RU96429U1 - Сканирующий зондовый микроскоп-нанотвердомер, совмещенный с оптической системой линейных измерений - Google Patents

Сканирующий зондовый микроскоп-нанотвердомер, совмещенный с оптической системой линейных измерений Download PDF

Info

Publication number
RU96429U1
RU96429U1 RU2010110686/22U RU2010110686U RU96429U1 RU 96429 U1 RU96429 U1 RU 96429U1 RU 2010110686/22 U RU2010110686/22 U RU 2010110686/22U RU 2010110686 U RU2010110686 U RU 2010110686U RU 96429 U1 RU96429 U1 RU 96429U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
unit
optical
computer
piezoresonator
scanning probe
Prior art date
Application number
RU2010110686/22U
Other languages
English (en)
Inventor
Кирилл Валерьевич Гоголинский
Эдуард Владимирович Мелекесов
Вячеслав Викторович Мещеряков
Владимир Николаевич Решетов
Алексей Серверович Усеинов
Андрей Петрович Кузнецов
Валерий Григорьевич Лысенко
Original Assignee
Федеральное государственное учреждение Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов (ФГУ ТИСНУМ)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное учреждение Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов (ФГУ ТИСНУМ) filed Critical Федеральное государственное учреждение Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов (ФГУ ТИСНУМ)
Priority to RU2010110686/22U priority Critical patent/RU96429U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU96429U1 publication Critical patent/RU96429U1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

1. Сканирующий зондовый микроскоп-нанотвердомер, совмещенный с оптической системой линейных измерений, содержащий пьезорезонатор в виде камертона, соединенный с блоком возбуждения и с блоком детектирования, при этом на одном из стержней пьезорезонатора закреплен индентор, отличающийся тем, что дополнительно снабжен трехкоординатным позиционером, содержащим платформу, расположенную на пьезоэлектрических приводах, и емкостные датчики перемещения, которые вместе с пьезоэлектрическими приводами сопряжены с блоком управления перемещением, подключенным, в свою очередь, к блоку обратной связи и ЭВМ, при этом на платформе закреплено не менее одной триппель-призмы, а позиционер дополнительно сопряжен с оптической системой, содержащей источник когерентного излучения, не менее двух юстируемых оптических элементов, акустооптический модулятор и оптический канал, связанный с фотоэлектрическим преобразователем, соединенным с блоком аналогово-цифровой обработки, с выходным каналом на ЭВМ через блок сбора, хранения и обработки информации, одновременно с этим ЭВМ и блок обратной связи соединены с блоком детектирования, и между собой, а пьзорезонатор установлен на механизме перемещения относительно исследуемого объекта и снабжен датчиком изгиба, подключенным к ЭВМ. ! 2. Сканирующий зондовый микроскоп-нанотвердомер, совмещенный с оптической системой линейных измерений по п.1, отличающийся тем, что источник когерентного излучения выполнен в виде одночастотного стабилизированного He-Ne лазера. ! 3. Сканирующий зондовый микроскоп-нанотвердомер, совмещенный с оптической системой линейных измерений по п.1, отличающийся

Description

Полезная модель относится к области сканирующей зондовой микроскопии и предназначена для исследования геометрических и механических параметров поверхности на субмикронном и нанометровом масштабе.
Существует множество приборов, использующих принципы зондовой микроскопии и нанотвердометрии, основанных на контакте зондового датчика с поверхностью исследуемого образца. В связи с внедрением подобного оборудования в технологические разработки и производственные процессы возникла необходимость повышения точности проводимых измерений и создания метрологической базы для применяемых методик. Измерение параметров рельефа поверхности (например, шероховатость) или механических свойств (твердость) связано с измерением линейных размеров. Как правило, для контроля линейных перемещений пьезосканеров используются емкостные датчики, что позволяет обеспечить довольно высокое разрешение (типично ~1 нм). Однако для повышения точности измерений и их метрологического обеспечения необходима привязка к первичным эталонам. В настоящее время эталоном единицы длины является расстояние, проходимое светом в вакууме за определенный интервал времени. Эта величина хорошо воспроизводится с использованием стабилизированного по частоте источника оптического излучения. Поэтому прослеживаемость к первичному эталону можно обеспечить, используя интерферометры на основе излучения стабилизированного лазера. Гетеродинные интерферометры гарантируют высокое разрешение, достоверность и большой динамический диапазон измерений линейных размеров в нанометровом и микрометровом диапазоне. Оснащение такими интерферометрами нанотвердомеров позволит обеспечить повышение точности и создание метрологической базы для измерений линейных размеров в нанометровом диапазоне.
Известно «Устройство для измерения механических характеристик» (RU 2108561, от 18.11.1996 г.), содержащее пьезорезонатор в виде камертона, соединенный с блоком возбуждения и с блоком детектирования, при этом на одном из стержней пьезорезонатора закреплен индентор.
Известен «Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством срезания тонких слоев объекта» (RU, №2287129 от 10.03.2006 г.), содержащий корпус с расположенным в нем трехкоординатным пьезосканером с держателем зонда и зондом, нож, держатель объекта, установленный на механизме перемещения держателя объекта относительно ножа по криволинейной траектории со смещением на толщину среза, а также устройство позиционного перемещения зонда относительно объекта, дополнительно содержащий механизм сопряжения устройства позиционного перемещения зонда с держателем объекта, причем механизм сопряжения выполнен в виде опорной плиты, расположенной в плоскости смещения по двум координатам устройства позиционного перемещения зонда.
Недостатком данных конструкций является отсутствие интерферометрических датчиков перемещения и, как следствие, не возможность обеспечения прослеживаемости измеряемых линейных размеров к эталону - длине волны оптического излучения.
Задачей полезной модели является создание прибора на принципах зондовой микроскопии и нанотвердометрии с системой сканирования, сопряженной с трехкоординатным гетеродинным интерферометром способным измерять линейные размеры при сканировании и индентировании.
Техническим результатом является повышение точности измерений линейных перемещений и размеров в нанометровом и микрометровом диапазоне.
Поставленная задача и указанный технический результат достигается тем, что сканирующий зондовый микроскоп-нанотвердомер, совмещенный с оптической системой линейных измерений, содержащий пьезорезонатор в виде камертона, соединенный с блоком возбуждения и с блоком детектирования, при этом на одном из стержней пьезорезонатора закреплен индентор, согласно полезной модели, дополнительно снабжен трехкоординатным позиционером, содержащим платформу, расположенную на пьезоэлектрических приводах и емкостные датчики перемещения, которые вместе с пьезоэлектрическими приводами сопряжены с блоком управления перемещением, подключенным, в свою очередь, к блоку обратной связи и ЭВМ, при этом на платформе закреплено не менее одной триппель призмы, а позиционер дополнительно сопряжен с оптической системой, содержащей источник когерентного излучения, не менее двух юстируемых оптических элементов, акустооптический модулятор и оптический канал, связанный с фотоэлектрическим преобразователем, соединенным с блоком аналогово-цифровой обработки, с выходным каналом на ЭВМ через блок сбора, хранения и обработки информации. Одновременно с этим ЭВМ и блок обратной связи соединены с блоком детектирования, и между собой, а пьзорезонатор установлен на механизме перемещения относительно исследуемого объекта и снабжен датчиком изгиба, подключенным к ЭВМ. При этом источник когерентного излучения выполнен в виде одночастотного стабилизированного He-Ne лазера, а юстируемые оптические элементы выполнены в виде зеркал.
Введение в систему пьезорезонатора в виде камертона с индентором, датчика изгиба пьезорезонатора, механизма перемещения, трехкоординатного позиционера, сопряженного с блоком управления, блока обратной связи, ЭВМ - позволяет изучать рельеф поверхности и измерять с высоким пространственным разрешением твердость материалов методом индентирования/склерометрии, а также методом динамического измерительного индентирования. А сопряжение трехкоординатного позиционера с оптической системой, фотоэлектрическим преобразователем и блоком аналогово-цифровой обработки позволяет увеличить точность позиционирования исследуемого объекта относительно наконечника и осуществить привязку измеряемых линейных размеров к длине волны оптического излучения.
Полезная модель поясняется чертежами, где на фиг.1 - изображена блок схема взаимодействия основных элементов, а на фиг.2 - основные элементы оптической системы.
Сканирующий зондовый нанотвердомер, с оптической системой линейных измерений содержит пьезорезонатор 1 с закрепленным индентором, установленный на механизме перемещения 2 и сопряженный с блоком возбуждения 3, и блоком детектирования 4, который соединен с блоком обратной связи 5, трехкоординатный позиционер 6, подключенный к блоку управления перемещениями 7, который в свою очередь подключен к блоку обратной связи 5, а также к ЭВМ 8, одновременно с этим к ЭВМ 8 подведены выходные линии от датчика изгиба 9, блока детектирования 4 и блока обратной связи 5, при этом трехкоординатный позиционер 6 сопряжен с оптической системой 10, через оптический канал связанный с фотоэлектрическим преобразователем 11, соединенным с блоком аналогово-цифровой обработки 12, с выходным каналом на ЭВМ 8, через блок сбора, хранения и обработки информации 13. При этом оптическая система включает в себя источник когерентного излучения 14, систему зеркал 15, триппель-призмы 16, акустооптический модулятор 17 и оптический канал 18.
Система работает следующим образом: Измеряемый образец закрепляют на платформе трехкоординатного позиционера 6. При помощи блока возбуждения 3 инициируются изгибные колебания пьезорезонатора 1. Параметры колебаний (амплитуда и частота) пьезорезонатора 1 измеряются блоком детектирования 4, далее пьезорезонатор 1 подводят к поверхности измеряемого образца с помощью механизма перемещения 2 до касания индентором исследуемого объекта. Касание определяют по изменению параметров колебаний пьезорезонатора 1, измеренных блоком детектирования 4. Сканирование поверхности образца производят при помощи подачи сигнала построчной линейной развертки с ЭВМ 8 на блок управления перемещениями 7, который обеспечивает движение платформы трехкоординатного позиционера 6 в плоскости поверхности образца XY, подавая на пьезоэлектрические приводы напряжение, корректируемое в соответствии с сигналами емкостных датчиков. Одновременно сигнал, пропорциональный амплитуде или частоте колебаний пьезорезонатора 1, с блока детектирования 4 поступает в блок обратной связи 5, который воздействует на блок управления перемещениями 7, обеспечивая перемещение образца по оси Z таким образом, чтобы амплитуда или частота колебаний пьезорезонатора 1 оставались постоянными. Сигналы блока детектирования 4, блока обратной связи 5 и блока управления перемещениями 7 поступают в ЭВМ 8 и используются для формирования трехмерных изображений рельефа поверхности, а также карт распределения механических свойств. В тоже время сигнал оптической системы 10 поступает на фотоэлектрический преобразователь 11, электрический сигнал, с выхода которого поступает на блок аналого-цифровой обработки 12 и затем, через блок сбора, хранения и обработки информации 13, поступает в ЭВМ 8. Полученные данные используются для контроля и измерений линейных перемещений трехкоординатного позиционера.

Claims (3)

1. Сканирующий зондовый микроскоп-нанотвердомер, совмещенный с оптической системой линейных измерений, содержащий пьезорезонатор в виде камертона, соединенный с блоком возбуждения и с блоком детектирования, при этом на одном из стержней пьезорезонатора закреплен индентор, отличающийся тем, что дополнительно снабжен трехкоординатным позиционером, содержащим платформу, расположенную на пьезоэлектрических приводах, и емкостные датчики перемещения, которые вместе с пьезоэлектрическими приводами сопряжены с блоком управления перемещением, подключенным, в свою очередь, к блоку обратной связи и ЭВМ, при этом на платформе закреплено не менее одной триппель-призмы, а позиционер дополнительно сопряжен с оптической системой, содержащей источник когерентного излучения, не менее двух юстируемых оптических элементов, акустооптический модулятор и оптический канал, связанный с фотоэлектрическим преобразователем, соединенным с блоком аналогово-цифровой обработки, с выходным каналом на ЭВМ через блок сбора, хранения и обработки информации, одновременно с этим ЭВМ и блок обратной связи соединены с блоком детектирования, и между собой, а пьзорезонатор установлен на механизме перемещения относительно исследуемого объекта и снабжен датчиком изгиба, подключенным к ЭВМ.
2. Сканирующий зондовый микроскоп-нанотвердомер, совмещенный с оптической системой линейных измерений по п.1, отличающийся тем, что источник когерентного излучения выполнен в виде одночастотного стабилизированного He-Ne лазера.
3. Сканирующий зондовый микроскоп-нанотвердомер, совмещенный с оптической системой линейных измерений по п.1, отличающийся тем, что юстируемые оптические элементы, закрепленные на платформе, выполнены в виде зеркал.
Figure 00000001
RU2010110686/22U 2010-03-23 2010-03-23 Сканирующий зондовый микроскоп-нанотвердомер, совмещенный с оптической системой линейных измерений RU96429U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2010110686/22U RU96429U1 (ru) 2010-03-23 2010-03-23 Сканирующий зондовый микроскоп-нанотвердомер, совмещенный с оптической системой линейных измерений

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2010110686/22U RU96429U1 (ru) 2010-03-23 2010-03-23 Сканирующий зондовый микроскоп-нанотвердомер, совмещенный с оптической системой линейных измерений

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU96429U1 true RU96429U1 (ru) 2010-07-27

Family

ID=42698350

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2010110686/22U RU96429U1 (ru) 2010-03-23 2010-03-23 Сканирующий зондовый микроскоп-нанотвердомер, совмещенный с оптической системой линейных измерений

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU96429U1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2783191C1 (ru) * 2021-12-21 2022-11-09 Акционерное общество Башкирское Специальное Конструкторское Бюро "Нефтехимавтоматика" (АО БСКБ "Нефтехимавтоматика") Способ определения пенетрации полутвёрдых материалов и устройство для его осуществления (Пенетрометр)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2783191C1 (ru) * 2021-12-21 2022-11-09 Акционерное общество Башкирское Специальное Конструкторское Бюро "Нефтехимавтоматика" (АО БСКБ "Нефтехимавтоматика") Способ определения пенетрации полутвёрдых материалов и устройство для его осуществления (Пенетрометр)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Ducourtieux et al. Development of a metrological atomic force microscope with minimized Abbe error and differential interferometer-based real-time position control
Leach et al. Advances in traceable nanometrology at the National Physical Laboratory
CN203310858U (zh) 基于探测具有纳米级表面微结构的参考模型的测量系统
Michihata et al. Development of the nano-probe system based on the laser-trapping technique
Eves Design of a large measurement-volume metrological atomic force microscope (AFM)
Byman et al. High accuracy step gauge interferometer
Perret et al. Fiber optics sensor for sub-nanometric displacement and wide bandwidth systems
Leach Introduction to surface texture measurement
JPWO2015140996A1 (ja) 走査型プローブ顕微鏡
CN105320152A (zh) 三维微动装置
Franks Nanometric surface metrology at the National Physical Laboratory
RU2442131C1 (ru) Устройство для измерения параметров рельефа поверхности и механических свойств материалов
Jäger Three-dimensional nanopositioning and nanomeasuring machine with a resolution of 0.1 nm
RU96429U1 (ru) Сканирующий зондовый микроскоп-нанотвердомер, совмещенный с оптической системой линейных измерений
CN110017803A (zh) 一种revo测头b轴零位误差标定方法
Islam et al. Development of a novel profile measurement system for actively planed surfaces
Tang et al. The Evaluation and Research of white light interference profiler about the measurement uncertainty
CN102889866A (zh) 以石墨烯键长作为计量基准的长度计量溯源方法
RU96428U1 (ru) Сканирующий нанотвердомер
Apostol et al. Nanometrology of microsystems: Interferometry
Zhang et al. Measurement range enhancement of a scanning probe by the real time adjustment of the interferometer reference mirror
TWI403687B (zh) Displacement measuring device and its measuring method
Wang Metrological atomic force microscope for calibrating nano-scale step height standards
Dorozhovets et al. Application of the metrological scanning probe microscope for high-precision, long-range, traceable measurements
Badami et al. A portable three-dimensional stylus profile measuring instrument