circuit).

Модулированные по амнлитуде колебани  дополнительно модулируютс  импульсами с помощью импульсного модзл тора 3, воздеГютвующего на генератор .2, или с помощью высокочастотного прерывател  , расположенного в схеме после генератора . Модул ци  импульсами осуществл тьс  любым способом , но так; чтобы при этом амплнтуда несущей не измен лась.The amplitude-modulated oscillations are additionally modulated by pulses using a pulse modulator 3, which is raised to the generator .2, or by using a high-frequency chopper located in the circuit after the generator. Pulse modulation is carried out in any way, but so; so that the amplitude of the carrier does not change.

Высокочастотное импульсное напр жение , амплитуда которого измен етс  по закону модулирующего напр жени , подаетс  на линейный детектор 4, после которого получаютс  видеоимпульсы, амплитуда которых промодулирована синусоидой.A high-frequency impulse voltage, the amplitude of which varies according to the law of modulating voltage, is applied to a linear detector 4, after which video pulses are obtained, the amplitude of which is modulated by a sinusoidal wave.

На фиг. 2 буквой В показано импульсное напр жение (в точке с, блок-схемы) и буквой Г - видеоимпульсы (в точке г).FIG. 2, the letter B shows the pulse voltage (at point c, block diagrams) and the letter G — video pulses (at point d).

Модулированный видеосигна., снимаемый с линейного детектора 4, пропорционален высокочастотному модулированному сигналу, и поэтом} по соотношению амплитуд несущей и огибающей видеосигнала можно судить о коэффициенте глубины модул ции высокочастотного модулированного сигнала.The modulated video signal taken from the linear detector 4 is proportional to the high-frequency modulated signal, and by the poet} by the ratio of the amplitudes of the carrier and the envelope of the video signal, you can judge the modulation depth of the high-frequency modulated signal.

С детектора 4 сигнал подаетс  на широкополосный импульсный усилитель 5, на вы.ход которого включенFrom detector 4, the signal is fed to a broadband pulse amplifier 5, the output of which is included

осциллограф 6 или другой прибор (например, пиковый вольтметр), по которому можно определить коэффициент модул ции.an oscilloscope 6 or another device (for example, a peak voltmeter) that can be used to determine the modulation coefficient.

На фиг. 2 буквой Д показана крива  напр жени  на экране осциллографа , позвол юща  определить коэффициент глубины модул ции т из отношени FIG. 2, the letter D shows the voltage curve on the oscilloscope screen, allowing to determine the modulation depth coefficient m from the ratio

- мин  - min

-макс 4- UKUH-max 4- UKUH

Предмет изобретени Subject invention

Способ измерени  коэффициента глубины амплитудной модул ции колебаний сверхвысокой частоты, о тл и ч а ю щ и и с   тем, что, с целью повышени  точности измерени , колебани , модулированные по амплитуде , подвергают дополнительной импульсной модул ции и получивщиес  амплитудно-модулированные импульсные сигналы после детектировани  и усилени  по низкой частоте используют дл  измерени .A method for measuring the depth coefficient of amplitude modulation of ultra-high frequency oscillations, about 1 or 2 so that, in order to improve the measurement accuracy, amplitude-modulated oscillations subject to additional pulse modulation and the resulting amplitude-modulated pulse signals after low frequency detection and amplification is used for measurement.

SU450374A 1953-10-03 1953-10-03 Method for measuring the amplitude modulation depth ratio SU101190A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU450374A SU101190A1 (en) 1953-10-03 1953-10-03 Method for measuring the amplitude modulation depth ratio

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU450374A SU101190A1 (en) 1953-10-03 1953-10-03 Method for measuring the amplitude modulation depth ratio

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU101190A1 true SU101190A1 (en) 1954-11-30

Family

ID=48375079

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU450374A SU101190A1 (en) 1953-10-03 1953-10-03 Method for measuring the amplitude modulation depth ratio

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU101190A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU101190A1 (en) Method for measuring the amplitude modulation depth ratio
US3071726A (en) Frequency modulation measurment method and apparatus
US2588376A (en) Frequency response analysis
US3334305A (en) Phase-locked signal sampling circuit
JPH0547212B2 (en)
US2666899A (en) Electronic frequency vernier
US3515981A (en) Super-regenerative resonance spectrometers
US3061778A (en) Device for measuring the q-factor of resonant cavities
SU817610A1 (en) Device for measuring resistor non-linearity
SU654931A1 (en) Device for measuring group delay time
SU177942A1 (en) DEVICE FOR MEASURING SMALL VSWR HIGH FREQUENCY TRACTS
SU424083A1 (en) RADIO IMPULSE MEASUREMENT OF FREQUENCY QUARTZ PLATES
SU549689A1 (en) Ultrasound Testing Device
SU437024A1 (en) Device for measuring phase pulsations of amplifiers
SU789793A1 (en) Peak voltmeter
SU798656A1 (en) Pulse wattmeter tester
SU377715A1 (en) METHOD FOR DETERMINING AMPLITUDE-FREQUENCY CHARACTERISTICS OF LIGHT MODULATORS
SU715941A1 (en) Device for contact-free determining of vibration parameters
SU875294A2 (en) Device for measuring frequency deviation rate
SU362308A1 (en) & IVLIOTEKA
SU788049A1 (en) Impedance method of testing materials and articles
SU158629A1 (en)
SU173810A1 (en) DEVICE FOR MEASURING THE MEASURES OF MICROWAVE RESONATORS
SU1642260A1 (en) Device for measuring vibration parameters
SU401934A1 (en) DEVICE FOR PANORAMIC MEASUREMENTS OF THE TIGHTNESS OF DISPERSION CHARACTERISTICS