RU2641633C1 - Device for testing thin-filmed electroluminescent indicators - Google Patents
Device for testing thin-filmed electroluminescent indicators Download PDFInfo
- Publication number
- RU2641633C1 RU2641633C1 RU2016150357A RU2016150357A RU2641633C1 RU 2641633 C1 RU2641633 C1 RU 2641633C1 RU 2016150357 A RU2016150357 A RU 2016150357A RU 2016150357 A RU2016150357 A RU 2016150357A RU 2641633 C1 RU2641633 C1 RU 2641633C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- microcontroller
- input
- output
- voltage
- thin
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к области светотехники и может быть использовано в системах исследования параметров тонкопленочных электролюминесцентных индикаторов (ТПЭЛИ).The invention relates to the field of lighting engineering and can be used in systems for studying the parameters of thin-film electroluminescent indicators (TPEL).
Известно оборудование для исследования ртутной люминесцентной лампы высокого давления (Баев В.И. Практикум по электрическому освещению и обучению. - М.: Агропромиздат, 1991, С. 90-92), содержащее газоразрядную лампу высокого давления, дроссель, автотрансформатор, выключатель, реостат, ваттметр, выключатель кнопочный, переключатель, амперметр, вольтметр для измерения напряжения на дросселе, вольтметр для измерения напряжения на лампе в момент разгорания, вольтметр для измерения напряжения на лампе в рабочем режиме, вольтметр для измерения напряжения на автотрансформаторе, датчик люксметра, люксметр.Known equipment for the study of mercury fluorescent lamps of high pressure (Baev V.I. Workshop on electrical lighting and training. - M .: Agropromizdat, 1991, S. 90-92), containing a high-pressure discharge lamp, inductor, autotransformer, switch, rheostat , wattmeter, push-button switch, switch, ammeter, voltmeter for measuring voltage on the inductor, voltmeter for measuring voltage on the lamp at the time of ignition, voltmeter for measuring voltage on the lamp in operating mode, voltmeter for measuring voltage zheniya on the autotransformer, luxmeter sensor, light meter.
К причинам, препятствующим достижению указанного ниже технического результата при использовании известного оборудования, относятся: невозможность использования данного устройства для исследования параметров тонкопленочных электролюминесцентных индикаторов, большие аппаратурные затраты, неспособность данного устройства проводить измерения в автоматизированном режиме.The reasons that impede the achievement of the technical result indicated below when using known equipment include: the inability to use this device to study the parameters of thin-film electroluminescent indicators, high hardware costs, the inability of this device to take measurements in an automated mode.
Наиболее близким устройством похожего назначения к заявленному изобретению по совокупности признаков является принятый за прототип измерительный стенд для светотехнических устройств (патент РФ 107352, кл. G01J 11/00, опубл. 10.08.2011), который содержит средства крепления и пространственной ориентации контролируемого светильника, люксметр, средства измерения напряжения, силы тока и мощности на основе аналого-цифровых преобразователей, микроконтроллер, персональный компьютер. Данный стенд решает задачу автоматизированного контроля совокупности соответствующих параметров светотехнических устройств.The closest device of a similar purpose to the claimed invention in terms of features is the measuring bench adopted for the prototype for lighting devices (RF patent 107352, class G01J 11/00, publ. 08/10/2011), which contains the fastening and spatial orientation of the controlled lamp, light meter , voltage, current and power measuring instruments based on analog-to-digital converters, microcontroller, personal computer. This stand solves the problem of automated control of the totality of the relevant parameters of lighting devices.
К причинам, препятствующим достижению указанного ниже технического результата при использовании прототипа, относятся: невозможность использования данного устройства для исследования параметров тонкопленочных электролюминесцентных индикаторов, большие аппаратурные затраты, невозможность применения данного стенда автономно без персонального компьютера. Также данное оборудование предполагает использование относительно большой пространственной площади, которую необходимо еще и затемнять, что снижает удобство пользования и область применения прототипа.The reasons that impede the achievement of the technical result indicated below when using the prototype include: the inability to use this device to study the parameters of thin-film electroluminescent indicators, high hardware costs, the inability to use this stand autonomously without a personal computer. Also, this equipment involves the use of a relatively large spatial area, which must also be darkened, which reduces the usability and scope of the prototype.
Техническим результатом является определение порогового напряжения, а также построение вольт-яркостной характеристики тонкопленочных электролюминесцентных индикаторов в автоматизированном режиме.The technical result is the determination of the threshold voltage, as well as the construction of the volt-brightness characteristics of thin-film electroluminescent indicators in an automated mode.
Указанный технический результат при осуществлении изобретения достигается тем, что в устройстве тестирования тонкопленочных элементов, содержащем микроконтроллер со встроенным аналого-цифровым преобразователем (АЦП) и интерфейсом для обмена данными с персональным компьютером, люксметр, измеритель напряжения, особенность заключается в том, что выход люксметра соединен с первым входом АЦП микроконтроллера, выход измерителя напряжения соединен со вторым входом АЦП микроконтроллера, выход микроконтроллера соединен со входом модуля индикации, выход модуля питания соединен с входом питания микроконтроллера, выход генератора сигналов соединен с тонкопленочным электролюминесцентным индикатором и с входом измерителя напряжения.The specified technical result in the implementation of the invention is achieved by the fact that in the device for testing thin-film elements containing a microcontroller with a built-in analog-to-digital converter (ADC) and an interface for exchanging data with a personal computer, a light meter, a voltage meter, the feature is that the output of the light meter is connected with the first input of the ADC of the microcontroller, the output of the voltage meter is connected to the second input of the ADC of the microcontroller, the output of the microcontroller is connected to the input of the in pecifications, power supply output is connected to an input of the microcontroller power supply, signal generator output is connected to a thin film electroluminescent display and to the input of a voltage meter.
Сущность изобретения поясняется чертежами, где на фиг. 1 представлена схема предлагаемого устройства тестирования тонкопленочных электролюминесцентных индикаторов, на фиг. 2 - схема подключения данного устройства для проведения измерений.The invention is illustrated by drawings, where in FIG. 1 is a diagram of the proposed device for testing thin-film electroluminescent indicators, FIG. 2 - connection diagram of this device for measurements.
Устройство тестирования тонкопленочных электролюминесцентных индикаторов содержит люксметр 1, выход которого соединен с первым входом АЦП микроконтроллера 2, выход измерителя напряжения 3 соединен со вторым входом АЦП микроконтроллера 2, выход микроконтроллера 2 соединен со входом модуля 4 индикации, выход модуля 5 питания соединен с входом питания микроконтроллера 2. Микроконтроллер 2 содержит АЦП, микросхему интерфейса для обмена данными с персональным компьютером 8. Люксметр 1 содержит фоторезистор и активный фильтр, предназначенный для согласования выхода люксметра 1 и первого входа АЦП микроконтроллера 2. Измеритель 3 напряжения состоит из выпрямителя и делителя напряжения. Модуль 4 индикации может быть выполнен на основе семисегментных индикаторов с соответствующими микросхемами регистра, так и на основе жидкокристаллического дисплея.The device for testing thin-film electroluminescent indicators contains a
Исследуемый ТПЭЛИ 6 подключается к генератору 7 сигнала и помещается в светоизоляционный короб (обозначен пунктирной линией), который не пропускает свет как изнутри, так и снаружи. Люксметр 1 также установлен в светоизоляционном коробе. Микроконтроллер 2 подключен к персональному компьютеру 8.The studied
Работа предлагаемого устройства тестирования тонкопленочных электролюминесцентных индикаторов осуществляется следующим образом.The work of the proposed device for testing thin-film electroluminescent indicators is as follows.
Данное устройство выводит информацию как на персональный компьютер 8, так и на модуль 4 индикации.This device displays information on a
Загруженная в память микроконтроллера 2 программа сканирует данные с первого входа встроенного АЦП микроконтроллера 2. Когда величина напряжения, поданного с генератора 7 сигналов на ТПЭЛИ 6, достигает порогового значения, данный ТПЭЛИ начинает испускать лучи света. Момент возникновения свечения фиксируется программой микроконтроллера 2 на первом входе встроенного АЦП микроконтроллера 2. Данные с этого входа отправляются в память микроконтроллера 2, затем программа считывает информацию о напряжении на генераторе 7 со второго входа встроенного АЦП микроконтроллера 2, эти данные также сохраняются в его памяти. Далее эта информация пересчитывается микроконтроллером 2 в единицы измерения соответственно яркости и напряжения и отправляется на персональный компьютер 8 и модуль 4 индикации. Далее программа микроконтроллера 2 автоматически через определенные интервалы времени снова фиксирует данные с первого и второго входов встроенного АЦП микроконтроллера 2, сохраняет их в его памяти, пересчитывает в единицы измерения яркости и напряжения и отправляет их в персональный компьютер 8 и модуль 4 индикации. В случае использования персонального компьютера 8 на нем устанавливается программа, которая в автоматическом режиме сохраняет присланные данные и на их основе строит график зависимости яркости от напряжения.The program loaded into the memory of
Вышеизложенные сведения позволяют сделать вывод, что предлагаемое устройство тестирования тонкопленочных электролюминесцентных индикаторов позволяет осуществить определение порогового напряжения, а также построение вольт-яркостной характеристики тонкопленочных электролюминесцентных индикаторов в автоматизированном режиме.The above information allows us to conclude that the proposed device for testing thin-film electroluminescent indicators allows to determine the threshold voltage, as well as the construction of the voltage-brightness characteristics of thin-film electroluminescent indicators in an automated mode.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2016150357A RU2641633C1 (en) | 2016-12-20 | 2016-12-20 | Device for testing thin-filmed electroluminescent indicators |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2016150357A RU2641633C1 (en) | 2016-12-20 | 2016-12-20 | Device for testing thin-filmed electroluminescent indicators |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2641633C1 true RU2641633C1 (en) | 2018-01-18 |
Family
ID=68235708
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2016150357A RU2641633C1 (en) | 2016-12-20 | 2016-12-20 | Device for testing thin-filmed electroluminescent indicators |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2641633C1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2807500C1 (en) * | 2023-05-17 | 2023-11-15 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук | Method for measuring led threshold current |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU894821A1 (en) * | 1979-12-07 | 1981-12-30 | Институт Физики Полупроводников Со Ан Ссср | Device for measuring quantum efficiency of electroluminescent structure radiation |
US20050157298A1 (en) * | 2000-12-08 | 2005-07-21 | Daniel Evanicky | Compact flat panel color calibration system |
US7791717B2 (en) * | 2006-05-26 | 2010-09-07 | Ensky Technology (Shenzhen) Co., Ltd. | Reflective display device testing system, apparatus, and method |
RU107352U1 (en) * | 2010-12-08 | 2011-08-10 | Общество с ограниченной ответственностью "ЭНЕРГОЭФФЕКТ-НН" | MEASURING STAND FOR LIGHTING DEVICES |
-
2016
- 2016-12-20 RU RU2016150357A patent/RU2641633C1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU894821A1 (en) * | 1979-12-07 | 1981-12-30 | Институт Физики Полупроводников Со Ан Ссср | Device for measuring quantum efficiency of electroluminescent structure radiation |
US20050157298A1 (en) * | 2000-12-08 | 2005-07-21 | Daniel Evanicky | Compact flat panel color calibration system |
US7791717B2 (en) * | 2006-05-26 | 2010-09-07 | Ensky Technology (Shenzhen) Co., Ltd. | Reflective display device testing system, apparatus, and method |
RU107352U1 (en) * | 2010-12-08 | 2011-08-10 | Общество с ограниченной ответственностью "ЭНЕРГОЭФФЕКТ-НН" | MEASURING STAND FOR LIGHTING DEVICES |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2807500C1 (en) * | 2023-05-17 | 2023-11-15 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук | Method for measuring led threshold current |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7996165B2 (en) | Portable heavy load battery testing system and method | |
CN103267588B (en) | Junction temperature testing method based on temperature variation of LED (light-emitting diode) relative spectrum | |
CN102508141A (en) | Measurement system of performance parameters of charge coupled device (CCD) chip | |
KR100803084B1 (en) | Portable error testing device and method for measurment apparatus of electric power volume | |
RU2641633C1 (en) | Device for testing thin-filmed electroluminescent indicators | |
CN103900795A (en) | Device and method for testing transparent effect of transparent display screen | |
CN104181106A (en) | Transparent member light transmittance test tooling | |
CN206096363U (en) | LED accelerated ageing and life test system | |
CN208818817U (en) | Portable leakage current tester calibrating installation | |
US4259631A (en) | Method and arrangement for measuring the attenuation-versus-frequency characteristics of two-ports | |
CN205139217U (en) | Take residual current circuit breaker testing capabilities's novel complex function universal meter | |
RU2548577C1 (en) | Stand for inspection, test and analysis of computer power supply units | |
TWM545253U (en) | System for measuring capacitive leakage current | |
CN106872039A (en) | A kind of portable spectral photometric colour measuring instrument circuit | |
CN209132363U (en) | Switch transformer winding relation test platform structure | |
KR101447612B1 (en) | Multi device tester | |
Pauzan et al. | UTILIZATION OF ADC PIN ON ARDUINO NANO TO MEASURE VOLTAGE OF A BATTERY | |
CN112051430A (en) | Universal meter for detecting and repairing vehicle | |
RU83331U1 (en) | MEASURING REMOTE FOR DIAGNOSTIC AND CHECK OF THE AIRCRAFT ENGINE GAS TEMPERATURE CONTROL EQUIPMENT | |
CN1982897A (en) | Microcurrent tester | |
RU174763U1 (en) | Device for determining the actual battery capacity | |
JPH11101832A (en) | Capacitance-measuring instrument | |
RU107352U1 (en) | MEASURING STAND FOR LIGHTING DEVICES | |
US20130285819A1 (en) | Inspection method of backlight module and inspection apparatus thereof | |
SU105092A1 (en) | Measuring instrument of basic parameters of electronic lamps |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20181221 |