SU1002824A2 - Устройство дл измерени динамических деформаций - Google Patents

Устройство дл измерени динамических деформаций Download PDF

Info

Publication number
SU1002824A2
SU1002824A2 SU813258822A SU3258822A SU1002824A2 SU 1002824 A2 SU1002824 A2 SU 1002824A2 SU 813258822 A SU813258822 A SU 813258822A SU 3258822 A SU3258822 A SU 3258822A SU 1002824 A2 SU1002824 A2 SU 1002824A2
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
amplifier
measuring dynamic
measuring
transistor
dynamic deformations
Prior art date
Application number
SU813258822A
Other languages
English (en)
Inventor
Валерий Николаевич Покрышкин
Анатолий Андреевич Борисенко
Original Assignee
Pokryshkin Valerij N
Borisenko Anatolij A
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Pokryshkin Valerij N, Borisenko Anatolij A filed Critical Pokryshkin Valerij N
Priority to SU813258822A priority Critical patent/SU1002824A2/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1002824A2 publication Critical patent/SU1002824A2/ru

Links

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Description

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХ
1
Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  измерени  динамических деформаций.
По основному авт. св. № 96859 -известно устройство дл  измерени  динамических .деформаций содержащее измерительные каналы, каждый которых выполнен в виде последовательно соединенных источников тока , подключенных к источнику питани  буферного резистора и усилител , а также генератор градуировочного напр жени , переключатель и разделительный трансформатор. Каждый из источников тока содержит операционный усилитель, выход которого св зан с входом эмиттерного повторител  выполненного на бипол рном транзисторе и транзисторе, включенном в эмиттерную цепь транзистора. Выход эмиттерного повторител  соединен с инвертирующим входом усилитеДЕФОРМАЦИЙ
ЛЯ. Неинвертирующие входы усилителей св заны через вторичную обмотку разделительного трансформатора с одной из клемм общего дл  источников тока опорного элемента, друга  клемма опорного элемента соединена с общей шиной устройства, а первична  обмотка разделительного трансформатора через переключатель соединена с генератором градуировочного
10 напр жени . Ток питани  тензорезистора устанавливаетс  выбором посто м-. ного напр жени  опорного элемента. Каждый источник тока снабжен добавочным транзистором, токозадающим ре15 зистором и цепью смещени , образованной полупроводниковым стабили-т роном , подключенным к источнику питани  и балластным резистором, подклю20 ченным к общей шине , и соединенными между собой и базой добавочного транзистора , эмиттер которого соединен через токозадающий резистор с источНИКОМ питани , а коллектор с тензор зистором. При этом добавочный тран зистор имеет структуру, обратную структуре основного транзистора l Недостатком известного устройств  вл етс  нестабильность измерений и за невозможности настройки режима работы источников тока, применени  регулируемых элементов. Цель изобретени  - обеспечение стабильности измерений. Цель достигаетс  тем, что устрой ство дл  измерени  динамических деформаций снабжено дополнительным операционным усилителем, инвертирую щий вход которого подключаетс  к цепи смещени , а выход соединен с базой добавочного транзистора, и фильтром нижних частот, состо щим и подключенного к общей шине конден сатора и резистора, соединенного с последним и неинвертирующим входом дополнительного операционного усилител , а также с входом усилител  каждого измерительного канала. На чертеже представлена схема устройства. Устройство содержит генератор 1 градуировочного напр жени , переключатель 2, разделительный трансформатор 3 и измерительные каналы, каждый из которых содержит последо вательно соединенные буферный резис тор 4, усилитель 5, и источник 6 тока. Каждый из источников 6 тока содержит операционный усилитель 7, св занный с его выходом базой, и включ ный по схеме с общим эмиттером основной транзистор 8, включенный в его эмиттерную цепь тензорезистора 9, эмиттер которого св зан с инвертирующим входом усилител  7, и подключенный к нему через коллектор добавочный транзистор 10, эмиттер которого соединен через токозад ющий резистор 11 с источником пита ни  (на чертеже не показан). Кроме того, источник 6 тока содержит дополнительный операционный усилитель 12 и фильтр нижних частот состо щий из резистора 13, подключенного к входу усилител  5, и конденсатора 14, подключенного к общей шине устройства, которые соединены между собой и неинвертирующим вхо дом дополнительного операц юнного усилител  12. Инвертирующий вход уси лител  12 подключен к цепи смещени  в точке соединени  образующих ее полупроводникового стабилитрона 15, подключенного к общей шине устройства , и балластного резистора 1б, подключенного к источнику питани , а выход усилител  12 соединен с базой добавочного транзистора 10, Инвертирующие входы усилителей 7 источников 6 тока св заны через вторичную обмотку разделительного трансформатора 3 с одной из клемм общего опорного элемента 17,друга  клемма которого соединена с общей шиной устройства, а первична  обмотка разделительного трансформатора 3 через переключатель 2 соединена с генератором 1 градуировочного напр жени . Устройство работает следующим образом. Перед измерени ми проводитс  градуировка всех измерительных каналов . Дл  этого градуировочное напр жение Uf от генератора 1 градуировочного напр жени  подаетс  через переключатель 2 и разделительный трансформатор 3 на неинвертирующие входы операционных усилителей 7 источников 6 тока. В результате на выходе усилител  5 по вл етс  переменное напр жение , После проведени  градуировки генератор 1 градуировочного напр жени  с помощью переключател  2 отключаетс  и начинаетс  рабочий процесс измерени  динамических деформаций. При этом на в«ходе усилител  5 по вл етс  сигнал иамерительной информации Ugjj. Необходимое значение градуировочнсго напр жени  U. , которое устанавливаетс  при градуировке на выходе генератора 1, рассчитываетс  по известным соотношени м f определ етс  дл  данного устройства уменьшение разме- ; ра чувствительности с учетом изменени  сопротивлени  тензорезисторов mavТаким образом, данное устр(5йство дл  измерени  динамических деформаций по сравнению с известным облада-. ет при прочих равных услови х более высокой (почти в 2Ц раза большей) равной максимальной на нижней и в 1,2 раза меньшей на верхней границе диапазона изменени  сопротивлени  тензорезисторов - чувствительностью измерительных каналов, что
позвол ет обеспечить стабильность измерений .

Claims (1)

1. Авторское свидетельство СССР NT 96859, кл. G 01 В 7/16, 1981.
Гл.
п
SU813258822A 1981-03-11 1981-03-11 Устройство дл измерени динамических деформаций SU1002824A2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813258822A SU1002824A2 (ru) 1981-03-11 1981-03-11 Устройство дл измерени динамических деформаций

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813258822A SU1002824A2 (ru) 1981-03-11 1981-03-11 Устройство дл измерени динамических деформаций

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU968594 Addition

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1002824A2 true SU1002824A2 (ru) 1983-03-07

Family

ID=20947075

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU813258822A SU1002824A2 (ru) 1981-03-11 1981-03-11 Устройство дл измерени динамических деформаций

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1002824A2 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0227716B2 (ru)
SU1002824A2 (ru) Устройство дл измерени динамических деформаций
US3378765A (en) Device for the direct measurement of capacitance
US3416076A (en) Voltage regulating means for impedance bridge measuring circuits
SU968594A2 (ru) Устройство дл измерени динамических деформаций
US3331020A (en) Moisture detecting apparatus including a bias control for separately controlling the bias applied to the bases of at least one transistor relative to another
SU151723A1 (ru) Широкодиапазонный универсальный прибор посто нного тока
SU1226344A1 (ru) Регулируема электронна нагрузка
SU1381327A1 (ru) Тензопреобразователь
SU1734027A1 (ru) Устройство дл измерени напр жени
SU136465A1 (ru) Способ измерени сопротивлений
SU699680A1 (ru) Устройство дл индицировани временных интервалов
SU447619A1 (ru) Способ измерени малых напр жений посто нного тока
SU855514A1 (ru) Среднеквадратичный детектор
SU1402953A1 (ru) Измеритель нестабильности напр жени переменного тока
SU577627A1 (ru) Транзисторный инвертор
SU1161897A2 (ru) Устройство дл пол ризационных измерений
SU619784A1 (ru) Устройство дл измерени динамических деформаций
SU742807A1 (ru) Масштабный измерительный преобразователь
SU1596429A1 (ru) Детектор амплитудно-модулированных сигналов
US2478174A (en) High impedance vacuum tube voltmeter
SU1007035A1 (ru) Уравновешенный измерительный мост посто нного тока
SU150552A1 (ru) Способ измерени крутизны преобразовани электронных ламп
SU645102A1 (ru) Устройство дл измерени коэффициента усилени по току транзисторов
SU712813A1 (ru) Устройство дл индицировани временных интервалов