RU2729881C1 - Thermoresistive element - Google Patents

Thermoresistive element Download PDF

Info

Publication number
RU2729881C1
RU2729881C1 RU2020110495A RU2020110495A RU2729881C1 RU 2729881 C1 RU2729881 C1 RU 2729881C1 RU 2020110495 A RU2020110495 A RU 2020110495A RU 2020110495 A RU2020110495 A RU 2020110495A RU 2729881 C1 RU2729881 C1 RU 2729881C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
thermoresistive element
thermoresistive
temperature
niobium
contacts
Prior art date
Application number
RU2020110495A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Эдуард Валентинович Девятов
Сергей Владимирович Егоров
Николай Николаевич Колесников
Анна Владимировна Тимонина
Олег Олегович Швецов
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики твердого тела Российской академии наук (ИФТТ РАН)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики твердого тела Российской академии наук (ИФТТ РАН) filed Critical Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики твердого тела Российской академии наук (ИФТТ РАН)
Priority to RU2020110495A priority Critical patent/RU2729881C1/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2729881C1 publication Critical patent/RU2729881C1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C7/00Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
    • H01C7/02Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material having positive temperature coefficient
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G7/00Capacitors in which the capacitance is varied by non-mechanical means; Processes of their manufacture
    • H01G7/04Capacitors in which the capacitance is varied by non-mechanical means; Processes of their manufacture having a dielectric selected for the variation of its permittivity with applied temperature

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Thermistors And Varistors (AREA)

Abstract

FIELD: low-temperature electronics.SUBSTANCE: thermoresistive element with positive temperature coefficient of resistance includes heat-sensitive layer and electric contacts. Thermoresistive element consists of monocrystalline CoSnSplate with three niobium contacts deposited on crystallographic plane (0001).EFFECT: invention enables to create a thermoresistive element whose operating temperature range is < 1_5 K.1 cl, 2 dwg

Description

Развитие низкотемпературной электроники предъявляет новые требования к приборной базе, в частности, к терморезистивным элементам. Существует много низкотемпературных (по общепринятой классификации) элементов, работающих при температурах ниже 170 К. Но выбор устройств для диапазона температур <4,2 К, то есть работающих ниже температуры кипения гелия, ограничен. При этом современная низкотемпературная электроника уже требует устройств, работающих при сверхнизких (<1,5 К) температурах.The development of low-temperature electronics makes new demands on the instrumentation base, in particular, on thermoresistive elements. There are many low-temperature (according to generally accepted classification) elements operating at temperatures below 170 K. But the choice of devices for the temperature range <4.2 K, that is, operating below the boiling point of helium, is limited. At the same time, modern low-temperature electronics already require devices operating at ultra-low (<1.5 K) temperatures.

Известен терморезистивный элемент с положительным температурным коэффициентом сопротивления [Н.Т. Дехтярук, Ганюк Л.Н., Ильчишина С.В., Иноземцев А.Н., Огенко B.М. Датчик температуры. Патент Российской Федерации на изобретение №2013815] - прототип. Терморезистивным элементом в этом устройстве является слой низкоомного органического полупроводника полипиролла. Рабочий диапазон температур терморезистивного элемента 1,5-300 К, при этом характеристики терморезистивного элемента остаются стабильными во внешних магнитных полях напряженностью до 40 кэ при температуре 4,2 К.Known thermoresistive element with a positive temperature coefficient of resistance [N.T. Dekhtyaruk, Ganyuk L.N., Ilchishina S.V., Inozemtsev A.N., Ogenko V.M. Temperature sensor. Patent of the Russian Federation for invention No. 2013815] - prototype. The thermoresistive element in this device is a layer of low-resistance organic semiconductor polypirol. The working temperature range of the thermoresistive element is 1.5-300 K, while the characteristics of the thermoresistive element remain stable in external magnetic fields of up to 40 kOe at a temperature of 4.2 K.

Недостатком устройства-прототипа является то, что его рабочий диапазон не охватывает область<1,5 К.The disadvantage of the prototype device is that its operating range does not cover the area <1.5 K.

Задача предлагаемого изобретения - создание терморезистивного элемента, рабочий диапазон температур которого<1,5 К.The objective of the present invention is to create a thermoresistive element, the operating temperature range of which is <1.5 K.

Поставленная задача решается тем, что терморезистивный элемент с положительным температурным коэффициентом сопротивления, стабильным во внешних магнитных полях, состоит из монокристаллической пластины Co3Sn2S2 с тремя контактами из ниобия, нанесенными на кристаллографическую плоскость (0001).The problem is solved by the fact that a thermoresistive element with a positive temperature coefficient of resistance, stable in external magnetic fields, consists of a Co 3 Sn 2 S 2 single crystal plate with three niobium contacts deposited on a crystallographic plane (0001).

Пример исполнения устройства и электрической схемы его подключения показаны на Фиг. 1, где 1 - монокристаллическая пластина Co3Sn2S2, ориентированная по кристаллографической плоскости (0001); 2 - контакты из ниобия; 3 - источник электрического тока; 4 - прибор для измерения напряжения; 5 - заземление.An example of an embodiment of the device and an electrical diagram of its connection are shown in Fig. 1, where 1 is a Co 3 Sn 2 S 2 single crystal plate oriented along the crystallographic plane (0001); 2 - niobium contacts; 3 - source of electric current; 4 - voltage measuring device; 5 - grounding.

Рабочий диапазон температур предлагаемого устройства от 0,03 К до 1,5 К.The operating temperature range of the proposed device is from 0.03 K to 1.5 K.

Устройство работает следующим образом. На два контакта из ниобия подается напряжение смещения от источника тока, как показано Фиг. 1. Изменение напряжения смещения в диапазоне -1,0 - +1,0 мВ позволяет управлять сопротивлением терморезистивного элемента, как показано на Фиг. 2, где представлены графики зависимости сопротивления R от напряжения смещения V при разных температурах (кривая 1 - при температуре 0,03 К, кривая 2 - при температуре 1,5 К).The device works as follows. The two niobium contacts are biased from the current source as shown in FIG. 1. Varying the bias voltage in the range of -1.0 to +1.0 mV allows the resistance of the thermistor element to be controlled as shown in FIG. 2, which shows the graphs of the dependence of the resistance R on the bias voltage V at different temperatures (curve 1 - at a temperature of 0.03 K, curve 2 - at a temperature of 1.5 K).

Изменение сопротивления в диапазоне температур от 0,03 К до 1,5 К составляет 0,08-0,1 Ом в зависимости от приложенного напряжения смещения.The change in resistance in the temperature range from 0.03 K to 1.5 K is 0.08-0.1 Ω, depending on the applied bias voltage.

Характеристики заявляемого устройства остаются стабильными во внешнем магнитном поле до достижения напряженности поля, соответствующей второму критическому полю для ниобия (30-21 кэ в температурном интервале 0,03-1,5 К).The characteristics of the proposed device remain stable in an external magnetic field until a field strength corresponding to the second critical field for niobium is reached (30-21 ke in the temperature range 0.03-1.5 K).

Claims (1)

Терморезистивный элемент с положительным температурным коэффициентом сопротивления, включающий термочувствительный слой и электрические контакты, отличающийся тем, что состоит из монокристаллической пластины Co3Sn2S2 с тремя контактами из ниобия, нанесенными на кристаллографическую плоскость (0001).A thermoresistive element with a positive temperature coefficient of resistance, including a thermosensitive layer and electrical contacts, characterized in that it consists of a single crystal Co 3 Sn 2 S 2 plate with three niobium contacts deposited on the crystallographic plane (0001).
RU2020110495A 2020-03-11 2020-03-11 Thermoresistive element RU2729881C1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2020110495A RU2729881C1 (en) 2020-03-11 2020-03-11 Thermoresistive element

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2020110495A RU2729881C1 (en) 2020-03-11 2020-03-11 Thermoresistive element

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2729881C1 true RU2729881C1 (en) 2020-08-13

Family

ID=72086268

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2020110495A RU2729881C1 (en) 2020-03-11 2020-03-11 Thermoresistive element

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2729881C1 (en)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4647895A (en) * 1985-05-08 1987-03-03 Motorola, Inc. Ceramic temperature sensor
RU2013815C1 (en) * 1991-02-06 1994-05-30 Институт химии поверхности АН Украины Temperature-sensitive element
RU2058604C1 (en) * 1993-06-16 1996-04-20 Московский институт электронной техники Semiconductor temperature-sensitive resistor
RU2068587C1 (en) * 1994-06-03 1996-10-27 Зиновий Исаакович Докторович Thermistor element
RU2701915C1 (en) * 2019-04-10 2019-10-02 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики твердого тела Российской академии наук (ИФТТ РАН) METHOD OF PRODUCING Co3Sn2S2 CRYSTALS

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4647895A (en) * 1985-05-08 1987-03-03 Motorola, Inc. Ceramic temperature sensor
RU2013815C1 (en) * 1991-02-06 1994-05-30 Институт химии поверхности АН Украины Temperature-sensitive element
RU2058604C1 (en) * 1993-06-16 1996-04-20 Московский институт электронной техники Semiconductor temperature-sensitive resistor
RU2068587C1 (en) * 1994-06-03 1996-10-27 Зиновий Исаакович Докторович Thermistor element
RU2701915C1 (en) * 2019-04-10 2019-10-02 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики твердого тела Российской академии наук (ИФТТ РАН) METHOD OF PRODUCING Co3Sn2S2 CRYSTALS

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Smith et al. Electron-electron interactions continuously variable in the range 2.1> r s> 0.9
US6154027A (en) Monolithic magnetic sensor having externally adjustable temperature compensation
Zitter Small-field galvanomagnetic tensor of bismuth at 4.2 K
US10234516B2 (en) Magnetic field sensor
EP1143536A1 (en) Semiconductor device
Zimmerman et al. A high‐sensitivity superconducting detector
RU2729881C1 (en) Thermoresistive element
JPH0640712B2 (en) Charge completion detector
Primdahl Temperature compensation of fluxgate magnetometers
US3430076A (en) Temperature compensated bias circuit
RU2735069C1 (en) Magnetoresistive element
Grella et al. High Temperature Characterization up to 450° C of MOSFETs and basic circuits realized in a Silicon-on-Insulator (SOI) CMOS-Technology
RU2737135C1 (en) Inclinator
Kohnke et al. Hall Effect in Gray Tin Filaments
Devlikanova et al. The Study of SOI Split-drain Field-effect Hall sensor In Partial Depletion Mode
EP0305978B1 (en) Magnetoelectric element and magnetoelectric apparatus
Lindemuth Variable temperature Hall measurements on low-mobility materials
Acharya et al. Low‐current temperature compensated bipolar log‐ratio amplifier
Berkes Hall generators
SU1343254A1 (en) Temperature instrument transducer with frequency output
US20230236267A1 (en) Sensor calibration circuit
RU2244936C2 (en) Device for stabilizing temperature of micromechanical sensitive element
SU783730A1 (en) Device for temperature compensation of hall sensors
Nissim et al. Temperature-independent behavior of the Hall constant in granular In 2 O 3− x films
US3202912A (en) Method of utilizing tunnel diodes to detect changes in magnetic fields