RU2660655C2 - Способ управления соотношением разрешающей способности по массе и чувствительности в многоотражательных времяпролетных масс-спектрометрах - Google Patents
Способ управления соотношением разрешающей способности по массе и чувствительности в многоотражательных времяпролетных масс-спектрометрах Download PDFInfo
- Publication number
- RU2660655C2 RU2660655C2 RU2015148627A RU2015148627A RU2660655C2 RU 2660655 C2 RU2660655 C2 RU 2660655C2 RU 2015148627 A RU2015148627 A RU 2015148627A RU 2015148627 A RU2015148627 A RU 2015148627A RU 2660655 C2 RU2660655 C2 RU 2660655C2
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- mass
- ion
- sensitivity
- ratio
- time
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относится к области масс-спектрометрии. Технический результат - обеспечение возможности плавно управлять соотношением разрешающей способности по массе и чувствительности в многоотражательном времяпролётном масс-спектрометре без сужения анализируемого массового диапазона. Особенностью способа является изменение соотношения разрешающей способности по массе и чувствительности соответственно соотношению кинетических энергий ионных пакетов в направлении дрейфа и в направлении их импульсного выталкивания и кратно целому количеству оборотов ионных траекторий. Регулируемым параметром, влияющим на соотношение разрешающей способности по массе и чувствительности, является величина электрического напряжения, определяющего энергию непрерывного пучка ионов, входящих в импульсный ортогональный источник ионов, и энергию дрейфа ионных пакетов в масс-спектрометре в направлении непрерывного пучка ионов. 1 ил.
Description
Предлагаемое изобретение относится к области масс-спектрометрии, а именно к многоотражательным времяпролётным масс-спектрометрам. Времяпролётные масс-спектрометры в настоящее время являются одним из наиболее востребованных типов приборов для анализа состава и структуры веществ в биохимии, медицине и многих других отраслях науки и промышленности. Преимуществами времяпролётных приборов являются возможность анализа ионов в практически неограниченном диапазоне масс, высокие чувствительность и информативность получаемых масс-спектров, скорость анализа и точность определения массы при типичном высоком уровне разрешающей способности по массам от 5000 до 20000. Разрешающая способность – одна из важнейших аналитических характеристик времяпролётных масс-спектрометров, стремление к увеличению которой представляет собой общую тенденцию в истории развития времяпролётных приборов и диктуется перспективами расширения применений времяпролётного метода анализа вещества на области задач, характеризующихся сложными молекулярными масс-спектрами (нефтехимия, протеомика и т.д.) или наличием в атомных спектрах близких по массе изобар (анализ редких изотопов в ядерной физике). За последние несколько лет ряду зарубежных фирм (Bruker Daltonics, Agilent Technologies, Waters) удалось за счёт совершенствования технологии изготовления элементов традиционных времяпролётных масс-спектрометров рефлектронного типа и увеличения их физических размеров достичь в таких приборах величин разрешающей способности по массе порядка 40000-50000. Наиболее перспективным направлением развития времяпролётных масс-спектрометров является разработка многоотражательных приборов, в которых увеличение длины пролёта ионов - ключевой фактор повышения разрешающей способности по массе - достигается с помощью многократного отражения ионов в бессеточных ионных зеркалах либо многократными поворотами ионов в секторных электростатических дефлекторах. В многоотражательных времяпролётных масс-спектрометрах возможно увеличение разрешающей способности по массе до 100000 и более. Для расширения аналитических и методических возможностей масс-спектрометрического метода анализа вещества часто на практике часто возникает необходимость управления соотношением разрешающей способности и чувствительности масс-спектрометра. При высокой разрешающей способности и, соответственно, больших временах и длинах пролёта ионных пакетов чувствительность времяпролётного масс-спектрометра существенно снижается прежде всего вследствие невысокого процента использования анализируемого вещества, рассеяния ионов на остаточном газе и апертурах ионно-оптической системы, поэтому при малых концентрациях анализируемого вещества получение представительного масс-спектра становится невозможным. В то же время наличие достаточно высокой концентрации анализируемого вещества позволяет при увеличении разрешающей способности без потери информативности выявить характерные особенности масс-спектра, что особенно актуально при анализе веществ со сложной структурой, например белков и пептидов, и при этом не сузить анализируемого диапазона масс при достижения оптимального соотношения разрешающей способности по массе и чувствительности времяпролётного масс-спектрометра.
Многоотражательный времяпролётный масс-спектрометр челночного типа, в котором ионные пакеты совершают периодические обороты в пространстве между двумя бессточными ионными зеркалами, состоящими из набора цилиндрических электродов, описан в работе [1]. Стандартным способом ввода и вывода ионных пакетов в масс-спектрометр является их инжекция и выброс через отверстия в отражательных электродах зеркал при отключении или снижении потенциалов, прикладываемых к этим электродам. Соотношение разрешающей способности и чувствительности времяпролётного прибора может регулироваться путём изменения количества оборотов ионных пакетов в пространстве между ионными зеркалами, однако существенным недостатком масс-спектрометра челночного типа является существенное сужение анализируемого массового диапазона, особенно при достижении высоких величин разрешающей способности вследствие необходимости импульсного переключения электродов.
Аналогичным недостатком обладают многооборотные времяпролётные масс-спектрометры на основе секторных электростатических дефлекторов с углом поворота 157° с организацией движения ионных пакетов по замкнутым траекториям [2-3], в которых инжекция ионных пакетов и их вывод осуществляются через отверстия во внешних секторных электродах при импульсном выключении потенциалов соответствующих дефлекторов.
Многооборотный времяпролётный масс-спектрометр на основе цилиндрических электростатических дефлекторов, функционирующий в режиме полного массового диапазона, описан в работе [4]. В приборе реализовано спиральное движение ионных пакетов, при котором они движутся по 8-образной траектории в плоскости пространственной дисперсии и медленно дрейфуют в перпендикулярном этой плоскости направлении вдоль вытянутых электродов секторных дефлекторов. Для осуществления периодической пространственной фокусировки ионных пакетов в направлении их дрейфа в межэлектродных зазорах цилиндрических секторов используется периодический набор пластин Мацуды, определяющий шаг смещения ионных траекторий в указанном направлении после одного полного оборота. Таким образом, поскольку общее количество оборотов пакетов заряженных частиц оказывается фиксированным геометрией времяпролётного прибора, возможность управления соотношением разрешающей способности и чувствительности отсутствует.
Возможность управления соотношением разрешающей способности по массе и чувствительности в режиме полного массового диапазона реализована в планарном многоотражательном времяпролётном масс-спектрометре, описанном в работе [5], который выбран в качестве прототипа предлагаемого изобретения. В рассматриваемом приборе многократное отражение ионных пакетов осуществляется между двумя одинаковыми планарными бессточными электростатическими зеркалами, каждый электрод которых выполнен в виде пары пластин, симметрично расположенных относительно общей для обоих зеркал средней плоскости и вытянутых в направлении дрейфа ионных пакетов. Ионные пакеты инжектируются в масс-спектрометр под маленьким углом дрейфа и, отражаясь от планарных зеркал, движутся вдоль зигзагообразной оптической оси. Пространственное ограничение ионных пакетов в направлении их дрейфа осуществляется при помощи блока помещённых в центре дрейфового пространства периодических двумерных одиночных линз, осуществляющих периодическую фокусировку заряженных частиц. Крайние одиночные линзы блока выполняют функции дефлекторов: нижняя линза задаёт угол дрейфа ионных пакетов, определяющий шаг ионных траекторий в направлении дрейфа, а верхняя отклоняет ионные пакеты на детектор либо осуществляет разворот ионных пакетов в направлении дрейфа, двукратно увеличивая их время пролёта. Таким образом, управление соотношением разрешающей способности по массе и чувствительности в масс-спектрометре осуществляется настройкой электрического потенциала концевого дефлектора линзовой колонки. Однако реализованный в приборе способ управления соотношением разрешающей способности по массе и чувствительности имеет ряд недостатков. Во-первых, управление рассматриваемым соотношением требует наличия двух детекторов, что усложняет конструкцию времяпролётного прибора и увеличивает его стоимость. Во-вторых, в масс-спектрометре возможно реализовать только два режима работы, соответствующих различным значениям соотношения разрешающей способности и чувствительности, и нельзя обеспечить плавного управления этим соотношением: при реализации разворота ионных пакетов концевым дефлектором разрешающая способность и чувствительность прибора меняются скачкообразно. Наконец, пространственная высота ионных пакетов в направлении их дрейфа в масс-спектрометре не превышает нескольких миллиметров из-за быстрого роста аберрационного уширения временного сигнала и, соответственно, ухудшения разрешающей способности, обусловленного прохождением ионными пакетами периодических линз и их разворотом в концевом дефлекторе, что является фундаментальным ограничением чувствительности времяпролётного прибора.
Задачей изобретения является организация плавного управления соотношением разрешающей способности по массе и чувствительности времяпролётного масс-спектрометра без сужения анализируемого диапазона масс. Поставленная задача решается за счёт формирования периодически поворачиваемых траекторий ионных пакетов с помощью планарных бессеточных ионных зеркал, к электродам которых прикладываются постоянные электрические напряжения. В отличие от прототипа, число оборотов ионных траекторий и, соответственно, разрешающая способность времяпролётного масс-спектрометра определяются управляемой энергией ионных пакетов в направлении дрейфа, ортогональном направлению их импульсного выталкивания. При этом соотношение кинетических энергий ионных пакетов в направлении дрейфа и в направлении их импульсного выталкивания соответствует целому количеству оборотов ионных траекторий с сохранением анализируемого массового диапазона.
На фиг. 1 представлена схема предлагаемого изобретения. Для пояснения сущности изобретения можно рассмотреть следующую последовательность событий. Непрерывный ионный пучок с управляемой энергией дрейфа (1) из источника поступает в устройство ортогонального ввода (2), в котором он ускоряется периодически создаваемым импульсным электрическим полем в направлении, перпендикулярном направлению движения непрерывного пучка, формируя на выходе импульсного конвертера ионные пакеты с короткой длительностью временного сигнала. Ионные пакеты, совершая отражения в пространстве между бессеточными ионными зеркалами (3), к электродам которых прикладываются постоянные электрические напряжения, движутся по зигзагообразным траекториям и в итоге попадают в окно детектора (4). Импульсный конвертер, ионные зеркала и детектор расположены в высоковакуумной камере (5). Приведённые на фиг. 1 траектории ионных пакетов (6А) и (6Б) соответствуют различным значениям их энергии дрейфа. При этом соотношение кинетических энергий ионных пакетов в направлении дрейфа и в направлении их импульсного выталкивания соответствует целому количеству оборотов траекторий ионных пакетов. Время разворота заряженных частиц в устройстве ортогонального ввода определяется выражением , где m и Q - масса и заряд иона соответственно, E - напряжённость однородного импульсного выталкивающего поля, v0z - скорость иона в направлении, перпендикулярном направлению движения непрерывного пучка заряженных частиц в момент импульсного выталкивания.
Выполненные расчёты показывают, что при умеренных габаритах времяпролётного прибора 500 мм на 1000 мм (настольный вариант) удаётся реализовать 4 полных оборота ионных пакетов, что соответствует энергии непрерывного ионного пучка в импульсном конвертере в 16 эВ. При диаметре непрерывного ионного пучка d = 1.5 мм и угловом разбросе Δa = ±1° величина времени разворота ионов в импульсном конвертере с напряжённостью однородного выталкивающего поля E = 300 В/мм на полувысоте, оцениваемая как ΔT0/2, для ионов массы m = 1000 а.е.м. составляет 1 нс, а полный относительный энергетический разброс ионов при их ускорении до 7 кВ - приблизительно 6.4%. С учётом вносимого системой регистрации временного уширения сигнала, которое имеет гауссово распределение с полной шириной на полувысоте 1.5 нс, длительность временного сигнала на полувысоте для ионов массы m = 1000 а.е.м. составляет около 1.8 нс, что при полном времени пролёта в 214 мкс соответствует разрешающей способности 60000 (временное уширение сигнала на полувысоте, вносимое высокоразрешающими бессеточными ионными зеркалами, пренебрежимо мало по сравнению с временем разворота ионов в импульсном конвертере). Таким образом, трём полным оборотам ионных пакетов будет соответствовать разрешающая способность 45000, двум оборотам - 30000 и одному обороту - 15000 при условии неизменности времени разворота ионов в устройстве ортогонального ввода. Поскольку траектории ионных пакетов не являются замкнутыми, управление соотношением разрешающей способности по массе и чувствительности осуществляется без сужения анализируемого массового диапазона. Поскольку общая длина траекторий ионных пакетов невелика и составляет около 8 м для четырёх полных оборотов, необходимость в использовании набора периодических линз отсутствует. Отказ от периодических линз позволяет увеличить протяжённость ионных пакетов в направлении дрейфа до нескольких десятков миллиметров, что в разы повышает чувствительность времяпролётного прибора по сравнению с прототипом.
Таким образом, формирование периодически поворачиваемых траекторий ионных пакетов с помощью бессеточных ионных зеркал и управление энергией этих пакетов в направлении дрейфа способствует выполнению поставленной задачи плавного управления соотношением разрешающей способности по массе и чувствительности времяпролётного масс-спектрометра в полном массовом диапазоне.
Источники информации
1. Wollnik, H., Casares A. An energy-isochronous multi-pass time-of-flight spectrometer consisting of two coaxial electrostatic mirrors // Int. J. Mass Spectrom. 2003. V. 227. N. 2. P. 217-222.
2. Toyoda M., Okumura D., Ishihara M., Katakuse I. Multi-turn time-of-flight mass spectrometers with electrostatic sectors // J. Mass Spectrom. 2003. V. 38. N. 11. P. 1125-1142.
3. Okumura D., Toyoda M., Ishihara M., Katakuse I. A compact sector-type multi-turn time-of-flight mass spectrometer «MULTUM II» // Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. A. 2004. V. 519. N. 1-2. P. 331-337.
4. Satoh T., Tsuno H., Iwanaga M., Kammei Y. The design and characteristic features of a new time-of-flight mass spectrometer with a spiral ion trajectory // J. Am. Soc. Mass Spectrom. 2005. V. 16. P. 1969–1975.
5. Verentchikov A. Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with orthogonal acceleration // US Patent 7772547 B2. 2005.
Claims (1)
- Способ управления соотношением разрешающей способности по массе и чувствительности в многоотражательных времяпролетных масс-спектрометрах, основанный на формировании периодически поворачиваемых ионных траекторий с помощью ионно-оптических элементов с постоянными электрическими напряжениями, отличающийся тем, что управление соотношением разрешающей способности по массе и чувствительности в полном массовом диапазоне, определяемым количеством целых оборотов ионных траекторий, осуществляется плавным изменением энергии ионных пакетов в направлении дрейфа, ортогональном направлению их импульсного выталкивания, при этом соотношение кинетических энергий ионных пакетов в направлении дрейфа и в направлении их импульсного выталкивания должно соответствовать целому количеству оборотов ионных траекторий с сохранением анализируемого массового диапазона.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2015148627A RU2660655C2 (ru) | 2015-11-12 | 2015-11-12 | Способ управления соотношением разрешающей способности по массе и чувствительности в многоотражательных времяпролетных масс-спектрометрах |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2015148627A RU2660655C2 (ru) | 2015-11-12 | 2015-11-12 | Способ управления соотношением разрешающей способности по массе и чувствительности в многоотражательных времяпролетных масс-спектрометрах |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2015148627A RU2015148627A (ru) | 2017-05-23 |
RU2660655C2 true RU2660655C2 (ru) | 2018-07-09 |
Family
ID=58877913
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2015148627A RU2660655C2 (ru) | 2015-11-12 | 2015-11-12 | Способ управления соотношением разрешающей способности по массе и чувствительности в многоотражательных времяпролетных масс-спектрометрах |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2660655C2 (ru) |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019215428A1 (en) * | 2018-05-10 | 2019-11-14 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
US10593533B2 (en) | 2015-11-16 | 2020-03-17 | Micromass Uk Limited | Imaging mass spectrometer |
US10629425B2 (en) | 2015-11-16 | 2020-04-21 | Micromass Uk Limited | Imaging mass spectrometer |
US10636646B2 (en) | 2015-11-23 | 2020-04-28 | Micromass Uk Limited | Ion mirror and ion-optical lens for imaging |
US10741376B2 (en) | 2015-04-30 | 2020-08-11 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting TOF mass spectrometer |
US10950425B2 (en) | 2016-08-16 | 2021-03-16 | Micromass Uk Limited | Mass analyser having extended flight path |
US11049712B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-06-29 | Micromass Uk Limited | Fields for multi-reflecting TOF MS |
US11081332B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-08-03 | Micromass Uk Limited | Ion guide within pulsed converters |
US11205568B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-12-21 | Micromass Uk Limited | Ion injection into multi-pass mass spectrometers |
US11211238B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-12-28 | Micromass Uk Limited | Multi-pass mass spectrometer |
US11239067B2 (en) | 2017-08-06 | 2022-02-01 | Micromass Uk Limited | Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers |
US11295944B2 (en) | 2017-08-06 | 2022-04-05 | Micromass Uk Limited | Printed circuit ion mirror with compensation |
US11328920B2 (en) | 2017-05-26 | 2022-05-10 | Micromass Uk Limited | Time of flight mass analyser with spatial focussing |
US11817303B2 (en) | 2017-08-06 | 2023-11-14 | Micromass Uk Limited | Accelerator for multi-pass mass spectrometers |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2567794B (en) | 2017-05-05 | 2023-03-08 | Micromass Ltd | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometers |
GB201806507D0 (en) | 2018-04-20 | 2018-06-06 | Verenchikov Anatoly | Gridless ion mirrors with smooth fields |
GB201807626D0 (en) | 2018-05-10 | 2018-06-27 | Micromass Ltd | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
GB201808530D0 (en) | 2018-05-24 | 2018-07-11 | Verenchikov Anatoly | TOF MS detection system with improved dynamic range |
GB201810573D0 (en) | 2018-06-28 | 2018-08-15 | Verenchikov Anatoly | Multi-pass mass spectrometer with improved duty cycle |
GB201901411D0 (en) | 2019-02-01 | 2019-03-20 | Micromass Ltd | Electrode assembly for mass spectrometer |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU1725289A1 (ru) * | 1989-07-20 | 1992-04-07 | Институт Ядерной Физики Ан Казсср | Врем пролетный масс-спектрометр с многократным отражением |
WO2008047891A2 (en) * | 2006-10-13 | 2008-04-24 | Shimadzu Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass analyser and a time-of-flight mass spectrometer including the mass analyser |
US7772547B2 (en) * | 2005-10-11 | 2010-08-10 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with orthogonal acceleration |
WO2012024468A2 (en) * | 2010-08-19 | 2012-02-23 | Leco Corporation | Time-of-flight mass spectrometer with accumulating electron impact ion source |
-
2015
- 2015-11-12 RU RU2015148627A patent/RU2660655C2/ru not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU1725289A1 (ru) * | 1989-07-20 | 1992-04-07 | Институт Ядерной Физики Ан Казсср | Врем пролетный масс-спектрометр с многократным отражением |
US7772547B2 (en) * | 2005-10-11 | 2010-08-10 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with orthogonal acceleration |
WO2008047891A2 (en) * | 2006-10-13 | 2008-04-24 | Shimadzu Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass analyser and a time-of-flight mass spectrometer including the mass analyser |
WO2012024468A2 (en) * | 2010-08-19 | 2012-02-23 | Leco Corporation | Time-of-flight mass spectrometer with accumulating electron impact ion source |
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10741376B2 (en) | 2015-04-30 | 2020-08-11 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting TOF mass spectrometer |
US10593533B2 (en) | 2015-11-16 | 2020-03-17 | Micromass Uk Limited | Imaging mass spectrometer |
US10629425B2 (en) | 2015-11-16 | 2020-04-21 | Micromass Uk Limited | Imaging mass spectrometer |
US10636646B2 (en) | 2015-11-23 | 2020-04-28 | Micromass Uk Limited | Ion mirror and ion-optical lens for imaging |
US10950425B2 (en) | 2016-08-16 | 2021-03-16 | Micromass Uk Limited | Mass analyser having extended flight path |
US11328920B2 (en) | 2017-05-26 | 2022-05-10 | Micromass Uk Limited | Time of flight mass analyser with spatial focussing |
US11049712B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-06-29 | Micromass Uk Limited | Fields for multi-reflecting TOF MS |
US11081332B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-08-03 | Micromass Uk Limited | Ion guide within pulsed converters |
US11205568B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-12-21 | Micromass Uk Limited | Ion injection into multi-pass mass spectrometers |
US11211238B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-12-28 | Micromass Uk Limited | Multi-pass mass spectrometer |
US11239067B2 (en) | 2017-08-06 | 2022-02-01 | Micromass Uk Limited | Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers |
US11295944B2 (en) | 2017-08-06 | 2022-04-05 | Micromass Uk Limited | Printed circuit ion mirror with compensation |
US11756782B2 (en) | 2017-08-06 | 2023-09-12 | Micromass Uk Limited | Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers |
US11817303B2 (en) | 2017-08-06 | 2023-11-14 | Micromass Uk Limited | Accelerator for multi-pass mass spectrometers |
WO2019215428A1 (en) * | 2018-05-10 | 2019-11-14 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
US11342175B2 (en) * | 2018-05-10 | 2022-05-24 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
RU2015148627A (ru) | 2017-05-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2660655C2 (ru) | Способ управления соотношением разрешающей способности по массе и чувствительности в многоотражательных времяпролетных масс-спектрометрах | |
Boesl | Time‐of‐flight mass spectrometry: introduction to the basics | |
EP2688088B1 (en) | Mass spectrometer | |
CN108352292B (zh) | 用于成像的改进的离子镜和离子光学透镜 | |
US6469295B1 (en) | Multiple reflection time-of-flight mass spectrometer | |
US8847155B2 (en) | Tandem time-of-flight mass spectrometry with simultaneous space and velocity focusing | |
Satoh et al. | The design and characteristic features of a new time-of-flight mass spectrometer with a spiral ion trajectory | |
WO2005114702A1 (ja) | 飛行時間型質量分析方法及び装置 | |
US20100301202A1 (en) | Tandem TOF Mass Spectrometer With High Resolution Precursor Selection And Multiplexed MS-MS | |
JP2011119279A (ja) | 質量分析装置およびこれを用いる計測システム | |
US20200203142A1 (en) | Quadrupole devices | |
Toyoda | Development of multi-turn time-of-flight mass spectrometers and their applications | |
US7439520B2 (en) | Ion optics systems | |
Johnson et al. | Mirror switching for high-resolution ion isolation in an electrostatic linear ion trap | |
Stewart et al. | Proof of principle for enhanced resolution multi-pass methods for the Astral analyzer | |
US9330896B2 (en) | Mass analysis device and mass separation device | |
US10438788B2 (en) | System and methodology for expressing ion path in a time-of-flight mass spectrometer | |
Toyoda et al. | High-energy collision induced dissociation fragmentation pathways of peptides, probed using a multiturn tandem time-of-flight mass spectrometer “MULTUM-TOF/TOF” | |
JP6257609B2 (ja) | 小型の飛行時間型質量分析計 | |
WO2013134165A1 (en) | Tandem time-of-flight mass spectrometry with simultaneous space and velocity focusing | |
CN115346855A (zh) | 混合质谱装置 | |
Guo et al. | High-resolution ion microscope imaging over wide mass ranges using electrodynamic postextraction differential acceleration | |
WO2004021386A2 (en) | Mass spectrometer | |
US20240136167A1 (en) | Mass spectrometer and method | |
Giannakopulos et al. | The OrbiTOF Mass Analyzer: Time-of-Flight Analysis via an Orbitrap Quadro-Logarithmic Field with Periodic Drift Focusing. |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20180203 |