RU2817394C1 - Способ измерения плотности ионов многокомпонентной плазмы - Google Patents
Способ измерения плотности ионов многокомпонентной плазмы Download PDFInfo
- Publication number
- RU2817394C1 RU2817394C1 RU2023126001A RU2023126001A RU2817394C1 RU 2817394 C1 RU2817394 C1 RU 2817394C1 RU 2023126001 A RU2023126001 A RU 2023126001A RU 2023126001 A RU2023126001 A RU 2023126001A RU 2817394 C1 RU2817394 C1 RU 2817394C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- ions
- plasma
- ion
- energy
- multicomponent
- Prior art date
Links
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 title claims abstract description 135
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 49
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 28
- 238000005315 distribution function Methods 0.000 claims abstract description 20
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 7
- 230000000979 retarding effect Effects 0.000 claims abstract description 7
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims abstract 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract 2
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 8
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 abstract description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 2
- 210000002381 plasma Anatomy 0.000 description 62
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 31
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 description 24
- DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N krypton atom Chemical compound [Kr] DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 21
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 18
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 15
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 13
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 13
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 9
- 230000008859 change Effects 0.000 description 8
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 8
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 8
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 7
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 7
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 6
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 3
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 3
- 241000209094 Oryza Species 0.000 description 2
- 235000007164 Oryza sativa Nutrition 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- 235000009566 rice Nutrition 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- JXBFBSYDINUVRE-UHFFFAOYSA-N [Ne].[Ar] Chemical compound [Ne].[Ar] JXBFBSYDINUVRE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005281 excited state Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000009191 jumping Effects 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 230000003313 weakening effect Effects 0.000 description 1
Abstract
Изобретение относится к способам и устройствам для анализа ионов по энергиям, массам, зарядам с использованием электрических и магнитных полей и расчетам по результатам анализа плотности ионов плазмы и может быть использовано для определения характеристик, например потоков плазмы рабочего вещества технологических ускорителей плазмы и плазменных двигателей. Технический результат - повышение точности определения плотности ионов многокомпонентной плазмы. В способе измерения плотности ионов многокомпонентной плазмы измеряют оптический спектр излучения многокомпонентной плазмы для выделения в спектре наиболее сильных атомарных линий излучения атомов всех масс из исследуемого потока, определения парциальных вкладов ионов разных масс и эффективной массы ионов, на поток ионов, поступающих в энергоанализатор с задерживающим потенциалом, воздействуют электрическим полем, тормозящим ионы, для измерения кривой задержки I=f(Uaн), определения функции распределения ионов многокомпонентного потока по энергии и плотности ионов многокомпонентного потока по расчетной формуле. 13 ил.
Description
Изобретение относится к способам и устройствам для анализа ионов по энергиям, массам, зарядам с использованием электрических и магнитных полей и расчетам по результатам анализа плотности ионов плазмы и может быть использовано для определения характеристик, например, потоков плазмы рабочего вещества технологических ускорителей плазмы и плазменных двигателей.
Известен способ измерения плотности положительно заряженных ионов с помощью электрического зонда (зонда Ленгмюра) [Langmuir I. and Mott-Smith H. Studies of Electric Discharges in Gases at Low Pressures. Part I // General Electric Review, 1924. - V. 27, No. 7. - P. 449-455; Шотт Л. Электрические зонды. - В кн. Методы исследования параметров плазмы / Под ред. В. Лохте-Хольтгревена, М.: Мир, 1971. - 552 с.; Козлов О.В. Электрический зонд в плазме // М.: Атомиздат, 1969. - 291 с.].
Известный способ реализуется следующим образом:
1) электрический зонд заданной конфигурации (плоский, цилиндрический или сферический) помещают в область плазмы, где нужно определить плотность ионов;
2) от внешнего источника постоянного тока подают на зонд отрицательный потенциал;
3) изменяют величину потенциала до тех пор, пока ионный ток на зонд перестает изменяться - достигается его максимальное значение - ток насыщения I is ;
4) вычисляют плотность ионов из формулы для ионного тока насыщения на плоский зонд:
,
,
где
е - заряд электрона,
n i - плотность ионов в предположении квазинейтральной плазмы, когда плотность ионов n i равна плотности электронов n e ,
- средняя скорость ионов,
Т - температура ионов,
M i - масса иона;
k - постоянная Больцмана;
А - площадь поверхности зонда.
Признаками известного способа, совпадающими с существенными признаками заявляемого способа, являются:
1) вычисляют плотность ионов.
Недостатками известного способа являются:
1) зонд помещается в плазму, что приводит к эмиссии заряженных частиц с поверхности зонда и, как следствие, к изменению тока на зонд - погрешности измерения плотности ионов;
2) ток на зонд в плазме с магнитным полем зависит от ориентации собирающей поверхности зонда относительно направления магнитного поля;
3) плотность ионов измеряется косвенным методом: по ионному току насыщения на зонд I is ; измерив I is , плотность ионов рассчитывается по формуле
;
для расчета n i необходимо независимым способом измерить температуру ионов Т, которая определяет среднюю скорость :
;
4) в случае многокомпонентной плазмы масса ионов M i становится неопределенной, поэтому необходимо независимо определять парциальный вклад ионов разных масс, вводить понятие эффективной массы M eff .
Известен способ измерения плотности ионов [Patent No.: US 11,735,397 B2. Hyo Chang Lee, Jung Hyung Kim, Hee Jung Yeon. Device for measuring plasma ion density and apparatus for diagnosing plasma using the same].
Известный способ реализуется следующим образом:
1) приемо-передающие антенны выбранной конструкции размещают в области плазмы, где нужно определить плотность ионов;
2) включают микроволновой генератор электромагнитных колебаний и изменяют его частоту, например, в диапазоне 100 кГц - 500 МГц;
3) регистрируют сигнал приемной антенной и выделяют частоту отсечки f cut - off - частоту, при которой плазма перестает быть прозрачной для излучения и сигнал на приемную антенну резко падает по амплитуде;
4) конвертируют значение частоты отсечки в плотность ионов, используя соотношения:
f cut - off = f pi = ,
,
где
f pi - ионная плазменная частота;
ε 0 - диэлектрическая постоянная;
M i - масса иона плазмообразующего (рабочего) газа.
Признаками известного способа, совпадающими с существенными признаками заявляемого способа, являются:
1) вычисляют плотность ионов.
Недостатками известного способа являются:
1) плотность ионов измеряется косвенным методом: по ионной плазменной частоте f pi ; ;
2) в случае многокомпонентной плазмы масса ионов M i в формуле
становится неопределенной, поэтому необходимо независимо определять парциальный вклад ионов разных масс, вводить понятие эффективной массы M eff .
Известен способ измерения плотности положительно заряженных ионов [Афросимов В.В. Методы корпускулярной диагностики высокотемпературной плазмы / В кн. Диагностика плазмы. Выпуск 3. М.: Атомиздат, 1973. - 560 с.; Tokamak plasma diagnostics. Equipe TFR // Nuclear Fusion, 1978. - V. 18, No. 5. - Р. 647-731; Никишин А.В., Иванов И.А., Баткин В.И., Бурдаков А.В., Куклин К.Н., Меклер К.И., Поступаев В.В., Ровенских А.Ф. Многохордовая пучковая диагностика плазмы на установке ГОЛ-NB // Физика плазмы, 2022. - Т. 48, №3. - С. 212-221].
Известный способ реализуется следующим образом:
1) создают диагностический пучок нейтральных частиц требуемого типа и энергии;
2) пропускают пучок через плазму с линейным размером l;
3) регистрируют прошедший через плазму пучок нейтралов;
4) определяют отношение плотности тока J ослабленного пучка к плотности тока J 0 исходного пучка;
5) определяют линейную плотность ионов nl, используя соотношение
где
σ tot - полное сечение потерь частиц диагностического пучка;
6) зная длину l взаимодействия пучка с плазмой, определяют плотность ионов n.
Недостатками известного способа являются:
1) За ослабление моноэнергетического пучка атомов, пересекающего плазму, ответственны следующие процессы:
- обмен зарядом с ионами плазмы;
- ионизация ионами плазмы;
- ионизация электронами плазмы;
- упругое рассеяние на ионах и электрона плазмы и нейтральным газом;
- обдирка на нейтральном газе;
- обмен зарядом и ионизация примесными ионами.
Каждый из k процессов характеризуется своим сечением σ ka взаимодействия частиц плазмы с нейтральными атомами диагностического пучка. Ослабление пучка атомов с начальной плотностью n a можно записать так:
(усреднение производится по функции распределения соответствующих частиц),
где
v k a - относительная скорость сталкивающихся частиц;
σ k a - сечение процесса;
n k - плотность соответствующего типа частиц.
Плотность тока пучка, прошедшего через плазму, при учете трех основных процессов рассчитывается по формуле:
где
σ ех - сечение перезарядки,
σ ion - сечение ионизации электронным ударом,
σ аа - сечение обдирки на атомах.
Таким образом, для определения плотности ионов многокомпонентной плазмы необходимо знать функции распределения ионов и электронов плазмы и сечения процессов, вносящих вклад в ослабление диагностического пучка. Это приводит к существенному понижению точности измерения n i . В связи с этим, данный метод находит применение лишь когда плазма находится в области сильного магнитного поля и поэтому вывод ионов из плазмы в систему регистрации невозможен из-за «запирания» ионов магнитным полем в плазменном объеме.
Прототипом заявляемого способа является способ по [Strokin N.A., Kazantsev A.V., Bardakov V.M., Thang The Nguyen, and Kuzmina A.S. Jumping the anode layer in the zone of the E×B discharge // Physics of Plasmas, 2019. - V. 26, No. 7. - 073501].
Способ по прототипу реализуется следующим образом:
1) измеряют вольт-амперную характеристику - кривую задержки
I i = f(U ан )
для ионов, покидающих плазму, с помощью Энергоанализатора с Задерживающим Потенциалом (ЭЗП),
где
I i - ток ионов, изменяющийся от максимального значения - полный ток при U ан = 0, до 0 при U ан = еW макс ;
W макс - максимальная энергия анализируемых ионов;
U ан - напряжение на анализирующей сетке ЭЗП;
2) дифференцируют зависимость I i = f(U ан ) - получают зависимость , характеризующую распределение ионов по энергии - энергетический спектр ионов;
3) рассчитывают функцию распределения ионов по энергии:
;
4) рассчитывают плотность ионов как интеграл от функции распределения в диапазоне энергий от 0 до W макс :
.
Признаками способа по прототипу, совпадающими с существенными признаками заявляемого способа, являются:
1) измеряют вольт-амперную характеристику - кривую задержки
I i = f(U ан )
для ионов, покидающих плазму, с помощью энергоанализатора с задерживающим потенциалом,
где
I i - ток ионов, изменяющийся от максимального значения - полный ток при U ан = 0, до 0 при U ан = еW макс ;
W макс - максимальная энергия анализируемых ионов
U ан - напряжение на анализирующей сетке ЭЗП;
2) дифференцируют зависимость I i = f(U ан ) - получают зависимость , характеризующую распределение ионов по энергии - энергетический спектр ионов;
3) рассчитывают функцию распределения ионов по энергии:
,
4) численными методами рассчитывают плотность ионов как интеграл от функции распределения в диапазоне энергий от 0 до W макс :
.
Недостатком способа по прототипу является:
1) при работе с многокомпонентной плазмой существует неопределенность в выборе массы иона М в формуле , что приводит к ошибкам в определении плотности ионов.
При создании способа поставлена задача разработать способ, в котором остаются все положительные качества способа по прототипу и обеспечена возможность определения плотности ионов многокомпонентной плазмы с более высокой точностью.
Технический результат достигается тем, что в способе измерения плотности ионов многокомпонентной плазмы, включающем измерение кривой задержки I i = f(U ан ) ЭЗП для ионов, покидающих плазму, получение зависимости , характеризующей энергетический спектр ионов, расчет функции распределения ионов по энергии , расчет плотности ионов , согласно изобретению определяют эффективную массу ионов M eff с учетом парциальных вкладов ионов всех масс, содержащихся в исследуемой плазме, парциальные вклады ионов разных масс определяют по соотношениям наиболее сильных атомарных линий излучения соответствующих масс, расчет функции распределения ионов по энергии проводят по формуле , плотность ионов рассчитывают как .
Преимуществом заявляемого способа определения плотности ионов, по сравнению с прототипом, является повышение точности определения плотности ионов, что позволяет рассматривать заявляемый способ в новом качестве - как способ определения плотности ионов многокомпонентной плазмы.
Заявляемый способ поясняется чертежами, приведенными на Фиг. 1-13.
На Фиг. 1 приведен пример кривой задержки (а), и энергетический спектр (б), которые получены при разрядном напряжении на аноде УАС U A = 1700 В, радиальной компоненте магнитного поля на аноде УАС B rA = 970 Гс, рабочем давлении Р = 1,5⋅10-4 торр; рабочая среда - смесь газов неона (Ne), аргона (Ar) и криптона (Kr) со скоростями напуска q Ne = q Ar = q Kr = 6 sccm.
На Фиг. 2 показана эволюция распределения ионов по энергии при изменении величины индукции магнитного поля в разрядной камере УАС. Условия эксперимента: U A = 1700 В, Р = 1,5⋅10-4 торр; однокомпонентная рабочая среда: криптон, q Kr = 13 sccm; спектр 1 получен при B rA = 340 Гс, 2 - 660 Гс, 3 - 820 Гс, 4 - 910 Гс, 5 - 980 Гс.
На Фиг. 3 приведен график n = f(B rA ) зависимости плотности ионов от индукции магнитного поля, который получен из спектров, показанных на Фиг. 2. Условия эксперимента: U A = 1700 В, Р = 1,5⋅10-4 торр; однокомпонентная рабочая среда: криптон, q Kr = 13 sccm; спектр 1 получен при B rA = 340 Гс, 2 - 660 Гс, 3 - 820 Гс, 4 - 910 Гс, 5 - 980 Гс.
На Фиг. 4 показаны спектры излучения плазмы, которые соответствуют распределениям ионов по энергии, приведенным на Фиг. 2; по оси х - длина волны в нм, по оси y - интенсивность I линий в относительных единицах, нормированная на 1.
На Фиг. 5 приведены зависимости интенсивности I = f(B rA ) сильных атомарных линий криптона: кривая 1 длина волны 829,62 нм, кривая 2 - 758,67 нм; данные линии есть (излучаются плазмой) при все магнитных полях, которые устанавливались в эксперименте.
На Фиг. 6 даны спектры ионов по энергии в случае двухкомпонентной рабочей среды: аргон плюс криптон; B rA = 340÷ 990 Гс; U A = 1300 В; Р = 1,8⋅10-4 торр; q Ar = q Kr = 5 sccm.
На Фиг. 7 приведены графики изменения интенсивности атомарных линий аргона Ar I 750,32 нм (кривая 1) и криптона Kr I 760,07 нм (кривая 2). Условия эксперимента: рабочая среда: аргон плюс криптон; B rA = 340 ÷ 990 Гс; U A = 1300 В; Р = 1,8⋅10-4 торр; q Ar = q Kr = 5 sccm.
На Фиг. 8 приведены графики n = f(B rA ): кривая 1 - когда расчет плотности проводился по средней массе ионов M = М av = (М Ar + M Kr )/2; кривая 2 - M = М eff . Условия эксперимента: рабочая среда: аргон плюс криптон; B rA = 340 ÷ 990 Гс; U A = 1300 В; Р = 1,8⋅10-4 торр; q Ar = q Kr = 5 sccm.
На Фиг. 9 приведены результаты аналитической аппроксимация сечений столкновений электронов с атомами инертных газов, которые адаптированы из статьи [Успехи прикладной физики, 2021. - Т. 9, №4. - С. 298-309; рис. 2-4].
На Фиг. 10 приведена измеренная функция распределения электронов по энергии (вероятность) в камере плазменного ускорителя с протяженной зоной ускорения, где горит несамостоятельный разряд в скрещенных электрическом и магнитном полях [адаптирован рис. 4 из работы Tichy M., Petin A., Kudrna P., Horky M., and Mazouffre S. Electron energy distribution function in a low-power Hall thruster discharge and near-field plume // Physics of Plasmas, 2018. - V. 25. - 061205].
На Фиг. 11 иллюстрируется изменение интенсивностей линий трех возбужденных атомов: (а) - криптона Kr I 811,59 нм (кривая 1), аргона Ar I 750,55 нм (2) и неона Ne I 585,72 нм (3); (б) - аргона Ar I 750,55 нм (кривая 1) и криптона Kr I 811,59 нм (2). Условия эксперимента: q Ar = q Kr = 2 sccm; U A = 1100 В; B rA = 470 Гс.
На Фиг. 12 демонстрируется эволюция энергетических спектров ионов при росте скорости напуска неона: кривая 1 q Ne = 0 sccm, 2 - 20, 3 - 46, 4 - 58, 5 - 69, 6 - 94, 7 - 112. Условия эксперимента: q Ar = q Kr = 2 sccm; U A = 1100 В; B rA = 470 Гс.
На Фиг. 13 приведены зависимости плотности ионов, рассчитанные по энергетическим спектрам, приведенным на Фиг. 12, от скорости напуска неона: кривая 1 - M = M Ne; кривая 2 - M = M eff . Условия эксперимента: q Ar = q Kr = 2 sccm; U A = 1100 В; B rA = 470 Гс.
Опишем использование заявляемого способа на примере измерения плотности одно-, двух- и трехкомпонентного потока ионов инертных газов (неон, аргон, криптон) из плазменного Ускорителя с Анодным Слоем (УАС), в котором горит самостоятельный стационарный разряд в скрещенных электрическом и магнитном полях.
Энергоанализатор с задерживающим потенциалом устанавливается вблизи кольцевого отверстия в катоде УАС - на выходе УАС. Изменяя напряжение U ан на анализирующей сетке УАС и измеряя суммарный по всем типам ионов ток, приходящий на коллектор УАС, получают кривую задержки I i = f(U ан ). На Фиг. 1а приведен пример кривой задержки, на Фиг. 1б - энергетический спектр , когда разрядное напряжение на аноде УАС U A = 1700 В, радиальная (основная в разрядном промежутке УАС) компонента магнитного поля на аноде УАС B rA = 970 Гс, рабочее давление Р = 1,5⋅10-4 торр, рабочая среда - смесь газов неона (Ne), аргона (Ar) и криптона (Kr) со скоростями напуска q Ne = q Ar = q Kr = 6 стандартных кубических сантиметров в минуту (sccm).
Целью научных исследований, обычно, является получение сведений о поведении заданного плазменного параметра, в нашем случае - плотности ионов при изменении внешних воздействий в максимально широком диапазоне значений. На Фиг. 2 приведен пример эволюции распределения ионов по энергии при изменении величины индукции магнитного поля в разрядной камере УАС. Условия эксперимента: U A = 1700 В, Р = 1,5⋅10-4 торр, рабочая среда - криптон (однокомпонентная), q K r = 13 sccm; спектр 1 получен при B rA = 340 Гс, 2 - 660 Гс, 3 - 820 Гс, 4 - 910 Гс, 5 - 980 Гс. Распределения ионов по энергии при росте B rA сдвигаются как целое в сторону высоких энергий, проходя через неустойчивый (много-пучковый спектр - кривая 3) режим разряда.
Полученные спектры ионов по энергии позволяют одним из численных методов при известной площади коллектора и диапазоне энергий, предварительно (обычно) выполнив аппроксимацию кривой задержки (сплайнами или полиноминальную), рассчитать плотность ионов по формуле: . На Фиг. 3 приведен график n = f(B rA ) зависимости плотности ионов от индукции магнитного поля, который получен из спектров, показанных на Фиг. 2.
Одновременно с измерением энергетического спектра ионов осуществляется регистрация спектров излучения плазмы, которые, для иллюстрации, приведены на Фиг. 4 и соответствуют распределениям ионов по энергии, которые приведены на Фиг. 2; по оси х - длина волны в нм, по оси y - интенсивность I линии в относительных единицах, нормированная на 1. Выбрав сильные атомарные линии криптона, например, с длиной волны 758,67 и 829,62 нм, которые есть при все магнитных полях, можно построить зависимости I = f(B rA ), которые приведены на Фиг. 5.
Ход зависимостей n = f(B rA ) и I = f(B rA ) можно сравнить между собой. Видно, что плотность ионов и интенсивность излучения возбужденных атомов коррелируют между собой.
Приведем пример двухкомпонентной плазмообразующей среды: аргон плюс криптон; q Ar = q Kr = 5 sccm; U A = 1300 В; Р = 1,8⋅10-4 торр; магнитное поле - изменяется в диапазоне 340 ÷ 990 Гс. На Фиг. 6 даны спектры ионов по энергии, на Фиг. 7 - соответствующие им графики изменения интенсивности атомарных линий аргона Ar I 750,32 нм (кривая 1) и криптона Kr I 760,07 нм (2).
Дальше необходимо, рассчитав функцию распределения , проинтегрировав f(W), посмотреть ход плотности при изменении магнитного поля. Но возникает вопрос: какую массу подставлять в формулу для f(W). И число атомов Ar и Kr в рабочем объеме (при одинаковой скорости напуска) разное, и потенциалы ионизации разные: ϕ Ar = 15,68 эВ; ϕ Kr = 14 эВ. На Фиг. 8 (кривая 1) приведен график n = f(B rA ) при средней массе М av = (М Ar + M Kr )/2. С учетом вышесказанного, есть недоверие к такой величине массы и, следовательно, зависимости n = f(B rA ).
Анализируя атомарные спектры излучения, можно определить соотношение интенсивностей линий излучения различных атомов. Так для интенсивности линий излучения, приведенных на Фиг. 7, значения соотношений интенсивностей даны в таблице 1.
Таблица 1 | ||||||||||
B rA , Гс | 340 | 470 | 660 | 720 | 820 | 870 | 910 | 930 | 970 | 1010 |
I(KrI)/I(ArI) | 2,16 | 2,024 | 2,12 | 2,2 | 2,26 | 2,14 | 2,19 | 2,13 | 2,03 | 2,07 |
Средняя величина [I(KrI)/I(ArI)]ср ≈ 2,13; максимальное отклонение от средней величины составляет около 6%.
Можно предложить ввести эффективную массу M eff , в которую массы аргона и криптона будут входить в соотношениях, равных отношениями интенсивностей излучения линий аргона и криптона при тех же экспериментальных условиях. Такое предложение основывается на ожидаемом свойстве: число ионов каждой компоненты газовой смеси прямо пропорционально числу возбужденных атомов того же типа. Базой для такого предложения является одинаковая функциональная зависимость сечений возбуждения σ ex и ионизации σ ion [Голятина Р.И., Майоров С.А. Аналитическая аппроксимация сечений столкновений электронов с атомами инертных газов // Успехи прикладной физики, 2021. - Т. 9, №4. - С. 298-309; рис. 2-4], которые приведены на Фиг. 9.
Кроме того, распределение электронов плазмы по энергии в разряде в скрещенных электрическом и магнитном полях имеет одинаковую функциональную зависимость в диапазоне энергий электронов, осуществляющих столкновительное возбуждение нейтралов, и рядом - когда происходит ионизация атомов электронным ударом; сохраняется постоянное соотношение между возбужденными и ионизованными атомами при измерении внешних параметров разряда. Это можно проиллюстрировать Фиг. 10, на которой приведена измеренная функция распределения электронов по энергии (вероятность) в камере плазменного ускорителя с протяженной зоной ускорения, где горит несамостоятельный (есть дополнительный внешний источник электронов) разряд в скрещенных электрическом и магнитном полях [адаптированный рис. 4 из работы Tichy M., Petin A., Kudrna P., Horky M., and Mazouffre S. Electron energy distribution function in a low-power Hall thruster discharge and near-field plume // Physics of Plasmas, 2018. - V. 25. - 061205].
Учитывая сказанное, Фиг. 8, где уже приведен график n = f(B rA ), построенный для случая M = M av = 61,9 а.е.м. (кривая 1), дополнена кривой 2, для которой M = M eff = 70,1 а.е.м..
Сравнивая данные, показанные на Фиг. 7 и Фиг. 8, можно сделать вывод о том, что функциональные зависимости плотности ионов и интенсивности излучения одинаковые в случае использования M = M eff .
Приведем пример определения зависимости плотности ионов от давления трехкомпонентного (Ne, Ar, Kr) плазмаобразующего газа, которое изменяется при росте скорости напуска одного из газов - неона: n = f(q Ne ); при этом q Ar = q Kr = 2 sccm; U A = 1100 В; B rA = 470 Гс. Для расчета парциальных коэффициентов при каждом из значений q Ne при определении M eff использовались сильные линии излучения Ne I 585,72 нм; Ar I 750,55 нм; Kr I 811,59 нм. Например, при q Ne = 53 sccm эффективная масса рассчитывалась так: M eff = I(Ne)⋅M Ne + I(Ar)⋅M Ar + I(Kr)⋅M Kr = 14,45⋅20,179 + 13,07⋅39,498 + 5,11⋅83,8 = 32,63 а.е.м., где I(Ne), I(Ar) и I(Kr) - относительные интенсивности линий неона, аргона и криптона. Изменение интенсивностей линий трех возбужденных атомов иллюстрируется Фиг. 11 (а - три газа; б - без неона - аргон и криптон).
На Фиг. 12 показана эволюция энергетических спектров ионов при росте скорости напуска неона: кривая 1 q Ne = 0 sccm, 2 - 20, 3 - 46, 4 - 58, 5 - 69, 6 - 94, 7 - 112. Площадь под спектрами монотонно растет с опережающим ростом числа сравнительно низкоэнергетичных (W ≤ 400 эВ) ионов.
По спектрам Фиг. 12 вычислены и построены зависимости плотности ионов от скорости напуска неона, которые приведены на Фиг. 13: кривая 1 - M = M Ne; кривая 2 - M = M eff . Зависимости 1 и 2 расходятся: разность [n(M Ne) - n(M Ne)] с ростом q Ne - уменьшением парциального вклада аргона и криптона в давление смеси нейтральных газов, растет. Это неочевидный эффект, требующий изучения, в том числе, и с учетом возможного влияния метастабильного возбужденного состояния неона, потенциал возбуждения которого ϕ ex . m ≈ 16,7 эВ больше потенциалов ионизации ϕ Ar , ϕ Kr .
Как следует из приведенного обоснования, есть прямой способ определения плотности ионов - как интеграла от функции распределения ионов по энергии. Непосредственное измерение плотности ионов в низкотемпературной плазме со степенью ионизации меньшей 100 %, без магнитного поля и с магнитным полем, величина которого недостаточна для замагничивания ионов (ларморовский радиус ионов много больше характерных размеров области разряда), возможно с помощью, например, энергоанализатора с задерживающим потенциалом. Однако ЭЗП дает суммарный спектр ионов в случае многокомпонентной плазмы, интегрируя который нельзя с достаточной точностью вычислить суммарную плотность ионов из-за невозможности учесть парциальные вклады ионов всех плазмообразующих газов. Как было выяснено в процессе работы над заявляемым изобретением, зависимости интенсивностей сильных линий излучения возбужденных атомов и энергетические спектры ионов подобным образом зависят от величины индукции магнитного поля, рабочих давления и разрядного напряжения. Причем отношение интенсивностей I сильных линий возбужденных атомов остается с точностью ~ 10% постоянным во всем диапазоне изменения магнитной индукции в используемом УАС (на аноде B rA = 340 ÷ 1100 Гс; на катоде - в области генерации эмиссионных электронов изменяется, соответственно, от 1360 до 4000 Гс). Оценивать парциальный вклад ионов в формирование кривой задержки ЭЗП можно по отношению интенсивностей сильных линий возбужденных атомов. В таком случае при вычислении плотности ионов по функции распределения ионов по энергии нужно вводить «эффективную массу» ионов в соответствии с их парциальным вкладом в суммарную интенсивность выбранных линий, например, в трехкомпонентной плазме: M eff = I(Ne)⋅M Ne + I(Ar)⋅M Ar + I(Kr)⋅M Kr, где I(Ne), I(Ar) и I(Kr) - относительные интенсивности линий неона, аргона и криптона.
Затруднений с получением спектров излучения нет. Техника спектроскопии излучения плазмы развита хорошо: выпускается ряд спектрометров, например, с оптоволоконными каналами регистрации, измерения которыми можно проводить одновременно со снятием энергетических спектров ионов и выделять в спектрах излучения наиболее сильные линии возбужденных атомов.
Таким образом, заявляется способ определения плотности ионов в многокомпонентной плазме в рамках прямого измерения распределений ионов по энергии и определения плотности в процессе численного интегрирования функции распределения, вводя в расчетную формулу эффективную массу ионов с учетом парциального вклада ионов всех масс, формирующий рабочий плазмаобразующий газ.
Claims (11)
- Способ измерения плотности ионов многокомпонентной плазмы, заключающийся в том, что на поток ионов, поступающих в энергоанализатор с задерживающим потенциалом, воздействуют электрическим полем, тормозящим ионы, для измерения кривой задержки I=ƒ(Uaн), определения функции распределения ионов по энергии и плотности ионов отличающийся тем, что измеряют оптический спектр излучения многокомпонентной плазмы для выделения в спектре наиболее сильных атомарных линий излучения атомов всех масс из исследуемого потока, определения парциальных вкладов ионов разных масс и эффективной массы ионов Мeƒƒ, на поток ионов, поступающих в энергоанализатор с задерживающим потенциалом, воздействуют электрическим полем, тормозящим ионы, для измерения кривой задержки I=ƒ(Uaн), определения функции распределения ионов многокомпонентного потока по энергии и плотности ионов многокомпонентного потока
- где I - ток ионов, А;
- Uан - тормозящее ионы напряжение на анализирующей сетке энергоанализатора с задерживающим потенциалом, В;
- W - энергия ионов, Дж;
- Wмакс - максимальная энергия ионов из исследуемого диапазона энергий, Дж;
- ƒ(W) - функция распределения ионов по энергии, относительных единиц;
- е - заряд электрона, Кл;
- М - масса иона, кг;
- Meƒƒ - эффективная масса иона, кг;
- n - плотность ионов, м-3;
- А - площадь коллектора энергоанализатора с задерживающим потенциалом, м2.
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2817394C1 true RU2817394C1 (ru) | 2024-04-16 |
Family
ID=
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2515207C2 (ru) * | 2009-02-17 | 2014-05-10 | Медимейт Холдинг Б.В. | Устройство для измерения концентрации заряженных частиц |
US11735397B2 (en) * | 2021-02-19 | 2023-08-22 | Korea Research Institute Of Standards And Science | Device for measuring plasma ion density and apparatus for diagnosing plasma using the same |
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2515207C2 (ru) * | 2009-02-17 | 2014-05-10 | Медимейт Холдинг Б.В. | Устройство для измерения концентрации заряженных частиц |
US11735397B2 (en) * | 2021-02-19 | 2023-08-22 | Korea Research Institute Of Standards And Science | Device for measuring plasma ion density and apparatus for diagnosing plasma using the same |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
STROKIN N.A. Jumping the anode layer in the zone of the E'B discharge, Physics of Plasmas, 2019, v. 26, No. 7, 073501-1-073501-7. * |
НИКИШИН А.В. Многохордовая пучковая диагностика плазмы на установке ГОЛ-NB, Физика плазмы, 2022, т. 48, N 3, c. 212-221. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Hemmers et al. | High-resolution electron time-of-flight apparatus for the soft x-ray region | |
Nakles et al. | Background pressure effects on ion velocity distribution within a medium-power Hall thruster | |
Williams et al. | Charge exchange and dissociation cross sections for H 1+, H 2+, and H 3+ ions of 2-to 50-kev energy incident upon hydrogen and the inert gases | |
Rodbro et al. | Charge transfer to the continuum for 15 to 1500 keV H+ in He, Ne, Ar and H2 gases under single-collision conditions | |
Vance et al. | Inelastic Collisions of H2+ and N2+ Ions with Hydrogen Molecules | |
Dahl et al. | Auger spectroscopy on heavy-ion-atom collisions. I. Kinematic effects and apparatus | |
Thomas et al. | Measurements of wave-breaking radiation from a laser-wakefield accelerator | |
Spyrou et al. | Spectroscopic study of a positive streamer in a point-to-plane discharge in air: evaluation of the electric field distribution | |
Rahman et al. | Electron ionization of NF3 | |
Pullins et al. | Ion dynamics in Hall effect and ion thrusters-Xe (+)+ Xe symmetric charge transfer | |
Grames et al. | High precision 5 MeV Mott polarimeter | |
Lozano et al. | Total electron-scattering cross sections from pyridine molecules in the energy range 1–200 eV | |
Briom et al. | Electon spectroscopy using exeted atoms and photons of Penning ionization of the rare gases | |
Nakles et al. | Background pressure effects on internal and near-field ion velocity distribution of the BHT-600 Hall thruster | |
Huang et al. | Laser-induced fluorescence of singly-charged xenon inside a 6-kW Hall thruster | |
RU2817394C1 (ru) | Способ измерения плотности ионов многокомпонентной плазмы | |
Tretyakov et al. | Effect of photoions on the line shape of the Förster resonance lines and microwave transitions in cold rubidium Rydberg atoms | |
Dyatko et al. | Evaluation of the electric field strength in a pre-breakdown ionization wave in a long discharge tube from the emission spectrum | |
Maosheng et al. | Hyperfine-structure measurements in 141 Pr II and 1 4 3, 1 4 5 Nd II by collinear laser-ion-beam spectroscopy | |
Bickert et al. | Triple differential cross section of single Ar (2p) ionization by electron impact in the keV region | |
Toburen et al. | Time‐of‐flight measurements of low‐energy electron energy distributions from ion–atom collisions | |
Beiersdorfer | Physics of and recent results from the Lawrence Livermore EBIT source | |
Andersen et al. | Structural properties of the negative strontium ion: Binding energy and fine-structure splitting | |
Paudel et al. | Investigation of the intensity dependence of glow discharge mass spectrometry quantification on the discharge parameters | |
Lomsadze et al. | Inelastic processes in K+-He collisions in energy range 0.7–10 keV |