SU1002824A2 - Устройство дл измерени динамических деформаций - Google Patents
Устройство дл измерени динамических деформаций Download PDFInfo
- Publication number
- SU1002824A2 SU1002824A2 SU813258822A SU3258822A SU1002824A2 SU 1002824 A2 SU1002824 A2 SU 1002824A2 SU 813258822 A SU813258822 A SU 813258822A SU 3258822 A SU3258822 A SU 3258822A SU 1002824 A2 SU1002824 A2 SU 1002824A2
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- amplifier
- measuring dynamic
- measuring
- transistor
- dynamic deformations
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХ
1
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл измерени динамических деформаций.
По основному авт. св. № 96859 -известно устройство дл измерени динамических .деформаций содержащее измерительные каналы, каждый которых выполнен в виде последовательно соединенных источников тока , подключенных к источнику питани буферного резистора и усилител , а также генератор градуировочного напр жени , переключатель и разделительный трансформатор. Каждый из источников тока содержит операционный усилитель, выход которого св зан с входом эмиттерного повторител выполненного на бипол рном транзисторе и транзисторе, включенном в эмиттерную цепь транзистора. Выход эмиттерного повторител соединен с инвертирующим входом усилитеДЕФОРМАЦИЙ
ЛЯ. Неинвертирующие входы усилителей св заны через вторичную обмотку разделительного трансформатора с одной из клемм общего дл источников тока опорного элемента, друга клемма опорного элемента соединена с общей шиной устройства, а первична обмотка разделительного трансформатора через переключатель соединена с генератором градуировочного
10 напр жени . Ток питани тензорезистора устанавливаетс выбором посто м-. ного напр жени опорного элемента. Каждый источник тока снабжен добавочным транзистором, токозадающим ре15 зистором и цепью смещени , образованной полупроводниковым стабили-т роном , подключенным к источнику питани и балластным резистором, подклю20 ченным к общей шине , и соединенными между собой и базой добавочного транзистора , эмиттер которого соединен через токозадающий резистор с источНИКОМ питани , а коллектор с тензор зистором. При этом добавочный тран зистор имеет структуру, обратную структуре основного транзистора l Недостатком известного устройств вл етс нестабильность измерений и за невозможности настройки режима работы источников тока, применени регулируемых элементов. Цель изобретени - обеспечение стабильности измерений. Цель достигаетс тем, что устрой ство дл измерени динамических деформаций снабжено дополнительным операционным усилителем, инвертирую щий вход которого подключаетс к цепи смещени , а выход соединен с базой добавочного транзистора, и фильтром нижних частот, состо щим и подключенного к общей шине конден сатора и резистора, соединенного с последним и неинвертирующим входом дополнительного операционного усилител , а также с входом усилител каждого измерительного канала. На чертеже представлена схема устройства. Устройство содержит генератор 1 градуировочного напр жени , переключатель 2, разделительный трансформатор 3 и измерительные каналы, каждый из которых содержит последо вательно соединенные буферный резис тор 4, усилитель 5, и источник 6 тока. Каждый из источников 6 тока содержит операционный усилитель 7, св занный с его выходом базой, и включ ный по схеме с общим эмиттером основной транзистор 8, включенный в его эмиттерную цепь тензорезистора 9, эмиттер которого св зан с инвертирующим входом усилител 7, и подключенный к нему через коллектор добавочный транзистор 10, эмиттер которого соединен через токозад ющий резистор 11 с источником пита ни (на чертеже не показан). Кроме того, источник 6 тока содержит дополнительный операционный усилитель 12 и фильтр нижних частот состо щий из резистора 13, подключенного к входу усилител 5, и конденсатора 14, подключенного к общей шине устройства, которые соединены между собой и неинвертирующим вхо дом дополнительного операц юнного усилител 12. Инвертирующий вход уси лител 12 подключен к цепи смещени в точке соединени образующих ее полупроводникового стабилитрона 15, подключенного к общей шине устройства , и балластного резистора 1б, подключенного к источнику питани , а выход усилител 12 соединен с базой добавочного транзистора 10, Инвертирующие входы усилителей 7 источников 6 тока св заны через вторичную обмотку разделительного трансформатора 3 с одной из клемм общего опорного элемента 17,друга клемма которого соединена с общей шиной устройства, а первична обмотка разделительного трансформатора 3 через переключатель 2 соединена с генератором 1 градуировочного напр жени . Устройство работает следующим образом. Перед измерени ми проводитс градуировка всех измерительных каналов . Дл этого градуировочное напр жение Uf от генератора 1 градуировочного напр жени подаетс через переключатель 2 и разделительный трансформатор 3 на неинвертирующие входы операционных усилителей 7 источников 6 тока. В результате на выходе усилител 5 по вл етс переменное напр жение , После проведени градуировки генератор 1 градуировочного напр жени с помощью переключател 2 отключаетс и начинаетс рабочий процесс измерени динамических деформаций. При этом на в«ходе усилител 5 по вл етс сигнал иамерительной информации Ugjj. Необходимое значение градуировочнсго напр жени U. , которое устанавливаетс при градуировке на выходе генератора 1, рассчитываетс по известным соотношени м f определ етс дл данного устройства уменьшение разме- ; ра чувствительности с учетом изменени сопротивлени тензорезисторов mavТаким образом, данное устр(5йство дл измерени динамических деформаций по сравнению с известным облада-. ет при прочих равных услови х более высокой (почти в 2Ц раза большей) равной максимальной на нижней и в 1,2 раза меньшей на верхней границе диапазона изменени сопротивлени тензорезисторов - чувствительностью измерительных каналов, что
позвол ет обеспечить стабильность измерений .
Claims (1)
1. Авторское свидетельство СССР NT 96859, кл. G 01 В 7/16, 1981.
Гл.
п
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU813258822A SU1002824A2 (ru) | 1981-03-11 | 1981-03-11 | Устройство дл измерени динамических деформаций |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU813258822A SU1002824A2 (ru) | 1981-03-11 | 1981-03-11 | Устройство дл измерени динамических деформаций |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU968594 Addition |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1002824A2 true SU1002824A2 (ru) | 1983-03-07 |
Family
ID=20947075
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU813258822A SU1002824A2 (ru) | 1981-03-11 | 1981-03-11 | Устройство дл измерени динамических деформаций |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1002824A2 (ru) |
-
1981
- 1981-03-11 SU SU813258822A patent/SU1002824A2/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0227716B2 (ru) | ||
SU1002824A2 (ru) | Устройство дл измерени динамических деформаций | |
US3378765A (en) | Device for the direct measurement of capacitance | |
US3416076A (en) | Voltage regulating means for impedance bridge measuring circuits | |
SU968594A2 (ru) | Устройство дл измерени динамических деформаций | |
US3331020A (en) | Moisture detecting apparatus including a bias control for separately controlling the bias applied to the bases of at least one transistor relative to another | |
SU151723A1 (ru) | Широкодиапазонный универсальный прибор посто нного тока | |
SU1226344A1 (ru) | Регулируема электронна нагрузка | |
SU1381327A1 (ru) | Тензопреобразователь | |
SU1734027A1 (ru) | Устройство дл измерени напр жени | |
SU136465A1 (ru) | Способ измерени сопротивлений | |
SU699680A1 (ru) | Устройство дл индицировани временных интервалов | |
SU447619A1 (ru) | Способ измерени малых напр жений посто нного тока | |
SU855514A1 (ru) | Среднеквадратичный детектор | |
SU1402953A1 (ru) | Измеритель нестабильности напр жени переменного тока | |
SU577627A1 (ru) | Транзисторный инвертор | |
SU1161897A2 (ru) | Устройство дл пол ризационных измерений | |
SU619784A1 (ru) | Устройство дл измерени динамических деформаций | |
SU742807A1 (ru) | Масштабный измерительный преобразователь | |
SU1596429A1 (ru) | Детектор амплитудно-модулированных сигналов | |
US2478174A (en) | High impedance vacuum tube voltmeter | |
SU1007035A1 (ru) | Уравновешенный измерительный мост посто нного тока | |
SU150552A1 (ru) | Способ измерени крутизны преобразовани электронных ламп | |
SU645102A1 (ru) | Устройство дл измерени коэффициента усилени по току транзисторов | |
SU712813A1 (ru) | Устройство дл индицировани временных интервалов |