SE500674C2

SE500674C2 - Calibration system for thermal camera or focal plane array - has deflector which reproduces aperture on reference-radiation source such that midpoint of aperture is on same surface of source when camera receives radiation from source through aperture.

Info

Publication number: SE500674C2
Application number: SE9201656A
Authority: SE
Inventors: Lars Karlsson; Ulf Handberg
Original assignee: Agema Infrared Systems Ab
Priority date: 1992-05-26
Filing date: 1992-05-26
Publication date: 1994-08-08
Also published as: SE9201656L; SE9201656D0

Abstract

A system for the calibration of a radiation sensitive detector comprises an aperture, at least one reference body (50,60), at least one deflector (160,170) and at least one radiation-sensitive detector. The radiation-sensitive detector detects the radiation value and generates an output signal dependent on the detected radiation value. During the reference measurement, the deflector reproduces the aperture on the reference body. The deflector deflects the radiation such that the midpoint of the reproduction, of the aperture, remains on the same surface of the reference body during the time period in which the detector receives radiation. The radiation is transmitted from the reference body and passes through the aperture.

Description

10 15 20 25 30 35 500 674 2 strålknippet ha en viss bredd. På grund av strålknippets bredd får man besvär med dubbelbilder som uppträder i samband med strålgångens växling mellan två facetter. Detta uppstår eftersom strålning, under växling från en facett till en annan facett, kommer att träffa detektorn från två håll, dvs strålning kommer samtidigt både från den bakre delen av en facett och från den främre delen av nästa facett på trumman. 10 15 20 25 30 35 500 674 2 the beam has a certain width. Due to the beam width, you get problems with double images that appear in connection with the radiation path switching between two facets. This occurs because radiation, during switching from one facet to another other facet, will hit the detector from two directions, ie radiation comes simultaneously both from the rear of one facet and from the front of the next facet of the drum.

Dessa två strålningsknippen härrör från skilda delar av objektet och ger alltså upphov till dubbelbild under en del av svepet. Denna dubbelbildseffekt innebär att inte hela svepet kan utnyttjas, varför svepverkningsgraden hos dylika anordningar inte blir så hög som önskvärt.These two beams of radiation originate from different parts of the object and thus gives rise to a double image during a part of the sweep. This dual image effect means that not whole the sweep can be utilized, hence the sweeping efficiency of such devices do not become as high as desired.

I analogi med detta uppstår en dubbelbildeffekt vid svepets övergång från att avsöka objektet till att avsöka referens- organet, vilket också det medför att svepverkningsgraden inte blir så hög som önskvärt. Vidare innebär avsökningens svep över referensorganet att mycket höga krav måste ställas på jämn temperaturfördelning hos referensorganet, eftersom det är av största vikt att detektorn alltid avläser samma tempe- ratur från referensorganet.In analogy to this, a double image effect occurs at the sweep transition from scanning the object to scanning the reference the body, which also means that the sweeping efficiency does not becomes as high as desired. Furthermore, the scan sweeps over the reference body that very high demands must be placed on even temperature distribution of the reference means, since it It is of the utmost importance that the detector always reads the same temperature. from the reference body.

Syften hos föreliggande uppfinning Huvudsyftet med föreliggande uppfinning är att åstadkomma en anordning för kalibrering av en eller flera strålningsdetek- torer utan inverkan, eller åtminstone med minskad inverkan, av ojämn temperaturfördelning hos ett referensorgan.Objects of the present invention The main object of the present invention is to provide one device for calibrating one or more radiation detectors without impact, or at least with reduced impact, of uneven temperature distribution of a reference member.

Huvudsyftet uppnås med en anordning av det inledningsvis nämnda slaget, genom de särdrag som anges i den känneteck- nande delen av patentkravet 1. Ytterligare särdrag och vidareutvecklingar av anordníngen enligt uppfinningen anges i de övriga patentkraven.The main purpose is achieved with a device of it initially the said type, by the characteristics set out in the the further part of claim 1. Further features and further developments of the device according to the invention are stated in the other claims.

Kort beskrivning av ritningarna För att föreliggande uppfinning enkelt ska kunna förstås och utföras kommer den att beskrivas medelst åskådningsexempel 10 15 20 25 30 35 500 674 3 och med hänvisning till de bifogade ritningarna, i vilka: Figur 1 Figur 2 Figur 3 Figur 4 Figur 5 Figur 6 Figur 7 FIGUR 1 visar en sidovy av ett system för bildupp- tagning, enligt uppfinningen. visar en schematisk planvy av en avlänk- ningsanordning vid bildupptagningssystemet enligt uppfinningen, sett i riktningen för pilen A i figur 1. visar strålgången vid ett avlänkningsorgan och ett temperaturreferensorgan enligt känd teknik. visar en detektors synfält vilket sveper över temperaturreferensorganet, enligt känd teknik. visar en principskiss av strålgången vid ett avlänkningsorgan och ett temperatur- referensorgan enligt uppfinningen. visar en detektors synfält på referens- organet då ett avlänkningsorgan enligt upp- finningen utnyttjas. visar en schematisk sidovy av ett system för bildupptagning samt en anordning för kalibrering av bildsystemet, enligt upp- finningen.Brief description of the drawings In order that the present invention may be readily understood and performed, it will be described by way of illustration 10 15 20 25 30 35 500 674 3 and with reference to the accompanying drawings, in which: Figure 1 Figure 2 Figure 3 Figure 4 Figure 5 Figure 6 Figure 7 FIGURE 1 shows a side view of an image capture system taking, according to the invention. shows a schematic plan view of a deflection device for the image capture system according to the invention, seen in the direction of arrow A in Figure 1. shows the beam path at a deflection means and a temperature reference means according to the known technique. shows a detector's field of view which sweeps over the temperature reference means, as known technique. shows a principle sketch of the beam path at a deflection means and a temperature reference means according to the invention. shows a detector's field of view on the reference the means when a deflection means according to the finding is utilized. shows a schematic side view of a system for image capture and a device for calibration of the imaging system, according to the finding.

Figur 1 visar en sidvy av ett system 10 för bildupptagning.Figure 1 shows a side view of a system 10 for image capture.

Systemet 10 innefattar ett huvudsakligen optiskt delsystem 20, en detektor 30 och en kalibreringsenhet 40. Med systemet 10 kan kalibrering av detektorer utföras enligt uppfinningen. 10 15 20 25 30 35 500 6?4 4 Med utgångspunkt från det synfält som strålningsdetektorn 30 har, beskrivs systemet 10 nedan. Funktionen hos systemet förstås bäst om man följer strålgången från detektorn 30 till ett första referensorgan 50, eller ett andra referensorgan 60, även om strålningen i realiteten går åt motsatt riktning.The system 10 comprises a substantially optical subsystem 20, a detector 30 and a calibration unit 40. With the system According to the invention, calibration of detectors can be performed. 10 15 20 25 30 35 500 6? 4 4 Starting from the field of view of the radiation detector 30 has, system 10 is described below. The function of the system is best understood if one follows the beam path from the detector 30 to a first reference means 50, or a second reference means 60, even if the radiation in reality goes in the opposite direction.

Vidare beskrivs systemet med utgångspunkt från ett värmestrå- lande objekt 70, vars strålgång följs till detektorn 30. Även om systemet i det följande beskrivs med en detektor 30 ligger det givetvis inom uppfinningens ram att utnyttja ett flertal detektorer för att detektera strålning.Furthermore, the system is described on the basis of a heat radiator. object 70, whose beam path is followed to the detector 30. Also if the system described below with a detector 30 is located it is of course within the scope of the invention to use a plurality detectors to detect radiation.

Den strålning som träffar detektorn 30 kommer närmast från en reläoptik, schematiskt visat som en lins 80 i fig 1, och en aperturbländare 90. Aperturbländaren 90 kan ha till funktion att avskärma eventuellt ströljus, som annars skulle kunna träffa detektorn och utgöra störningskälla. Detektorn 30 betraktar aperturbländaren 90, och all strålning som når detektorn genom bländarens 90 öppning kommer från objektet 70 eller något av referensorganen 50 eller 60.The radiation hitting the detector 30 comes closest from one relay optics, schematically shown as a lens 80 in Fig. 1, and a aperture aperture 90. Aperture aperture 90 may operate to shield any stray light, which otherwise could hit the detector and be a source of interference. The detector 30 looks at the aperture aperture 90, and all the radiation that reaches the detector through the aperture 90 of the aperture 90 comes from the object 70 or any of the reference means 50 or 60.

För att åstadkomma avsökning av, skanna, ett objekt 70 ut- nyttjas ett förfarande kallat facettföljning. Strålningen som träffar detektorn 30 kommer från en roterande trumma 100 som är försedd med speglande facetter 110, vilka är anordnade gränsande till varandra längs trummans periferi. Trumman 100 drivs att rotera av en motor 120. Reläoptiken 80 kan avbilda detektorn 30 på en bildpunkt P1 ett stycke bakom facetterna 110. Den stationära bildpunkten P1 är en spegelbild av en verklig bildpunkt P2, som på grund av strålknippets reflek- tion mot en av facettytorna 110 rör sig i en båge under trummans rotation.To effect scanning of, scanning, an object 70 uses a procedure called facet tracking. The radiation that hits the detector 30 coming from a rotating drum 100 which is provided with reflective facets 110, which are provided adjacent to each other along the periphery of the drum. Trumman 100 driven to rotate by a motor 120. The relay optics 80 can image the detector 30 on a pixel P1 some distance behind the facets 110. The stationary pixel P1 is a mirror image of a actual pixel P2, which due to the reflection of the beam tion against one of the facet surfaces 110 moves in an arc below the rotation of the drum.

Bildpunkten P2 avbildas av speglar 130 och 140 på en bild- punkt P3 bakom facetterna 110. På grund av att bildpunkten P2 under ett svep löper över en båge så löper bildpunkten P3 över en båge i rymden. Bildpunkten P3 är på grund av strål- ningens reflektion mot den aktuella facetten en spegelbild av en verklig bildpunkt P4 i rymden utanför trumman. Under trummans rotation rör sig denna bildpunkt P4 över en bågfor- 10 15 20 25 30 35 SUG 674 5 mig fokallinje F2, som väsentligen har formen av en cirkel- båge. Vid bildpunkten P4 avbildas sålunda detektorn 30 i en viss skala, exempelvis tre gångers förstoring.The pixel P2 is imaged by mirrors 130 and 140 on a point P3 behind the facets 110. Due to the pixel P2 during a sweep runs over an arc, the pixel P3 runs over an arc in space. The pixel P3 is due to radiation the reflection of the ning towards the current facet a mirror image of a real pixel P4 in space outside the drum. During rotation of the drum, this pixel P4 moves over an arcuate 10 15 20 25 30 35 SUG 674 5 focal line F2, which is essentially in the form of a circular arc. Thus, at pixel P4, the detector 30 is imaged in one certain scale, such as three times magnification.

Då trumman 100 med facetter 110 roterar så bringar den sålun- da, i samverkan med spegeln 130 och spegeln 140, detektorns synfält att svepa horisontellt över en avlänkningsanordning 150 vid fokallinjen F2. Då motorns 120 axel roterar medurs bringas detektorns synfält att svepa inåt, i figur 1 bort från betraktaren, och därmed att svepa längs fokallinjen F2 (fig 2) vid avlänkningsanordningen 150. På så vis åstadkommes systemets horisontalsvep, eller linjesvep.As the drum 100 with facets 110 rotates, it thus brings da, in conjunction with the mirror 130 and the mirror 140, of the detector field of view to sweep horizontally over a deflection device 150 at the focal line F2. Then the shaft 120 of the motor rotates clockwise the field of view of the detector is swept inward, in Figure 1 from the viewer, and thus to sweep along the focal line F2 (Fig. 2) at the deflection device 150. Thus provided system horizontal sweep, or line sweep.

Avlänkningsanordningen 150 omfattar ett första avlänknings- organ 160 (fig 2), vilket är placerat i den ände av avlänk- ningsanordningen 150 där svepet börjar, ett andra avlänkningsorgan 170 (figur 2) vilket är placerat i den ände av avlänkningsanordningen 150 där svepet slutar, samt ett optikorgan 180 (figur 2), vilket är placerat mellan det första avlänkningsorganet 160 och det andra avlänknings- organet 170.The deflection device 150 comprises a first deflection device. means 160 (Fig. 2), which is located at the end of the deflection the device 150 where the sweep begins, a second deflector 170 (Figure 2) which is located in the end of the deflector 150 where the sweep ends, and an optics member 180 (Figure 2), which is located between the first deflector 160 and the second deflector body 170.

Anlänkningsorganen 160 och 170 kan exempelvis utgöras av en eller flera speglar och/eller av en eller flera linser, eller någon kombination därav.The linking means 160 and 170 may, for example, consist of one or several mirrors and / or of one or more lenses, or any combination thereof.

I analogi med att detektorn 30 avbildas på bildpunkten P4 vid fokallinjen, så avbildas bländaren 90 med skärpa på en pupill 190 vid den del av trumman 100 som vetter mot avlänknings- anordningen 150. Pupillen 190 avbildas i sin tur på referens- organet 60, på grund av strålningens avlänkning vid avlänk- ningsorganet 170.In analogy with the detector 30 being imaged at the pixel P4 at the focal line, then the aperture 90 is imaged with the focus of a pupil 190 at the part of the drum 100 facing the deflection device 150. The pupil 190 is in turn imaged on the reference means 60, due to the deflection of the radiation at the deflection 170.

När detektorns 30 synfält avsöker det första avlänknings- organet 160 bryts strålgången på ett sådant sätt av avlänk- ningsorganet 160, att detektorns synfält hela tiden betraktar väsentligen samma yta av det första referensorganet 50. Detta kan också uttryckas så att väsentligen samma yta av det första referensorganet 50 under hela denna tid avbildas på 10 15 20 25 30 35 508 av. 6 pupillen 190, vilken i sin tur avbildas på aperturbländaren 90. Referensorganet 50 avbildas alltså på bländaren 90, men omvänt gäller också att bländaren 90 avbildas på referens- organet 50. Detektorns synfält betraktar aperturbländaren 90.When the field of view of the detector 30 scans the first deflection means 160, the beam path is refracted in such a manner by deflection 160, that the field of view of the detector is constantly viewed substantially the same surface of the first reference member 50. This can also be expressed as essentially the same surface of it the first reference means 50 is imaged throughout this time 10 15 20 25 30 35 508 of. 6 the pupil 190, which in turn is imaged on the aperture diaphragm 90. The reference means 50 is thus imaged on the aperture 90, but conversely, the aperture 90 is also imaged on the reference means 50. The field of view of the detector looks at the aperture aperture 90.

Referensorganet 50 utgör en källa till strålning, såsom till exempel IR-strålning, varvid strålningsintensiteten beror av referensorganets temperatur. Då aperturbländaren 90 sålunda avbildas på referensorganet 50 mottager detektorn strålning härrörande från referensorganet, och detektorn 30 genererar då en utsignal vars nivå är beroende av strålningens inten- sitet. Eftersom strålningsintensiteten beror av referens- organets temperatur, så är alltså detektorns utsignal be- roende av referensorganets temperatur. Referensorganet 50 kan utgöras exempelvis av ett isolerat värmeelement eller ett kylelement, vars temperatur kan regleras och/eller mätas.The reference means 50 constitutes a source of radiation, such as to for example IR radiation, the radiation intensity of which depends on the temperature of the reference means. Then the aperture aperture 90 thus imaged on the reference means 50, the detector receives radiation originating from the reference means, and the detector 30 generates when an output signal whose level depends on the intensity of the radiation the site. Since the radiation intensity depends on the reference the temperature of the device, then the output signal of the detector is depending on the temperature of the reference device. The reference means 50 can consists, for example, of an insulated heating element or a cooling elements, the temperature of which can be regulated and / or measured.

Vid varje referensorgan 50, 60 finns en temperaturavkännare 200, 210 anordnad, vilken detekterar temperaturen hos respek- tive referensorgan 50, 60. Temperaturavkännarna 200 och 210, som avkänner temperaturerna hos referensorganen 50 respektive 60, är kopplade till en första ingång 220 hos kalibrerings- enheten 40, via en ledning 230. En andra ingång 240 vid kalibreringsenheten 40 är kopplad till detektorn 30. Kalibre- ringsenheten 40 mottager på den första ingången 220 infor- mation om uppmätt temperatur i referensorganen, och på den andra ingången 240 information om de strålningsvärden som registreras av detektorn 30. Kalibreringsenheten 40 förses också med information om när respektive referensorgan 50, 60 avsöks, och kan därmed relatera ett strålningsvärde vilket registreras vid avsökning av exempelvis referensorganet 60 till den temperatur som mäts vid samma referensorgan. Kali- breringsenheten 40 kan även förses med en tredje ingång för att mottaga signaler från en ytterligare enhet, vilket be- skrives senare i denna text.At each reference means 50, 60 there is a temperature sensor 200, 210, which detects the temperature of the respective reference means 50, 60. Temperature sensors 200 and 210, sensing the temperatures of the reference means 50 and 50, respectively 60, are connected to a first input 220 of the calibration unit 40, via a line 230. A second input 240 at the calibration unit 40 is connected to the detector 30. The calibration the receiving unit 40 receives at the first input 220 information measured temperature in the reference means, and on it second input 240 information about the radiation values that is detected by the detector 30. The calibration unit 40 is provided also with information on when the respective reference means 50, 60 is scanned, and can thus relate a radiation value which is registered when scanning, for example, the reference means 60 to the temperature measured at the same reference means. Potassium- the combining unit 40 can also be provided with a third input for to receive signals from an additional device, which written later in this text.

När detektorns synfält avsöker optikorganet 180 bryts strål- gången på ett sådant sätt att detektorn 30 "ser" objektet 70.When the detector's field of view scans the optic means 180, the beam is refracted. time in such a way that the detector 30 "sees" the object 70.

I det följande beskrives systemet genom att följa strålgången 10 15 20 25 30 35 500 674 7 hos strålning som härrör från objektet 70 på dess väg till detektororganet 30. Strålning som utsänds från objektet 70 fångas upp av en objektivoptik 250. Strålningen reflekteras via en vippspegel 260 till en spegel 270 och därifrån till en spegel 280. Spegeln 280 orsakar strålgången att konvergera mot fokallinjen F2 vid avlänkningsanordningen 150 såsom visas i figur 2. Vid fokallinjen F2 åstadkommes sålunda en avbild- ning, eller en mellanbild, av objektet 70. Vippspegeln 260 genomgår en vippande rörelse, vilket påverkar strålgången så att den på fokallinjen F2 projicerade bilden sveper i ver- tikalled. På så sätt åstadkommes systemets vertikalsvep, eller bildsvep.In the following, the system is described by following the beam path 10 15 20 25 30 35 500 674 7 of radiation emanating from the object 70 on its way to the detector means 30. Radiation emitted from the object 70 captured by a lens optics 250. The radiation is reflected via a tilt mirror 260 to a mirror 270 and thence to a mirror 280. The mirror 280 causes the beam path to converge against the focal line F2 at the deflector 150 as shown in Figure 2. Thus, at the focal line F2, an imaging or an intermediate image of the object 70. The tilting mirror 260 undergoes a tilting motion, which affects the beam path so that the image projected on the focal line F2 sweeps in tikalled. In this way, the vertical sweep of the system is achieved, or image swipe.

I figur 1 visas bildpunkten P5, som är en avbildning av bildpunkten P4. När bildpunkten P4 under horisontalsvepet löper längs fokallinjen F2 så löper bildpunkten P5 längs en linje vid objektet 70. På grund av vippspegelns 260 vippande rörelse åstadkommes vertikalsvepet, varför bildpunkten P5 avsöker hela objektet 70 i rasterform.Figure 1 shows the pixel P5, which is a representation of pixel P4. When the pixel P4 during the horizontal sweep runs along the focal line F2 then the pixel P5 runs along one line at the object 70. Due to the tilting of the tilt mirror 260 movement is achieved by the vertical sweep, so the pixel P5 scans the entire object 70 in raster form.

Såsom beskrivits ovan sveper detektorns synfält över optik- organet 180. Med detta horisontella svep längs fokallinjen F2 avsöker detektorn 30 en avbildning av ett aktuellt horison- tellt stycke av objektet 70. Strålning härrörande från objek- tet och reflekterad mot optikorganet 180 passerar sålunda genom fokallinjen F2 och utbreder sig i riktning mot trumman 100 med facetter 110. Vid horisontalsvepet reflekteras strål- ningen vid en facett 110 och färdas via spegeln 140 och spegeln 130, åter till en facett 110 och vidare via bländaren 90 och reläoptiken 80 till detektorn 30. Detektorn mottar sålunda växelvis strålning från referensorganen, och från objektet.As described above, the field of view of the detector sweeps over the optics. the body 180. With this horizontal sweep along the focal line F2 the detector 30 scans an image of a current horizon. piece of the object 70. Radiation emanating from the object thus reflected and reflected to the optics means 180 through the focal line F2 and extends in the direction of the drum 100 with facets 110. In the horizontal sweep, radiation is reflected at a facet 110 and travels through the mirror 140 and the mirror 130, again to a facet 110 and further via the aperture 90 and the relay optics 80 to the detector 30. The detector receives thus alternating radiation from the reference means, and from the object.

I slutet av svepet, när det andra avlänkningsorganet 170 avsöks, eller skannas, bryts strålgången på ett sådant sätt av avlänkningsorganet 170, att detektorn 30 hela tiden be- traktar väsentligen samma yta av det andra referensorganet 60. Detta innebär med andra ord att detektorn 30, under hela slutfasen av svepet, mottar strålning från en och samma yta 10 15 20 25 30 35 EGO 6*7Å 1 w 8 hos det andra referensorganet 60. Det första referensorganet 50 och det andra referensorganet 60 kan hålla skilda tempera- turer. På så vis kan en och samma detektor 30 kalibreras mot referensorgan 50, 60 med två skilda temperaturer.At the end of the sweep, when the second deflector 170 scanned, or scanned, the beam path is refracted in such a way of the deflector 170, that the detector 30 is constantly essentially the same surface of the second reference member 60. This means, in other words, that the detector 30, throughout the final phase of the sweep, receives radiation from one and the same surface 10 15 20 25 30 35 EGO 6 * 7Å 1 w 8 of the second reference means 60. The first reference means 50 and the second reference means 60 can maintain different temperatures tours. In this way, one and the same detector 30 can be calibrated against reference means 50, 60 with two different temperatures.

Det första referensorganet 50 kan tillåtas driva med omgiv- ningens eller bildupptagningssystemets 10 temperatur, medan det andra referensorganet 60 kan regleras till en förut- bestämd temperatur. Det ligger också inom uppfinningens ram att på ett förutbestämt sätt variera temperaturen hos det andra referensorganet 60, för att åstadkomma kalibrering av detektorn mot ett flertal olika temperaturer.The first reference means 50 can be allowed to operate with the environment. the temperature of the recording or imaging system 10, while the second reference means 60 can be regulated to a predetermined certain temperature. It is also within the scope of the invention to vary its temperature in a predetermined manner second reference means 60, for effecting calibration of the detector against a number of different temperatures.

FIGUR 2 Avlänkningsanordningen kan alltså exempelvis innefatta två avlänkningsorgan 160, 170 som är symmetriskt placerade på var sin sida om ett optikorgan 180. Optikorganet 180 är utformat och anordnat på ett sådant sätt att det vidarebefordrar ljus, härrörande från objektet, till systemets pupill 190 (se fig 1).FIGURE 2 The deflection device may thus, for example, comprise two deflectors 160, 170 symmetrically located on each its side about an optics member 180. The optics member 180 is formed and arranged in such a way that it transmits light, originating from the object, to the system pupil 190 (see fig 1).

I det följande beskrives för enkelhets skull funktionen och uppbyggnaden vid det andra avlänkningsorganet 170. Uppbyggnad och funktion vid det första avlänkningsorganet 160 är helt i analogi med detta.In the following, for the sake of simplicity, the function and the structure at the second deflector 170. Structure and operation at the first deflector 160 is entirely in analogy with this.

Optikorganet 180 utgöres i den första utföringsformen av en spegel. Inom uppfinningens idé ryms dock att istället låta optikorganet 180 utgöras av en lins eller helt enkelt lämna utrymmet tomt och placera systemets objektiv så att strålning från objektet, på sin väg mot systemets pupill 190, passerar mellan det första avlänkningsorganet 160 och det andra av- länkningsorganet 170.The optical member 180 in the first embodiment is constituted by a Mirror. The idea of the invention, however, is to sound instead the optics means 180 consists of a lens or simply leave the space is empty and place the system lens so that radiation from the object, on its way to the system pupil 190, passes between the first deflector 160 and the second deflector the linking means 170.

Det andra avlänkningsorganet 170 är anordnat vid sidan om, och gränsande till optikorganet 180. En avbildning av detek- torn löper under svepet längs den bågformiga fokallinjen F2 över avlänkningsorganets 170 och optikorganets 180 ytor. 10 15 20 25 30 35 500 674 9 Den del av avlänkningsorganet 170 som gränsar till optik- organet 180 är försedd med ett spetsigt stycke, vars spets 290 tangerar fokallinjen F2. Eftersom denna spets 290 är så anordnad uppnås, vid skanning, en mycket snabb övergång mellan objektet 70 och referensorganet 60. Därmed minimeras förlust av bildpunkter vid övergången mellan bild och re- ferens och svepverkningsgraden maximeras. Eftersom strål- knippets bredd är som minst i fokallinjen minimeras dubbel- bildeffekten på detta sätt. Den sida 390 av det spetsiga stycket som vetter mot optikorganet 180 är utformad så att den inte skymmer strålgången från objektet 70 via optik- organet 180 till systemets detektor 30.The second deflector 170 is arranged side by side, and adjacent to the optics means 180. An image of the detection tower runs during the sweep along the arcuate focal line F2 over the surfaces of the deflection means 170 and the optics means 180. 10 15 20 25 30 35 500 674 9 The portion of the deflector 170 adjacent to the optics the member 180 is provided with a pointed piece, the tip of which 290 touches the focal line F2. Because this tip 290 is so arranged, when scanning, a very fast transition is achieved between the object 70 and the reference means 60. This is minimized loss of pixels at the transition between image and ference and sweep efficiency are maximized. Since radiation the width of the bundle is at least in the focal line, double the image effect in this way. The page 390 of the pointed the piece facing the optics member 180 is designed so that it does not obscure the beam path from the object 70 via the optical means 180 to the system detector 30.

I fig 2 visas två strålar S10 och S11 vilka utsänds från referensorganet 60. Strålarna reflekteras vid avlänknings- organet 170 på ett sådant sätt att strålarna skär varandra i fokallinjen F2. När bildpunkten P4 under sin bana längs fokallinjen F2 sammanfaller med den punkt där strålarna S10 och S11 skär varandra så vidarebefordras strålarna S10 och S11 via pupillen 190, facetterna 110 och optiken 140, 130 och 80 till detektorn 30 såsom beskrivits ovan.Fig. 2 shows two beams S10 and S11 which are emitted from reference means 60. The beams are reflected at the deflection the means 170 in such a way that the beams intersect focal line F2. When the pixel P4 under its path along the focal line F2 coincides with the point where the rays S10 and S11 intersect so the beams S10 and S11 via the pupil 190, the facets 110 and the optics 140, 130 and 80 to the detector 30 as described above.

I fig 2 visas vidare två strålar S12 och S13 vilka utsänds något divergent från en fokalpunkt 300 på referensorganet 60.Fig. 2 further shows two beams S12 and S13 which are emitted slightly divergent from a focal point 300 on the reference means 60.

Strålarna S12 och S13 reflekteras på ett sådant sätt mot den reflekterande ytan 310 hos avlänkningsorganet 170 att strå- larna konvergerar mot en andra fokalpunkt 320 på pupillen 190. Detta tydliggör att referensorganet 60 avbildas skarpt på pupillen 190.The rays S12 and S13 are reflected towards it in such a way reflecting the surface 310 of the deflector 170 to be irradiated the larvae converge towards a second focal point 320 on the pupil 190. This clarifies that the reference means 60 is sharply imaged on the pupil 190.

Enligt en alternativ utföringsform finns ytterligare ett antal avlänkningsorgan med tillhörande referensorgan anord- nade vid sidan om avlänkningsorganet 170, vilka möjliggör att detektorn kan kalibreras mot ett flertal temperaturreferenser genom att även dessa avsöks vid svepet. Ytterligare avlänk- ningsorgan kan även placeras vid det första avlänknings- organet 160 så att dessa avsöks i början av svepet.According to an alternative embodiment, there is another number of deflection means with associated reference means arranged next to the deflector 170, which enable the detector can be calibrated against a plurality of temperature references by also scanning these at the sweep. Additional diversion means can also be placed at the first deflection the means 160 so that they are scanned at the beginning of the sweep.

I fig 2 visas också två kollimerade strålar S14 och S15 som 10 15 20 25 30 35 500 674 10 härrör från objektet 70 och närmast kommer från spegeln 270.Fig. 2 also shows two collimated beams S14 and S15 as 10 15 20 25 30 35 500 674 10 originates from the object 70 and most closely comes from the mirror 270.

Strålarna S14 och S15 reflekteras vid spegeln 280 vidare i riktning mot optikorganet 180, som utgöres av en spegel.The rays S14 and S15 are reflected at the mirror 280 further in direction of the optics member 180, which is constituted by a mirror.

Efter reflektion vid optikorganet 180 skär strålarna varandra i fokallinjen F2. När bildpunkten P4 under sin bana längs fokallinjen F2 sammanfaller med den punkt där strålarna S14 och S15 skär varandra så vidarebefordras strålarna S14 och S15 via pupillen 190, facetterna 110 och optiken 140, 130 och 80 till detektorn 30 såsom beskrivits ovan.After reflection at the optics member 180, the rays intersect in the focal line F2. When the pixel P4 under its path along the focal line F2 coincides with the point where the rays S14 and S15 intersect, the beams S14 and S15 via the pupil 190, the facets 110 and the optics 140, 130 and 80 to the detector 30 as described above.

FIGUR 3 OCH FIGUR 4 För att underlätta förståelsen av uppfinningen ges nedan en jämförelse mellan känd teknik (fig 3 och 4) och uppfinningen (fig 5 och 6).FIGURE 3 AND FIGURE 4 To facilitate the understanding of the invention, one is given below comparison between prior art (Figs. 3 and 4) and the invention (Figs. 5 and 6).

Med hänvisning till figurerna 3 och 4 beskrives här kort- fattat hur skanning av ett temperaturreferensorgan utförs enligt känd teknik. Figur 3 visar en fokallinje 330 som löper över ett avlänkningsorgan 340. Avlänkningsorganet 340 är anordnat på ett sådant sätt att strålning från ett referens- organ 350 avlänkas mot en detektor (ej visad).With reference to Figures 3 and 4, understood how scanning of a temperature reference means is performed according to known technology. Figure 3 shows a focal line 330 running over a deflector 340. The deflector 340 is arranged in such a way that radiation from a reference means 350 is deflected towards a detector (not shown).

Då skanning genomförs så löper en bildpunkt, i analogi med bildpunkten P4 i figur 2, längs fokallinjen och systemets detektor avbildas på referensorganet 350. Eftersom avlänk- ningsorganet 340 utgörs av en plan spegel, så sveper avbild- ningen av systemets detektor över referensorganets 350 yta när bildpunkten löper längs fokallinjen.When scanning is performed, a pixel runs, in analogy to pixel P4 in Figure 2, along the focal line and the system detector is imaged on the reference means 350. Since the deflection the reproducing means 340 consists of a flat mirror, so the imaging the detection of the system detector over the surface of the reference means 350 when the pixel runs along the focal line.

Vid ojämn temperatur hos referensorganet 350 erhålles därför ett första strålningsvärde baserat på strålning från en första yta 360, ett andra strålningsvärde, som skiljer sig från det första värdet, baserat på strålning från en andra yta 370 och ett tredje strålningsvärde, som skiljer sig från de båda övriga, baserat på strålning från en tredje yta 380 (se figur 4). 10 15 20 25 30 35 11 sno 674 FIGUR 5 OCH 6 Med hänvisning till figurerna 5 och 6 beskrives nedan hur detektering av strålning från ett temperaturreferensorgan utförs enligt uppfinningen. Figur 5 är en vy som betraktar avlänkningsanordningen 150 och referensorganet 60 från figur 1 ovanfrån.Therefore, at uneven temperature of the reference means 350 is obtained a first radiation value based on radiation from a first surface 360, a second radiation value, which differs from the first value, based on radiation from a second surface 370 and a third radiation value, which differs from the other two, based on radiation from a third surface 380 (see Figure 4). 10 15 20 25 30 35 11 sno 674 FIGURES 5 AND 6 With reference to Figures 5 and 6, it is described below how detection of radiation from a temperature reference means performed according to the invention. Figure 5 is a view that looks at the deflector 150 and the reference means 60 of FIG 1 from above.

Fig 5 visar en utföringsform av ett avlänkningsorgan 170 vilket är anordnat så att åtminstone dess ena kant 390 har en skarp spets 290 i fokallinjen F2. I fokallinjen F2 är en mellanbild, en avbildning av systemets detektor 30, i fokus.Fig. 5 shows an embodiment of a deflection means 170 which is arranged so that at least one edge 390 has one sharp tip 290 in the focal line F2. In the focal line F2 is one intermediate image, an image of the system detector 30, in focus.

Avlänkningsorganet 170 är så utformat att strålning från en specifik punkt på referensorganet 60 fördelas till varje enskild punkt av detektorns 30 aktiva yta. Med detektorns aktiva yta menas den yta som mottager och registrerar strål- ning. Detta innebär att varje punkt på detektorns aktiva yta "ser" samma yta på referensorganet 60. Därmed behöver inte kraven på jämn temperaturfördelning vid referensorganets 60 yta ställas lika högt som vid konventionell teknik. Referens- organet kan också göras mindre, vilket vidare medför den fördelen att det är lättare att åstadkomma en jämn temperatur över hela den yta av referensorganet som betraktas av detek- torn. Då avlänkningsorganet 170 utgöres av ett reflekterande organ så kan organet vara konkavt dubbelkrökt vid den reflek- terande ytan 310 för att åstadkomma detta. Exempelvis kan ytan 310 då vara väsentligen ellipsoidformad och ha sina brännpunkter på referensorganet 60 respektive på pupillen 190. Detta illustreras med fokalpunkterna 300 respektive 320 i fig 2.The deflector 170 is designed to radiate from one specific point on the reference means 60 is assigned to each individual point of the active surface of the detector 30. With the detector's active surface means the surface that receives and registers radiation ning. This means that each point on the active surface of the detector "sees" the same surface on the reference member 60. Thus need not the requirements for even temperature distribution at the reference means 60 surface is set as high as with conventional technology. Reference- the body can also be made smaller, which further entails it the advantage that it is easier to achieve an even temperature over the entire surface of the reference body considered by the tower. When the deflection means 170 is constituted by a reflector body, the body may be concave double-curved at the surface 310 to accomplish this. For example, can the surface 310 will then be substantially ellipsoidal in shape and have its focal points on the reference means 60 and on the pupil, respectively 190. This is illustrated by the focal points 300 and 320, respectively in Fig. 2.

När avlänkningsorganet 170 utgöres av ett refraktionsorgan så kan organet vara konvext dubbelkrökt vid den brytande ytan, eller de brytande ytorna.When the deflection means 170 is constituted by a refraction means so the member may be convex double curved at the breaking surface, or the breaking surfaces.

Referensorganet 60 kan är placerat så att en avbildning av systemets detektor är lite ur fokus på en area 400 på refe- rensorganet 60 (fig 5 och fig 6). Avlänkningsorganets reflek- 10 15 20 25 30 35 500 674 12 terande yta 310 har en sådan krökning att den förlägger systemets pupill 190 på referensorganets 60 yta 400. Såsom visas i fig 5 kan, med utgångspunkt från referensorganet 60, detta beskrivas så att en strålkon bildas med sin bas belägen på ytan 400 på referensorganet 60, och med konens spets belägen i den punkt där fokallinjen F2 tangerar avlänknings- organets spets 290 när bildpunkten P4 når spetsen 290 vid horisontalsvepet. Detta illustreras med konen 402 i fig 5.The reference means 60 may be positioned so that an image of the system's detector is a bit out of focus on an area 400 on the reference the cleaning means 60 (Fig. 5 and Fig. 6). The reflector of the deflector 10 15 20 25 30 35 500 674 12 surface 310 has such a curvature that it settles the pupil 190 of the system on the surface 400 of the reference member 60. Such as shown in Fig. 5 can, starting from the reference means 60, this is described so that a beam cone is formed with its base located on the surface 400 of the reference member 60, and with the tip of the cone located at the point where the focal line F2 touches the deflection the tip 290 of the member when the pixel P4 reaches the tip 290 at horizontal sweep. This is illustrated by the cone 402 in Fig. 5.

Konens spets utgöres av en fokalpunkt. Denna fokalpunkt sammanfaller med bildpunkten P4 och denna löper under svepet längs fokallinjen F2 medan konens bas ligger huvudsakligen stilla på ytan 400.The tip of the cone consists of a focal point. This focal point coincides with the pixel P4 and this runs during the sweep along the focal line F2 while the base of the cone lies mainly still on the surface 400.

Avlänkningsorganets reflekterande yta 310 är alltså utformad så att avbildningen av aperturbländaren 90 ligger fast på referensorganets 60 yta 400 när bildpunkten P4 löper längs fokallinjen F2 vid avlänkningsorganet 170.The reflecting surface 310 of the deflection member is thus designed so that the image of the aperture aperture 90 is fixed the surface 400 of the reference means 60 when the pixel P4 runs along the focal line F2 at the deflector 170.

Avlänkningsorganet 170 kan vara anordnat så att huvuddelen av dess reflekterande yta 310 ligger en aning ur fokus, med undantag för spetsen 290. När bildpunkten P4 under sitt svep längs fokallinjen avlägsnar sig från den reflekterande ytan 310 så bryts strålgången så att en vikt kon åstadkommes, såsom illustreras av konen 412 i fig 5. När strålgången löper i konen 412 avbildas alltså bländaren 90 fortfarande på ytan 400. Även om uppfinningen i det ovanstående beskrivits med en detektor ligger det givetvis inom uppfinningens ram att låta detektorn utgöras av ett flertal detektorelement, varvid varje detektorelement vid kalibrering kan motta strålning från huvudsakligen samma yta hos referensorganet. Beroende av onoggrannhet i pupillavbildningen kan skilda detektorelement emellertid motta strålning från ytor på referensorganet 60 som ej fullständigt sammanfaller.The deflection means 170 may be arranged so that the main part of its reflective surface 310 is slightly out of focus, with except for the tip 290. When the pixel P4 during its sweep along the focal line moves away from the reflecting surface 310, the beam path is refracted so that a weight cone is achieved, as illustrated by the cone 412 in Fig. 5. When the beam path runs thus, in the cone 412, the aperture 90 is still imaged on the surface 400. Although the invention has been described above with a detector, it is of course within the scope of the invention to sound the detector consists of a plurality of detector elements, wherein each detector element during calibration can receive radiation from substantially the same surface of the reference member. Dependent inaccuracy in pupil imaging can separate detector elements however, receiving radiation from surfaces of the reference means 60 which does not completely coincide.

Trots att det ovan beskrivna systemet utnyttjar en enda detektor och åstadkommer ett stort synfält med hjälp av organ för línjesvep respektive horisontalsvep så faller det givet- 10 15 20 25 30 35 500 674 13 vis också inom ramen för uppfinningen att istället utnyttja en grupp av detektorer, vilka var och en dekterar var sina bildpunkter för att åstadkomma en komplett bild. En sådan detektorgrupp, sk "Focal Plane Array" eller matrisdetektor, kan innefatta ett flertal detektorer anordnade bredvid varandra i ett matrismönster, och organ för horisontalsvep respektive vertikalsvep behöver inte anordnas.Although the system described above uses a single detector and provides a large field of view using means for line sweeps and horizontal sweeps, respectively, it falls 10 15 20 25 30 35 500 674 13 also within the scope of the invention to use instead a group of detectors, each of which detects its own pixels to create a complete image. Such a detector group, so-called "Focal Plane Array" or matrix detector, may comprise a plurality of detectors arranged next to it each other in a matrix pattern, and means for horizontal sweeps each vertical sweep does not need to be provided.

Om flera detektorer finns anordnade i systemet kan avlänk- ningsorganet vara så utformat att strålning från en specifik punkt på ett referensorgan fördelas till varje detektor. Det är också möjligt att låta olika detektorer mottaga strålning från olika referensorgan med sinsemmellan skilda temperatu- rer. Eftersom de enskilda detektorernas insignal/utsignal- förhållande överensstämmer mycket väl mellan olika individer är det möjligt att låta några enstaka detektorer betrakta var sina temperaturreferensorgan hela tiden, medan andra detek- torer i detektorgruppen hela tiden betraktar ett objekt.If several detectors are arranged in the system, be designed so that radiation from a specific point on a reference means is assigned to each detector. The is also possible to let different detectors receive radiation from different reference bodies with different temperatures rer. Since the input / output signals of the individual detectors relationship corresponds very well between different individuals is it possible to let a few individual detectors consider where their temperature reference means at all times, while other detectors tors in the detector group constantly look at an object.

Utsignalerna från de referensorganbetraktande detektorerna i kombination med information om de respektive temperaturerna i referensorganen kan sedan utnyttjas av kalibreringsenheten för att kalibrera de detektorer som betraktar objektet.The outputs from the reference body detecting detectors in combination with information about the respective temperatures in the reference means can then be used by the calibration unit to calibrate the detectors viewing the object.

ANDRA UTFöRINcsFoRM Anordningen enligt en andra utföringsform av uppfinningen kan användas som en separat enhet för att på ett snabbt, enkelt och kostnadseffektivt sätt kalibrerera hela bildupptag- ningssystemet i exempelvis en IR-kamera. Anordningen enligt den andra utföringsformen av uppfinningen innefattar ett referensorgan 600 vilket utsänder strålning med en intensitet som beror av referensorganets 600 temperatur, åtminstone en temperaturavkännare 610 vilken registrerar referensorganets temperatur, åtminstone ett avlänkningsorgan 620.OTHER EMBODIMENTS The device according to a second embodiment of the invention can be used as a separate device to on a quick, easy and cost-effectively calibrate the entire image capture system in, for example, an IR camera. The device according to the second embodiment of the invention comprises a reference means 600 which emits radiation with an intensity which depends on the temperature of the reference means 600, at least one temperature sensor 610 which registers the temperature of the reference means, at least one deflector 620.

I fig 7 visas en uppställning enligt den andra utföringsfor- men av uppfinningen. Enligt den andra utföringsformen av uppfinningen anordnas avlänkningsorganet 620 och ett till- hörande referensorgan 600 så att det kan skjutas in i strål- 10 15 20 25 30 35 500 674 M gången någonstans i objektivet 250. Detta illustreras med de båda pilarna för in- och utskjutningsriktning vid axeln 630 i fig 7.Fig. 7 shows an arrangement according to the second embodiment. but of the invention. According to the second embodiment of according to the invention, the deflection means 620 and an attachment associated reference means 600 so that it can be pushed into the beam 10 15 20 25 30 35 500 674 M time somewhere in the lens 250. This is illustrated by the both arrows for insertion and extension direction at the shaft 630 i fig 7.

Enligt en alternativ utföringsform anordnas avlänknings- organet 620 framför systemets objektiv 250.According to an alternative embodiment, the deflection the body 620 in front of the system lens 250.

När avlänkningsorganet 620 befinner sig inuti eller framför objektivet 250 så avbildas pupillen 190 hela tiden på väsent- ligen samma yta hos referensorganet 600 (Fig 1 och fig 7).When the deflector 620 is inside or in front lens 250, the pupil 190 is constantly imaged at the the same surface of the reference member 600 (Fig. 1 and Fig. 7).

Eftersom pupillen 190 är en avbildning av aperturbländaren 90, och detektorn betraktar bländaren 90 så mottar detektorn då strålning från väsentligen en och samma yta på referens- organet 600.Because the pupil 190 is an image of the aperture diaphragm 90, and the detector looks at the aperture 90 and receives the detector when radiation from substantially one and the same surface on the body 600.

I fig 7 visas strålarna S16 och S17 som utsänds från en punkt på referensorganet 600. Strålarna S16 och S17 reflekteras mot avlänkningsorganet 620 och konvergerar mot en punkt på pupil- len 190. I fig 7 visas detta principiellt som om strålarna reflekterades direkt från avlänkningsorganet 620 till pupil- len 190, men i realiteten kan givetvis ett antal optiska organ finnas anordnade däremellan.Fig. 7 shows the beams S16 and S17 emitted from a point on the reference means 600. The rays S16 and S17 are reflected towards deflector 620 and converges towards a point on the pupil len 190. In Fig. 7 this is shown in principle as if the rays was reflected directly from the deflector 620 to the pupil len 190, but in reality can of course a number of optical organs are arranged therebetween.

Den av referensorganet utsända strålningen reflekteras sålun- da av avlänkningsorganet 620 i bildsystemets 10 objektiv 250 och passerar genom delsystemet 20, exempelvis på så vis som beskrivits ovan, till detektorn 30. Detektorn 30 levererar i beroende av mottagen strålningsintensitet en signal till ingången 240 hos kalibreringsenheten 40. Kalibreringsenheten 40 mottager också information om temperaturen i referens- organet 600 från temperaturavkännaren 610. Temperatur- informationen levereras från temperaturavkännaren 610, via en ledning 640 till en ingång 650 hos kalibreringsenheten 40.The radiation emitted by the reference means is thus reflected by the deflector 620 in the lens 250 of the imaging system 10 and passes through the subsystem 20, for example as described above, to the detector 30. The detector 30 delivers in depending on the received radiation intensity another signal the input 240 of the calibration unit 40. The calibration unit 40 also receives information about the temperature in the reference means 600 from the temperature sensor 610. the information is supplied from the temperature sensor 610, via a line 640 to an input 650 of the calibration unit 40.

Detta innebär att varje bildpunkt eller pixel som registreras av detektorn motsvarar väsentligen en och samma yta på re- ferensorganet 600. Bildsystemet kan sålunda kalibreras med avseende på varje bildpunkt i bildrastret. Detta åstadkommes genom att varje registrerad bildpunkt, istället för att 10 15 20 500 674 15 motsvara ett stort antal olika bildpunktytor på ett objekt, motsvarar en och samma yta på referensorganet 600.This means that each pixel or pixel is registered of the detector corresponds essentially to one and the same surface on the the imaging device 600. The imaging system can thus be calibrated with with respect to each pixel in the frame. This is accomplished by each registered pixel, instead of 10 15 20 500 674 15 correspond to a large number of different pixel surfaces on an object, corresponds to one and the same surface on the reference means 600.

I det ovanstående är den andra utföringsformen beskriven med utgångspunkt från ett bildsystem baserat på registrering av objekt genom att medelst en svepanordning optiskt avsöka bildsystemets synfält. Det ligger givetvis inom uppfinningens ram att istället utnyttja en eller flera matrisdetektorer för att registrera en komplett bild. Om en komplett bild vid bildupptagning från ett objekt 70 exempelvis utgöres av strålning härrörande från N stycken bildpunkter, så kan varje enskild bildpunkt kontinuerligt registreras av var sitt detektorelement, i en matrisdetektor. Detektororganet inne- fattar då alltså exempelvis N stycken detektorelement. An- talet N kan exempelvis vara 50 000.In the above, the second embodiment is described with starting point from an image system based on registration of objects by optically scanning by means of a sweeping device visual field of view. It is, of course, within the scope of the invention frame to use one or more matrix detectors instead to register a complete image. About a complete picture at image capture from an object 70, for example, consists of radiation originating from N pixels, so can each individual pixel is continuously registered by each detector element, in a matrix detector. The detector means contains then takes, for example, N pieces of detector elements. An- the number N can be, for example, 50,000.

När den andra utföringsformen av uppfinningen används för att kalibrera detektorelementen, så avlänkas strålningen från väsentligen samma yta på referensorganet 600 till samtliga N stycken detektorelement, varför varje element vid kalibrering mottar väsentligen identisk strålning.When the second embodiment of the invention is used to calibrate the detector elements, and the radiation is deflected off substantially the same surface of the reference means 600 to all N pieces of detector elements, why each element at calibration receives essentially identical radiation.

Claims

10 15 10 15 20 500 674 16 Patent claims

A device for calibrating at least one radiation-sensitive detector means, the device comprising a mixer (90); at least one reference means (50, 60, 600) which emits radiation of a measurable intensity; at least one deflection means (160, 170, 620) which deflects radiation from the reference means; and at least one radiation-sensitive detector means (30) which detects radiation values and generates at least one output signal in dependence on detected radiation value; characterized in that in reference measurement the deflection means is arranged to image the aperture (90) on the reference means (50, 60, 600); and that the deflecting means (160, 170, 620) deflects the radiation so that the image of the aperture (90) remains on substantially the same surface of the reference means (50, 60, 600) during the time the detector means receives radiation emitted from the reference means and passes through the aperture. (90).

Device according to claim 1, characterized in that the detector means (30) comprises a group of detector elements; and that the deflection means (160, 170, 620) is designed so that each detector element receives radiation from substantially the same surface (400) of the reference means (50, 60, 600).

Device according to one of the preceding claims, characterized by a matrix detector. in that the detector means (30) consists of a

Device according to any one of the preceding claims, characterized by a reflective element; and in that the deflection means (160, 170, 620) states that the reflecting element has a substantially concave surface, for deflecting radiation.

Device according to any one of the preceding claims, characterized in that it consists of a refracting member; and in that the deflecting means (160, 170, 620) that the refracting means is substantially convexly curved at at least one surface, to deflect radiation.

Device according to one of the preceding claims, characterized in that the detecting means (30) is arranged to alternately receive radiation from an object (70) and radiation from the reference means (50, 60, 600).

Device according to claim 6, characterized by a scanning device (120, 100, 260) for performing in at least one dimension optical scanning of the object (70) and of at least one reference means (50, 60, 600); and (120, 100, 260) is arranged to move a first pixel (P4) along a focal line (F2) at the deflection means (160, 170) during a sweep. that the sweeping device

Device according to claim 7, characterized in that the deflection means (160, 170, 620) is arranged to image the aperture (90) on the reference means (50, 60) during the part of the sweep when the first pixel (P4) is moved along the focal length. the line (F2) at the deflector (160, 170).

Device according to claim 8, characterized in that the deflection means (160, 170) is provided with a pointed piece whose tip (290) is arranged to touch the focal line (F2); and the device sweeps the first pixel (P4) along the focal line (F2), thereby providing a rapid transition between scanning the object (70) and scanning the reference means (50, 60) when the first pixel (P4) during its movement along the focal line passes the tip (290).

Device according to any one of the preceding claims, characterized in that the device comprises a plurality of reference means (50, 60, 600) wherein at least one first reference means (50) has a first temperature, and at least one second reference means (60) has a second temperature different from the first temperature; that a first temperature sensor (200) is arranged to register the temperature at the first reference means (50); and 508 that a second temperature sensor (210) is arranged to record the temperature at the second reference means (60).

Device according to claim 10, characterized in that the temperature of the first reference means (50) corresponds to the ambient temperature, and the temperature of the second reference means (60) is controllable to at least a predetermined value.

Device according to one of the preceding claims, characterized in that the device comprises a calibration unit 40 which is connected to at least one temperature sensor (200, 210, 610) at at least one reference means (50, 60, 600). , and to at least one detector means (30), and that the calibration unit is arranged to relate the detected radiation values to the registered temperatures and then perform calibration of the relevant detector means (30).