RU2772443C1 - Trace ammonia sensor - Google Patents

Trace ammonia sensor Download PDF

Info

Publication number
RU2772443C1
RU2772443C1 RU2021126819A RU2021126819A RU2772443C1 RU 2772443 C1 RU2772443 C1 RU 2772443C1 RU 2021126819 A RU2021126819 A RU 2021126819A RU 2021126819 A RU2021126819 A RU 2021126819A RU 2772443 C1 RU2772443 C1 RU 2772443C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
sensor
ammonia
semiconductor base
substrate
sensitivity
Prior art date
Application number
RU2021126819A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Ираида Алексеевна Кировская
Полина Евгеньевна Нор
Original Assignee
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Омский государственный технический университет"
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Омский государственный технический университет" filed Critical Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Омский государственный технический университет"
Application granted granted Critical
Publication of RU2772443C1 publication Critical patent/RU2772443C1/en

Links

Images

Abstract

FIELD: gas analysis.
SUBSTANCE: invention relates to the field of gas analysis, in particular to detection devices used to register and measure the content of trace ammonia. The ammonia microimpurity sensor contains a semiconductor base and a substrate, while the semiconductor base is made of a polycrystalline film of a solid solution of composition (CdS)0.67(CdTe)0.33 deposited on a substrate made in the form of an electrode pad of a piezoelectric resonator.
EFFECT: increasing the sensitivity and manufacturability of the sensor.
1 cl, 3 dwg

Description

Изобретение относится к области газового анализа, в частности, к детектирующим устройствам, применяемым для регистрации и измерения содержания микропримесей аммиака. Изобретение может быть использовано для решения задач экологического контроля.The invention relates to the field of gas analysis, in particular, to detection devices used to register and measure the content of trace ammonia. The invention can be used to solve environmental control problems.

Известен датчик (детектор) по теплопроводности, действие которого основано на различии между теплопроводностью паров вещества и газа-носителя (Вяхирев Д.А., Шушукова А.Ф. Руководство по газовой хроматографии. М.: Высш.школа, 1987. – 287с.) Однако, чувствительность такого датчика (детектора) ограничивается на вещества с теплопроводностью, близкой к теплопроводности газа-носителя. Например, при использовании этого датчика для анализа аммиака, точность определения невысока.A known sensor (detector) for thermal conductivity, the action of which is based on the difference between the thermal conductivity of the vapors of the substance and the carrier gas (Vyakhirev D.A., Shushukova A.F. Guide to gas chromatography. M .: Higher school, 1987. - 287p. ) However, the sensitivity of such a sensor (detector) is limited to substances with a thermal conductivity close to that of the carrier gas. For example, when using this sensor for ammonia analysis, the detection accuracy is not high.

Известен также датчик (Будников Г.К. Что такое химические сенсоры// Соровский образовательный журнал. 1998, № 3. С.75), позволяющий определять содержание аммиака с большей чувствительностью. Однако, он сложен по конструкции и механизму получения отклика на присутствие определяемого компонента: включает в качестве преобразователя-полупроводника оксид металла (SnO2, In2O3, Nb2O5)и нанесенный на его поверхность адсорбционный слой специального материала, дающий названный отклик. Для получения отклика необходимы такие дополнительные операции, как нагревание оксида до 200-400 °С, так как при комнатной температуре он является диэлектриком и не проводит электрический ток, хемосорбция на нагретой поверхности кислорода воздуха, сопровождающаяся образованием отрицательно заряженных ионов О2 , О и взаимодействием последних с определяемым газом (его окислением). Таким образом, электропроводность полупроводникового (оксидного) слоя в воздухе определяется не непосредственно содержанием определяемого газа, а степенью заполнения поверхности хемосорбированным кислородом, которая, в свою очередь, изменяется пропорционально концентрации определяемого газа.There is also a sensor (Budnikov G.K. What are chemical sensors// Sorovsky educational journal. 1998, No. 3. P. 75), which makes it possible to determine the ammonia content with greater sensitivity. However, it is complicated in design and mechanism for obtaining a response to the presence of the component to be determined: it includes metal oxide (SnO 2 , In 2 O 3 , Nb 2 O 5 ) as a semiconductor converter and an adsorption layer of a special material deposited on its surface, giving the named response . To obtain a response, additional operations are necessary, such as heating the oxide to 200-400 ° C, since at room temperature it is a dielectric and does not conduct electric current, chemisorption on the heated surface of atmospheric oxygen, accompanied by the formation of negatively charged ions O 2 - , O - and interaction of the latter with the determined gas (its oxidation). Thus, the electrical conductivity of a semiconductor (oxide) layer in air is determined not directly by the content of the analyte gas, but by the degree of surface filling with chemisorbed oxygen, which, in turn, varies in proportion to the concentration of the analyte gas.

Ближайшим техническим решением к изобретению является датчик влажности газов, состоящий из полупроводникового основания, выполненного в виде поликристаллической пленки селенида цинка, легированного арсенидом галлия, с нанесенными на ее поверхность металлическими электродами и непроводящей подложки (Патент № 2161794, М. ПК.G 01 N 27/ 12, опубликовано 10.01.2001).The closest technical solution to the invention is a gas humidity sensor, consisting of a semiconductor base made in the form of a polycrystalline film of zinc selenide doped with gallium arsenide, with metal electrodes deposited on its surface and a non-conductive substrate (Patent No. 2161794, M. PK.G 01 N 27 / 12, published 01/10/2001).

Недостатком этого известного устройства является его недостаточная чувствительность при контроле микропримесей аммиака. Кроме того, конструкция датчика предполагает при его изготовлении операцию напыления металлических электродов, что является трудоемкой операцией.The disadvantage of this known device is its lack of sensitivity in the control of ammonia traces. In addition, the design of the sensor involves the operation of deposition of metal electrodes during its manufacture, which is a laborious operation.

Техническим результатом изобретения является повышение чувствительности датчика при контроле микропримесей аммиака и повышение технологичности изготовления датчика.The technical result of the invention is to increase the sensitivity of the sensor when monitoring ammonia traces and to improve the manufacturability of the sensor.

Указанный технический результат достигается тем, что в известном газовом датчике, содержащем полупроводниковое основание и подложку, согласно заявляемому изобретению, полупроводниковое основание выполнено в виде поликристаллической пленки твердого раствора состава (CdS)0,67(CdTe)0,33, а подложка – в виде электродной площадки пьезокварцевого резонатора.This technical result is achieved by the fact that in a known gas sensor containing a semiconductor base and a substrate, according to the claimed invention, the semiconductor base is made in the form of a polycrystalline film of a solid solution of the composition (CdS) 0.67 (CdTe) 0.33 , and the substrate is in the form electrode pad of the piezoquartz resonator.

Сущность изобретения поясняется чертежами, где представлены на фиг. 1 – конструкция заявляемого датчика, на фиг. 2 – кривая зависимости величины адсорбции аммиака от температуры, на фиг. 3 – градуировочная кривая зависимости изменения частоты колебания пьезокварцевого резонатора с нанесенной полупроводниковой пленкой (∆f)в процессе адсорбции при комнатной температуре от начального давления NH3 (PNH3). Последняя наглядно демонстрирует его чувствительность.The essence of the invention is illustrated by drawings, where are presented in Fig. 1 - design of the proposed sensor, Fig. 2 - curve of the dependence of the amount of ammonia adsorption on temperature, in Fig. 3 - calibration curve of the dependence of the change in the oscillation frequency of a piezoelectric resonator with a deposited semiconductor film (∆f) during adsorption at room temperature on the initial pressure of NH 3 (P NH3 ). The latter clearly demonstrates its sensitivity.

Датчик состоит из полупроводникового основания 1, выполненного в виде поликристаллической пленки твердого раствора состава (CdS)0,67(CdTe)0,33, нанесенной на электродную площадку 2 пьезокварцевого резонатора 3. The sensor consists of a semiconductor base 1 made in the form of a polycrystalline film of a solid solution of the composition (CdS) 0.67 (CdTe) 0.33 deposited on the electrode pad 2 of the piezoelectric resonator 3.

Принцип работы такого датчика основан на адсорбционно-десорбционных процессах, протекающих на полупроводниковой пленке, нанесенной на электродную площадку пьезокварцевого резонатора, и вызывающих изменение его массы, а соответственно частоты колебаний ∆f.The principle of operation of such a sensor is based on adsorption-desorption processes occurring on a semiconductor film deposited on the electrode pad of a piezoelectric resonator, and causing a change in its mass, and, accordingly, the oscillation frequency ∆f.

Работа датчика осуществляется следующим образом.The sensor works as follows.

Датчик помещают в находящуюся при комнатной температуре камеру (ею может быть обычная стеклянная трубка), через которую пропускают (или в которой выдерживают) анализируемый на содержание аммиака газ. При контакте пропускаемого газа с поверхностью полупроводниковой пленки твердого раствора состава (CdS)0,67(CdTe)0,33 происходит избирательная адсорбция молекул NH3, увеличение массы композиции «пленка – кварцевый резонатор» и изменение частоты колебания последнего. По величине изменения частоты с помощью градуировочных кривых можно определить содержание аммиака в исследуемой среде.The sensor is placed in a chamber at room temperature (it can be a conventional glass tube), through which the gas to be analyzed for ammonia is passed (or maintained). Upon contact of the passed gas with the surface of a semiconductor film of a solid solution of the composition (CdS) 0.67 (CdTe) 0.33 , selective adsorption of NH 3 molecules occurs, an increase in the mass of the “film-quartz resonator” composition and a change in the oscillation frequency of the latter. By the magnitude of the change in frequency using calibration curves, you can determine the content of ammonia in the medium under study.

Из анализа приведенной на фиг.3 типичной градуировочной кривой, полученной с помощью заявляемого датчика и выражающей зависимость ∆f от содержания аммиака (PNH3), следует: заявляемый датчик при существенном упрощении технологии его изготовления позволяет определять содержание аммиака с чувствительностью, в несколько раз превышающую чувствительность известных датчиков.From the analysis shown in figure 3 typical calibration curve obtained using the inventive sensor and expressing the dependence of ∆f on the ammonia content (P NH3 ), it follows: the inventive sensor with a significant simplification of its manufacturing technology allows you to determine the ammonia content with a sensitivity several times higher than sensitivity of known sensors.

Малые габариты устройства (рабочий объем менее 0,2 см3) в сочетании с малой массой пленки – адсорбента позволяют снизить постоянную датчика по времени до 10 – 20 мс. Кроме того, исключается операция напыления на полупроводниковое основание металлических электродов, что повышает технологичность изготовления датчика.The small dimensions of the device (working volume less than 0.2 cm 3 ) in combination with the low mass of the adsorbent film make it possible to reduce the time constant of the sensor to 10–20 ms. In addition, the operation of deposition of metal electrodes on the semiconductor base is eliminated, which increases the manufacturability of the sensor.

Конструкция заявляемого датчика позволяет также улучшить и другие его характеристики: быстродействие, регенерируемость, способность работать не только в статическом, но и динамическом режиме.The design of the inventive sensor also makes it possible to improve its other characteristics: speed, regenerability, the ability to work not only in static, but also in dynamic mode.

Claims (1)

Датчик микропримесей аммиака, содержащий полупроводниковое основание и подложку, отличающийся тем, что полупроводниковое основание выполнено из поликристаллической пленки твердого раствора состава (CdS)0,67(CdTe)0,33, нанесенной на подложку, выполненную в виде электродной площадки пьезокварцевого резонатора.Ammonia microimpurity sensor containing a semiconductor base and a substrate, characterized in that the semiconductor base is made of a polycrystalline film of a solid solution of composition (CdS) 0.67 (CdTe) 0.33 deposited on a substrate made in the form of an electrode pad of a piezoelectric resonator.
RU2021126819A 2021-09-13 Trace ammonia sensor RU2772443C1 (en)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2772443C1 true RU2772443C1 (en) 2022-05-20

Family

ID=

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2613482C1 (en) * 2015-11-13 2017-03-16 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Омский государственный технический университет" Ammonia semiconductor sensor
RU2652646C1 (en) * 2017-03-20 2018-04-28 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Омский государственный технический университет" Ammonia trace contaminant sensor
RU2700035C1 (en) * 2019-03-29 2019-09-12 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Омский государственный технический университет"(ОмГТУ) Microimpurities of ammonia sensor
RU2718133C1 (en) * 2019-09-17 2020-03-30 Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное объединение "АМБ" Gas-sensitive detector

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2613482C1 (en) * 2015-11-13 2017-03-16 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Омский государственный технический университет" Ammonia semiconductor sensor
RU2652646C1 (en) * 2017-03-20 2018-04-28 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Омский государственный технический университет" Ammonia trace contaminant sensor
RU2700035C1 (en) * 2019-03-29 2019-09-12 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Омский государственный технический университет"(ОмГТУ) Microimpurities of ammonia sensor
RU2718133C1 (en) * 2019-09-17 2020-03-30 Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное объединение "АМБ" Gas-sensitive detector

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2398219C1 (en) Semiconductor gas analyser
RU2281485C1 (en) Semiconductor gas sensor
RU2530455C1 (en) Nanosemiconductor gas sensor
RU2350936C1 (en) Semiconducting gas analyser
RU2400737C2 (en) Ammonia trace contaminant detector
RU2526225C1 (en) Gas sensor
RU2469300C1 (en) Semiconductor gas analyser
RU2423688C1 (en) Nano-semiconductor gas analyser
RU2652646C1 (en) Ammonia trace contaminant sensor
RU2395799C1 (en) Gas analyser of carbon oxide
RU2613482C1 (en) Ammonia semiconductor sensor
RU2548049C1 (en) Semi-conductor gas analyser of carbon monoxide
RU2437087C2 (en) Gas sensor
RU2326371C1 (en) Carbon monoxide transducer
RU2772443C1 (en) Trace ammonia sensor
RU2422811C1 (en) Nano-semiconductor gas sensor
RU2797767C1 (en) Trace ammonia sensor
RU2464553C1 (en) Semiconductor gas analyser
RU2700035C1 (en) Microimpurities of ammonia sensor
RU2603337C1 (en) Semiconductor gas sensor of trace impurities of oxygen
RU2743155C1 (en) Ammonia trace sensor
RU2610349C1 (en) Semiconductor gas sensor for oxygen trace substances
RU2274853C1 (en) Nitrogen dioxide indicator
RU2700036C1 (en) Carbon monoxide gas monomer
RU2649654C2 (en) Co sensor