SE450977B - Optiskt element for placering mellan en stralningskella och en derfor avsedd detektor - Google Patents

Optiskt element for placering mellan en stralningskella och en derfor avsedd detektor

Info

Publication number
SE450977B
SE450977B SE8302348A SE8302348A SE450977B SE 450977 B SE450977 B SE 450977B SE 8302348 A SE8302348 A SE 8302348A SE 8302348 A SE8302348 A SE 8302348A SE 450977 B SE450977 B SE 450977B
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
detector
optical element
radiation
optical
element according
Prior art date
Application number
SE8302348A
Other languages
English (en)
Other versions
SE8302348D0 (sv
SE8302348L (sv
Inventor
H G Sillitto
Original Assignee
Ferranti Plc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ferranti Plc filed Critical Ferranti Plc
Publication of SE8302348D0 publication Critical patent/SE8302348D0/sv
Publication of SE8302348L publication Critical patent/SE8302348L/sv
Publication of SE450977B publication Critical patent/SE450977B/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B13/00Optical objectives specially designed for the purposes specified below
    • G02B13/001Miniaturised objectives for electronic devices, e.g. portable telephones, webcams, PDAs, small digital cameras
    • G02B13/008Miniaturised objectives for electronic devices, e.g. portable telephones, webcams, PDAs, small digital cameras designed for infrared light
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • G01J5/0801Means for wavelength selection or discrimination
    • G01J5/0802Optical filters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • G01J5/0806Focusing or collimating elements, e.g. lenses or concave mirrors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • G01J5/0808Convex mirrors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • G01J5/0815Light concentrators, collectors or condensers
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B17/00Systems with reflecting surfaces, with or without refracting elements
    • G02B17/08Catadioptric systems
    • G02B17/0856Catadioptric systems comprising a refractive element with a reflective surface, the reflection taking place inside the element, e.g. Mangin mirrors
    • G02B17/086Catadioptric systems comprising a refractive element with a reflective surface, the reflection taking place inside the element, e.g. Mangin mirrors wherein the system is made of a single block of optical material, e.g. solid catadioptric systems
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B19/00Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics
    • G02B19/0004Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed
    • G02B19/0019Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed having reflective surfaces only (e.g. louvre systems, systems with multiple planar reflectors)
    • G02B19/0023Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed having reflective surfaces only (e.g. louvre systems, systems with multiple planar reflectors) at least one surface having optical power
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B19/00Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics
    • G02B19/0033Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use
    • G02B19/0076Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use for use with a detector
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B19/00Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics
    • G02B19/0033Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use
    • G02B19/009Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use for use with infrared radiation

Description

15 20 25 30 35 450 977 strålningen och anordnad att fokusera strålning, som passerar genom en apertur däri mot detektorn och en reflekterande skärm för detektorn utanför aperturen, vilken omfattar en första op- tisk yta med ett mittparti, som är genomskinligt för påfallande strålning och ett omgivande område, som är reflekterande för därpå fallande strålning från detektorns riktning, och en andra optisk yta, på avstånd från den första optiska ytan i riktning mot detektorn och som har ett första mittområde, anordnat att reflektera strålning, som passerar genom mittområdet i den första ytan mot den första ytans reflekterande område, och ett andra område i den första ytan, ett andra område omgivande det första omrâdet och genom vilket den nämnda strålningen, reflekterad från den första ytans reflekterande område, kan passera mot de- tektorn, samt ett yttre område, som är reflekterande mot och koncentriskt med detektorn, för att ge en reflekterande sköld åt detektorn. l Företrädesvis är det optiska elementet bildat av ett enda stycke av optiskt transmitterande material.
Uppfinningen kommer nu att beskrivas med hänvisning till de medföljande figurerna, där: fig. 1 är en sidovy i genomskärning av ett optiskt element i enlighet med en första utföringsform av uppfinningen. - Fig. 2 är en liknande vy av ett andra utförande.
Fig. 1 visar ett optiskt element, utbildat av ett massivt mate- rialblock. Materialets natur beror av elementets funktion. Om det skall användas vid infrarörda våglängder, kan zinkselenid eller germanium vara lämpligt, under det att glas kan användas vid synliga våglängder. Elementet har två optiska ytor, båda av komplex form. Den första optiska ytan 10 är den, som är när- mast strålkällan, och har ett mittplacerat plant parti 11, definierar elementets optiska apertur. Detta mittområde är SOIII transparent för strålning, men det omgivande området 12 av den första ytan är gjort reflekterande mot sådan strålning som in- faller därpå från detektorns 13 allmänna riktning. Detta åstad- kommes genom att utsidan av ytan 12 belägges med en lämplig 10 15 30 35 450 977 reflekterande beläggning. Ytan 12 har ett krökningscentrum 14) beläget på elementets optiska axel och nära elementets effektiva fokalpunkt.
Elementets andra optiska yta 15 är den yta som ligger närmast detektorn 13, och har ett delvis sfäriskt mittområde 16 med ett krökningscentrum, som ligger mycket nära punkten 14. Detta mittområde är belagt med en reflekterande beläggning, så att strålning, som passerar genom aperturen 11, reflekteras till- baka mot ytan 12. Den återstående delen 17 av den andra ytan är utbildad koncentriskt med detektorns 13 aktiva area. Ett inre band 18 av ytan 17 är kvarlämnat som transparent för strålning, som reflekteras från ytan 12 mot detektorn, och bred- den av detta band bestämmes av elementets apertur. Ytans 17 yttre del är belagd med ett reflekterande skikt för att bilda en reflekterande sköld kring detektorn 13.
Den infallande strålgången för strålar, som går in genom den plana ytan 11, visas i ritningen. Utanför elementets apertur ser detektorn endast sin egen reflektion. Om detektorn kyles till lämplig temperatur, så kommer detektorn ej att själv alstra strålningsbrus av ovan angivet slag.
Ehuru ett element av ovan beskrivet slag kan erhålla många tillämpningar, är det särskilt lämpligt för tillämpningar, där man behöver ett optiskt system med liten fysisk storlek och litet F-tal. Såsom exempel kan nämnas ett element med en öppning av 5 mm och en fokallängd av 5 mm, som då har F-talet 1. Ett dylikt optiskt system skulle vara svårt att tillverka på andra, mera konventionella sätt.
Eftersom båda de refrakterande ytorna 11 och 18 är normala mot de strålar som passerar genom dessa, så kommer brytnings- index för det material som användes för elementet ej att på- verka elementets egenskaper. Av samma skäl är dessa båda ytor fria från sfärisk aberration och koma. Ytan belägges företrä- desvis med en antireflexzionsbeläggning. De två reflekterande ytorna 12 och 16 är nästan koncentriska, för att uppnå optimal 10 15 20 25 30 450 977 sfärisk aberrationskorrektion, och är även i huvudsak fria från koma. Eftersom ingen refraktion sker, är elementet även fritt från longitudinell kromatisk aberration, och från fo- kusändringar på grund av ändringen av brytningsindex med tem- peraturen. Det senare är ett stort problem vid konventionella optiska infraröd-system med litet F-tal och fungerande med refraktion, särskilt sådana som använder germanium. Pâ grund av frånvaron av refraktion kan komponenten provas och fokuseras vid vilken som helst våglängd där materialet är transparent.
I stället för den ganska komplicerade maskinutrustning som behövs för att bilda det ovan beskrivna elementet ur en massiv kropp är det möjligt att bygga upp det ur en uppsättning speg- lar. Ett dylikt arrangemang visas-i-fig. 2 och innefattar ett filter för att eliminera strålning vid oönskade våglängder.
I fig. 2 bildas den första ytan av den sfäriska spegeln 20, som har en mittöppning 21. Mot spegelns 20 öppna ände är placerat ett filter 22, som är av zinkselenid eller germanium, om infra- röd-strålning användes. Filtret 22 uppbär mittreflektorn 23 i den andra ytan. Den reflekterande skölden kring detektorn 24 åstadkommes genom en reflektor 25, som är koncentrisk med detek- torn. Ett radiellt gap kvarlämnas mellan reflektorn 23 och spe- geln 25 för att möjliggöra passage av strålning som reflekteras från spegeln 20 emot detektorn 24.
Utförandet enligt fig. 2 fungerar på precis samma sätt som det i fig. 1 visade och har samma optiska egenskaper, utom att dis- persionen i filtret kommer att medföra en liten andel longitudi- nell kromatisk aberration. Dessutom sker mindre dämpning av strålningen, eftersom strålningen passerar endast genom filtret 22. Det kan vara möjligt att eliminera filtret 22, ehuru någon form av bärare i så fall är nödvändig för mittreflektorn 23. f)

Claims (10)

10 15 20 25 30 35 450 977 Patentkrav
1. Optiskt element för placering mellan en strålningskälla och en därför avsedd detektor samt anordnat att fokusera strål- ning, som passerar genom en apertur däri, mot detektorn, och att åstadkomma en reflekterande sköld för detektorn utanför denna apertur, k ä n n e t e c k n a t av en första optisk yta med ett mittparti, som är transparent mot därpå fallande strål- ning och ett omgivande område, som är reflekterande för därpå fallande strålning från detektorns riktning, och en andra optisk yta, som ligger på ett avstånd från den första optiska ytan, i riktning mot detektorn, och har ett första mittomrâde, anordnat att reflektera genom den första ytans mittparti passerande strål- ning, mot den första ytans reflekterande område, ett andra om- råde omgivande det första omrâdet, och genom vilket den nämnda, från den första ytans reflekterande omrâde reflekterade strål- ningen kan passera mot detektorn, och ett yttre område, som är reflekterande mot och koncentriskt med detektorn för att âstad- wa komma en reflekterande sköld åt detektorn.
2. Optiskt element enligt krav 1, k ä n n e t e c k n a t av att det första reflekterande området i den första optiska ytan och mittområdet i den andra optiska ytan är väsentligen koncent- riska.
3. Optiskt element enligt något av krav 1 eller 2, t e c k n a t k ä n n e - av att den första och andra optiska ytan är mot- satta ytor till en massiv kropp av ett material, som är transpa- rent för strålningen, och de reflekterande medlen är utbildade genom beläggning av lämpliga områden på kroppen med en strål- ningsreflekterande beläggning.
4. Optiskt element enligt krav 3, k ä n n e t e c k n a t av att den massiva kroppen är gjord av zinkselenid.
5. Optiskt element enligt krav 3, k ä n n e t e c k n a t av I att den massiva kroppen är gjord av germanium. 10 15 450 977 G»
6. Optiskt element enligt något av krav 1 eller 2, k ä n n e - t e c k n a t av att den första och andra optiska ytans reflek- terande områden omfattar separata reflekterande ytor.
7. Optiskt element enligt krav 6, k ä n n e t e c k n a t av att ett filter är anordnat att genomsläppa endast strålning av en erforderlig våglängd.
8. Optiskt element enligt krav 7, k ä n n e t e c k n a t av att filtret är gjort av zinkselenid.
9. Optiskt element enligt krav 7, k ä n n e t e c k n a t av att filtret är gjort av germanium.
10. Optiskt element enligt något av krav 7 - 9, k ä n n e - t e c k n a t av att den andra optiska ytans reflekterande mittomrâde är uppburet av filtret. 77.»
SE8302348A 1982-04-27 1983-04-26 Optiskt element for placering mellan en stralningskella och en derfor avsedd detektor SE450977B (sv)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB08211818A GB2119112B (en) 1982-04-27 1982-04-27 Optical elements

Publications (3)

Publication Number Publication Date
SE8302348D0 SE8302348D0 (sv) 1983-04-26
SE8302348L SE8302348L (sv) 1983-10-28
SE450977B true SE450977B (sv) 1987-09-07

Family

ID=10529907

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE8302348A SE450977B (sv) 1982-04-27 1983-04-26 Optiskt element for placering mellan en stralningskella och en derfor avsedd detektor

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4554448A (sv)
JP (1) JPS58202421A (sv)
CH (1) CH662189A5 (sv)
DE (1) DE3313708A1 (sv)
GB (1) GB2119112B (sv)
SE (1) SE450977B (sv)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4662726A (en) * 1983-12-01 1987-05-05 Sanders Associates, Inc. Reflective optical element
US4835380A (en) * 1987-06-11 1989-05-30 U. S. Philips Corporation Scanning device for an optical recording and/or reproducing apparatus
US4907864A (en) * 1987-08-19 1990-03-13 John E. Fetzer Foundation Macro-gradient optical density transmissive light concentrators, lenses and compound lenses of large geometry
US4851664A (en) * 1988-06-27 1989-07-25 United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Narrow band and wide angle hemispherical interference optical filter
JPH0241188U (sv) * 1988-09-10 1990-03-22
EP0363520A1 (en) * 1988-10-14 1990-04-18 Wako Corporation A photoelectric sensor
JP2621430B2 (ja) * 1988-10-21 1997-06-18 松下電器産業株式会社 光センサー
NL8803055A (nl) * 1988-12-13 1990-07-02 Philips Nv Optische aftastinrichting, spiegelobjektief geschikt voor toepassing daarin en optisch inschrijf- en/of uitleesapparaat voorzien van deze aftastinrichting.
NL8803048A (nl) * 1988-12-13 1990-07-02 Philips Nv Optische aftastinrichting, spiegelobjektief geschikt voor toepassing daarin en optische inschrijf- en/of uitleesapparaat voorzien van de aftastinrichting.
IL93738A (en) * 1990-03-14 1994-10-07 Israel State Single axis optical system made from a single portion of material
US5159495A (en) * 1990-12-11 1992-10-27 Eastman Kodak Company Graded index optical elements and catadioptric optical systems
US5258609A (en) * 1992-02-14 1993-11-02 Santa Barbara Research Center Wide field of view optical element having plural reflectors of different widths
US6885994B1 (en) * 1995-12-26 2005-04-26 Catalina Marketing International, Inc. System and method for providing shopping aids and incentives to customers through a computer network
DE19729245C1 (de) * 1997-07-09 1999-05-06 Evotec Biosystems Ag Spiegelobjektiv und dessen Verwendung
DE19928958A1 (de) * 1999-05-22 2000-11-23 Volkswagen Ag Laserscanner
US7265829B2 (en) * 2002-12-17 2007-09-04 Molecular Devices Corporation Reflective optic system for imaging microplate readers
JP3976021B2 (ja) * 2004-02-20 2007-09-12 富士ゼロックス株式会社 位置計測システム
DE102004016361B4 (de) 2004-04-01 2006-07-06 Cybio Ag Optisches Analysenmessgerät für Fluoreszenzmessungen an Multiprobenträgern
US8515223B2 (en) * 2010-07-30 2013-08-20 Hewlett-Packard Development Company. L.P. Lens

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2520635A (en) * 1949-03-10 1950-08-29 Polaroid Corp Optical system
US3527526A (en) * 1965-05-26 1970-09-08 Ernest W Silvertooth Catoptric image-forming system in which light is reflected twice from each surface
CH541140A (de) * 1971-12-31 1973-08-31 Gretag Ag Beleuchtungsanordnung
US4342503A (en) * 1979-10-09 1982-08-03 The Perkin-Elmer Corporation Catadioptric telescopes
US4392710A (en) * 1979-11-22 1983-07-12 Pilkington P. E. Limited Optical apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
SE8302348D0 (sv) 1983-04-26
DE3313708A1 (de) 1983-10-27
CH662189A5 (de) 1987-09-15
GB2119112B (en) 1985-08-29
SE8302348L (sv) 1983-10-28
US4554448A (en) 1985-11-19
GB2119112A (en) 1983-11-09
JPS58202421A (ja) 1983-11-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SE450977B (sv) Optiskt element for placering mellan en stralningskella och en derfor avsedd detektor
EP0747744B1 (en) Single catadioptric lens
US4184749A (en) Wide angle narrow bandpass optical filter system
US3825315A (en) Zoom lens optical system for infrared wavelengths
US5159495A (en) Graded index optical elements and catadioptric optical systems
US9986162B2 (en) Compact wide field-of-view optical imaging method capable of electrically switching to a narrow field of view
US3905675A (en) Optical systems having stop means for preventing passage of boundary wave radiation
US4886348A (en) Total transmissibility optical system
JP2016038574A (ja) 撮像光学系
US2520634A (en) Optical objective employing reflecting elements
US4398786A (en) Collimation lens system
US5668671A (en) Dioptric lens system
GB2136149A (en) High Magnification Afocal Infrared Telescopes
GB2030315A (en) Catadioptric Infra-red Lenses
EP1618424B1 (en) Infrared imaging system comprising monolithic lens/reflector optical component
US3217596A (en) Infrared refracting lens system
US4043643A (en) Catadioptic telescope
SE446132B (sv) "ogonlins"-system for infrarott ljus
US2576011A (en) Catadioptric optical system
JP3724520B2 (ja) 赤外用光学系
RU2718145C1 (ru) Объектив светосильный инфракрасный
US7088526B2 (en) Lens collimator and method of producing optical signals with reduced aberrations
US2707417A (en) Catadioptric objective system having a cemented correcting surface
US2683393A (en) Reflecting objective for microscopes
CN113348400A (zh) 多通道近距成像装置

Legal Events

Date Code Title Description
NUG Patent has lapsed

Ref document number: 8302348-1

Effective date: 19900411

Format of ref document f/p: F