SE525320C2 - Method and apparatus for assessing / measuring surface weight variation of sheet material - Google Patents

Method and apparatus for assessing / measuring surface weight variation of sheet material

Info

Publication number
SE525320C2
SE525320C2 SE0301643A SE0301643A SE525320C2 SE 525320 C2 SE525320 C2 SE 525320C2 SE 0301643 A SE0301643 A SE 0301643A SE 0301643 A SE0301643 A SE 0301643A SE 525320 C2 SE525320 C2 SE 525320C2
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
sheet material
basis weight
substrate
electron source
electron
Prior art date
Application number
SE0301643A
Other languages
Swedish (sv)
Other versions
SE0301643L (en
SE0301643D0 (en
Inventor
Jan-Erik Haegglund
Original Assignee
More Res Oernskoeldsvik Ab
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by More Res Oernskoeldsvik Ab filed Critical More Res Oernskoeldsvik Ab
Priority to SE0301643A priority Critical patent/SE525320C2/en
Publication of SE0301643D0 publication Critical patent/SE0301643D0/en
Priority to PCT/SE2004/000875 priority patent/WO2004109242A1/en
Publication of SE0301643L publication Critical patent/SE0301643L/en
Publication of SE525320C2 publication Critical patent/SE525320C2/en

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01G—WEIGHING
    • G01G17/00—Apparatus for or methods of weighing material of special form or property
    • G01G17/02—Apparatus for or methods of weighing material of special form or property for weighing material of filamentary or sheet form
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/34—Paper
    • G01N33/346—Paper sheets
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N9/00—Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity
    • G01N9/24—Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity by observing the transmission of wave or particle radiation through the material

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

The invention relates to a method and apparatus for measuring grammage variations in sheet material, comprising that electrons from an electron source, with high energy, in the form of an electron beam of a certain width being caused to encounter an elongate section of the sheet material by means of traversing, said sheet material resting during the traversing in a certain position against a detector support surface, resulting in electrons being absorbed by the sheet material and the remaining electrons being transmitted and making imprints in the detector support surface, characterised in that between each traverse the sheet material and detector support surface are moved laterally different distances in relation to the electron source so that new elongate surface sections of both the sheet material and the detector support surface are encountered by electrons, in that imprints in the detector support surface are read along the elongate surface section and entered into a computer in which the elongate surface sections, these being at least two in number, are moved towards each other so that a coherent measuring surface is formed and in that each reading in the computer is reproduced with a numerical value which, combined, form a detailed map of the variations in grammage in the sheet material.

Description

anno: 10 15 20 25 30 benämnas papperets formation. En pappersmakare kan således på detta sätt göra en okulär besiktning av papperet och få en uppfattning om dess formation. Man har också utarbetat mätmetoder, som bygger på genomlysning av papperet. Dessa mätmetoder är relativt vanliga, men samtliga dessa är opålitliga, eftersom papperets optiska egenskaper varierar och påverkar mätningarna. anno: 10 15 20 25 30 is called the formation of the paper. A paper maker can thus in this way make an ocular inspection of the paper and get an idea of its formation. Measurement methods have also been developed, which are based on screening of the paper. These measurement methods are relatively common, but all of them are unreliable, as the optical properties of the paper vary and affect the measurements.

Såväl pappers- som kartongtillverkning har utvecklats med tiden ledande till alltmer sofistikerade produkter. Exempelvis kan själva pappersbanan förses med olika typer av fyllmedel. Som detta ord avslöjar finns dessa medel inne i själva papperet eller kartongen, d v s inne i pappers- eller kartongkroppen. Dessutom finns det ett stort antal ytbehandlingsmetoder, såsom exempelvis ytlimning och bestrykning. Den dominerande kemikalien ur mängdsynpunkt i dessa sammanhang och speciellt vid bestrykning kallas pigment. Fyllmedel och pigment överensstämmer ibland med varandra kemiskt.Both paper and board production have developed over time, leading to increasingly sophisticated products. For example, the paper web itself can be provided with different types of fillers. As this word reveals, these means are inside the paper or board itself, i.e. inside the body of the paper or board. In addition, there are a large number of surface treatment methods, such as surface gluing and coating. The predominant chemical from a quantity point of view in these contexts and especially in coating is called pigment. Fillers and pigments are sometimes chemically compatible.

Förekomsten av alla dessa kemikalier i papper och kartong bidrar till variationer i dessa materials optiska egenskaper oaktat materialets ytvikt.The presence of all these chemicals in paper and board contributes to variations in the optical properties of these materials regardless of the basis weight of the material.

Mot denna bakgrund har det vuxit fram mätmetoder för att bestämrna arkmaterials ytviktsvariationer eller formation, som baserar sig på elektronbestrålning (betastrålar) av arkrnaterialet. En stor fördel med den typen av mätmetod är att betastrålning icke låter sig påverkas av varierande optiska egenskaper hos arkmaterial, utan har direkt bäring på den vikt eller massa arkmaterialet uppvisar i dess olika delar, d v s ytviktsfördelningen.Against this background, measurement methods have emerged for determining sheet material variations or formation of sheet material, which are based on electron irradiation (beta rays) of the sheet material. A major advantage of this type of measurement method is that beta radiation cannot be affected by varying optical properties of sheet material, but has a direct bearing on the weight or mass of the sheet material in its various parts, i.e. the basis weight distribution.

En känd metod för att mäta, exempelvis pappers ytviktsfördelning och som har hög upplösning (vilket är positivt) benärrmes betaradio gram. Enligt denna metod användes en elektronkälla i form av en plastplatta, där en del vanliga kolatomer är utbytta mot betastrålande kol l4-atomer. Elektronavgivandet är jämnt över plattans yta. Analysen startar med att man sammanför denna platta med det arkmaterial, exempelvis papper, som skall analyseras och på motsatt sida av arket anslutes en elektronstrålekänslig film, som kan benärrmas fotofilm. Arkrnaterialets yta är mindre än de två lika stora ytorna hos kol 14-plattan och fotofilmen. Resterande yta upptas av ett antal plastfilmbitar med kända ytvikter, vilka utgör referenser. Man bildar således ett paket, som är uppbyggt på beskrivet sätt. Detta paket får vara intakt i exempelvis en timme innan detta uppdelas och det objekt som vid det tillfället, d v s vid uppdelningen, är av störst intresse är naturligtvis fotofilmen.A known method for measuring, for example, the basis weight distribution of paper and which has a high resolution (which is positive) is the beta-radiograph. According to this method, an electron source in the form of a plastic plate is used, where some ordinary carbon atoms are exchanged for beta-radiating carbon 14 atoms. The electron emission is even over the surface of the plate. The analysis starts by joining this plate with the sheet material, for example paper, to be analyzed and on the opposite side of the sheet an electron beam sensitive film is connected, which can be approached photo mlm. The surface of the sheet material is smaller than the two equal surfaces of the carbon 14 plate and the film. The remaining surface is occupied by a number of plastic strips with known basis weights, which constitute references. A package is thus formed, which is constructed in the manner described. This package must be intact for, for example, one hour before it is divided and the object which at that time, ie at the division, is of greatest interest is of course the photograph.

Av detta förstås också, att exponeringstiden är en timme. Eñer detta frarnkallas fotofilmen :anno 10 15 20 25 30 på traditionellt sätt och en bild av papperets ytviktsvariationer framträder i form av olika ljusa och mörka partier på filmen. Man brukar beskriva detta som olika svärtning av filmen. Även referenserna är avbildade på filmen. Medelst en scanner avläses fotofilmens yta med dess varierande svärtning och avläsningarna matas in i en dator. I datorn omvandlas svärtningen till ytvikt med hjälp av referenserna. Därigenom kan en karta över papperets ytviktsvariationer skapas. Denna karta eller dessa talvärden kan vidareíörädlas med olika matematiska metoder.This also means that the exposure time is one hour. After this, the photo is evoked: anno 10 15 20 25 30 in the traditional way and a picture of the paper's basis weight variations appears in the form of different light and dark parts on the image. This is usually described as different blackening of the elm. The references are also depicted on the film. Using a scanner, the surface of the photograph is read with its varying blackness and the readings are fed into a computer. In the computer, the blackening is converted to basis weight using the references. This allows a map of the paper's basis weight variations to be created. This map or these numerical values can be further refined using various mathematical methods.

En fördel med denna mätmetod är, som angivits ovan, att upplösningen är hög. Dock är metoden behäfiad med många nackdelar och tillkortakommanden.An advantage of this measurement method is, as stated above, that the resolution is high. However, the method is fraught with many disadvantages and shortcomings.

Exempelvis är metoden mycket tidskrävande och vidare måste man ha tillgång till mörkrum och frarnkallningsutrustning. Dessutom går det inte att studera ytviktsvariationema hos arkmaterial, exempelvis papper, som har en ytvikt överstigande 120 gram per kvadratmeter (g/mz).For example, the method is very time consuming and you must also have access to darkrooms and development equipment. In addition, it is not possible to study the basis weight variations of sheet materials, for example paper, which have a basis weight exceeding 120 grams per square meter (g / m 2).

Ovan beskriven metod har på senare tid utvecklats och förbättrats. Skillnaden består i, att man ersätter fotofilmen med en elektronstrålekänslig bildplatta. Även vid denna metod skapas ett paket på tidigare beskrivet sätt. Denna bildplatta är mycket känsligare för elektronbestrålning än vad som är fallet med fotofilmen och det leder till, att exponeringstiden minskas från cirka en timme ner till ett tidsintervall av femton till trettio minuter. Man har även framtagit en ny typ av avläsare, d v s scanner. Efier det att bildplattan avlästs med nämnda scanner hanteras avläsningarna på liknande sätt, som beskrivits ovan. Inscanningen är snabb och tar cirka tre minuter och en ytviktsvarationsbild skapas i datorn liksom vid den förstnämnda metoden. Denna senare metod har framtagits tör användning inom bland annat biomedicinområdet och beskriven bildplatta och scanner tillhandahålls av flera företag, exempelvis Fuji Film Ltd. Även om denna andra metod är mindre tidskrävande och enklare hanteringsmässigt än den förstnämnda metoden uppvisar den samma allvarliga nackdel vad gäller vilka arkmaterial man kan analysera, d v s det går ej att på ett framgångsrikt sätt analysera arkmaterial, exempelvis papper, med en ytvikt överstigande 120 g/mz. Detta orsakat av, att man använder en relativt svag elektronkälla, nämligen en plastplatta innehållande kol l4-atomer.The method described above has recently been developed and improved. The difference is that you replace the photo with an electron beam sensitive image plate. Even with this method, a package is created in the manner previously described. This image plate is much more sensitive to electron irradiation than is the case with the film and this reduces the exposure time from about one hour to a time interval of fifteen to thirty minutes. A new type of reader has also been developed, ie a scanner. If the image plate is read with said scanner, the readings are handled in a similar manner as described above. The scan is fast and takes about three minutes and a basis weight variation image is created in the computer as well as in the first-mentioned method. This latter method has been developed for use in the field of biomedicine, among other things, and the described image plate and scanner are provided by your companies, for example Fuji Film Ltd. Although this second method is less time consuming and easier to handle than the former method, it has the same serious disadvantage in terms of which sheet materials can be analyzed, ie it is not possible to successfully analyze sheet materials, for example paper, with a basis weight exceeding 120 g / mz. This is caused by the use of a relatively weak electron source, namely a plastic plate containing carbon 14 atoms.

För att kunna studera ytviktsvariationer hos arkmaterial, exempelvis papper, med ytvikter över 120 g/mz har man frarntagit en mätmetod där man använder oo ouuvun u sanna 10 15 20 25 30 prometium 147 som elektronkälla. Det är svårt och mycket dyrbart att framställa en platta som innehåller prometium 147-atomer så istället tar man en viss mängd av detta grundärnne, d v s en klump av lämplig storlek och inför den i ett hålrum i en hållare, exempelvis en cylinderfonnad sådan. Man låter elektronstrålningen komma ut som en kägla från en sida av hållaren. På ett visst avstånd från och under elektronkällan appliceras en mottagningsanordning, d v s en kropp med ett centralt, litet hål. Dessa två objekt kan uppbäras av en bygel, där elektronkällan finns fästad vid den övre bygelarmen och mottagningsanordningen på den undre, motstående bygelarmen. Nämnda hål löper igenom mottagningsanordningen och vid änden av hålet är en elektronisk detektor applicerad. Vid mätningen, som sker punktvis över arkmaterialet, låter man elektronstrålen träffa arkmaterialet och en del av elektronema i strålen tränger igenom detta och ett antal av dessa elektroner tränger in och ner i hålrurnmet och vidare ner i den elektroniska detektom, där ett avtryck skapas. Genom att endera flytta nämnda bygel eller arkmaterialet kan en ny mätning göras. Genom att göra många sådana, enskilda mätningar utöver arkmaterialets yta kan en ytviktsbild byggas upp.In order to be able to study basis weight variations of sheet material, for example paper, with basis weights above 120 g / m 2, a measurement method has been developed which uses true prometium 147 as the electron source. It is difficult and very expensive to produce a plate containing promethium 147 atoms, so instead one takes a certain amount of this basic substance, i.e. a lump of suitable size and inserts it into a cavity in a holder, for example a cylindrical one. The electron radiation is let out like a cone from one side of the holder. At a certain distance from and below the electron source, a receiving device is applied, i.e. a body with a central, small hole. These two objects can be supported by a jumper, where the electron source is attached to the upper jumper arm and the receiving device on the lower, opposite jumper arm. Said hole runs through the receiving device and at the end of the hole an electronic detector is applied. During the measurement, which takes place pointwise over the sheet material, the electron beam is allowed to hit the sheet material and some of the electrons in the beam penetrate this and a number of these electrons penetrate into and down the cavity tube and further down into the electronic detector, where an impression is created. By either surface of the said stirrup or the sheet material, a new measurement can be made. By making many such, individual measurements in addition to the surface of the sheet material, a basis weight image can be built up.

Denna tredje mätmetod uppvisar visserligen ovan beskriven fördel, d v s att även arkmaterial med en ytvikt överstigande 120 g/mz kan studeras och analyseras, men den är också behäftad med ett flertal nackdelar. En nackdel är att en stor del av elektronstrålningen inte användes för mätning utan går förlorad till tidigare beskrivet hålrums omgivning. Ju mindre diameter hålet och hålrumrnet har desto färre elektroner går igenom hålrummet och in i detektom. Eftersom hålets diameter bestämmer upplösningen så måste man använda sig av mycket långa exponeringstider om upplösningar bättre än 1 mm skall erhållas. Det betyder, att i praktiken är upplösningen hos denna mätmetod sämre än 1 mm. En annan nackdel är att mätningarna göres punktvis och därför är det icke möjligt att mäta utefter och därigenom täcka en sammanhängande delyta av arkmaterialet eller arkmaterialets hela yta. En tredje nackdel är avhängig av, att prometium 147 har en halveringstid på 4.5 år. Denna jämförelsevis korta halveringstid gör att man märker, att mängden elektroner som lämnar grundämnet per tidsenhet avklingar allteftersom. Då man enligt denna mätmetod icke använder sig av samtidig mätning av arkmaterialet och referenser måste hela mätmetoden med jämna tidsmellanrum kalibreras, vilket sker manuellt och är mycket tidsödande. :nano 10 15 20 25 30 Redogörelse fór uppfinningen Tekniskt problem Som framgår av det tidigare angivna finns det ett behov av en metod och en apparaturuppställriing för bedömning/mätning av ytviktsvariationer i arkmaterial med alltifrån låga till höga ytvikter, som är relativt snabb, rättvisande, tvådimensionell och har hög upplösning.Although this third measurement method has the advantage described above, i.e. that even sheet material with a basis weight exceeding 120 g / m 2 can be studied and analyzed, it also has a number of disadvantages. A disadvantage is that a large part of the electron radiation is not used for measurement but is lost to the previously described cavity environment. The smaller the diameter of the hole and the cavity, the fewer electrons pass through the cavity and into the detector. Since the diameter of the hole determines the resolution, very long exposure times must be used if resolutions better than 1 mm are to be obtained. This means that in practice the resolution of this measurement method is less than 1 mm. Another disadvantage is that the measurements are made point by point and therefore it is not possible to measure along and thereby cover a continuous part surface of the sheet material or the entire surface of the sheet material. A third disadvantage is that prometium 147 has a half-life of 4.5 years. This comparatively short half-life means that it is noticed that the amount of electrons leaving the element per unit time decreases as time goes on. Since, according to this measurement method, simultaneous measurement of the sheet material and references is not used, the entire measurement method must be calibrated at regular intervals, which is done manually and is very time-consuming. Description of the invention Technical problem As can be seen from the foregoing, there is a need for a method and apparatus set-up for assessing / measuring basis weight variations in sheet materials ranging from low to high basis weights, which is relatively fast, accurate. two-dimensional and has a high resolution.

Lösningen Detta behov tillmötesgås både vad gäller metoden och apparaturupp- ställningen av föreliggande uppfinning, som vad gäller den förstnämnda uppfinnings- kategorin avser ett förfarande för bedömning/mätning av ytviktsvariationer i arkmaterial innefattande att elektroner från en elektronkälla, som har en energi överstigande 150 keV, bringas att träffa en långsträckt delyta av arkmaterialet, vilket vilar i en bestämd position mot ett elektronstrålekänsligt detektorunderlag innehållande ett mycket stort antal sensorelement och att arkmaterialet och underlaget sarnmanpressas innan elektronstrålen med en bestämd bredd bringas att med konstant hastighet traversera över den långsträckta delytan av arkrnaterialet ledande till att en del av elektronerna absorberas av arkmaterialet och resterande elektroner tränger igenom arkmaterialet (transmission) och gör ett avtryck i varje sensorelement i kongruent yta av underlaget, kärmetecknat därav, att arkrnaterialet och underlaget mellan varje elektronbestrålning förflyttas såväl i förhållande till elektronkällan som i förhållande till varandra på ett kontrollerat och förutbestämt sätt, där den förstnämnda förflyttningen leder till att elektronstrålen vid varje traversering, som till antalet är minst två, träffar en icke exponerad yta av såväl arkmaterialet som underlaget och den senare närnnda förflyttningen göres så, att underlaget flyttas en längre sträcka ifrån elektronkällan i sidled än vad som är fallet med arkmaterialet och att avtrycket i varje sensorelement i underlaget avläses utefter den långsträckta delytan och införes i en dator i vilken de långsträckta delytoma, som är minst två till antalet, föres mot varandra så, att en sammanhängande större mätyta bildas, och att varje avläsning i datorn återges med ett talvärde, vilka talvärden bildar en detaljerad karta över elektrontransmissionen genom den uppmätta ytan av arkmaterialet och därigenom också bildar en detaljerad karta över ytviktsvarationerna. 10 15 20 25 30 v - -. ,-_ t - r r j . , »i _ _ n) s! ___. i Exempel på lämpliga elektronkällor, d v s sådana som har en energi överstigande 150 keV, är prometium 147 och krypton 85. Det förstnämnda ämnets energi är maximalt 200 keV och det efterföljande är maximalt 700 keV. Prometium 147 är i fast form och hur detta ämne hanteras som elektronkälla har beskrivits tidigare. Krypton 85 är en gas och kan inneslutas i ett rör, vars ena ände är av genomskinligt, tunt material. Denna ände riktas mot det arkmaterial, som skall analyseras.The solution This need is met both in terms of the method and the apparatus arrangement of the present invention, which in the case of the first-mentioned invention category relates to a method for assessing / measuring basis weight variations in sheet material comprising electrons from an electron source having an energy exceeding 150 keV. is caused to strike an elongate sub-surface of the sheet material, which rests in a fixed position against an electron beam sensitive detector substrate containing a very large number of sensor elements and that the sheet material and the substrate are compressed before the electron beam of a certain width is traversed over the elongate sub-surface of the sheet material. that a part of the electrons is absorbed by the sheet material and the remaining electrons penetrate the sheet material (transmission) and make an impression in each sensor element in the congruent surface of the substrate, characterized in that the sheet material and the substrate between each electron irradiation for fl is exerted both in relation to the electron source and in relation to each other in a controlled and predetermined manner, where the former for fl irradiation leads to the electron beam hitting an unexposed surface of both the sheet material and the substrate and the the latter för is made so that the substrate fl is extended a longer distance from the electron source laterally than is the case with the sheet material and that the imprint in each sensor element in the substrate is read along the elongate partial surface and inserted into a computer in which the elongated partial surfaces two in number, are brought against each other so that a continuous larger measuring surface is formed, and that each reading in the computer is reproduced with a numerical value, which numerical values form a detailed map of the electron transmission through the measured surface of the sheet material and thereby also form a detailed map of the basis weight variations . 10 15 20 25 30 v - -. , -_ t - r r j. , »I _ _ n) s! ___. Examples of suitable electron sources, i.e. those having an energy exceeding 150 keV, are promethium 147 and krypton 85. The energy of the former substance is a maximum of 200 keV and the subsequent one is a maximum of 700 keV. Prometium 147 is in solid form and how this substance is handled as an electron source has been described previously. Krypton 85 is a gas and can be enclosed in a tube, one end of which is made of transparent, thin material. This end is directed towards the sheet material to be analyzed.

Som frarngår av det tidigare angivna ger förfarandet enligt uppfinningen som resultat en detaljerad karta över ytviktsvariationerna hos den uppmätta ytan av arkmaterialet. Nämnda talvärden avseende elektrontransmissionen genom den uppmätta ytan av arkmaterialet kan överföras från datorn i bildfonn på ett papper. Talvärdena överföres till mycket små områden med färg från vitt till svart ledande till att de flesta områdena har olika schatteringar av grått. En sådan bild kan tjäna som underlag för studium, d v s en okulär bedömning av ytviktsvariationerna i exempelvis papper och kartong. En rutinerad pappersmakare kan genom okulär bedömning och jämförelse mellan olika bilder bilda sig en uppfattning om respektive papper eller kartong har en ytviktsvariation som är alltifrån bra till dålig. Detta beskriver en tillämpning av förfarandet enligt uppfinningen i dess enklaste och bredaste form.As a result of the foregoing, the method according to the invention results in a detailed map of the basis weight variations of the measured surface of the sheet material. Said numerical values regarding the electron transmission through the measured surface of the sheet material can be transmitted from the computer in image form on a paper. The numerical values are transferred to very small areas with color from white to black leading to the fact that most areas have different shades of gray. Such an image can serve as a basis for study, ie an ocular assessment of the basis weight variations in, for example, paper and cardboard. An experienced paper maker can, through ocular assessment and comparison between different images, form an opinion about whether each paper or cardboard has a basis weight variation that is from good to bad. This describes an application of the method according to the invention in its simplest and broadest form.

Enligt en mer sofistikerad utföringsform av förfarandet enligt uppfinningen så placeras på detektorunderlaget, jämte det arkrnaterial som skall analyseras, järnförelsematerial med varierande och kända ytvikter. Elektronstrålen bringas att traversera även över järnförelsematerialet ledande till avtryck i varje sensorelement i en långsträckt delyta av underlaget, vilka avtryck avläses och införes i datom och i denna tjänar som likare för de avlästa avtrycken för varje sensorelement i underlaget motsvarande de långsträckta exponerade delytorna i det arkmaterial som analyseras.According to a more sophisticated embodiment of the method according to the invention, iron transfer materials with varying and known basis weights are placed on the detector base, together with the sheet material to be analyzed. The electron beam is also traversed over the iron-bearing material leading to impressions in each sensor element in an elongate sub-surface of the substrate, which impressions are read and inserted into the computer and in this serve as equal to the read impressions for each sensor element in the substrate corresponding to the elongated exposed sub-surfaces in the sheet material. which is analyzed.

Om den kända ytvikten återges med dimensionen gram per m2 så återges ytvikten hos det arkmaterial som analyseras på samma sätt.If the known basis weight is reproduced with the dimension grams per m2, then the basis weight of the sheet material which is analyzed in the same way.

Den elektronstråle, som lämnar elektronkällan, bibringas en viss bredd medelst en avskärmning, vilken avskärrnning också orsakar att intensiteten hos avtrycken i sensorelementen i detektorunderlaget i den långsträckta delytans tvärsled varierar, med två kantpartier uppvisande låg, men från kanten och inåt räknat till en början svagt stigande och därefter krafligt stigande intensitet och ett centralt placerat parti med maximal »coon 10 15 20 25 30 'ÜÜÜ v._.d intensitet. De lângsträckta delytor, som föres mot varandra i datorn är i avsaknad av nänmda två kantpartier.The electron beam leaving the electron source is imparted to a certain width by means of a shield, which shielding also causes the intensity of the impressions in the sensor elements in the detector base in the transverse section of the elongate sub-surface to vary, with two edge portions having low, but from the edge and inwards initially weak rising and then sharply rising intensity and a centrally located portion with maximum »coon 10 15 20 25 30 'ÜÜÜ v ._. d intensity. The elongate sub-surfaces which are brought against each other in the computer are in the absence of said two edge portions.

Det är möjligt att använda flera olika typer av detektorunderlag, såsom en bildplatta eller en fotofilm eller en elektronisk detektor uppbyggd av CCD-sensorer, där CCD är en förkortning av ”Charge Coupled Device”. Det är föredraget att använda en bildplatta, som finns i olika skepnader. En sådan bildplatta är uppbyggd av tre lager och består underifrån räknat av ett bärande, något elastiskt material, ett skikt av kristaller i form av (BaF(Br,I):Eu2+), som täcks av ett tunt, inert skyddsskikt. Dessa bildplattor användes i mätning efter mätning. Efter det att en sådan bildplatta använts i en mätningsomgång så regenereras den genom att den utsätts för starkt ljus. Denna behandlingstid uppgår till några minuter. Det finns speciella apparater, vari detta utförs. Vad gäller fotofihn så går det åt en film per mätning, vilket på intet sätt är ekonomiskt betungande.It is possible to use olika your different types of detector data, such as an image plate or a photo film or an electronic detector built up of CCD sensors, where CCD is an abbreviation of “Charge Coupled Device”. It is preferred to use an image plate, which is available in various shapes. Such an image plate is made up of three layers and consists from below of a supporting, somewhat elastic material, a layer of crystals in the form of (BaF (Br, I): Eu2 +), which is covered by a thin, inert protective layer. These image plates were used in measurement after measurement. After such an image plate has been used in a measurement cycle, it is regenerated by exposing it to strong light. This treatment time is a few minutes. There are special devices in which this is done. As for photo fi hn, it takes one m lm per measurement, which is in no way financially burdensome.

Vad gäller avläsningen av avtrycken i detektonmderlaget så anpassas den till den typ av detektorunderlag, som användes. Beträffande bildplattor inkluderande den typ av bildplatta, som beskrives ovan, kan en laserstråle bringas att svepa över plattan ledande till att ljus frigöres från avtrycken via fotostimulerad luminescens, vilket ljus insamlas via en ljusledare till en fotomultiplikator där ljuset omvandlas till en elektrisk signal, som i datorn beskrives med ett talvärde.As for the reading of the impressions in the detector base, it is adapted to the type of detector base used. In the case of image plates including the type of image plate described above, a laser beam can be caused to sweep across the plate leading to light being released from the prints via photostimulated luminescence, which light is collected via a light guide to a photomultiplier where the light is converted into an electrical signal. the computer is described with a numeric value.

De uppmätta ytviktsvariationema hos arkmaterialet kan presenteras och återges på många olika sätt, exempelvis i form av ett histogram beskrivande ytviktsfördelningen eller medelst en frekvensanalys som presenteras i histogramfonn.The measured basis weight variations of the sheet material can be presented and reproduced in many different ways, for example in the form of a histogram describing the basis weight distribution or by means of a frequency analysis presented in histogram form.

Denna presentation och detta återgivande beskrives mer detaljerat längre fram i denna skrift. Även om det uppfinningsenliga förfarandet för bedömning/mätning av ytviktsvariationer i arkmaterial kan användas för ett stort antal skiftande arkmaterial har det visat sig speciellt tillämpligt för papper och kartong.This presentation and this reproduction are described in more detail later in this publication. Although the inventive method for assessing / measuring basis weight variations in sheet material can be used for a large number of varying sheet materials, it has been found to be particularly applicable to paper and board.

Uppfinningen innefattar också en apparat för bedömning/mätning av ytviktsvariationer i arkmaterial, innefattande a) en elektronkälla, med en energi överstigande 150 keV, som är förankrad i en vagn, vilken är traverserbar med konstant hastighet längs en med gejdrar eller liknande försedd anordning, vilken anordning tillsammans med vagnen är höj- och sänkbar i vertikal rörelseled och på sin undersida uppvisar en längsgående spalt av viss bredd, som aanpu 10 15 20 25 30 bestämmer bredden på en elektronstråle som lämnar elektronkällan och är riktad mot direkt underliggande arkrnaterial, b) en ram för förankring av arkmaterialet, vilken ram är fjädrande ansluten till en stödanordning c) en under nämnda ram applicerad hållare med stödanordning vid vilken hållare ett elektronstrålekänsligt detektorunderlag, innehållande ett mycket stort antal sensorelement, är förankrat d) en avtryckläsare, såsom en scanner och e) en dator.The invention also comprises an apparatus for assessing / measuring basis weight variations in sheet material, comprising a) an electron source, having an energy exceeding 150 keV, which is anchored in a carriage, which is traversable at a constant speed along a device provided with guides or the like, which device together with the carriage can be raised and lowered in a vertical movement and on its underside has a longitudinal gap of a certain width, which aanpu 10 15 20 25 30 determines the width of an electron beam which leaves the electron source and is directed towards directly underlying sheet material, b) a frame for anchoring the sheet material, which frame is resiliently connected to a support device c) a holder applied under said frame with support device in which holder an electron beam sensitive detector base, containing a very large number of sensor elements, is anchored d) an impression reader, such as a scanner and e ) a computer.

Apparaturens kännetecken är, att objekten b) och c) är inställbart fórflyttbara i sidled i förhållande till den i denna led stationära elektronkällan och att dessa också är inställbart förflyttbara relativt varandra.The characteristic of the apparatus is that the objects b) and c) are adjustable for lateral surface relative to the electron source stationary in this direction and that these are also adjustable for surface relative to each other.

Dessa objekt b) och c) är anslutna till eller utgör del av var sitt stegbord. I sistnämnda begrepp innefattas en elektrisk motor, som förflyttar bordet till en förutbestämd position. Som drivkälla kan annat än en elektriskt driven motor användas, förutsatt att önskad position kan uppnås.These objects b) and c) are connected to or form part of their respective step tables. The latter term includes an electric motor which moves the table to a predetermined position. As a drive source, other than an electrically driven motor can be used, provided that the desired position can be achieved.

Den vagn, som bär elektronkällan, kan exempelvis ha en rektangulär eller kvadratisk form och vara försedd med ett hjul i de fyra nedre hörnen. För att vagnen skall traversera på ett kontrollerat och likartat sätt gång på gång kan två parallella, långsträckta spår urfräsas i den underliggande anordningen. Det är inte nödvändigt, att antalet hjul är just fyra. Vidare är det inte tvingande att förse vagnen med hjul, utan vagnen kan utformas av ett material med låg fiiktion eller då kan vagnen förses med ett antal klackar av ett material med låg friktion, vilket gör det möjligt att låta vagnen glida längs den underliggande anordningen. Detta underlättas av om den yta eller de ytor i underlaget, som vagnen glider utefter också består av ett material med låg friktion.The carriage carrying the electron source may, for example, have a rectangular or square shape and be provided with a wheel in the four lower corners. In order for the trolley to traverse in a controlled and similar manner over and over again, two parallel, elongated grooves can be milled out in the underlying device. It is not necessary that the number of wheels is exactly four. Furthermore, it is not mandatory to provide the trolley with wheels, but the trolley can be formed of a material with low friction or the trolley can be provided with a number of lugs of a material with low friction, which makes it possible to let the trolley slide along the underlying device. This is facilitated by whether the surface or surfaces in the ground on which the carriage slides also consist of a material with low friction.

Den underliggande anordningen eller vagnen är ansluten till ett medel, som pressar anordningen och vagnen ner mot objekten b) och c) ledande till att arkmaterialet ligger dikt an mot detektorunderlaget när vagnen med elektronkällan traverserar över arkmaterialet och detektorunderlaget. Om inte arkmaterialet ligger dikt an mot detektorunderlaget kan det bildas lufifickor mellan dessa materiallag och det har visat sig att sådana lufifickor stör elektronstrålen och elektronemas absorption i arkmaterialet respektive genomträngandet av arkmaterialet. ooono 10 15 20 25 30 Flera medel kan användas för beskrivet ändamål och ett lämpligt sådant är en tryckluflcylinder. Vilken som helst drivkälla, som förmår att driva vagnen i rörelse- riktningen med konstant hastighet, kan användas för detta ändamål. Ett exempel på en sådan drivkälla är ett stegbord.The underlying device or trolley is connected to a means which presses the device and the trolley down against the objects b) and c) leading to the sheet material lying close to the detector base when the trolley with the electron source traverses over the sheet material and the detector base. If the sheet material is not close to the detector base, gaps can form between these layers of material and it has been found that such gaps interfere with the electron beam and the absorption of the electrons in the sheet material and the penetration of the sheet material, respectively. ooono 10 15 20 25 30 Several means can be used for the purpose described and a suitable one is a compressed cylinder. Any drive source capable of propelling the trolley in the direction of travel at a constant speed can be used for this purpose. An example of such a power source is a step table.

Fördelar En stor fördel med uppfinningen är att man kan mäta ytviktsvariationer hos arkmaterial med en ytvikt upp till 1200 g/mz. Med elektronkällan prometium 147 kan man med hög noggrannhet mäta ytviktsvariationer hos arkmaterial med ytvikter upp till 300 g/mz. Med elektronkällan krypton 85 är det möjligt att analysera arkmaterial inom ytviktsintervallet 300- 1200 g/mz.Advantages A great advantage of the invention is that it is possible to measure basis weight variations of sheet material with a basis weight up to 1200 g / m 2. With the electron source prometium 147, it is possible to measure surface weight variations of sheet materials with surface weights up to 300 g / mz with high accuracy. With the electron source krypton 85, it is possible to analyze sheet material in the basis weight range 300-1200 g / m 2.

Enligt uppfinningen är det möjligt att även hos jämförelsevis tjocka arkmaterial göra en tvådimensionell mätning, d v s minst en delyta av arkmaterialet kan studeras. Vidare är upplösningen utmärkt och bättre än 1 mm.According to the invention, it is possible to make a two-dimensional measurement even with comparatively thick sheet materials, i.e. at least one partial surface of the sheet material can be studied. Furthermore, the resolution is excellent and better than 1 mm.

Vad gäller mätnoggrannheten har jämförelseförsök gjorts med en av de tidigare beskrivna kända mätmetoderna på papper med en ytvikt något understigande 100 g/mz (detta för att jämförelsemetoden ej klarar av mätningar på arkmaterial med en ytvikt överstigande 120 g/mz) och försöken visar, att mätresultaten är så gott som identiska.With regard to the measurement accuracy, comparative experiments have been made with one of the previously described known measuring methods on paper with a basis weight slightly less than 100 g / m 2 (this is because the comparison method cannot withstand measurements on sheet material with a basis weight exceeding 120 g / m 2) and the experiments show that the measurement results are virtually identical.

Dessutom är mätförfarandet enligt uppfinningen snabbt och effektivt, speciellt när en bildplatta användes som detektorunderlag. Delar av mätmetoden kan automatiseras och låter sig styras via en dator till dessa delar. I det fall att fotofilm användes som detektorunderlag försinkas mätningen något av den omständliga framkallningsprocessen.In addition, the measuring method according to the invention is fast and efficient, especially when an image plate is used as a detector base. Parts of the measurement method can be automated and can be controlled via a computer to these parts. In the event that photo m lm is used as a detector base, the measurement is delayed somewhat by the cumbersome development process.

Figurbeskrivning Figur 1 visar en schematisk återgivning av den vagn vari elektronkällan är applicerad och den uppbärande anordningen samt underliggande materiallag.Description of the figures Figure 1 shows a schematic representation of the carriage in which the electron source is applied and the supporting device as well as the underlying material layer.

Figur 2 visar en schematisk återgivning av nämnda vagn i traverseringsriktningen och de anordningar där dels arkmaterialet och dels bildplattan är förankrad.Figure 2 shows a schematic representation of said carriage in the traversing direction and the devices where partly the sheet material and partly the image plate are anchored.

Figur 3 visar en intensitetsbild av de avtryck i bildplattan, som gjorts av transmitterade elektroner. nyans 10 15 20 25 30 Figur 4 visar en profil av intensiteten i tvärsled av den långsträckta delyta där avtryck uppstått.Figure 3 shows an intensity image of the impressions in the image plate made by transmitted electrons. shade 10 15 20 25 30 Figure 4 shows a profile of the intensity transversely of the elongated sub-surface where impressions have arisen.

Figur 5 visar en intensitetsbild över en sammanslagning av nämnda långsträckta delytor.Figure 5 shows an intensity image of a fusion of said elongate sub-surfaces.

Figur 6 visar denna intensitetsbild inverterad och kalibrerad.Figure 6 shows this intensity image inverted and calibrated.

Figur 7a, 7b och 7c visar resultat av järnförelsemätningar.Figures 7a, 7b and 7c show results of iron performance measurements.

Figur 8a och 8b visar altemativa sätt att presentera mätresultat.Figures 8a and 8b show alternative ways of presenting measurement results.

Bästa utföringsform I det följande beskrives, under hänvisning till det i figurerna visade, uppfinningen mer i detalj och avsnittet avslutas med två utföringsexempel.BEST EMBODIMENT In the following, with reference to what is shown in the figures, the invention is described in more detail and the section concludes with two exemplary embodiments.

I figur 1 visas i genomskäming vagnen 1, i vilken elektronkällan 2 är applicerad. Vagnen är försedd med fyra hjul, placerade vid den parallellepipediska vagnens fyra nedre hörn. Två likforrniga, längsgående spår 4 är urfrästa ur den underliggande anordningen 5. En längsgående spalt 6 av viss bredd finns upptagen i anordningen 5.Figure 1 shows in cross-section the carriage 1, in which the electron source 2 is applied. The trolley is equipped with four wheels, located at the four lower corners of the parallelepiped trolley. Two uniform, longitudinal grooves 4 are milled out of the underlying device 5. A longitudinal slot 6 of a certain width is accommodated in the device 5.

Bredden på denna spalt kan väljas relativt fritt. Ett exempel på spaltbredd är 10 mm. I figuren visas också en slutare 7. Denna slutare kan vara behövlig ur mätsynpunkt, men finns där främst för att täcka elektronstrålen 8 när mätapparaturen icke används. Detta för att förhindra, att elektroner strömmar ut i apparaturen och möjligen till apparaturens närmaste omgivning när den inte används för mätning. Denna förskjutning av slutaren 7 har ingen inverkan på hur länge elektronkällan kan användas för mätning, utan är enbart en försiktighetsåtgärd sett ur miljösynpunkt.The width of this column can be selected relatively freely. An example of a column width is 10 mm. The figure also shows a shutter 7. This shutter may be needed from a measuring point of view, but is there mainly to cover the electron beam 8 when the measuring equipment is not in use. This is to prevent electrons from flowing out into the apparatus and possibly to the immediate vicinity of the apparatus when not in use for measurement. This displacement of the shutter 7 has no effect on how long the electron source can be used for measurement, but is only a precautionary measure from an environmental point of view.

Som framgår av figuren 1 strömmar elektronema i form av en stråle 8 mot det arkmaterial 9, som skall analyseras. Arkmaterialet 9 vilar dikt mot detektorunderlaget 10, som i sin tur uppbärs av en hållare 11.As can be seen from the clock 1, the electrons flow in the form of a beam 8 towards the sheet material 9 to be analyzed. The sheet material 9 rests tightly against the detector base 10, which in turn is supported by a holder 11.

I figur 2 visas också i genomskärning hur vagnen 1, med sin elektronkälla vättande neråt, traverserar längs den med styrspår försedda anordningen 5. Denna figur visar mer i detalj hur ramen för förankring av mätobj ektet, d v s arkmaterialet, och den underliggande hållaren 11 för detektorunderlaget kan vara utfonnad. Arkrnaterialet 9 förankras på något sätt vid ramen 12. Ramens bredd och längd kan väljas fritt. Eftersom många papperstyper både konverteras till och säljs i A4-storlek är det lämpligt att anpassa ramens storlek till A4-måtten. Huruvida arkmaterialet skall exponeras av elektronstrålen 8 ø»søn 10 15 20 25 30 11 i dess längsled eller dess tvärsled är också valfritt. Själva förankringen av arkmaterialet 9 vid ramen 12 kan ske med någon form av klärnanordning eller på ett så enkelt sätt, att ett antal tejpbitar fästes såväl vid arkmaterialets kantpartier som vid ramen 12. Som framgår av figuren 2 är ramen 12 medelst fjäderanordningar 13 ansluten till en stödanordning 14.Figure 2 also shows in cross-section how the carriage 1, with its electron source wetting downwards, traverses along the device 5 provided with guide grooves. This figure shows in more detail how the frame for anchoring the measuring object, ie the sheet material, and the underlying holder 11 for the detector base may be invented. The sheet material 9 is anchored in some way to the frame 12. The width and length of the frame can be chosen freely. Since many types of paper are both converted to and sold in A4 size, it is advisable to adapt the size of the frame to the A4 dimensions. Whether the sheet material is to be exposed by the electron beam 8 ø »søn 10 15 20 25 30 11 in its longitudinal or its transverse direction is also optional. The actual anchoring of the sheet material 9 to the frame 12 can take place with some form of clamping device or in such a simple way that a number of pieces of tape are attached both to the edge portions of the sheet material and to the frame 12. As can be seen from the frame 2, the frame 12 is connected to a spring device 13. support device 14.

Under arkmaterialet 9 finns detektorunderlaget 10, som i sin tur vilar på hållaren 11 med stödanordningen 15. Även detektorunderlaget 10 måste på något sätt förankras vid hållaren 1 1. Detta kan ske på flera sätt. Exempelvis kan hållaren ll utformas så, att exempelvis ett detektorunderlag 10 i form av en bildplatta passar precis in i en grund urtagning i hållaren 11. Vad gäller bildplattor är deras undre bärarlager utformat av ett något elastiskt material, vilket tillika har hög friktionskoefficient och om då även hållaren 1 1, eller åtminstone dess ytskikt, består av ett material med hög friktionskoefficient så blir förankringen tillräcklig även om hållaren ll icke uppvisar någon urtagning.Under the sheet material 9 there is the detector base 10, which in turn rests on the holder 11 with the support device 15. The detector base 10 must also be anchored to the holder 1 1 in some way. This can be done in your own way. For example, the holder 11 can be designed so that, for example, a detector base 10 in the form of an image plate fits exactly into a shallow recess in the holder 11. In the case of image plates, their lower carrier layer is formed of a somewhat elastic material, which also has a high coefficient of friction. even if the holder 11, or at least its surface layer, consists of a material with a high coefficient of friction, the anchoring will be sufficient even if the holder 11 has no recess.

Vare sig i figur 1 eller 2 finns det medel, som kan vara en tryckluficylinder, utritat, vilket pressar anordningen 5 och med tillhörande vagn l ner mot arkmaterialet 9 och detektorunderlaget 10. Detta medel kan vara anslutet till anordningen 5 som sådan eller till vagnen 1. Resultatet blir detsamma i båda fallen. I figuren 2 visas dock de fiäderanordningar 13, som möjliggör ihoppressningen, vilket leder till att arkmaterialet ligger dikt an mot detektorunderlaget.Neither in Figure 1 nor 2 is the means, which may be a compressed cylinder, drawn, which presses the device 5 and with the associated carriage down against the sheet material 9 and the detector base 10. This means can be connected to the device 5 as such or to the carriage 1 The result will be the same in both cases. Figure 2 shows, however, the spring devices 13, which enable the compression, which leads to the sheet material lying close to the detector base.

Själva mätförfarandet kan gå till på följande sätt.The measurement procedure itself can be done in the following way.

Först ser man till att såväl arkmaterialet 9 som detektorunderlaget 10 är fixerade såväl i förhållande till varandra som i förhållande till elektronstrålen 8. Därefter utför man tidigare beskriven ihoppressning av objekten. Det är av vikt, att ihoppressningen utföres identiskt gång från gång innebärande bland annat, att nedsänkningen av anordningen 5 styrs så, att densamma är strikt vertikal. Nästa moment är att man låter vagnen 1 med sin elektronkälla 2 och elektronstråle 8 traversera med konstant och förut- bestämd hastighet över arkmaterialet 9. Därefier lyftes anordningen 5 och den medföljande vagnen 1 till sitt utgångsläge. I och med detta ges möjlighet att förflytta såväl arkmaterialet 9 som detektorunderlaget 10 i sidled i förhållande till den i denna led stationära elektron- källan 2. Dessa båda objekt förflyttas olika mycket i sidled. Exempelvis kan arkmaterialet 9 förflyttas 8 mm i sidled, medan detektorunderlaget 10 förflyttas 16 mm.First, it is ensured that both the sheet material 9 and the detector substrate 10 are fixed both in relation to each other and in relation to the electron beam 8. Thereafter, the previously described compression of the objects is performed. It is important that the compression is carried out identically from time to time, meaning, among other things, that the immersion of the device 5 is controlled so that it is strictly vertical. The next step is to let the carriage 1 with its electron source 2 and electron beam 8 traverse at a constant and predetermined speed over the sheet material 9. There, the device 5 and the accompanying carriage 1 are lifted to their initial position. As a result, it is possible to surface both the sheet material 9 and the detector substrate 10 laterally in relation to the electron source 2 stationary in this section. These two objects are moved differently laterally. For example, the sheet material 9 can be 8 fl surface laterally, while the detector substrate 10 16 can be 16 mm surface.

Det finns två varianter att använda sig av i detta läge. Man kan dels skjuta slutaren 7 för elektronstrålen 8 och låta vagnen 1 traversera tillbaka till utgångsläget innan puh-I 10 15 20 25 30 12 ihoppressningen släppes och anordningen 5 med tillhörande vagn 1 lyftes i vertikalled, ledande till att vagnen l alltid startar sin traversering från samma sida av apparaten, och dels släppa ihoppressningen på motsatt sida av apparaten och låta vagnen 1 traversera i motsatt riktning under utsändande av elektronstrålen innebärande att en ny delyta av arkmaterialet penetreras.There are two variants to use in this mode. One can partly slide the shutter 7 for the electron beam 8 and let the carriage 1 traverse back to the initial position before the compression is released and the device 5 with associated carriage 1 is lifted vertically, leading to the carriage 1 always starting its traversing from the same side of the apparatus, and on the other hand release the compression on the opposite side of the apparatus and let the carriage 1 traverse in the opposite direction while emitting the electron beam, meaning that a new partial surface of the sheet material is penetrated.

Som tidigare angivits skall antalet traverseringar vara minst två, d v s minst två olika delytor av arkmaterialet skall bestrålas. Antalet traverseringar flera än två kan väljas fritt och exempelvis uppgå till tio. Mellan varje traversering förflyttas arkmaterialet 9 och detektorunderlaget 10 såväl i förhållande till elektronkällan 2 som relativt varandra på tidigare beskrivet sätt.As previously stated, the number of traverses must be at least two, ie at least two different sub-surfaces of the sheet material must be irradiated. The number of traversations fl than two can be chosen freely and, for example, amount to ten. Between each traversing, the sheet material 9 and the detector substrate 10 are moved both in relation to the electron source 2 and relative to each other in the manner previously described.

Som beskrivits tidigare leder förhållandet, att en del elektroner tränger igenom arkmaterialet 9 på den exponerade ytan till att det blir avtryck i de till ett stort antal uppgående sensorelementen i detektorunderlaget 10. Efter avscanning av dessa avtryck på tidigare beskrivet sätt får man i datorn ett stort antal talvärden motsvarande avtryckens intensitet.As previously described, the fact that some electrons penetrate the sheet material 9 on the exposed surface leads to impressions in the large number of sensor elements in the detector base 10. After scanning these impressions in the previously described manner, a large number of numerical values corresponding to the intensity of the impressions.

I figur 3 visas resultatet av tio traverseringar i form av avtryckens intensitet.Figure 3 shows the results of ten traverses in the form of the intensity of the prints.

Det är ytoma mellan de svarta fälten som är av intresse och den forsta traverseringen är kopplad till delytan 16 längst till höger, medan den andra traverseringen är kopplad till delytan 17 näst längst till höger o s v.It is the surfaces between the black fields that are of interest and the first traversing is connected to the sub-surface 16 on the far right, while the second traversing is connected to the sub-surface 17 next to the far right and so on.

Dessa delytor uppvisar partier av olika färg från ljust till mörkt eller om man så vill från vitt till svart och det är dessa schatteringar, som på visst sätt återger resultatet av mätningen.These sub-surfaces have parts of different colors from light to dark or, if you prefer, from white to black, and it is these shades that in a certain way reflect the result of the measurement.

Om man studerar avtryckens intensitet tvärs nämnda delytor finner man, som framgår av figur 4, att längst ut i kanterna på delytan är intensiteten mycket låg för att längre in och efter ett tag brant stiga till maxvärden tillhöriga delytans centrala del. Siffran noll på y-axeln i figur 4 motsvarar mitten i sidled på någon av delytoma i figur 3. Det grova strecket 18 i figur 4 återger intensiteten utefter delytans centrala del i tvärsled räknat. 1 datorn sammanföres de centrala delarna av de tio långsträckta delytoma så att en sammanhängande yta eller bild 19 av intensiteten bildas, som visas i figur 5. Ljus färg i bilden motsvarar hög intensitet, vilket innebär att transmissionen av elektroner är hög och absorptionen av elektroner i arkmaterialet 9 är låg och som därför betyder, att ytvikten är låg. Den till höger om ytan 19 visade färgskalan 20 är enhetslös och där talvärdet 1 09:51 10 15 20 25 motsvarar maximal intensitet från avtrycken i bildplattan 10, medan talvärdet O motsvarar minimal intensitet från avtrycken i bildplattan 10.If you study the intensity of the imprints across the said sub-surfaces, you will notice, as shown in Figure 4, that at the far end of the edges of the sub-surface the intensity is very low to rise further in and after a while steeply to the maximum part of the sub-surface. The number zero on the y-axis in fi figure 4 corresponds to the center laterally on one of the sub-surfaces in fi figure 3. The rough line 18 in fi figure 4 represents the intensity along the central part of the sub-surface in the transverse direction. In the computer, the central parts of the ten elongate sub-surfaces are combined so that a continuous surface or image 19 of the intensity is formed, as shown in Figure 5. Light color in the image corresponds to high intensity, which means that the transmission of electrons is high and the absorption of electrons in the sheet material 9 is low and which therefore means that the basis weight is low. The color scale 20 shown to the right of the surface 19 is unitless and where the numerical value 1 corresponds to the maximum intensity from the impressions in the image plate 10, while the numerical value 0 corresponds to the minimum intensity from the impressions in the image plate 10.

I figur 6 visas en från bild 19 utgående kalibrerad bild 21. Den till höger om bilden 21 visade färgskalan 22 är kopplad till dimensionen gram per m2. I denna bild är det så att de mörka partierna betyder låg ytvikt, medan de ljusa partierna betyder hög ytvikt.Figure 6 shows a calibrated image 21 starting from Fig. 19. The color scale 22 shown to the right of Fig. 21 is connected to the dimension grams per m2. In this picture, the dark parts mean low basis weight, while the light parts mean high basis weight.

Exempel 1 Mätning av ytviktsvariationer gjordes på ett kopieringspapper med en ytvikt av 80 g/mz dels enligt uppfinningen med prometium 147 som elektronkälla och med en bildplatta som detektorunderlag och utefier tio långsträckta delytor av arkinaterialet och dels enligt den mätmetod som finns beskriven i avsnittet ”Teknikens ståndpunkt” i denna skrift och där givits beteckningen en andra metod.Example 1 Measurement of basis weight variations was made on a copy paper with a basis weight of 80 g / m 2 partly according to the invention with prometium 147 as electron source and with an image plate as detector base and ten elongated sub-surfaces of the sheet material and partly according to the measurement method described in the section position ”in this document and where the designation has been given a second method.

Orsaken till att denna jämförelse gjordes på ett papper med så förhållandevis låg ytvikt som 80 g/mz var, att nämnda andra metod passar väl för just ett sådant papper och icke går att använda vid så mycket högre ytvikter eller närmare bestämt som högst uppemot 120 g/mz.The reason why this comparison was made on a paper with a relatively low basis weight of 80 g / m 2 was that the said second method is well suited for such a paper and cannot be used at so much higher basis weights or more precisely as a maximum of up to 120 g / mz.

Kopieringspapperet bestod till 67 % av massafibrer (en blandning av blekt björksulfatmassa (70 %) och blekt tallsulfatmassa (30 %)), 22 % fyllmedel (utfälld kalciumkarbonat), 6% av andra papperskemikalier, inkluderande stärkelse, retentionsmedel och fluorescerande vitrnedel. Resterande 5% utgjordes av vatten.The copy paper consisted 67% of pulp fibers (a mixture of bleached birch sulphate pulp (70%) and bleached pine sulphate pulp (30%)), 22% filler (precipitated calcium carbonate), 6% of other paper chemicals, including starch, retention aids and non-leaching white. The remaining 5% consisted of water.

I figurema 7 uppvisas resultat av de företagna mätningarna i form av antalet kalibrerade intensitetspunkter i tusental inom vissa, relativt smala ytviktsintervall. Det i figur 7 a visade histograrnmet avser jämförelsemetoden och i figur 7b visas motsvarande histogram för mätförfarandet enligt uppfinningen. Redan vid jämförelse av dessa två histogram finner man, att mätresultaten är i det närmaste identiska. Detta bekräftas av figur 7c, där medelantalet av intensitetspunkter för varje ytviktsintervall inritats i kurvform (0 = jäniförelsemetoden, + = metoden enligt uppfinningen). Som framgår faller de två kurvorna in i varandra.Figures 7 show the results of the measurements taken in the form of the number of calibrated intensity points in thousands within certain, relatively narrow basis weight ranges. The histogram shown in Fig. 7a refers to the comparison method and in Fig. 7b the corresponding histogram for the measuring method according to the invention is shown. Even when comparing these two histograms, one finds that the measurement results are almost identical. This is confirmed by Figure 7c, where the average number of intensity points for each basis weight interval is plotted (0 = method of comparison, + = method according to the invention). As can be seen, the two curves fall into each other.

Detta visar, att mätnoggrannheten hos mätförfarandet enligt uppfinningen är hög. oana- 10 15 20 25 Exempel 2 I detta fall gjordes mätning av ytviktsvariationer enligt uppfinningen med prometium 147 som elektronkälla och med en bildplatta som detektorunderlag och utefier tio långsträckta delytor av arkmaterialet på en helt annan typ av papper och med en avsevärt högre ytvikt än vad som var fallet i exempel l, nämligen kabelpapper med en ytvikt av 140 g/mz.This shows that the measuring accuracy of the measuring method according to the invention is high. Example 2 In this case, measurement of basis weight variations according to the invention was made with prometium 147 as electron source and with an image plate as detector base and out ten elongated parts of the sheet material on a completely different type of paper and with a considerably higher basis weight than as was the case in Example 1, namely cable paper with a basis weight of 140 g / m 2.

Med kabelpapper menas papper som är starkt och som uppvisar hög elektrisk isoleringsförrnåga och som användes bland annat i transformatorer. Detta papper bestod uteslutande av massafibrer. Typ av massa är oblekt tallsulfatmassa, som tvättats extremt mycket vid framställningen. Som en följd av detta blir papperet i huvudsak fritt från ledande ämnen. Vidare skall papperet vara fritt från ”pin holes”.Cable paper means paper that is strong and has a high electrical insulation capacity and is used in transformers, among other things. This paper consisted exclusively of pulp. Type of pulp is unbleached pine sulphate pulp, which has been washed extremely extensively during production. As a result, the paper becomes substantially free of conductive substances. Furthermore, the paper must be free of pin holes.

I just beskriven figur 7b återges uppmätt resultat vid mätförfarandet enligt uppfinningen i form av ytviktsfördelningshistogram. Resultaten av mätfórfarandet enligt uppfinningen kan återges på flera andra sätt, vilka kommer att förklaras och definieras nedan och visas i figurerna Sa och 8b.Figure 7b, which has just been described, shows the measured results in the measurement procedure according to the invention in the form of a basis weight distribution histogram. The results of the measurement procedure according to the invention can be reproduced in your other ways, which will be explained and de niered below and shown in Figures Sa and 8b.

Som påpekats tidigare är ett papper på intet sätt homogent, d v s exakt lika i varje punkt, utan exempelvis massafibrema ansamlas i högre utsträckning på vissa ytor än på andra, närliggande ytor. Dessa materialansamlingar brukar kallas flockar. I sammanhanget användes begreppet våglängd = Ä. Det finns en tumregel som säger, att våglängden lt motsvarar dubbla flockstorleken. Man använder också begreppet total fonnation, som karakteriseras av formationstalet F, vilket definieras som variationskoefflcienten för lokala ytviktsvariationer (w), d v s standardavvikelsen dividerad med medelytvikten (W ). F ormelmässigt återges detta med F = Standardavvikelsen o erhålles exempelvis genom att integrera ytan under ytviktssignalens effektspektrum för alla frekvenser, se figur 8a, och ta kvadratroten dänir.As pointed out earlier, a paper is by no means homogeneous, i.e. exactly the same at each point, but for example pulp ema brema accumulates to a greater extent on certain surfaces than on other, adjacent surfaces. These accumulations of material are usually called ochers. In this context, the term wavelength = Ä is used. There is a rule of thumb that says that the wavelength lt corresponds to twice the fl ox size. The term total formation is also used, which is characterized by the formation number F, which is defined as the coefficient of variation for local basis weight variations (w), ie the standard deviation divided by the mean basis weight (W). Formally, this is represented by F = The standard deviation is obtained, for example, by integrating the surface below the power spectrum of the basis weight signal for all frequencies, see Figure 8a, and taking the square root therein.

Med frekvens menas i detta sammanhang l och närmare bestämt 1 . längdenhet [mm] De nordiska forskningsinstituten inom massa- och pappersområdet (KCL, PFI och STFI) har tillsammans med några papperstillverkare kommit fram till följande rekommendationer för att presentera resultaten från formationsmätningar. ønunn 10 15 20 25 Tennen formation refererar till lokala fördelningen av ytvikt över arkets yta.By frequency is meant in this context l and more specifically 1. unit of length [mm] The Nordic research institutes in the field of pulp and paper (KCL, PFI and STFI) have, together with some paper manufacturers, come up with the following recommendations to present the results from formation measurements. ønunn 10 15 20 25 Tin formation refers to the local distribution of basis weight over the surface of the sheet.

Formationstalet F(la,l,,)definieras som variationskoefficienten för lokala ytviktsvariationer inom våglängdsintervallet k, till Kb mm, d v s wrtaiflß där o (L, kb) är standardavvikelsen inom våglängdsintervallet L till h, mm och W är medelytvikten hos arket.The formation number F (la, l ,,) is de fi nied as the coefficient of variation for local basis weight variations within the wavelength range k, to Kb mm, i.e. wrtai fl ß where o (L, kb) is the standard deviation within the wavelength range L to h, mm and W is the mean basis weight of the sheet.

Ett normaliserat forrnationstal Fn (L, lb) kan beräknas enligt formeln Fn ÄafÄb)=F(/¶'aI/1b) normaliserat mot ytvikten n.A normalized formation number Fn (L, lb) can be calculated according to the formula Fn ÄafÄb) = F (/ ¶'aI / 1b) normalized to the basis weight n.

Ett specialfall av normaliseringen erhålles genom att sätta n = l g/mz, vilket ger specifik formation Fspec enligt formeln ÄWÅ.A special case of normalization is obtained by setting n = 1 g / mz, which gives specific formation Fspec according to the formula ÄWÅ.

FSPBC(Å419/lb)= Av ovanstående förstås, att formationstalen är dimensionslösa.FSPBC (Å419 / lb) = From the above it is understood that the formation numbers are dimensionless.

Formationstalet F(/ta , ).,,)kan som ovan beskrivits erhållas genom att integrera ytan under signalens effektspektrum för motsvarande frekvenser. Exempelvis betyder F3_30 formationstalet för våglängdsintervallet 3-30 mm. Det är sådana fonnationstal som återges i figur 8b.The formation number F (/ ta,). ,,) can be obtained as described above by integrating the surface below the power spectrum of the signal for corresponding frequencies. For example, F3_30 means the formation number for the wavelength range 3-30 mm. These are the formation numbers that are reproduced in Figure 8b.

Om man tänker sig, att man gör ytviktsvariationsmätningar enligt uppfinningen på ett papper, som är helt igenom likformigt och helt slätt (vilket papper icke existerar i praktiken) så skulle alla de formationstal som återges i figur 8b uppvisa talvärdet O. Av detta förstås, att ju lägre talvärdena i figur 8b är desto bättre och jämnare papper har man. De forrnationstal som återges i en sådan figur kan också uppställas i tabellform där man i en kolumn återger våglängdsintervallet i mm och i en kolumn bredvid motsvarande forrnationstal = F. Om de i figur 8b återgivna värdena överíöres till en tabell erhålles följande: 10 15 20 16 2, (mm) F O,4-30 1,94 O,4-3 0,978 3-30 1,67 0,4-0,5 0,336 0,5-1 0,559 1-2 0,57 2-4 0,635 4-8 0,842 8-16 1,04 16-32 0,941 Det är lätt att inse att olika papperstyper uppvisar olika jänmhet vad gäller ytviktsvariationen. Därför år det i första hand meningsfullt att studera och jämföra formationstalen inom en och samma papperstyp, såsom exempelvis kopieringspapper eller kabelpapper. Därvidlag har man stor nytta av mätningar på papper från en och samma pappersmaskin, men under olika skifi och/eller olika dygn och även av hur det egna papperet ligger till i förhållande till konkurrerande papper.If it is conceivable to make basis weight variation measurements according to the invention on a paper which is completely uniform and completely smooth (which paper does not exist in practice) then all the formation numbers given in Figure 8b would show the numerical value O. From this it is understood that the lower the numerical values in 8 gur 8b, the better and smoother the paper. The formation numbers represented in such a figure can also be plotted in a column where the wavelength interval in mm is represented in a column and in a column next to the corresponding formation figures = F. If the values given in figure 8b are transferred to a table, the following is obtained: 2, (mm) FO, 4-30 1.94 O, 4-3 0.978 3-30 1.67 0.4-0.5 0.336 0.5-1 0.559 1-2 0.57 2-4 0.635 4 -8 0.842 8-16 1.04 16-32 0.941 It is easy to see that different types of paper show different uniformity in terms of basis weight variation. Therefore, it is primarily meaningful to study and compare the formation numbers within one and the same type of paper, such as, for example, copy paper or cable paper. In this connection, you have great benefit from measurements on paper from one and the same paper machine, but during different skis and / or different days and also from how your own paper is in relation to competing paper.

Som avslutning önskar vi nämna, att oss veterligt finns det ingen annan mätmetod för att bestämma ytviktsvariationer hos relativt tjocka arkmaterial, exempelvis sådana som har en ytvikt överstigande 120 g/mz, som möjliggör ett återgivande av mätresultat enligt figurema 8a och 8b i denna patentansökan.In conclusion, we would like to mention that to our knowledge there is no other measurement method for determining basis weight variations of relatively thick sheet materials, for example those having a basis weight exceeding 120 g / m 2, which enables a reproduction of measurement results according to Figures 8a and 8b of this patent application.

Claims (17)

:rann 10 15 20 25 Patentkrav: rann 10 15 20 25 Patent claim 1. Förfarande för bedömning/mätning av ytviktsvariationer i arkmaterial innefattande att elektroner från en elektronkälla, som har en energi överstigande 150 keV, bringas att träffa en långsträckt delyta av arkmaterialet, vilket vilar i en bestämd position mot ett elektronstrålekänsligt detektorunderlag innehållande ett mycket stort antal sensorelement och att arkmaterialet och underlaget sarnrnanpressas innan elektronstrålen med en bestämd bredd bringas att med konstant hastighet traversera över den långsträckta delytan av arkmaterialet ledande till att en del av elektronerna absorberas av arkmaterialet och resterande elektroner tränger igenom arkrnaterialet (transmission) och gör ett avtryck i varje sensorelement i kongruent yta av underlaget, k ä n n e t e c k n a t d ä r a v, att arkmaterialet och underlaget mellan varje elektronbestrålning förflyttas såväl i förhållande till elektronkällan som i förhållande till varandra på ett kontrollerat och törutbestärnt sätt, där den förstnämnda iörflyttningen leder till att elektronstrålen vid varje traversering, som till antalet är minst två, träffar en icke exponerad yta av såväl arkmaterialet som underlaget och den senare nämnda förflyttningen göres så, att underlaget flyttas en längre sträcka ifrån elektronkällan i sidled än vad som är fallet med arkmaterialet, att avtrycket i varje sensorelement i underlaget avläses utefter den långsträckta delytan och införes i en dator, i vilken de långsträckta delytorna, som är minst två till antalet, töres mot varandra så, att en sammanhängande större mätyta bildas, att varje avläsning i datorn återges med ett talvärde, vilka talvärden bildar en detaljerad karta över elektrontransmissionen genom den uppmätta ytan av arkmaterialet och därigenom också bildar en detaljerad karta över ytviktsvariationema.A method for assessing / measuring basis weight variations in sheet material comprising bringing electrons from an electron source having an energy exceeding 150 keV to strike an elongate sub-surface of the sheet material, which rests in a determined position against an electron beam sensitive detector substrate containing a very large number sensor elements and that the sheet material and the substrate are compressed before the electron beam of a certain width is caused to traverse at a constant speed over the elongate partial surface of the sheet material leading to some of the electrons being absorbed by the sheet material and remaining electrons penetrating the sheet material (transmission) and making an impression in each sensor elements in the congruent surface of the substrate, characterized in that the sheet material and the substrate between each electron irradiation are superimposed both in relation to the electron source and in relation to each other in a controlled and dry-determined manner, where the former The irradiation causes the electron beam to hit an unexposed surface of both the sheet material and the substrate during each traversal, which is at least two, and the latter for the surface is made so that the substrate is irradiated a longer distance from the electron source laterally than is the case. with the sheet material, that the imprint of each sensor element in the substrate is read along the elongate partial surface and inserted into a computer in which the elongated partial surfaces, which are at least two in number, are dried against each other so that a continuous larger measuring surface is formed. the computer is reproduced with a numerical value, which numerical values form a detailed map of the electron transmission through the measured surface of the sheet material and thereby also form a detailed map of the basis weight variations. 2. Förfarande enligt patentkravet l, k ä n n e t e c k n at d ä r a v, att som elektronkälla användes prometium 147 eller krypton 85.2. A method according to claim 1, characterized in that prometium 147 or krypton 85 is used as the electron source. 3. Förfarande enligt patentkraven 1-2, k ä n n e t e c k n at d ä r a v, att ett antal jämförelsearkmaterialdelar, med varierande och kända ytvikter, placeras på underlaget jämte det arkrnaterial som analyseras och att elektronstrålen bringas att traversera även över jämförelsearkrnaterialdelarna ledande till ett avtryck i varje :nian 10 15 20 sensorelement i en långsträckt delyta av underlaget, vilka avtryck avläses och iníöres i datorn och i denna tjänar som likare för de avlästa avtrycken i varje sensorelement i underlaget motsvarande de långsträckta exponerade delytorna i arkmaterialet.3. A method according to claims 1-2, characterized in that a number of comparison sheet material parts, with varying and known basis weights, are placed on the substrate together with the sheet material being analyzed and that the electron beam is caused to traverse even over the comparison sheet material parts leading to an impression in each sensor element in an elongate sub-surface of the substrate, which imprints are read and entered into the computer and in this serves as equal to the read imprints in each sensor element in the substrate corresponding to the elongate exposed sub-surfaces in the sheet material. 4. Förfarande enligt patentkravet 3, k ä n n e t e c k n a t d ä r a v, att ytviktens dimension är gram per m2.4. A method according to claim 3, characterized in that the dimension of the basis weight is grams per m2. 5. Förfarande enligt patentkraven 1-4, k ä n n e t e c k n a t d ä r a v, att elektronstrålen bibringas en bestämd bredd medelst avskärmning, vilken avskärmning också orsakar att intensiteten hos avtrycken i sensorelementen i underlaget i den långsträckta delytans tvärsled varierar, med två kantpartier uppvisande låg, men från kanten och inåt räknat till en början svagt stigande och därefter kraftigt stigande, intensitet och ett centralt placerat parti med maximal intensitet och att de långsträckta delytoma, som föres mot varandra i datorn är i avsaknad av nämnda två kantpartier.5. A method according to claims 1-4, characterized in that the electron beam is imparted to a certain width by means of shielding, which shielding also causes the intensity of the impressions in the sensor elements in the substrate in the transverse joint of the elongate sub-surface to vary, with two edge portions having low, but from the edge and inwards initially slightly rising and then sharply rising, intensity and a centrally located portion with maximum intensity and that the elongated sub-surfaces which are brought towards each other in the computer are absent from said two edge portions. 6. Förfarande enligt patentkraven l-5, k ä n n e t e c k n at d ä r a v, att som detektorunderlag välj es en bildplatta eller en fotofilm.Method according to Claims 1 to 5, characterized in that an image plate or a photo film is selected as the detector base. 7. F örfarande enligt patentkravet 6, k ä n n e t e c k n at d ä r a v, att bland bildplattor välj es en sådan som är uppbyggd av tre lager och består underifiån räknat av ett bärande, något elastiskt material, ett skikt av kristaller i form av (BaF (Br,I):Eu2+) och ett tunt, inert skyddsskikt.7. A method according to claim 6, characterized in that among image plates one is selected which is built up of three layers and consists underneath of a supporting, somewhat elastic material, a layer of crystals in the form of (BaF (Br, I): Eu2 +) and a thin, inert protective layer. 8. Förfarande enligt patentkraven 1-7, k ä n n e t e c k n at d ä r a v, att avläsningen av avtrycken i detektorunderlaget anpassas till typ av detektorunderlag och att i fallet med en bildplatta av ovan beskriven typ en laserstrâle bringas att svepa över plattan ledande till att ljus fiigöres från avtrycken via fotostimulerad luminescens, vilket ljus insamlas via en ljusledare till en fotomultiplikator där ljuset omvandlas till en elektrisk signal, som i datorn beskrives med ett talvärde. nvunn 10 15 20 25 , _ g xa.....aJ 19Method according to claims 1-7, characterized in that the reading of the impressions in the detector base is adapted to the type of detector base and that in the case of an image plate of the type described above a laser beam is caused to sweep over the plate leading to light fi is made from the impressions via photo-stimulated luminescence, which light is collected via a light guide to a photomultiplier where the light is converted into an electrical signal, which is described in the computer with a numerical value. nvunn 10 15 20 25, _ g xa ..... aJ 19 9. Förfarande enligt patentkraven 1-8, k ä n n e t e c k n at d ä r a v, att de uppmätta ytviktsvariationema hos arkmaterialet återges i form av ett histogram beskrivande ytviktsfördelningen.9. A method according to claims 1-8, characterized in that the measured basis weight variations of the sheet material are represented in the form of a histogram describing the basis weight distribution. 10. Förfarande enligt patentkraven 1-8, k ä n n e t e c k n at d ä r a v, att de uppmätta ytviktsvariationerna hos arkmaterialet återges medelst en frekvensanalys och presenteras i histogramform.10. A method according to claims 1-8, characterized in that the measured basis weight variations of the sheet material are reproduced by means of a frequency analysis and presented in histogram form. 11. ll. Förfarande enligt patentkraven 1-10, k ä n n e t e c k n at d ä r a v, att det arkmaterial som bedömes/mätes är papper eller kartong.11. ll. Method according to claims 1-10, characterized in that the sheet material that is assessed / measured is paper or cardboard. 12. Apparat för bedömning/mätning av ytviktsvariationer i arkmaterial (9), innefattande a) en elektronkälla (2), med en energi överstigande 150 keV, som är förankrad i en vagn (1), vilken är traverserbar med konstant hastighet längs en med gejdrar eller liknande försedd anordning (5), vilken anordning (5) tillsammans med vagnen ( 1) är höj- och sänkbar i vertikal rörelseled och på sin undersida uppvisar en längsgående spalt (6) av viss bredd, som bestämmer bredden på en elektronstråle (8) som lämnar elektronkällan (2) och är riktad mot direkt underliggande arkmaterial (9), b) en ram (12) för förankring av arkrnaterialet (9), vilken ram (12) är fjädrande ansluten till en stödanordning (14), c) en under nämnda rarn (12) applicerad hållare (11) med stödanordning (15), vid vilken hållare (11) ett elektronstrålekänsligt detektorunderlag (10), innehållande ett mycket stort antal sensorelement, är förankrat, d) en avtryckavläsare, såsom en scarmer och e) en dator, k ä n n e t e c k n a d d ä r a v, att objekten b) och c) är inställbart förflyttbara i sidled i förhållande till den i denna led stationära elektronkällan (2) och att dessa också är inställbart förflyttbara relativt varandra.Apparatus for assessing / measuring basis weight variations in sheet material (9), comprising a) an electron source (2), with an energy exceeding 150 keV, which is anchored in a carriage (1), which is traversable at a constant speed along a guides or similarly provided device (5), which device (5) together with the carriage (1) can be raised and lowered in vertical movement and on its underside has a longitudinal gap (6) of a certain width, which determines the width of an electron beam ( 8) which leaves the electron source (2) and is directed towards directly underlying sheet material (9), b) a frame (12) for anchoring the sheet material (9), which frame (12) is resiliently connected to a support device (14), c ) a holder (11) applied under said frame (12) with support device (15), to which holder (11) an electron beam-sensitive detector base (10), containing a very large number of sensor elements, is anchored, d) an impression reader, such as a scarmer and e) a computer, characterized ä r a v, that the objects b) and c) are adjustable for fl surface laterally in relation to the electron source (2) stationary in this direction and that these are also adjustable for fl surface relative to each other. 13. Apparat enligt patentkravet 12, k ä n n e t e c k n a d d ä r a v, att objekten b) och c) är anslutna till eller utgör del av var sitt stegbord. :vann 10 :T lm' í» »Ty ___, 20Apparatus according to claim 12, characterized in that the objects b) and c) are connected to or form part of their respective step tables. : won 10: T lm 'í »» Ty ___, 20 14. Apparat enligt patentkraven 12 och 13, k ä n n e t e c k n a d d ä r a v, att vagnen (1) är rektangulär eller kvadratisk och försedd med ett hjul (3) i de fyra nedre hömen, vilka hjul löper i spår (4) i den underliggande anordningen (5).Apparatus according to claims 12 and 13, characterized in that the carriage (1) is rectangular or square and provided with a wheel (3) in the four lower corners, which wheels run in grooves (4) in the underlying device. (5). 15. Apparat enligt patentkraven 12-14, k ä n n e t e c k n a d d ä r a v, att nämnda anordning (5) eller vagn (1) är ansluten till ett medel, som pressar anordningen (5) och vagnen (1) ner mot objekten b) och c) ledande till att arkmaterialet (9) ligger dikt an mot detektorunderlaget (10) när vagnen (1) med elektronkällan (2) traverserar över arkmaterialet (9) och detektorunderlaget (10).Apparatus according to claims 12-14, characterized in that said device (5) or carriage (1) is connected to a means which presses the device (5) and the carriage (1) down against the objects b) and c ) leading to the sheet material (9) abutting close to the detector base (10) when the carriage (1) with the electron source (2) traverses over the sheet material (9) and the detector base (10). 16. Apparat enligt patentkravet 15, k ä n n e t e c k n a d d ä r a v, att medlet är en tryckluficylinder.Apparatus according to claim 15, characterized in that the means is a compressed cylinder. 17. l7. Apparat enligt patentkraven 12-16, k ä n n e t e c k n a d d ä r a v, att medlet som driver vagnen (1) och ger den traverserande rörelsen är ett stegbord.17. l7. Apparatus according to claims 12-16, characterized in that the means which drives the carriage (1) and gives the traversing movement is a step table.
SE0301643A 2003-06-06 2003-06-06 Method and apparatus for assessing / measuring surface weight variation of sheet material SE525320C2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE0301643A SE525320C2 (en) 2003-06-06 2003-06-06 Method and apparatus for assessing / measuring surface weight variation of sheet material
PCT/SE2004/000875 WO2004109242A1 (en) 2003-06-06 2004-06-04 A method and apparatus for assessing/measuring grammage variation in sheet material

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE0301643A SE525320C2 (en) 2003-06-06 2003-06-06 Method and apparatus for assessing / measuring surface weight variation of sheet material

Publications (3)

Publication Number Publication Date
SE0301643D0 SE0301643D0 (en) 2003-06-06
SE0301643L SE0301643L (en) 2004-12-07
SE525320C2 true SE525320C2 (en) 2005-02-01

Family

ID=29212383

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE0301643A SE525320C2 (en) 2003-06-06 2003-06-06 Method and apparatus for assessing / measuring surface weight variation of sheet material

Country Status (2)

Country Link
SE (1) SE525320C2 (en)
WO (1) WO2004109242A1 (en)

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI83706C (en) * 1988-11-03 1991-08-12 Kajaani Electronics Method and apparatus for measuring paper formation
US4975578A (en) * 1989-04-17 1990-12-04 The Research Foundation Of State University Of Ny Method and apparatus for determining distribution of mass density
FI901424A (en) * 1990-03-21 1991-09-22 Roibox Oy FOERFARANDE OCH ANORDNING FOER MAETNING AV BANDPROFIL PAO PAPPERS- ELLER KARTONGMASKINENS VIRA.
DE59308548D1 (en) * 1993-06-07 1998-06-18 Honeywell Ag Device for basis weight measurement
FI96139C (en) * 1993-12-21 1996-05-10 Valtion Teknillinen Method and apparatus for continuous determination of formation and / or fiber orientation of a moving paper web
US6133578A (en) * 1998-07-07 2000-10-17 Impact Systems, Inc. Nuclear gauge for measuring a characteristic of moving sheet material and alignment compensation
DE19913929A1 (en) * 1999-03-26 2000-09-28 Voith Sulzer Papiertech Patent Equipment determining properties of band of paper, comprises source of electromagnetic or particulate radiation passing through or reflected by band to detector array with irregular subdivision

Also Published As

Publication number Publication date
WO2004109242A1 (en) 2004-12-16
SE0301643L (en) 2004-12-07
SE0301643D0 (en) 2003-06-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1961205A (en) Handheld device with a disposable element for chemical analysis of multiple analytes
GB2088552A (en) Measurement of surface quality of dispersively refelcting surfaces
DE3134782A1 (en) AUTOMATIC ADJUSTING DEVICE FOR IMAGE QUALITY IN A COPIER
DE1926179A1 (en) Particle size determination by x-ray absorption analy - sis
US2317329A (en) Specimen holder for x-ray analyses
SE525320C2 (en) Method and apparatus for assessing / measuring surface weight variation of sheet material
Sandy Preparation of serial sections
Parker et al. Preparation of X-ray negatives of tree-ring specimens for dendrochronological analysis
Robinson An integrating photometer for X-ray crystal analysis
GB1582490A (en) Apparatus for determining the optical density distribution of an image bearing member
EP0950892A3 (en) Device for measuring optical density
US5075563A (en) Photometer head with housing portions having a gap therebetween
Biging et al. A photographic technique for use with stem analysis
EP0259077A1 (en) Improvements in or relating to the solidification of liquid films
US2356454A (en) Method and apparatus for fluorography
JPS59197861A (en) Pressure-sensitive copying paper and method and device for inspecting copying characteristic of copying paper pair
US3445670A (en) Photoelectric method for testing the life and quality of inked ribbons
DE60219792T2 (en) GLOSS SENSOR WITH DIRT COMPENSATION DEVICE AND METHOD
Collins et al. Improved methods of estimating root length using a photocopier, a light box and a bar code reader
DE19853120C1 (en) Transparency, opacity and cloudiness measuring method, uses paper or foil sample fed manually through measuring slit where it is clamped between light source and photodetector
DE69833068T2 (en) Printing method and printing medium
McCord A new computerized X-ray densitometric system for tree-ring analysis
Booth et al. measuring post-germination growth.
RU2073239C1 (en) Method of study of wood texture
US6661518B2 (en) Analysis machine for analyzing a cleanness condition of perforated transparent strips