RU2795842C1 - Method for manufacturing photosensitive structures based on two-dimensional bismuth telluride nanoparticles - Google Patents

Method for manufacturing photosensitive structures based on two-dimensional bismuth telluride nanoparticles Download PDF

Info

Publication number
RU2795842C1
RU2795842C1 RU2023100192A RU2023100192A RU2795842C1 RU 2795842 C1 RU2795842 C1 RU 2795842C1 RU 2023100192 A RU2023100192 A RU 2023100192A RU 2023100192 A RU2023100192 A RU 2023100192A RU 2795842 C1 RU2795842 C1 RU 2795842C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
bismuth telluride
dimensional
photosensitive
nanoparticles
dimensional bismuth
Prior art date
Application number
RU2023100192A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Николай Александрович Лаврентьев
Андрей Евгеньевич Мирофянченко
Екатерина Васильевна Мирофянченко
Виктор Сергеевич Попов
Original Assignee
Акционерное общество "НПО "Орион"
Filing date
Publication date
Application filed by Акционерное общество "НПО "Орион" filed Critical Акционерное общество "НПО "Орион"
Application granted granted Critical
Publication of RU2795842C1 publication Critical patent/RU2795842C1/en

Links

Images

Abstract

FILTER: semiconductor technology.
SUBSTANCE: invention is related to the technology of manufacturing semiconductor photodetectors and can be used to create resistive single-element photodetectors for various purposes. A method for manufacturing photosensitive structures based on two-dimensional bismuth telluride nanoparticles consists of depositing a layer of two-dimensional bismuth telluride nanoparticles on a substrate of oxidized silicon with interdigital contacts, made by liquid exfoliation using the “Spin-coating” method, which is dried at a temperature of 60°C for 4 hours.
EFFECT: invention makes it possible to create a photosensitive resistive structure with a photoresponse in the near and middle infrared ranges that does not require cooling systems, which is necessary for operation of the photosensitive element at an ambient temperature in the range from -30 to +30°C.
1 cl, 5 dwg

Description

Изобретение относится к технологии изготовления полупроводниковых фотоприемников и может использоваться для создания резистивных одноэлементных фотоприемников различного назначения.The invention relates to the technology of manufacturing semiconductor photodetectors and can be used to create resistive single-element photodetectors for various purposes.

Целью данного изобретения является разработка способа создания фоторезистора, который имеет фотоотклик в ближнем и среднем инфракрасном диапазоне, работающий при комнатной температуре без систем охлаждения фоточувствительной области.The purpose of this invention is to develop a method for creating a photoresistor that has a photoresponse in the near and mid-infrared range, operating at room temperature without cooling systems for the photosensitive area.

Изобретение позволяет обеспечить формирование фоторезистивной структуры на подложке из оксидированного кремния с нанесенными на нее встречно штыревыми проводящими золотыми контактами путем нанесения двумерных наночастиц теллурида висмута, полученных жидкофазной эксфолиацией фиг. 1. Фоторезистивная структура не требует охлаждения для обеспечения фотоотклика в области ближнего и среднего инфракрасного излучения.EFFECT: invention makes it possible to ensure the formation of a photoresistive structure on an oxidized silicon substrate with interdigitated conductive gold contacts deposited on it by depositing two-dimensional bismuth telluride nanoparticles obtained by liquid-phase exfoliation of FIG. 1. The photoresistive structure does not require cooling to ensure photoresponse in the near and mid-infrared region.

Известен способ изготовления фоточувствительной структуры на основе двумерного теллурида висмута при помощи метода химического осаждения из газовой фазы [Liu, J.L., et al. "High performance visible photodetectors based on thin two-dimensional Bi2Te3 nanoplates." Journal of Alloys and Compounds 798 (2019): 656-664.]. Данный способ обеспечивает создание фотодиода с высокими показателями фотоотклика на источник излучения длинной волны 640 нм дающий плотность излучения в 106 мВ/см2. Высокий фотоотклик обеспечивается за счет выращивания одиночного нанолиста теллурида висмута на подложке и дальнейшего осаждения на него металлических контактов, что дает высокую однородность поверхности, а также высокую подвижность носителей зарядов. Однако формирование одиночного нанолиста толщиной 20 нм методом химического осаждения из газовой фазы не позволяет получить фоточувствительные слои, имеющие широкий спектральный диапазон, в связи с дискретностью энергетических уровней нанолиста с равномерными толщинами.A known method of manufacturing a photosensitive structure based on two-dimensional bismuth telluride using the method of chemical vapor deposition [Liu, JL, et al. "High performance visible photodetectors based on thin two-dimensional Bi2Te3 nanoplates." Journal of Alloys and Compounds 798 (2019): 656-664]. This method provides the creation of a photodiode with high rates of photoresponse to a radiation source with a long wave of 640 nm, giving a radiation density of 106 mV/cm 2 . A high photoresponse is ensured by growing a single bismuth telluride nanosheet on a substrate and further deposition of metal contacts on it, which gives a high surface uniformity, as well as high charge carrier mobility. However, the formation of a single nanosheet with a thickness of 20 nm by chemical vapor deposition does not make it possible to obtain photosensitive layers with a wide spectral range, due to the discreteness of the energy levels of a nanosheet with uniform thicknesses.

Известен способ изготовления фоточувствительной структуры с варьируемой шириной запрещенной зоны на основе комбинаций различных двумерных материалов [US 10096735 В2]. Недостатком данного способа изготовления является невозможность получения широкой спектральной характеристики фоточувствительных слоев.A known method of manufacturing a photosensitive structure with a variable band gap based on combinations of different two-dimensional materials [US 10096735 B2]. The disadvantage of this manufacturing method is the impossibility of obtaining a broad spectral characteristic of the photosensitive layers.

Задачей изобретения является создание фоточувствительной резистивной структуры, имеющей фотоотклик в ближнем и среднем инфракрасном диапазоне, не требующей систем охлаждения, что необходимо для работы фоточувствительного элемента при температуре окружающей среды в диапазоне от -30 до +30°С.The objective of the invention is to create a photosensitive resistive structure with a photoresponse in the near and mid-infrared range, which does not require cooling systems, which is necessary for the operation of the photosensitive element at an ambient temperature in the range from -30 to +30°C.

Задача решается за счет того, что фоточувствительная структура на основе двумерных наночастиц Bi2Te3 с латеральными размерами от 50 нм до 450 нм, наносится методом «spin-coating», на подложку из оксидированного кремния со встречно-штыревыми контактами. Полученная в результате этого фоточувствительная структура имеет толщину 2800±10 нм и проводимость 0,38 См.The problem is solved due to the fact that a photosensitive structure based on two-dimensional Bi 2 Te 3 nanoparticles with lateral sizes from 50 nm to 450 nm is deposited by the spin-coating method on an oxidized silicon substrate with interdigital contacts. The resulting photosensitive structure has a thickness of 2800 ± 10 nm and a conductivity of 0.38 Sm.

Сущность изобретения поясним на примере изготовления фоточувствительной структуры на основе двумерного теллурида висмута. Для получения фоточувствительной структуры используется навеска крупнокристаллического теллурида висмута с размером частиц не более 160 мкм. Навеска подвергается термической обработке в сушильной камере при температуре 60°С в течении 4 часов.The essence of the invention will be explained by the example of the manufacture of a photosensitive structure based on two-dimensional bismuth telluride. To obtain a photosensitive structure, a sample of coarse-grained bismuth telluride with a particle size of not more than 160 μm is used. The sample is subjected to heat treatment in a drying chamber at a temperature of 60°C for 4 hours.

Для эксфолиации используется стандартная ультразвуковая ванна (640 Вт), время процесса составило 8 часов при температуре 30°С. Затем проводят центрифугирование, для удаления реагрегировавших наночастиц, в течении 10 мин и скорости 1500 об/мин. Полученную суспензию наносят методом «Spin-coating» на кремниевую подложку, покрытую оксидом кремния с нанесенными встречно-штыревыми контактами из термически распыленного золота в режиме: скорость вращения подложки 3000 об/мин в течении 1 минутыFor exfoliation, a standard ultrasonic bath (640 W) is used, the process time was 8 hours at a temperature of 30°C. Then, centrifugation is carried out to remove the reaggregated nanoparticles for 10 minutes and a speed of 1500 rpm. The resulting suspension is applied by the “Spin-coating” method onto a silicon substrate coated with silicon oxide with interdigitated contacts made of thermally sputtered gold in the following mode: the substrate rotation speed is 3000 rpm for 1 minute

Процесс нанесения повторяется 180 циклов для получения равномерного массива двумерных нанолистов теллурида висмута толщиной 2800±10 нм и проводимостью 0.38 См. В дальнейшем полученные элементы высушиваются при температуре 60°С в течении четырех часов.The deposition process is repeated for 180 cycles to obtain a uniform array of two-dimensional bismuth telluride nanosheets with a thickness of 2800 ± 10 nm and a conductivity of 0.38 cm. Subsequently, the resulting elements are dried at a temperature of 60°C for four hours.

Объемный слой двумерных наночастиц, обладает высокой сплошностью которая показана на снимке сканирующего электронного микроскопа фиг. 2.The bulk layer of two-dimensional nanoparticles has a high continuity, which is shown in the image of the scanning electron microscope in Fig. 2.

Толщина фоточувствительного слоя измеряется на атомно-силовом микроскопе и показана на фиг. 3.The thickness of the photosensitive layer is measured with an atomic force microscope and is shown in FIG. 3.

Техническим результатом данного способа изготовления фоточувствительных элементов на основе двумерного теллурида висмута является то, что нанесенный методом «Spin-coating» массив двумерных наночастиц теллурида висмута обладает достаточной толщиной для поглощения излучения с длинами волн до 6 мкм, при этом обладая возможностью изменения диапазона поглощения за счет изменения среднего размера двумерных наночастиц теллурида висмута, фиг. 4.The technical result of this method of manufacturing photosensitive elements based on two-dimensional bismuth telluride is that the array of two-dimensional bismuth telluride nanoparticles deposited by the "Spin-coating" method has sufficient thickness to absorb radiation with wavelengths up to 6 μm, while having the ability to change the absorption range due to changes in the average size of two-dimensional bismuth telluride nanoparticles, Fig. 4.

Показано, что сформированные фоточувствительные элементы обладают существенным фотооткликом в широком спектральном диапазоне от ближнего до среднего инфракрасного диапазона фиг. 5.It is shown that the formed photosensitive elements have a significant photoresponse in a wide spectral range from the near to mid-infrared range of FIG. 5.

Claims (1)

Способ изготовления фоточувствительных структур на основе двумерных наночастиц теллурида висмута, заключающийся в том, что на подложку из оксидированного кремния со встречно-штыревыми контактами наносится слой двумерных наночастиц теллурида висмута, отличающийся тем, что формируют объемный слой двумерных наночастиц методом «Spin-coating» с использованием суспензий наночастиц, полученных методом жидкостной эксфолиации, и далее слой высушивается при температуре 60°С в течение 4 ч.A method for manufacturing photosensitive structures based on two-dimensional bismuth telluride nanoparticles, which consists in the fact that a layer of two-dimensional bismuth telluride nanoparticles is deposited on a substrate of oxidized silicon with interdigital contacts, characterized in that a three-dimensional layer of two-dimensional nanoparticles is formed by the "Spin-coating" method using suspensions of nanoparticles obtained by liquid exfoliation, and then the layer is dried at a temperature of 60°C for 4 hours.
RU2023100192A 2023-01-09 Method for manufacturing photosensitive structures based on two-dimensional bismuth telluride nanoparticles RU2795842C1 (en)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2795842C1 true RU2795842C1 (en) 2023-05-12

Family

ID=

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070160747A1 (en) * 2006-01-12 2007-07-12 International Business Machines Corporation Method for fabricating an inorganic nanocomposite
RU158292U1 (en) * 2015-08-07 2015-12-27 Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Образования "Новосибирский Государственный Технический Университет" PHOTO RECEIVER OF IR RANGE
US10096735B2 (en) * 2015-10-21 2018-10-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Photodetector using bandgap-engineered 2D materials and method of manufacturing the same

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070160747A1 (en) * 2006-01-12 2007-07-12 International Business Machines Corporation Method for fabricating an inorganic nanocomposite
RU158292U1 (en) * 2015-08-07 2015-12-27 Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Образования "Новосибирский Государственный Технический Университет" PHOTO RECEIVER OF IR RANGE
US10096735B2 (en) * 2015-10-21 2018-10-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Photodetector using bandgap-engineered 2D materials and method of manufacturing the same

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
LIU, J.L., et al. "High performance visible photodetectors based on thin two-dimensional Bi2Te3 nanoplates." Journal of Alloys and Compounds 798 (2019): 656-664. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Kaushik et al. Thermal evaporated Copper Iodide (CuI) thin films: A note on the disorder evaluated through the temperature dependent electrical properties
Koughia et al. Density of localized electronic states in a-Se from electron time-of-flight photocurrent measurements
McCandless et al. Interdiffusion of CdS/CdTe thin films: Modeling x-ray diffraction line profiles
CN106346016B (en) The preparation method of silver/graphite alkene laminated film and the application in ultraviolet detector
Şişman et al. Effect of Se content on the structural, morphological and optical properties of Bi2Te3− ySey thin films electrodeposited by under potential deposition technique
Al-Douri et al. Synthesis and characterization of Cu2CdSnS4 quaternary alloy nanostructures
Yamaguchi et al. Characteristics of electrodeposited bismuth telluride thin films with different crystal growth by adjusting electrolyte temperature and concentration
RU2795842C1 (en) Method for manufacturing photosensitive structures based on two-dimensional bismuth telluride nanoparticles
Toma et al. New investigations applied on cadmium sulfide thin films for photovoltaic applications
Chate et al. Structural, optical and thermoelectric studies on chemically synthesized annealed antimony sulphide thin films
Khademi et al. Bi-doped SnO2 transparent conducting thin films deposited by spray pyrolysis: Structural, electrical, optical, and photo-thermoelectric properties
Naumochkin et al. Study of the annealing effects of sputtered Bi2Te3 thin films with full thermoelectric figure of merit characterization
Tan et al. Tilt-structure and high-performance of hierarchical Bi1. 5Sb0. 5Te3 nanopillar arrays
CN113285011A (en) Preparation method of thermoelectric film
Kaur et al. Study of molarity concentration variation over optical, structural and gas sensing response for ZnO thin film based NOx gas sensor
Mishra et al. Ferroelectric and switching properties of spray deposited NaNO2: PVA composite films on porous silicon
Yang et al. A comparative experimental study on the cross-plane thermal conductivities of nano-constructed Sb 2 Te 3/(Cu, Ag, Au, Pt) thermoelectric multilayer thin films
Zeng et al. Morphology-property relationships of CdZnTe films prepared via radio frequency magnetron sputtering
Belonogov et al. Effect of pulsed photon treatment on the mechanical properties of semiconductor thermoelectric legs, based on Bi 2 Te 3–Bi 2 Se 3 solid solutions, and the adhesion of switching layers
Mori et al. Improved thermoelectric performances of nanocrystalline Sb2Te3/Cr bilayers by reducing thermal conductivity in the grain boundaries and heterostructure interface
Tigau Structure and electrical conduction of Sb2O3 thin films
CN111850556B (en) Room-temperature wide-spectrum photoelectric detector based on two-dimensional cobalt selenide thin film and preparation method
Abdullal et al. Annealing effect on the optical energy gap of (CdTe) thin films
JP6257106B2 (en) Metal oxide semiconductor gas sensor
Yu et al. Temperature-dependent thermoelectric properties of electrodeposited antimony telluride films upon thermal annealing