RU2813230C1 - Interference microscope with optical difference compensator - Google Patents
Interference microscope with optical difference compensator Download PDFInfo
- Publication number
- RU2813230C1 RU2813230C1 RU2023117755A RU2023117755A RU2813230C1 RU 2813230 C1 RU2813230 C1 RU 2813230C1 RU 2023117755 A RU2023117755 A RU 2023117755A RU 2023117755 A RU2023117755 A RU 2023117755A RU 2813230 C1 RU2813230 C1 RU 2813230C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- optical path
- path difference
- compensator
- mirror
- optical
- Prior art date
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 32
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 13
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 abstract description 5
- 238000000386 microscopy Methods 0.000 abstract description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 abstract description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 2
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 229940079593 drug Drugs 0.000 description 1
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 230000036039 immunity Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
Images
Abstract
Description
Заявленное техническое решение относится к области микроскопии, а именно к интерференционным просветным микроскопам, и предназначено для получения фазовых сдвигов в полупрозрачных объектах при использовании набора объективов и предметных стекол различной толщины или находящихся в жидкостном слое неизвестной толщины.The claimed technical solution relates to the field of microscopy, namely to interference transmission microscopes, and is intended to obtain phase shifts in translucent objects using a set of objectives and glass slides of varying thickness or located in a liquid layer of unknown thickness.
Методы интерференционной микроскопии успешно применяются для исследования оптических свойств широкого круга микрообъектов, начиная от исследования материалов и заканчивая биологическими объектами. Основными преимуществами интерференционной микроскопии являются высокое пространственное разрешение, неинвазивный характер измерения, а также отсутствие специальных требований к среде измерения (вакуум, красители).Interference microscopy methods are successfully used to study the optical properties of a wide range of microobjects, ranging from the study of materials to biological objects. The main advantages of interference microscopy are high spatial resolution, non-invasive nature of the measurement, and the absence of special requirements for the measurement environment (vacuum, dyes).
К настоящему времени отсутствуют известные решения в области просветной интерференционной микроскопии, позволяющие выполнять измерение с различным увеличением объектов произвольной толщины без существенной перенастройки системы.To date, there are no known solutions in the field of transmission interference microscopy that allow measurements with different magnifications of objects of arbitrary thickness without significant reconfiguration of the system.
В ряде опубликованных интерференционных микроскопов использована двулучевая схема интерферометра Маха-Цендера (например: А.Н. Захарьевский, А.Ф. Кузнецова. Интерференционные биологические микроскопы. Цитология, 1961), которая предназначена для формирования интерференционных изображений биологических объектов в проходящем свете.A number of published interference microscopes use a two-beam scheme of a Mach-Zehnder interferometer (for example: A.N. Zakharyevsky, A.F. Kuznetsova. Interference biological microscopes. Cytology, 1961), which is designed to form interference images of biological objects in transmitted light.
Известен просветный интерференционный микроскоп, выполненный по схеме деления пучков Маха-Цендера (патент US №2950649 с приоритетом от 02.08.1955, опубликованный 30.08.1960, МПК G02B 21/14). Микроскоп основан на двух ветвях с идентичными оптическими элементами. В одной из ветвей располагается исследуемый препарат, в другой эталонный объект. Шаговый сдвиг осуществляется путем поперечного смещения компенсационных клиньев. Преимуществом данного микроскопа является простота реализации и установки компенсационных клиньев в оптическую схему микроскопа. Недостатком является наличие четырех дополнительный оптических поверхностей, которые при использовании когерентных оптических источников излучения (лазеров) формируют паразитную спекловую картину и, как следствие, паразитный рельеф на фазовом образе объекта.A known transmission interference microscope is made according to the Mach-Zehnder beam division scheme (US patent No. 2950649 with priority dated 08/02/1955, published 08/30/1960, IPC G02B 21/14). The microscope is based on two arms with identical optical elements. The drug under study is located in one of the branches, and the reference object in the other. The step shift is carried out by transverse displacement of the compensation wedges. The advantage of this microscope is the ease of implementation and installation of compensation wedges in the optical circuit of the microscope. The disadvantage is the presence of four additional optical surfaces, which, when using coherent optical radiation sources (lasers), form a parasitic speckle pattern and, as a consequence, a parasitic relief on the phase image of the object.
Данное устройство выбрано за наиболее близкий аналог.This device was chosen as the closest analogue.
Задачей, на решение которой направлено заявляемое техническое решение, является создание системы интерференционного микроскопа, работающего в проходящем свете и обеспечивающего измерение объектов с различной оптической разницей хода для набора микрообъективов различного увеличения.The problem to be solved by the claimed technical solution is the creation of an interference microscope system that operates in transmitted light and provides measurement of objects with different optical path differences for a set of microlenses of different magnifications.
Технический результат, достигаемый при решении поставленной задачи, заключается в получении фазовых образов в полупрозрачных средах при использовании набора объективов и предметных стекол различной толщины или находящихся в жидкостном слое неизвестной толщины.The technical result achieved by solving the problem is to obtain phase images in translucent media using a set of lenses and glass slides of varying thickness or located in a liquid layer of unknown thickness.
Задача решается, а технический результат достигается за счет того, что просветный интерференционный микроскоп содержит интерферометр, состоящий из светоделителей и опорного плеча с модулирующим зеркалом, оптическую проекционную систему, включающую объектив и тубусный компонент, и фотоприемник.The problem is solved, and the technical result is achieved due to the fact that the transmission interference microscope contains an interferometer consisting of beam splitters and a support arm with a modulating mirror, an optical projection system including a lens and a tube component, and a photodetector.
При этом, в отличие от ближайшего аналога, устройство дополнительно содержит компенсатор оптической разности хода, состоящий из зеркала и механизмов продольного и поперечного перемещения.Moreover, unlike its closest analogue, the device additionally contains an optical path difference compensator, consisting of a mirror and mechanisms for longitudinal and transverse movement.
Светоделитель необходим для формирования двух пространственно-распределенных световых пучков от когерентного источника излучения.A beam splitter is necessary to form two spatially distributed light beams from a coherent radiation source.
Опорное плечо с модулирующим зеркалом позволяет модулировать оптическую разность хода в интерферометре.A reference arm with a modulating mirror allows you to modulate the optical path difference in the interferometer.
Оптическая система, включающая объектив и тубусный компонент, предназначена для формирования изображения в плоскости фотоприемника.The optical system, including a lens and a tube component, is designed to form an image in the plane of the photodetector.
Фотоприемник служит для получения и оцифровки интерферограмм.The photodetector is used to obtain and digitize interferograms.
Компенсатор оптической разницы хода (далее - компенсатор ОРХ) компенсирует ОРХ, возникающую при смене микрообъективов.The optical travel difference compensator (hereinafter referred to as the ORX compensator) compensates for the ORX that occurs when changing microlenses.
Сущность заявленного решения поясняется иллюстрацией.The essence of the claimed solution is illustrated by illustration.
На чертеже изображена структурная схема микроскопа, где:The drawing shows a block diagram of a microscope, where:
1 - лазер,1 - laser,
2.1 - светоделительный куб блока лазера,2.1 - beam splitter cube of the laser block,
2.2 - светоделительный куб блока компенсатора,2.2 - beam splitter cube of the compensator block,
2.3 - светоделительный куб блока опорного плеча,2.3 - beam splitter cube of the support arm block,
2.4 - светоделительный куб блока интерферометра;2.4 - beam splitter cube of the interferometer block;
5 - блок компенсатора, состоящего из:5 - compensator block, consisting of:
5.1 - зеркало компенсатора разницы хода,5.1 - travel difference compensator mirror,
5.2 - механизм поперечного перемещения компенсатора,5.2 - mechanism for transverse movement of the compensator,
5.3 - механизм продольного перемещения компенсатора,5.3 - mechanism for longitudinal movement of the compensator,
6 - объектив подсветки,6 - backlight lens,
7 - измерительный объектив,7 - measuring lens,
8 - объектив опорного плеча,8 - support arm lens,
9 - модулирующее зеркало,9 - modulating mirror,
10 - полупрозрачный объект,10 - translucent object,
11 - тубусный компонент,11 - tube component,
12 - фотоприемник.12 - photodetector.
Формирование двух пространственно-распределенных световых пучков от когерентного источника 1 осуществляется с помощью светоделителя 2.1. Светоделители 2.2 и 2.3 выполняют роль отражателей, дополняющих оптическую систему компенсатором 5 и модулятором ОРХ, включающим объектив 8 и зеркало 9. Светоделитель 2.4. выполняет совмещение пучков лучей. Оптическая проекционная система, состоящая из объектива 6 и тубусного компонента 11, формирует изображение на фотоприемнике 12. Компенсация оптической разности хода, возникающей вследствие переключения объектива 6 в измерительном канале или использования предметных стекол различной толщины, осуществляется за счет перемещения зеркала компенсатора 5.1 при помощи механизмов поперечного 5.2 и продольного 5.3 перемещения.The formation of two spatially distributed light beams from a coherent source 1 is carried out using a beam splitter 2.1. Beam splitters 2.2 and 2.3 act as reflectors that complement the optical system with a
В системе присутствует модулирующее зеркало 9, которое позволяет использовать метод фазового сдвига для увеличения точности восстановления фазы.The system contains a modulating
Микроскоп работает следующим образом.The microscope works as follows.
Луч лазера 1 падает на полупрозрачную грань светоделительного кубика 2.1, где разделяется на две части. Часть луча лазера 1, прошедшая сквозь полупрозрачную грань светоделительного кубика 2.1, через светоделительный кубик 2.2 попадает на блок компенсатора 5, состоящего из зеркала компенсатора 5.1, механизма поперечного перемещения 5.2 и механизма продольного перемещения 5.3 компенсатора. После отражения от зеркала компенсатора 5.1 луч лазера 1 повторно отражается от светоделительной грани кубика 2.2 и через объектив подсветки 6 подсвечивает полупрозрачный объект 10. Измерительный объектив 7 и тубусный компонент 11 строят изображение полупрозрачного объекта 10 в плоскости фотоприемника 12. Часть луча лазера 1, отразившаяся от граней светоделительных кубиков 2.1 и 2.3 при помощи объектива опорного плеча 8 и тубусного компонента 11 строит в плоскости фотоприемника 12 изображение модулирующего зеркала 9. При наложении изображений полупрозрачного объекта 10 и модулирующего зеркала 9 в плоскости фотоприемника 12 возникает интерференционная картина. Смещение модулирующего зеркала 9 вдоль оптической оси интерферометра приводит к модуляции фаз волнового фронта отраженного от опорного плеча. Математическая обработка интерференционных картин, полученных с фотоприемника 12 при различных положениях модулирующего зеркала 9 позволяет восстанавливать трехмерные фазовые образы полупрозрачного объекта 10. Однако, при смене измерительного объектива 7 возникает изменение оптической разности хода лучей в интерферометре, приводящее к снижению контраста интерференционной картины в плоскости фотоприемника 12 и, как следствие, к зашумлению и снижению качества трехмерного фазового образа. Решением данной проблемы является компенсация ОРХ, возникающей при смене измерительного объектива 7, направленная на повышение качества фазовых образов. Данная компенсация осуществляется путем включения в оптическую схему микроскопа компенсатора оптической разности хода 5, состоящего из зеркала компенсатора 5.1, механизма поперечного перемещения 5.2 компенсатора и механизма продольного перемещения 5.3 компенсатора.Laser beam 1 falls on the translucent face of the beam splitter cube 2.1, where it is divided into two parts. Part of the laser beam 1, passing through the translucent face of the beam splitter cube 2.1, through the beam splitter cube 2.2, hits the
Компенсатор работает следующим образом: при смене измерительного объектива 7 возникает изменение оптической разности хода лучей в интерферометре за счет сокращения или увеличения ОРХ в объектном плече интерферометра, состоящего из кубиков 2.1, 2.2, 2.4, объективов 6 и 7. Для компенсации возникшей ОРХ зеркало компенсатора 5.1 смещают вдоль оптической оси при помощи механизма продольного перемещения 5.3, а возможное отклонение зеркала относительно оптической оси компенсируют при помощи механизма поперечного перемещения 5.2. Выравнивание (компенсация) ОРХ в объектном и опорном плечах интерферометра приводит к повышению контраста интерференционной картины в плоскости фотоприемника 12 и решению поставленной технической задачи.The compensator works as follows: when changing the
Заявленное техническое решение обладает универсальностью, помехоустойчивостью, эксплуатационной надежностью и простотой обслуживания, снижает затраты на расходные материалы и эксплуатацию оборудования.The declared technical solution has versatility, noise immunity, operational reliability and ease of maintenance, reduces the cost of consumables and equipment operation.
Использование данного технического решения позволяет получить качественное исследование полупрозрачных объектов на различных увеличениях и возможность оперативной подстройки под новые объекты.The use of this technical solution allows you to obtain a high-quality study of translucent objects at various magnifications and the ability to quickly adjust to new objects.
Заявленное техническое решение является результатом экспериментальных исследований с использованием метрологического аттестованного оборудования.The claimed technical solution is the result of experimental studies using metrological certified equipment.
Созданный просветный интерференционный микроскоп с механизмом компенсации оптической разницы хода для объектов различной толщины и микрообъективов с различным увеличением может успешно применяться для исследования оптических свойств широкого круга микрообъектов.The created transmission interference microscope with a mechanism for compensating the optical path difference for objects of different thicknesses and microlenses with different magnifications can be successfully used to study the optical properties of a wide range of microobjects.
Claims (1)
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2813230C1 true RU2813230C1 (en) | 2024-02-08 |
Family
ID=
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3182551A (en) * | 1960-11-30 | 1965-05-11 | Zeiss Carl | Device for adjusting beamsplitter of interference microscope |
US3658405A (en) * | 1969-05-26 | 1972-04-25 | Maksvmilian Pluta | Variable phase-contrast and interference microscope |
CN212514264U (en) * | 2020-05-20 | 2021-02-09 | 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 | Interference microscope |
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3182551A (en) * | 1960-11-30 | 1965-05-11 | Zeiss Carl | Device for adjusting beamsplitter of interference microscope |
US3658405A (en) * | 1969-05-26 | 1972-04-25 | Maksvmilian Pluta | Variable phase-contrast and interference microscope |
CN212514264U (en) * | 2020-05-20 | 2021-02-09 | 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 | Interference microscope |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11340438B2 (en) | Fiber splitter device for digital holographic imaging and interferometry and optical system comprising said fiber splitter device | |
US9062957B2 (en) | Multi-wavelength interferometer, measurement apparatus, and measurement method | |
US8848271B2 (en) | Apparatus and method for high-speed phase shifting for interferometric measurement systems | |
US20090128824A1 (en) | Optical imaging system with extended depth of focus | |
JP5954979B2 (en) | Measuring device with multi-wavelength interferometer | |
US8345258B2 (en) | Synchronous frequency-shift mechanism in fizeau interferometer | |
US6404544B1 (en) | Wavelength multiplexed quantitative differential interference contrast microscopy | |
EP3187820B1 (en) | Two-channel point-diffraction interferometer | |
RU2813230C1 (en) | Interference microscope with optical difference compensator | |
RU2013148901A (en) | METHOD FOR REMOTE CONTROL OF SURFACE FORM AND THICKNESS OF COATINGS OBTAINED IN THE PROCESS OF MAGNETRON VACUUM SPRAYING, AND A DEVICE FOR ITS IMPLEMENTATION | |
KR20180085194A (en) | Apparatus for monitoring three-dimensional shape of target object | |
EP2535679A1 (en) | Improvements in or relating to interferometry | |
CN115773724A (en) | Low-noise Fizeau interference testing device and method based on all-solid-state random phase annular light source | |
Abdelsalam et al. | Digital holographic shape measurement using Fizeau microscopy | |
RU2606805C1 (en) | Object linear displacement device with nanometer accuracy in wide range of possible displacements | |
Matsuura et al. | Measurement accuracy in phase-shifting point diffraction interferometer with two optical fibers | |
RU2726045C1 (en) | Shear speckle interferometer (versions) | |
Stašík et al. | Advanced measurement procedure for interferometric microscope for three-dimensional imaging of complex surfaces using two-wavelength interferometry and reference arm attenuation | |
US3419331A (en) | Single and double beam interferometer means | |
Stašík et al. | Two-wavelengths Interferometry as Confocal Microscope Extension to Provide 3D Imaging Capabilities | |
US20230160682A1 (en) | Polarization-Separated, Phase-Shifted Interferometer | |
RU2727783C1 (en) | Transparent samples refraction index distribution measurement device | |
RU2549557C1 (en) | Method for multichannel measurement of light wavelength shift using fabry-perot interferometer | |
Takeda et al. | Space-time analogy in synthetic coherence functions applied to optical tomography and profilometry | |
RU2677239C1 (en) | Installation for measurement of microrelief using phase step method |